Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Electromagnetic Heating
Results
2011 / IEEE
By: Arunachalam, K.; Jacobsen, S.K.; Klemetsen, O.; Birkelund, Y.; Stauffer, P.R.; Maccarini, P.;
By: Arunachalam, K.; Jacobsen, S.K.; Klemetsen, O.; Birkelund, Y.; Stauffer, P.R.; Maccarini, P.;
2012 / IEEE
By: Gvozdev, A.K.; Semenov, V.E.; Zaitsev, N.I.; Zharova, N.A.; Sorokin, A.A.; Puech, J.; Rasch, J.; Lisak, M.;
By: Gvozdev, A.K.; Semenov, V.E.; Zaitsev, N.I.; Zharova, N.A.; Sorokin, A.A.; Puech, J.; Rasch, J.; Lisak, M.;
2012 / IEEE
By: Hanson, G.W.; Forati, E.; Patch, S.; Maksimenko, S.A.; Shuba, M.V.; Dongxiao Li; Geller, D.A.; Junda Chen; Hong Koo Kim; Yun Suk Jung;
By: Hanson, G.W.; Forati, E.; Patch, S.; Maksimenko, S.A.; Shuba, M.V.; Dongxiao Li; Geller, D.A.; Junda Chen; Hong Koo Kim; Yun Suk Jung;
2012 / IEEE
By: Bailey, C.; Eicher, F.; Muller, G.; Adamietz, R.; Pavuluri, S.K.; Desmulliez, M.P.Y.; Goussetis, G.; Ferenets, M.; Tilford, T.;
By: Bailey, C.; Eicher, F.; Muller, G.; Adamietz, R.; Pavuluri, S.K.; Desmulliez, M.P.Y.; Goussetis, G.; Ferenets, M.; Tilford, T.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Matheson, K.; Savilov, A.V.; Cross, A.W.; Phelps, A.D.R.; Young, A.R.; Ronald, K.;
By: Matheson, K.; Savilov, A.V.; Cross, A.W.; Phelps, A.D.R.; Young, A.R.; Ronald, K.;
2011 / IEEE / 978-90-75815-14-6
By: Naetiladdanon, S.; Sangswang, A.; Jittakort, J.; Chudjuarjeen, S.; Koompai, C.;
By: Naetiladdanon, S.; Sangswang, A.; Jittakort, J.; Chudjuarjeen, S.; Koompai, C.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Ishikawa, T.; Kasahara, M.; Ito, N.; Noguchi, T.; Ito, T.; Yokobori, S.;
By: Ishikawa, T.; Kasahara, M.; Ito, N.; Noguchi, T.; Ito, T.; Yokobori, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Katayama, K.; Yamada, S.; Yagitani, S.; Nagano, I.; Nagae, H.; Ikehata, Y.; Tazawa, K.;
By: Katayama, K.; Yamada, S.; Yagitani, S.; Nagano, I.; Nagae, H.; Ikehata, Y.; Tazawa, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Yang, Q.; Wang, C.H.; Song, Y.T.; Liu, W.; Zhu, N.; Mao, X.; Zhao, Y.P.; Wang, Z.; Ji, X.; Li, C.; Zhang, X.; Chen, Y.;
By: Yang, Q.; Wang, C.H.; Song, Y.T.; Liu, W.; Zhu, N.; Mao, X.; Zhao, Y.P.; Wang, Z.; Ji, X.; Li, C.; Zhang, X.; Chen, Y.;
2011 / IEEE / 978-966-335-357-9
By: Ivantsov, V.P.; Gerasimov, V.P.; Starchevskiy, Y.L.; Frolova, T.I.; Odarenko, E.N.; Churyumov, G.I.; Ekezli, A.I.;
By: Ivantsov, V.P.; Gerasimov, V.P.; Starchevskiy, Y.L.; Frolova, T.I.; Odarenko, E.N.; Churyumov, G.I.; Ekezli, A.I.;
2011 / IEEE / 978-966-335-357-9
By: Vaganov, A.A.; Shevchenko, K.L.; Skripnik, Yu.A.; Aleksashin, A.B.;
By: Vaganov, A.A.; Shevchenko, K.L.; Skripnik, Yu.A.; Aleksashin, A.B.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Yokoyama, K.; Kato, K.; Fujii, Y.; Uzuka, T.; Takahashi, H.; Kubo, M.; Shindo, Y.; Igarashi, W.;
By: Yokoyama, K.; Kato, K.; Fujii, Y.; Uzuka, T.; Takahashi, H.; Kubo, M.; Shindo, Y.; Igarashi, W.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Mahjoub, M.; Ochiai, Y.; Ishibashi, K.; Kawano, Y.; Aoki, N.; Ferry, D.K.; Bird, J.P.; Song, J.;
By: Mahjoub, M.; Ochiai, Y.; Ishibashi, K.; Kawano, Y.; Aoki, N.; Ferry, D.K.; Bird, J.P.; Song, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Bel'kov, V.V.; Drexler, C.; Ganichev, S.D.; Wegscheider, W.; Schuh, D.; Wojtowicz, T.; Ashkinadze, B.; Karczeswki, G.; Yakovlev, D.R.; Terent'ev, Ya.V.; Lechner, V.; Zoth, C.; Olbrich, P.;
By: Bel'kov, V.V.; Drexler, C.; Ganichev, S.D.; Wegscheider, W.; Schuh, D.; Wojtowicz, T.; Ashkinadze, B.; Karczeswki, G.; Yakovlev, D.R.; Terent'ev, Ya.V.; Lechner, V.; Zoth, C.; Olbrich, P.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Neudorfer, J.; Munz, C.; Roller, S.; Schneider, R.; D'Andrea, D.; Stock, A.;
By: Neudorfer, J.; Munz, C.; Roller, S.; Schneider, R.; D'Andrea, D.; Stock, A.;
2011 / IEEE / 978-2-87487-022-4
By: Kashyap, S.C.; Raghvan, S.; Kumar, R.; Verma, A.K.; Kumar, G.; Jain, A.; Dube, D.C.; Abegoankar, M.P.; Basu, A.; Kaul, S.K.; Calla, O.P.N.; Bihari, J.; Joshi, S.; Mishra, R.K.; Maitra, A.; Guha, D.; Joshi, S.N.; Joshi, L.M.; Chandra, U.; Saxena, V.K.; Bhatnagar, D.;
By: Kashyap, S.C.; Raghvan, S.; Kumar, R.; Verma, A.K.; Kumar, G.; Jain, A.; Dube, D.C.; Abegoankar, M.P.; Basu, A.; Kaul, S.K.; Calla, O.P.N.; Bihari, J.; Joshi, S.; Mishra, R.K.; Maitra, A.; Guha, D.; Joshi, S.N.; Joshi, L.M.; Chandra, U.; Saxena, V.K.; Bhatnagar, D.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Liang Zhang; Ronald, K.; Phelps, A.D.R.; Cross, A.W.; Donaldson, C.R.; Wenlong He;
By: Liang Zhang; Ronald, K.; Phelps, A.D.R.; Cross, A.W.; Donaldson, C.R.; Wenlong He;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0102-2
By: Abidin, Z.Z.; Tengku Ab Mutalib, T.N.A.; Sudin, S.S.; Hamzah, M.H.; Malek, N.F.H.A.; Che Man, H.; Jamaludin, N.F.; Jamaludin, H.; Yusof, N.;
By: Abidin, Z.Z.; Tengku Ab Mutalib, T.N.A.; Sudin, S.S.; Hamzah, M.H.; Malek, N.F.H.A.; Che Man, H.; Jamaludin, N.F.; Jamaludin, H.; Yusof, N.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-2037-6
By: Santucci, S.; Passacantando, M.; Murthy, C.S.C.; Krishna, M.; Rao, K.N.; Sumana, K.S.; Phani, A.R.;
By: Santucci, S.; Passacantando, M.; Murthy, C.S.C.; Krishna, M.; Rao, K.N.; Sumana, K.S.; Phani, A.R.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0631-8
By: Kumar, S.; Roy, A.; Mitra, S.; Menon, R.; Sharma, V.; Chakravorthy, D.P.; Nagesh, K.V.; Sharma, A.;
By: Kumar, S.; Roy, A.; Mitra, S.; Menon, R.; Sharma, V.; Chakravorthy, D.P.; Nagesh, K.V.; Sharma, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1664-5
By: de Castro, E.R.; Jermolovicius, L.A.; Senise, J.T.; Cinquini, M.M.; do Nascimento, R.B.;
By: de Castro, E.R.; Jermolovicius, L.A.; Senise, J.T.; Cinquini, M.M.; do Nascimento, R.B.;
2012 / IEEE / 978-3-9812668-4-9
By: Saal, P.; Kilic, E.; Ramakrishnan, R.; Wiedenmann, O.; Eibert, T.F.; Siart, U.;
By: Saal, P.; Kilic, E.; Ramakrishnan, R.; Wiedenmann, O.; Eibert, T.F.; Siart, U.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1982-0
By: Bailey, C.; Goussetis, G.; Desmulliez, M.P.Y.; Pavuluri, S.K.; Arrighi, V.; Tilford, T.; Adamietz, R.; Johnston, K.;
By: Bailey, C.; Goussetis, G.; Desmulliez, M.P.Y.; Pavuluri, S.K.; Arrighi, V.; Tilford, T.; Adamietz, R.; Johnston, K.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-2190-8
By: Phasukkit, P.; Nantivatana, P.; Thaiwat, K.; Sangworasil, M.; Tungjitkusolmun, S.;
By: Phasukkit, P.; Nantivatana, P.; Thaiwat, K.; Sangworasil, M.; Tungjitkusolmun, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1631-7
By: Yaacob, N.; Mozi, A.M.; Muhamad, W.N.W.; Awang, Z.; Yahya, M.; Salleh, M.K.M.;
By: Yaacob, N.; Mozi, A.M.; Muhamad, W.N.W.; Awang, Z.; Yahya, M.; Salleh, M.K.M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-2212-7
By: Samigullin, R.R.; Morozov, O.G.; Morozov, G.A.; Nasibullin, A.R.;
By: Samigullin, R.R.; Morozov, O.G.; Morozov, G.A.; Nasibullin, A.R.;