Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Diamond-like Carbon
Results
2012 / IEEE
By: Yamada, K.; Kousaka, H.; Koizumi, H.; Hamajima, E.; Kawara, S.; Arakawa, Y.; Umehara, N.;
By: Yamada, K.; Kousaka, H.; Koizumi, H.; Hamajima, E.; Kawara, S.; Arakawa, Y.; Umehara, N.;
2012 / IEEE
By: Pil Seung Chung; Vemuri, S.H.; Jhon, M.S.; Biegler, L.T.; Smith, R.; Nae-Eung Lee; Young In Jhon; Geun-Young Yeom;
By: Pil Seung Chung; Vemuri, S.H.; Jhon, M.S.; Biegler, L.T.; Smith, R.; Nae-Eung Lee; Young In Jhon; Geun-Young Yeom;
2012 / IEEE
By: Pillon, M.; Milani, E.; Marinelli, M.; Magrin, G.; Prestopino, G.; Rollet, S.; Verona-Rinati, G.; Angelone, M.; Verona, C.;
By: Pillon, M.; Milani, E.; Marinelli, M.; Magrin, G.; Prestopino, G.; Rollet, S.; Verona-Rinati, G.; Angelone, M.; Verona, C.;
2012 / IEEE
By: Prawer, S.; Jamieson, D.; Reinhard, M.I.; Prokopovich, D.A.; Lerch, M.L.F.; Siegele, R.N.; Livingstone, J.; Petasecca, M.; Guatelli, S.; Alves, A.D.C.; Ganesan, K.; Davis, J.A.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Ziegler, J.; Dicello, J.F.; Pisacane, V.L.; Kuncic, Z.;
By: Prawer, S.; Jamieson, D.; Reinhard, M.I.; Prokopovich, D.A.; Lerch, M.L.F.; Siegele, R.N.; Livingstone, J.; Petasecca, M.; Guatelli, S.; Alves, A.D.C.; Ganesan, K.; Davis, J.A.; Rosenfeld, A.B.; Zaider, M.; Ziegler, J.; Dicello, J.F.; Pisacane, V.L.; Kuncic, Z.;
2012 / IEEE
By: Yang, J.H.-C.; Ta-Lun Sung; Ono, S.; Li-Deh Lin; Teii, K.; Wan-Yu Tseng; Chung-Ming Liu; Teii, S.;
By: Yang, J.H.-C.; Ta-Lun Sung; Ono, S.; Li-Deh Lin; Teii, K.; Wan-Yu Tseng; Chung-Ming Liu; Teii, S.;
2012 / IEEE
By: Dow, A.B.A.; Lin, H.; Schneider, M.; Petkov, C.; Kherani, N.P.; Ahmed, A.; Popov, C.; Schmid, U.; Bittner, A.;
By: Dow, A.B.A.; Lin, H.; Schneider, M.; Petkov, C.; Kherani, N.P.; Ahmed, A.; Popov, C.; Schmid, U.; Bittner, A.;
2012 / IEEE
By: Rafailov, E.U.; Butkus, M.; Krestnikov, I.; Toikkanen, L.; Rautiainen, J.; Rantamaki, A.; Okhotnikov, O.;
By: Rafailov, E.U.; Butkus, M.; Krestnikov, I.; Toikkanen, L.; Rautiainen, J.; Rantamaki, A.; Okhotnikov, O.;
2012 / IEEE
By: Kripesh, V.; Premchandran, C.S.; Tai Chong Chai; Xiaowu Zhang; Seung Wook Yoon; Kumar, A.; Lu Shen; Sekhar, V.N.; Lau, J.H.;
By: Kripesh, V.; Premchandran, C.S.; Tai Chong Chai; Xiaowu Zhang; Seung Wook Yoon; Kumar, A.; Lu Shen; Sekhar, V.N.; Lau, J.H.;
2012 / IEEE
By: Anderson, T.J.; Tadjer, M.J.; Melngailis, J.; Pate, B.; Feygelson, T.I.; Hobart, K.D.; Kub, F.J.; Eddy, C.R.; Caldwell, J.D.; Butler, J.E.;
By: Anderson, T.J.; Tadjer, M.J.; Melngailis, J.; Pate, B.; Feygelson, T.I.; Hobart, K.D.; Kub, F.J.; Eddy, C.R.; Caldwell, J.D.; Butler, J.E.;
2012 / IEEE
By: Trucchi, D.M.; Conte, G.; Allegrini, P.; Girolami, M.; Salvatori, S.; Ralchenko, V.G.;
By: Trucchi, D.M.; Conte, G.; Allegrini, P.; Girolami, M.; Salvatori, S.; Ralchenko, V.G.;
2012 / IEEE
By: Pedros, J.; Iriarte, G.F.; Rodriguez-Madrid, J.G.; Calle, F.; Brink, D.; Williams, O.A.;
By: Pedros, J.; Iriarte, G.F.; Rodriguez-Madrid, J.G.; Calle, F.; Brink, D.; Williams, O.A.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Furuuchi, S.; Shimotori, Y.; Ohashi, M.; Hoshino, H.; Masugata, K.; Sonegawa, T.; Kang, X.D.; Yatsui, K.;
By: Furuuchi, S.; Shimotori, Y.; Ohashi, M.; Hoshino, H.; Masugata, K.; Sonegawa, T.; Kang, X.D.; Yatsui, K.;
2002 / IEEE / 978-0-7354-0107-5
By: Malaise, Frederic; Bertron, Isabelle; Courchinoux, Roger; Cassany, Bruno; Hebert, David;
By: Malaise, Frederic; Bertron, Isabelle; Courchinoux, Roger; Cassany, Bruno; Hebert, David;
2009 / IEEE / 978-1-4577-0493-2
By: Kang, W.P.; Davidson, J.L.; Galloway, K.F.; Holmes-Siedle, A.G.; Basu, P.K.;
By: Kang, W.P.; Davidson, J.L.; Galloway, K.F.; Holmes-Siedle, A.G.; Basu, P.K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1226-5
By: Bergmann, R.B.; Falldorf, C.; Dankwart, C.; Glabe, R.; Meier, A.;
By: Bergmann, R.B.; Falldorf, C.; Dankwart, C.; Glabe, R.; Meier, A.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-244-8
By: McLelland, H.; Fox, O.J.L.; Moran, D.A.J.; May, P.W.; Russell, S.;
By: McLelland, H.; Fox, O.J.L.; Moran, D.A.J.; May, P.W.; Russell, S.;
2011 / IEEE / 978-3-00-035081-8
By: Kudo, Y.; Saito, I.; Okano, K.; Takahashi, I.; Yamada, T.; Onishi, M.; Kato, R.; Masuzawa, T.; Miyazaki, W.;
By: Kudo, Y.; Saito, I.; Okano, K.; Takahashi, I.; Yamada, T.; Onishi, M.; Kato, R.; Masuzawa, T.; Miyazaki, W.;
2011 / IEEE / 978-3-00-035081-8
By: Pate, B.B.; Jensen, K.L.; Yater, J.E.; Wood, F.N.; Hanna, J.M.; Butler, J.E.; Shaw, J.L.; Feygelson, T.I.;
By: Pate, B.B.; Jensen, K.L.; Yater, J.E.; Wood, F.N.; Hanna, J.M.; Butler, J.E.; Shaw, J.L.; Feygelson, T.I.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Kikuchi, Y.; Nishimura, Y.; Horiguchi, Y.; Yatsuzuka, M.; Fukui, K.; Nagata, M.; Matsuo, Y.; Miyamae, M.;
By: Kikuchi, Y.; Nishimura, Y.; Horiguchi, Y.; Yatsuzuka, M.; Fukui, K.; Nagata, M.; Matsuo, Y.; Miyamae, M.;
2011 / IEEE / 978-3-00-035081-8
By: Hasegawa, M.; Yamada, T.; Nebel, C.E.; Okano, K.; Masuzawa, T.; Kudo, Y.;
By: Hasegawa, M.; Yamada, T.; Nebel, C.E.; Okano, K.; Masuzawa, T.; Kudo, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0668-4
By: Patel, J.; Rao, S.L.; Sathyanarayana, K.; Kushwah, M.; Babu, R.; Shukla, B.K.; Belousov, V.; Belov, Y.; Shmelev, M.; Ronak, S.; Anjali, S.; Priyanka, A.S.; Vishal, B.; Patel, S.D.; Vipal, R.; Belsare, S.; Patel, H.; Pragnesh, D.;
By: Patel, J.; Rao, S.L.; Sathyanarayana, K.; Kushwah, M.; Babu, R.; Shukla, B.K.; Belousov, V.; Belov, Y.; Shmelev, M.; Ronak, S.; Anjali, S.; Priyanka, A.S.; Vishal, B.; Patel, S.D.; Vipal, R.; Belsare, S.; Patel, H.; Pragnesh, D.;