Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Databases
Results
2011 / IEEE
By: Saltz, J.H.; Moreno, C.S.; Kurc, T.M.; Van Meir, E.G.; Pan, T.; Sharma, A.; Brat, D.J.; Jingjing Gao; Gutman, D.A.; Fusheng Wang; Cooper, L.A.D.; Jun Kong; Chisolm, C.;
By: Saltz, J.H.; Moreno, C.S.; Kurc, T.M.; Van Meir, E.G.; Pan, T.; Sharma, A.; Brat, D.J.; Jingjing Gao; Gutman, D.A.; Fusheng Wang; Cooper, L.A.D.; Jun Kong; Chisolm, C.;
2011 / IEEE
By: Shimizu, T.; Weber, B.; Yannakakis, G.N.; Togelius, J.; Shaker, N.; Baumgarten, R.; Hashiyama, T.; Takahashi, G.; Smith, G.; Mawhorter, P.; Pasquier, P.; Sorenson, N.;
By: Shimizu, T.; Weber, B.; Yannakakis, G.N.; Togelius, J.; Shaker, N.; Baumgarten, R.; Hashiyama, T.; Takahashi, G.; Smith, G.; Mawhorter, P.; Pasquier, P.; Sorenson, N.;
2012 / IEEE
By: Schafer, R.W.; Said, A.; Lee, B.; Biscainho, L.W.P.; Tygel, A.F.; Avila, F.R.; Nunes, L.O.;
By: Schafer, R.W.; Said, A.; Lee, B.; Biscainho, L.W.P.; Tygel, A.F.; Avila, F.R.; Nunes, L.O.;
2012 / IEEE
By: Senhadji, L.; Mabo, P.; Donal, E.; Amblard, A.; Frogerais, P.; Giorgis, L.; Hernandez, A.I.;
By: Senhadji, L.; Mabo, P.; Donal, E.; Amblard, A.; Frogerais, P.; Giorgis, L.; Hernandez, A.I.;
2012 / IEEE
By: Suri, J.S.; Acharya, U.R.; Krishnamurthi, G.; Molinari, F.; Sree, S.V.; Nicolaides, A.; Saba, L.; Guang Zeng;
By: Suri, J.S.; Acharya, U.R.; Krishnamurthi, G.; Molinari, F.; Sree, S.V.; Nicolaides, A.; Saba, L.; Guang Zeng;
2012 / IEEE
By: Uyyanonvara, B.; Hoppe, A.; Remagnino, P.; Fraz, M. M.; Barman, S. A.; Owen, C. G.; Rudnicka, A. R.;
By: Uyyanonvara, B.; Hoppe, A.; Remagnino, P.; Fraz, M. M.; Barman, S. A.; Owen, C. G.; Rudnicka, A. R.;
2012 / IEEE
By: Silberstein, A.; Sears, R.; Ramakrishnan, R.; Narayan, P.P.S.; Jianjun Chen; Mortazavi, M.; McMillan, B.; Lomax, D.;
By: Silberstein, A.; Sears, R.; Ramakrishnan, R.; Narayan, P.P.S.; Jianjun Chen; Mortazavi, M.; McMillan, B.; Lomax, D.;
2012 / IEEE
By: Semikh, S.; Serre, S.; Roche, P.; Gasiot, G.; Munteanu, D.; Autran, J. L.; Uznanski, S.;
By: Semikh, S.; Serre, S.; Roche, P.; Gasiot, G.; Munteanu, D.; Autran, J. L.; Uznanski, S.;
2012 / IEEE
By: Najman, L.; Roullot, E.; Jehan-Besson, S.; de Cesare, A.; Cousty, J.; Lefort, M.; Constantinides, C.; Cochet, A.; Casta, C.; Clarysse, P.; Lalande, A.; Buvat, I.; Lebenberg, J.; Frouin, F.; Garreau, M.; Tilmant, C.; Sarry, L.;
By: Najman, L.; Roullot, E.; Jehan-Besson, S.; de Cesare, A.; Cousty, J.; Lefort, M.; Constantinides, C.; Cochet, A.; Casta, C.; Clarysse, P.; Lalande, A.; Buvat, I.; Lebenberg, J.; Frouin, F.; Garreau, M.; Tilmant, C.; Sarry, L.;