Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Topic: Electron Beam Transport
Results
2011 / IEEE
By: Threadgold, J.R.; Martin, P.N.; Juniper, P.; Jeffries, G.; Webb, K.; Cooper, G.M.; McLean, J.; Jones, A.;
By: Threadgold, J.R.; Martin, P.N.; Juniper, P.; Jeffries, G.; Webb, K.; Cooper, G.M.; McLean, J.; Jones, A.;
1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Pellegrini, C.; Park, S.; Barov, N.; Hartman, S.C.; Hairapetian, G.; Rosenzweig, J.; Joshi, C.; Davis, P.; Zhang, R.; Travish, G.;
By: Pellegrini, C.; Park, S.; Barov, N.; Hartman, S.C.; Hairapetian, G.; Rosenzweig, J.; Joshi, C.; Davis, P.; Zhang, R.; Travish, G.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.; Nusinovich, G.S.; Santoru, J.; Goebel, D.M.;
By: Antonsen, T.M., Jr.; Carmel, Y.; Nusinovich, G.S.; Santoru, J.; Goebel, D.M.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Li, Y.; Deng, J.J.; Chin, P.; Bernal, S.; Wang, J.G.; Reiser, M.; Godlove, T.; York, R.C.; Zou, Y.; Venturini, M.; Suk, H.;
By: Li, Y.; Deng, J.J.; Chin, P.; Bernal, S.; Wang, J.G.; Reiser, M.; Godlove, T.; York, R.C.; Zou, Y.; Venturini, M.; Suk, H.;
1999 / IEEE / 0-7803-5498-2
By: Sinclair, M.A.; McLean, J.; Goldsack, T.J.; Edwards, R.D.; Birrell, A.R.; Cooper, G.M.; Carpenter, P.G.; Davitt, R.;
By: Sinclair, M.A.; McLean, J.; Goldsack, T.J.; Edwards, R.D.; Birrell, A.R.; Cooper, G.M.; Carpenter, P.G.; Davitt, R.;
1999 / IEEE / 0-7803-5498-2
By: Olson, C.; Rosenthal, S.; Menge, P.; Johnson, D.L.; Gustwiller, J.; Cordova, S.; Maenchen, J.; Woo, L.; MacLeod, G.; Hunt, E.; Droemer, D.; Molina, I.; Smith, I.; Bailey, V.; Welch, D.; Oliver, O.; Rovang, D.;
By: Olson, C.; Rosenthal, S.; Menge, P.; Johnson, D.L.; Gustwiller, J.; Cordova, S.; Maenchen, J.; Woo, L.; MacLeod, G.; Hunt, E.; Droemer, D.; Molina, I.; Smith, I.; Bailey, V.; Welch, D.; Oliver, O.; Rovang, D.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Myers, M.; Sethian, J.D.; Swanekamp, S.B.; Hegeler, F.; Friedman, M.;
By: Myers, M.; Sethian, J.D.; Swanekamp, S.B.; Hegeler, F.; Friedman, M.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Biallas, G.; Neil, G.R.; Benson, S.V.; Douglas, D.; Yunn, B.; Walker, R.; Siggins, T.; Shinn, M.; Preble, J.; Phillips, L.; Boyce, J.; Merminga, L.; Mammosser, J.; Li, R.; Krafft, G.; Jordan, K.; Gubeli, J.; Grippo, A.; Evans, R.; Dylla, H.F.;
By: Biallas, G.; Neil, G.R.; Benson, S.V.; Douglas, D.; Yunn, B.; Walker, R.; Siggins, T.; Shinn, M.; Preble, J.; Phillips, L.; Boyce, J.; Merminga, L.; Mammosser, J.; Li, R.; Krafft, G.; Jordan, K.; Gubeli, J.; Grippo, A.; Evans, R.; Dylla, H.F.;
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Friedman, M.; Obenschain, S.; Hegeler, F.; Sethian, J.D.; Searles, S.; Smilgys, R.; Schlitt, L.; Morton, D.; Weidenheimer, D.; Myers, M.; Smith, I.; Swanekamp, S.; Kepple, P.; Giuliani, J.; Lehmberg, R.;
By: Friedman, M.; Obenschain, S.; Hegeler, F.; Sethian, J.D.; Searles, S.; Smilgys, R.; Schlitt, L.; Morton, D.; Weidenheimer, D.; Myers, M.; Smith, I.; Swanekamp, S.; Kepple, P.; Giuliani, J.; Lehmberg, R.;
2004 / IEEE
By: Welch, D.R.; Rose, D.V.; Weidenheimer, D.; Swanekamp, S.B.; Smilgys, R.V.; Wolford, M.F.; Giorgi, D.; Friedman, M.; Hegeler, F.; Obenschain, S.P.; Kepple, P.C.; Lehmberg, R.H.; Giuliani, J.L., JR; Myers, M.C.; Sethian, J.D.; Searles, S.;
By: Welch, D.R.; Rose, D.V.; Weidenheimer, D.; Swanekamp, S.B.; Smilgys, R.V.; Wolford, M.F.; Giorgi, D.; Friedman, M.; Hegeler, F.; Obenschain, S.P.; Kepple, P.C.; Lehmberg, R.H.; Giuliani, J.L., JR; Myers, M.C.; Sethian, J.D.; Searles, S.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Kellett, B.J.; Bingham, R.; Cairns, R.A.; Vorgul, I.; Whyte, C.G.; Robertson, C.W.; Speirs, D.C.; Cross, A.W.; Phelps, A.D.R.; Ronald, K.; McConville, S.L.; Bingham, R.;
By: Kellett, B.J.; Bingham, R.; Cairns, R.A.; Vorgul, I.; Whyte, C.G.; Robertson, C.W.; Speirs, D.C.; Cross, A.W.; Phelps, A.D.R.; Ronald, K.; McConville, S.L.; Bingham, R.;
2005 / IEEE / 0-7803-9189-6
By: Rose, D.V.; Rovang, D.; Molina, I.; McLean, J.; Johnston, M.D.; Cordova, S.; Portillo, S.; Cooper, G.; Bruner, N.; Maenchen, J.E.; Oliver, B.V.; Welch, D.R.; Schamiloglu, E.; Hahn, K.; Ziska, D.; Van De Valde, D.;
By: Rose, D.V.; Rovang, D.; Molina, I.; McLean, J.; Johnston, M.D.; Cordova, S.; Portillo, S.; Cooper, G.; Bruner, N.; Maenchen, J.E.; Oliver, B.V.; Welch, D.R.; Schamiloglu, E.; Hahn, K.; Ziska, D.; Van De Valde, D.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1715-5
By: Arkhipov, A.V.; Fetisova, A.V.; Morev, S.P.; Miroshnikov, Y.A.; Komarov, D.A.; Darmaev, A.N.;
By: Arkhipov, A.V.; Fetisova, A.V.; Morev, S.P.; Miroshnikov, Y.A.; Komarov, D.A.; Darmaev, A.N.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Chernin, D.P.; Kishek, R.A.; Petillo, J.J.; Levush, B.; Abe, D.K.;
By: Chernin, D.P.; Kishek, R.A.; Petillo, J.J.; Levush, B.; Abe, D.K.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap