Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Ease Of Use
Results
1996 / IEEE / 0-8186-7255-2
By: Seligman, E.; Lowekamp, B.; Beguelin, A.; Arabe, J.N.C.; Stephan, P.; Starkey, M.;
By: Seligman, E.; Lowekamp, B.; Beguelin, A.; Arabe, J.N.C.; Stephan, P.; Starkey, M.;
1996 / IEEE / 0-8186-7448-2
By: Wallace, G.; Teo, M.S.; Bickford, C.; Ramamritham, K.; Stankovic, J.A.;
By: Wallace, G.; Teo, M.S.; Bickford, C.; Ramamritham, K.; Stankovic, J.A.;
1996 / IEEE / 0-89791-864-9
By: Miller, R.A.; Yagel, R.; Cui, D.H.; Rebello, A.B.; Lu, S.C.; Kinzel, G.L.;
By: Miller, R.A.; Yagel, R.; Cui, D.H.; Rebello, A.B.; Lu, S.C.; Kinzel, G.L.;
1997 / IEEE / 0-8186-7804-6
By: Knott, W.; Carter, A.; Madar, L.; Keshishoglou, E.; Mehra, V.; Sirkin, E.R.;
By: Knott, W.; Carter, A.; Madar, L.; Keshishoglou, E.; Mehra, V.; Sirkin, E.R.;
1998 / IEEE
By: Roth, M.; Dodge, C.N.; Beardsley, P.; Anderson, D.B.; Freeman, W.T.; Weissman, C.D.; Miyake, Y.; Tanaka, K.; Kyuma, I.; Kage, H.; Yerazunis, W.S.;
By: Roth, M.; Dodge, C.N.; Beardsley, P.; Anderson, D.B.; Freeman, W.T.; Weissman, C.D.; Miyake, Y.; Tanaka, K.; Kyuma, I.; Kage, H.; Yerazunis, W.S.;
1998 / IEEE / 0-7803-5015-4
By: Kone, L.; Vanlandschoot, B.; Madou, A.; Martens, L.; Schricker, U.; Demoulin, B.; Van Koetsem, J.; Hoffmann, H.; Van Den Torren, L.; Anton, A.; Sjoberg, P.;
By: Kone, L.; Vanlandschoot, B.; Madou, A.; Martens, L.; Schricker, U.; Demoulin, B.; Van Koetsem, J.; Hoffmann, H.; Van Den Torren, L.; Anton, A.; Sjoberg, P.;
2000 / IEEE / 0-7695-0846-4
By: Tam, C.; Behringer, R.; Vassiliou, M.; Sundareswaran, S.; McGee, J.;
By: Tam, C.; Behringer, R.; Vassiliou, M.; Sundareswaran, S.; McGee, J.;
2002 / IEEE / 0-7695-1564-9
By: Venkatraman, S.; Sehgal, A.; Poutievski, L.; Natarajan, S.; Mullins, B.; Wen, S.; Calvert, K.; Bond, M.; Chae, Y.; Griffioen, J.; Zegura, E.;
By: Venkatraman, S.; Sehgal, A.; Poutievski, L.; Natarajan, S.; Mullins, B.; Wen, S.; Calvert, K.; Bond, M.; Chae, Y.; Griffioen, J.; Zegura, E.;
2002 / IEEE / 0-7695-1653-X
By: Glaser, M.A.; Bokhari, S.H.; Van Zeghbroeck, B.; Sauer, J.R.; Lansac, Y.; Jordan, H.F.;
By: Glaser, M.A.; Bokhari, S.H.; Van Zeghbroeck, B.; Sauer, J.R.; Lansac, Y.; Jordan, H.F.;