Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Crystals
Results
1987 / IEEE
By: Greene, Geoffrey L.; Tanaka, Mitsuru; Deslattes, Richard D.; Kessler, Ernest G.; Henins, Albert;
By: Greene, Geoffrey L.; Tanaka, Mitsuru; Deslattes, Richard D.; Kessler, Ernest G.; Henins, Albert;
2011 / IEEE
By: Faust, M.; Hamel, S.; Hatarik, R.; Carman, L.; Schabes, B.; Zaitseva, N.; Payne, S.; Glenn, A.; Cherepy, N.;
By: Faust, M.; Hamel, S.; Hatarik, R.; Carman, L.; Schabes, B.; Zaitseva, N.; Payne, S.; Glenn, A.; Cherepy, N.;
2011 / IEEE
By: Zanotti, L.; Calestani, D.; Zambelli, N.; Benassi, G.; Mingzheng Zha; Marchini, L.; Gombia, E.; Caroli, E.; Auricchio, N.; Zappettini, A.; Pavesi, M.; Zanichelli, M.; Mosca, R.;
By: Zanotti, L.; Calestani, D.; Zambelli, N.; Benassi, G.; Mingzheng Zha; Marchini, L.; Gombia, E.; Caroli, E.; Auricchio, N.; Zappettini, A.; Pavesi, M.; Zanichelli, M.; Mosca, R.;
2011 / IEEE
By: Pierce, L.A.; Hunter, W.; Xiaoli Li; Miyaoka, R.S.; Lewellen, T.K.; Kinahan, P.E.; McDougald, W.;
By: Pierce, L.A.; Hunter, W.; Xiaoli Li; Miyaoka, R.S.; Lewellen, T.K.; Kinahan, P.E.; McDougald, W.;
2011 / IEEE
By: Shitao Liu; Hongdi Li; Shaohui An; Wai-Hoi Wong; Baghaei, H.; Chao Wang; Yuxuan Zhang; Ramirez, R.;
By: Shitao Liu; Hongdi Li; Shaohui An; Wai-Hoi Wong; Baghaei, H.; Chao Wang; Yuxuan Zhang; Ramirez, R.;
Tem analyses of the local crystal and domain structures in (na1-xkx)0.5bi0.5tio3 perovskite ceramics
2011 / IEEEBy: Skapin, S.D.; Otonicar, M.; Jancar, B.;
2011 / IEEE
By: Bo-Wen Lin; Wen-Ching Hsu; Wu, Y.-C.S.; Bau-Ming Wang; Cheng-Yu Hsieh; Chung-Cheng Chang;
By: Bo-Wen Lin; Wen-Ching Hsu; Wu, Y.-C.S.; Bau-Ming Wang; Cheng-Yu Hsieh; Chung-Cheng Chang;
2011 / IEEE
By: Piramanayagam, S.N.; Zhi Kui Wang; Hock Siah Lim; Fu Sheng Ma; Meng Hau Kuok; Ser Choon Ng;
By: Piramanayagam, S.N.; Zhi Kui Wang; Hock Siah Lim; Fu Sheng Ma; Meng Hau Kuok; Ser Choon Ng;
2011 / IEEE
By: Celegato, F.; Carpentieri, M.; Ragusa, C.; Finocchio, G.; Boarino, L.; Enrico, E.; Tiberto, P.;
By: Celegato, F.; Carpentieri, M.; Ragusa, C.; Finocchio, G.; Boarino, L.; Enrico, E.; Tiberto, P.;
2012 / IEEE
By: O'uchi, S.; Endo, K.; Matsukawa, T.; Kamei, T.; Yongxun Liu; Masahara, M.; Tsukada, J.; Sakamoto, K.; Ogura, A.; Hayashida, T.; Ishikawa, Y.; Yamauchi, H.;
By: O'uchi, S.; Endo, K.; Matsukawa, T.; Kamei, T.; Yongxun Liu; Masahara, M.; Tsukada, J.; Sakamoto, K.; Ogura, A.; Hayashida, T.; Ishikawa, Y.; Yamauchi, H.;
2012 / IEEE
By: Auffray, E.; Gundacker, S.; Lecoq, P.; Pauwels, K.; Meyer, T.; Jarron, P.; Hillemanns, H.; Frisch, B.;
By: Auffray, E.; Gundacker, S.; Lecoq, P.; Pauwels, K.; Meyer, T.; Jarron, P.; Hillemanns, H.; Frisch, B.;
2012 / IEEE
By: Yabashi, M.; Kimura, H.; Tono, K.; Matsubara, S.; Togashi, T.; Nagasono, M.; Fukuda, T.; Higashiya, A.; Wakamiya, A.; Kano, M.; Sarukura, N.; Shimizu, T.; Nakazato, T.; Cadatal-Raduban, M.; Sakai, K.; Yamanoi, K.; Ishikawa, T.; Ohashi, H.;
By: Yabashi, M.; Kimura, H.; Tono, K.; Matsubara, S.; Togashi, T.; Nagasono, M.; Fukuda, T.; Higashiya, A.; Wakamiya, A.; Kano, M.; Sarukura, N.; Shimizu, T.; Nakazato, T.; Cadatal-Raduban, M.; Sakai, K.; Yamanoi, K.; Ishikawa, T.; Ohashi, H.;
2012 / IEEE
By: Knapitsch, A.; Lecoq, P.; Mazurczyk, R.; Letartre, X.; Leclercq, J.-L.; Fabjan, C.W.; Auffray, E.;
By: Knapitsch, A.; Lecoq, P.; Mazurczyk, R.; Letartre, X.; Leclercq, J.-L.; Fabjan, C.W.; Auffray, E.;
2012 / IEEE
By: Fukuda, K.; Totsuka, D.; Yanagida, T.; Kurosawa, S.; Kawaguchi, N.; Watanabe, K.; Kamada, K.; Fujimoto, Y.; Yoshikawa, A.; Yokota, Y.; Yamazaki, A.;
By: Fukuda, K.; Totsuka, D.; Yanagida, T.; Kurosawa, S.; Kawaguchi, N.; Watanabe, K.; Kamada, K.; Fujimoto, Y.; Yoshikawa, A.; Yokota, Y.; Yamazaki, A.;
2012 / IEEE
By: Lee, J.H.; Yue, Q.; Choi, J.H.; Kang, W.G.; Kim, B.H.; Kim, H.J.; Kim, K.W.; Kim, S.C.; Kim, S.K.; Kim, Y.D.; Lee, J.I.; Lee, J.K.; Lee, M.J.; Lee, S.J.; Li, J.; Li, J.; Li, X.R.; Li, Y.J.; Myung, S.S.; Olsen, S.L.; Ryu, S.; Seong, I.S.; So, J.H.; Bhang, H.;
By: Lee, J.H.; Yue, Q.; Choi, J.H.; Kang, W.G.; Kim, B.H.; Kim, H.J.; Kim, K.W.; Kim, S.C.; Kim, S.K.; Kim, Y.D.; Lee, J.I.; Lee, J.K.; Lee, M.J.; Lee, S.J.; Li, J.; Li, J.; Li, X.R.; Li, Y.J.; Myung, S.S.; Olsen, S.L.; Ryu, S.; Seong, I.S.; So, J.H.; Bhang, H.;
2012 / IEEE
By: Shimizu, T.; Nakazato, T.; Cadatal-Raduban, M.; Takeda, K.; Sakai, K.; Sarukura, N.; Wakamiya, A.; Kano, M.; Yamanoi, K.; Fukuda, T.;
By: Shimizu, T.; Nakazato, T.; Cadatal-Raduban, M.; Takeda, K.; Sakai, K.; Sarukura, N.; Wakamiya, A.; Kano, M.; Yamanoi, K.; Fukuda, T.;
2012 / IEEE
By: Hongdi Li; Shaohui An; Shitao Liu; Wai-Hoi Wong; Chao Wang; Baghaei, H.; Yuxuan Zhang; Ramirez, R.A.;
By: Hongdi Li; Shaohui An; Shitao Liu; Wai-Hoi Wong; Chao Wang; Baghaei, H.; Yuxuan Zhang; Ramirez, R.A.;
2012 / IEEE
By: Retiere, F.; Berg, E.J.; Goertzen, A.L.; Thompson, C.J.; Kozlowski, P.; Sossi, V.; Stortz, G.; Ryner, L.;
By: Retiere, F.; Berg, E.J.; Goertzen, A.L.; Thompson, C.J.; Kozlowski, P.; Sossi, V.; Stortz, G.; Ryner, L.;
2012 / IEEE
By: Nishikino, M.; Kawachi, T.; Fukuda, T.; Ehrentraut, D.; Azechi, H.; Nishimura, H.; Sarukura, N.; Tanaka, M.; Cadatal-Raduban, M.; Minami, Y.; Nishi, R.; Takeda, K.; Sakai, K.; Yamanoi, K.; Shimizu, T.; Nakazato, T.;
By: Nishikino, M.; Kawachi, T.; Fukuda, T.; Ehrentraut, D.; Azechi, H.; Nishimura, H.; Sarukura, N.; Tanaka, M.; Cadatal-Raduban, M.; Minami, Y.; Nishi, R.; Takeda, K.; Sakai, K.; Yamanoi, K.; Shimizu, T.; Nakazato, T.;
2012 / IEEE
By: Yanagida, T.; Fujimoto, Y.; Kamada, K.; Totsuka, D.; Yagi, H.; Nikl, M.; Futami, Y.; Yanagida, S.; Kurosawa, S.; Yokota, Y.; Yoshikawa, A.; Yanagitani, T.;
By: Yanagida, T.; Fujimoto, Y.; Kamada, K.; Totsuka, D.; Yagi, H.; Nikl, M.; Futami, Y.; Yanagida, S.; Kurosawa, S.; Yokota, Y.; Yoshikawa, A.; Yanagitani, T.;
2012 / IEEE
By: Pillon, M.; Milani, E.; Marinelli, M.; Magrin, G.; Prestopino, G.; Rollet, S.; Verona-Rinati, G.; Angelone, M.; Verona, C.;
By: Pillon, M.; Milani, E.; Marinelli, M.; Magrin, G.; Prestopino, G.; Rollet, S.; Verona-Rinati, G.; Angelone, M.; Verona, C.;
2012 / IEEE
By: Olschner, F.; Higgins, W.; Churilov, A.; Ciampi, G.; Kanai Shah; Cirignano, L.; Kargar, A.; Hadong Kim;
By: Olschner, F.; Higgins, W.; Churilov, A.; Ciampi, G.; Kanai Shah; Cirignano, L.; Kargar, A.; Hadong Kim;
2012 / IEEE
By: Leveque, P.; Arnaud-Cormos, D.; Gaborit, G.; Duvillaret, L.; Jarrige, P.; O'Connor, R.P.; Kohler, S.; Ticaud, N.;
By: Leveque, P.; Arnaud-Cormos, D.; Gaborit, G.; Duvillaret, L.; Jarrige, P.; O'Connor, R.P.; Kohler, S.; Ticaud, N.;
2012 / IEEE
By: Veale, M. C.; Bell, S. J.; Jones, L. L.; Seller, P.; Wilson, M. D.; Kalliopuska, J.; Pohjonen, H.; Andersson, H.; Nenonen, S.; Kachkanov, V.; Cernik, R. C.;
By: Veale, M. C.; Bell, S. J.; Jones, L. L.; Seller, P.; Wilson, M. D.; Kalliopuska, J.; Pohjonen, H.; Andersson, H.; Nenonen, S.; Kachkanov, V.; Cernik, R. C.;
2012 / IEEE
By: Raulo, A.; Perillo, E.; Paternoster, G.; Marano, D.; Campajola, L.; Hennard, G.; Sowinska, M.;
By: Raulo, A.; Perillo, E.; Paternoster, G.; Marano, D.; Campajola, L.; Hennard, G.; Sowinska, M.;
2012 / IEEE
By: Weixia Lan; Xuebin Wan; Zhaojun Liu; Xingyu Zhang; Guofan Jin; Qingpu Wang; Fen Bai; Huaijin Zhang;
By: Weixia Lan; Xuebin Wan; Zhaojun Liu; Xingyu Zhang; Guofan Jin; Qingpu Wang; Fen Bai; Huaijin Zhang;
2012 / IEEE
By: Yoshida, E.; Yamashita, T.; Watanabe, M.; Shibuya, K.; Suga, M.; Murayama, H.; Nishikido, F.; Inadama, N.; Yazaki, Y.; Mitsuhashi, T.; Yamaya, T.;
By: Yoshida, E.; Yamashita, T.; Watanabe, M.; Shibuya, K.; Suga, M.; Murayama, H.; Nishikido, F.; Inadama, N.; Yazaki, Y.; Mitsuhashi, T.; Yamaya, T.;
2012 / IEEE
By: James, R.B.; Bolotnikov, A.E.; Reinhard, M.I.; Kim, K.; Rafiei, R.; Sarbutt, A.; Boardman, D.; Prokopovich, D.A.;
By: James, R.B.; Bolotnikov, A.E.; Reinhard, M.I.; Kim, K.; Rafiei, R.; Sarbutt, A.; Boardman, D.; Prokopovich, D.A.;
2012 / IEEE
By: Yaver, H.; Stezelberger, T.; Lionberger, C.; Joseph, J.; Doering, D.; Anderson, J.T.; Zimmermann, S.;
By: Yaver, H.; Stezelberger, T.; Lionberger, C.; Joseph, J.; Doering, D.; Anderson, J.T.; Zimmermann, S.;
2012 / IEEE
By: Yasuda, K.; Niraula, M.; Agata, Y.; Wajima, Y.; Namba, S.; Yamashita, H.; Muramatsu, S.; Kondo, T.;
By: Yasuda, K.; Niraula, M.; Agata, Y.; Wajima, Y.; Namba, S.; Yamashita, H.; Muramatsu, S.; Kondo, T.;
2012 / IEEE
By: Marchini, L.; James, R.B.; Camarda, G.S.; Bolotnikov, A.E.; Zambelli, N.; Zha, M.; Zappettini, A.;
By: Marchini, L.; James, R.B.; Camarda, G.S.; Bolotnikov, A.E.; Zambelli, N.; Zha, M.; Zappettini, A.;
Phenomenological Model for Predicting the Energy Resolution of Neutron-Damaged Coaxial HPGe Detectors
2012 / IEEEBy: Wharton, C.J.; Seabury, E.H.; Van Siclen, C.D.; Caffrey, A.J.;
2012 / IEEE
By: Dong-Yo Jheng; Kuang-Yu Hsu; Sheng-Lung Huang; Chien-Chih Lai; Tuan-Shu Ho; Yi-Han Liao;
By: Dong-Yo Jheng; Kuang-Yu Hsu; Sheng-Lung Huang; Chien-Chih Lai; Tuan-Shu Ho; Yi-Han Liao;
2012 / IEEE
By: Arnaud-Cormos, D.; Jarrige, P.; Kohler, S.; Leveque, P.; Ticaud, N.; Gaborit, G.; Duvillaret, L.; O'Connor, R.P.;
By: Arnaud-Cormos, D.; Jarrige, P.; Kohler, S.; Leveque, P.; Ticaud, N.; Gaborit, G.; Duvillaret, L.; O'Connor, R.P.;