Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Distributed Object Management
Results
2011 / IEEE / 978-1-61284-456-5
By: Rickert, M.; Dalamagkidis, K.; Jantsch, M.; Wittmeier, S.; Knoll, A.; Marques, H.G.;
By: Rickert, M.; Dalamagkidis, K.; Jantsch, M.; Wittmeier, S.; Knoll, A.; Marques, H.G.;
1994 / IEEE / 0-8186-6610-2
By: Day, C.T.; Loken, S.; Xu, W.; Valsamis, D.; Qin, Y.; Grossman, R.; Song, T.; Scipioni, B.; Nixdorf, U.; Liu, D.; Leibold, P.; Cornell, L.; Baden, A.; Price, L.E.; Malon, D.; Lifka, D.; May, E.; Quarrie, D.; MacFarlane, J.F.;
By: Day, C.T.; Loken, S.; Xu, W.; Valsamis, D.; Qin, Y.; Grossman, R.; Song, T.; Scipioni, B.; Nixdorf, U.; Liu, D.; Leibold, P.; Cornell, L.; Baden, A.; Price, L.E.; Malon, D.; Lifka, D.; May, E.; Quarrie, D.; MacFarlane, J.F.;
1997 / IEEE / 0-8186-8031-8
By: Hyland, R.S.; Hughes, E.R.; Surer, S.L.; Schafer, A.L.; Rosenthal, A.S.; Litvintchouk, S.D.;
By: Hyland, R.S.; Hughes, E.R.; Surer, S.L.; Schafer, A.L.; Rosenthal, A.S.; Litvintchouk, S.D.;
1998 / IEEE / 0-8186-8538-7
By: Polydorou, N.D.; Liossis, N.I.; Anagnostou, M.E.; Demestichas, P.P.; Tzifa, E.C.;
By: Polydorou, N.D.; Liossis, N.I.; Anagnostou, M.E.; Demestichas, P.P.; Tzifa, E.C.;
1998 / IEEE / 0-7803-4905-9
By: Boujemaa, F.; Carrasco, J.; Herzog, U.; Leboucher, L.; Magedanz, T.; Minetti, R.; Pageot, J.-M.; Kennedy, D.;
By: Boujemaa, F.; Carrasco, J.; Herzog, U.; Leboucher, L.; Magedanz, T.; Minetti, R.; Pageot, J.-M.; Kennedy, D.;
1998 / IEEE / 0-7803-5158-4
By: Wittig, M.; Prnjat, O.; Sacks, L.; Autant, C.; Mazaher, S.; Bhushan, B.; Kande, M.M.;
By: Wittig, M.; Prnjat, O.; Sacks, L.; Autant, C.; Mazaher, S.; Bhushan, B.; Kande, M.M.;
1998 / IEEE / 0-7803-5158-4
By: Lam, H.; Aparicio, M.; Barry, J.; Ramnath, R.; Durniak, T.; Gilman, C.; Woods, C.; Karuturi, J.; Herman, P.;
By: Lam, H.; Aparicio, M.; Barry, J.; Ramnath, R.; Durniak, T.; Gilman, C.; Woods, C.; Karuturi, J.; Herman, P.;
1998 / IEEE / 0-8186-9201-4
By: Lowry Curry, E.; Malloy, B.A.; Il-Hyung Cho; McGregor, J.D.; Hobatr, C.;
By: Lowry Curry, E.; Malloy, B.A.; Il-Hyung Cho; McGregor, J.D.; Hobatr, C.;
1998 / IEEE / 0-8186-9183-2
By: Yamashita, T.; Satoh, Y.; Aoyama, M.; Yasutake, Y.; Takahara, K.; Murayama, K.;
By: Yamashita, T.; Satoh, Y.; Aoyama, M.; Yasutake, Y.; Takahara, K.; Murayama, K.;
1998 / IEEE
By: Stephens, G.; Berry, D.; Grimson, W.; Grimson, J.; Felton, E.; Weier, O.W.; Toussaint, P.; Kalra, D.;
By: Stephens, G.; Berry, D.; Grimson, W.; Grimson, J.; Felton, E.; Weier, O.W.; Toussaint, P.; Kalra, D.;
1998 / IEEE / 0-7803-4932-6
By: Nasirjan; Jin Wu; Lianfeng Yang; Min Cai; Junqing Xie; Yun Wang; Tongli Wei;
By: Nasirjan; Jin Wu; Lianfeng Yang; Min Cai; Junqing Xie; Yun Wang; Tongli Wei;
1998 / IEEE / 0-8186-9218-9
By: Schantz, R.E.; Karr, D.A.; Berman, M.E.; Bakken, D.E.; Sanders, W.H.; Cukier, M.; Henke, D.; Sabnis, C.; Ren, J.; Pistole, J.;
By: Schantz, R.E.; Karr, D.A.; Berman, M.E.; Bakken, D.E.; Sanders, W.H.; Cukier, M.; Henke, D.; Sabnis, C.; Ren, J.; Pistole, J.;
1998 / IEEE / 0-8186-8603-0
By: Chuan-Feng Chiu; Shwu-Huey Yen; Hwei-Jen Lin; Chang, A.Y.; Shih, T.K.;
By: Chuan-Feng Chiu; Shwu-Huey Yen; Hwei-Jen Lin; Chang, A.Y.; Shih, T.K.;