Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Control Engineering Computing
Results
2012 / IEEE
By: Garcia-Aracil, N.; Morales, R.; Badesa, F.J.; Fernandez, E.; Perez-Vidal, C.; Sabater, J.M.;
By: Garcia-Aracil, N.; Morales, R.; Badesa, F.J.; Fernandez, E.; Perez-Vidal, C.; Sabater, J.M.;
2012 / IEEE
By: Lallee, S.; Pattacini, U.; Warneken, F.; Pipe, T.; Warnier, M.; Alami, R.; Guitton, J.; Metta, G.; Dominey, P.F.; Sisbot, E.A.; Steinwender, J.; Hamann, K.; Skachek, S.; Natale, L.; Melhuish, C.; Lenz, A.; Lemaignan, S.;
By: Lallee, S.; Pattacini, U.; Warneken, F.; Pipe, T.; Warnier, M.; Alami, R.; Guitton, J.; Metta, G.; Dominey, P.F.; Sisbot, E.A.; Steinwender, J.; Hamann, K.; Skachek, S.; Natale, L.; Melhuish, C.; Lenz, A.; Lemaignan, S.;
2012 / IEEE
By: Charrier, J.; Yamamoto, A.; Anstett, D.; Bargueden, P.; Boussuge, T.; Bouty, A.; Dubois, O.; Durand, G.; Fazilleau, P.; Gibier, D.; Gournay, J.; Le Pouhalec, P.; Loiseau, D.; Lotrus, P.; Molinie, F.; Pinvidic, B.; Queinec, Y.; Zito, M.; Ogitsu, T.; Sasaki, K.; Kimura, N.; Kobayashi, T.; Makida, Y.; Nakamoto, T.; Ohhata, H.; Okamura, T.; Allard, J.;
By: Charrier, J.; Yamamoto, A.; Anstett, D.; Bargueden, P.; Boussuge, T.; Bouty, A.; Dubois, O.; Durand, G.; Fazilleau, P.; Gibier, D.; Gournay, J.; Le Pouhalec, P.; Loiseau, D.; Lotrus, P.; Molinie, F.; Pinvidic, B.; Queinec, Y.; Zito, M.; Ogitsu, T.; Sasaki, K.; Kimura, N.; Kobayashi, T.; Makida, Y.; Nakamoto, T.; Ohhata, H.; Okamura, T.; Allard, J.;
2012 / IEEE
By: Feltovich, P.J.; Bradshaw, J.M.; Johnson, M.; Sierhuis, M.; van Riemsdijk, B.; Jonker, C.;
By: Feltovich, P.J.; Bradshaw, J.M.; Johnson, M.; Sierhuis, M.; van Riemsdijk, B.; Jonker, C.;
2012 / IEEE
By: Robinson, L.; Atherton, J.A.; Fujiki, M.; Brinton, B.; Ricks, D.; Goodrich, M.A.; Acerson, A.; Colton, M.; Maxfield, M.H.;
By: Robinson, L.; Atherton, J.A.; Fujiki, M.; Brinton, B.; Ricks, D.; Goodrich, M.A.; Acerson, A.; Colton, M.; Maxfield, M.H.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-8598-7
By: Yang Songlin; Wu Wei; Cui Jian; Chen Peng; Yuan Jingpin; Wang Pengyu;
By: Yang Songlin; Wu Wei; Cui Jian; Chen Peng; Yuan Jingpin; Wang Pengyu;
2010 / IEEE / 978-0-9552047-4-6
By: Rivas-Araiza, E.A.; Rodriguez-Resendiz, J.; Gonzalez-Gutierrez, C.A.; Herrera-Ruiz, G.;
By: Rivas-Araiza, E.A.; Rodriguez-Resendiz, J.; Gonzalez-Gutierrez, C.A.; Herrera-Ruiz, G.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-385-8
By: Branco, K.R.L.J.C.; Wolf, D.F.; Osorio, F.S.; Trindade, O.; Oliveira Neris, L.; Pelizzoni, J.M.;
By: Branco, K.R.L.J.C.; Wolf, D.F.; Osorio, F.S.; Trindade, O.; Oliveira Neris, L.; Pelizzoni, J.M.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8115-6
By: Handroos, H.; Junhong Liu; Huapeng Wu; Nousiainen, S.; Miraftabi, B.; Rossi, M.; Tarkka, I.; Peurala, S.; Heinonen, A.;
By: Handroos, H.; Junhong Liu; Huapeng Wu; Nousiainen, S.; Miraftabi, B.; Rossi, M.; Tarkka, I.; Peurala, S.; Heinonen, A.;