Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Distributed Amplifiers
Results
2011 / IEEE / 978-1-61284-712-2
By: Ambacher, O.; Schlechtweg, M.; Walcher, H.; Schubert, C.; Makon, R.E.; Hurm, V.; Rosenzweig, J.; Driad, R.;
By: Ambacher, O.; Schlechtweg, M.; Walcher, H.; Schubert, C.; Makon, R.E.; Hurm, V.; Rosenzweig, J.; Driad, R.;
2011 / IEEE / 978-0-85825-974-4
By: Kirikoshi, T.; Kamo, Y.; Koyama, H.; Yamanaka, K.; Kuwata, E.; Hirano, Y.; Nakayama, M.;
By: Kirikoshi, T.; Kamo, Y.; Koyama, H.; Yamanaka, K.; Kuwata, E.; Hirano, Y.; Nakayama, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1088-8
By: Nodjiadjim, V.; Dupuy, J.-Y.; Ouslimani, A.; Godin, J.; Konczykowska, A.; Berdaguer, P.; Riet, M.; Jorge, F.;
By: Nodjiadjim, V.; Dupuy, J.-Y.; Ouslimani, A.; Godin, J.; Konczykowska, A.; Berdaguer, P.; Riet, M.; Jorge, F.;
2013 / IEEE
By: Mata-Contreras, J.; Palombini, D.; Martin-Guerrero, T. M.; Limiti, E.; Camacho-Penalosa, C.;
By: Mata-Contreras, J.; Palombini, D.; Martin-Guerrero, T. M.; Limiti, E.; Camacho-Penalosa, C.;
2014 / IEEE
By: Dennler, Philippe; Ambacher, Oliver; Schlechtweg, Michael; Bruckner, Peter; Quay, Rudiger;
By: Dennler, Philippe; Ambacher, Oliver; Schlechtweg, Michael; Bruckner, Peter; Quay, Rudiger;
1988 / IEEE
By: Pregernig, L.; Larson, R.; Haller, G.; Freytag, D.; Moss, J.; Kirsten, F.A.; Yim, A.; Goulding, F.S.; Jared, R.C.; Nakamura, M.; Lo, C.C.;
By: Pregernig, L.; Larson, R.; Haller, G.; Freytag, D.; Moss, J.; Kirsten, F.A.; Yim, A.; Goulding, F.S.; Jared, R.C.; Nakamura, M.; Lo, C.C.;
1989 / IEEE
By: Kong, W.M.; Jabra, A.A.; Goldstick, D.I.; Snow, K.H.; Upton, M.A.G.; Kao, M.-Y.; Wypych, K.A.; Lee, B.R.; Tessmer, G.J.; Ho, P.; Kopp, W.F.;
By: Kong, W.M.; Jabra, A.A.; Goldstick, D.I.; Snow, K.H.; Upton, M.A.G.; Kao, M.-Y.; Wypych, K.A.; Lee, B.R.; Tessmer, G.J.; Ho, P.; Kopp, W.F.;
1990 / IEEE
By: Griffin, E.L.; Sadler, R.A.; Geissberger, A.E.; Pollman, M.D.; Bahl, I.J.; Singh, H.P.; Naber, J.F.; Willems, D.A.;
By: Griffin, E.L.; Sadler, R.A.; Geissberger, A.E.; Pollman, M.D.; Bahl, I.J.; Singh, H.P.; Naber, J.F.; Willems, D.A.;
1990 / IEEE
By: Harris, J.S., Jr.; Bechtel, N.G.; Archer, J.; Majidi-Ahy, R.; Nishimoto, C.K.; Pao, Y.-C.;
By: Harris, J.S., Jr.; Bechtel, N.G.; Archer, J.; Majidi-Ahy, R.; Nishimoto, C.K.; Pao, Y.-C.;
1990 / IEEE
By: Glenn, M.; Tan, Z.C.H.; Riaziat, M.; Nishimoto, C.K.; Majidi-Ahy, R.; Silverman, S.; Bandy, S.G.; Zdasiuk, G.A.; Pao, Y.-C.; Weng, S.-L.;
By: Glenn, M.; Tan, Z.C.H.; Riaziat, M.; Nishimoto, C.K.; Majidi-Ahy, R.; Silverman, S.; Bandy, S.G.; Zdasiuk, G.A.; Pao, Y.-C.; Weng, S.-L.;
1991 / IEEE
By: Becker, P.C.; Olsson, N.A.; Mollenauer, L.F.; Shang, H.-T.; Kranz, K.S.; Simpson, J.R.; Neubelt, M.J.; Lemaire, P.J.;
By: Becker, P.C.; Olsson, N.A.; Mollenauer, L.F.; Shang, H.-T.; Kranz, K.S.; Simpson, J.R.; Neubelt, M.J.; Lemaire, P.J.;
1989 / IEEE
By: Allen, B.R.; Dixit, R.; Perry, C.B.; Nelson, B.L.; Kim, M.E.; Umemoto, D.K.; Camou, J.B.; Oki, A.K.;
By: Allen, B.R.; Dixit, R.; Perry, C.B.; Nelson, B.L.; Kim, M.E.; Umemoto, D.K.; Camou, J.B.; Oki, A.K.;