Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Cmos Analog Integrated Circuits
Results
2012 / IEEE
By: Doany, F.E.; Kash, J.A.; Lee, B.G.; Budd, R.A.; Baks, C.W.; Tsang, C.K.; Knickerbocker, J.U.; Dangel, R.; Chan, B.; How Lin; Carver, C.; Jianzhuang Huang; Berry, J.; Bajkowski, D.; Libsch, F.; Schow, C.L.;
By: Doany, F.E.; Kash, J.A.; Lee, B.G.; Budd, R.A.; Baks, C.W.; Tsang, C.K.; Knickerbocker, J.U.; Dangel, R.; Chan, B.; How Lin; Carver, C.; Jianzhuang Huang; Berry, J.; Bajkowski, D.; Libsch, F.; Schow, C.L.;
2014 / IEEE
By: Esparza-Alfaro, Fermin; Permisi, Salvatore; Palumbo, Gaetano; Lopez-Martin, Antonio J.;
By: Esparza-Alfaro, Fermin; Permisi, Salvatore; Palumbo, Gaetano; Lopez-Martin, Antonio J.;
1988 / IEEE
By: Horiba, Y.; Akasaka, Y.; Yazawa, N.; Nishimura, T.; Kusunoki, S.; Nakaya, M.; Kumamoto, T.;
By: Horiba, Y.; Akasaka, Y.; Yazawa, N.; Nishimura, T.; Kusunoki, S.; Nakaya, M.; Kumamoto, T.;
1989 / IEEE
By: Goffart, B.L.A.G.; Degrauwe, M.G.R.; Pardoen, M.D.; Schwarz, T.R.; Meyvaert, M.K.C.M.; Pierre, M.L.A.; Meixenberger, C.; Dijkstra, E.; Nys, O.J.A.P.; Rijmenants, J.; Litsios, J.B.; Joss, B.;
By: Goffart, B.L.A.G.; Degrauwe, M.G.R.; Pardoen, M.D.; Schwarz, T.R.; Meyvaert, M.K.C.M.; Pierre, M.L.A.; Meixenberger, C.; Dijkstra, E.; Nys, O.J.A.P.; Rijmenants, J.; Litsios, J.B.; Joss, B.;
1989 / IEEE
By: Rao, R.; Anagnostopoulos, C.; Tschang, P.; Chung, J.K.; Halverson, R.; Valdenaire, P.; Jorgenson, R.; Portmann, C.; Smith, M.J.S.; Mattos, D.W.; Ching, H.;
By: Rao, R.; Anagnostopoulos, C.; Tschang, P.; Chung, J.K.; Halverson, R.; Valdenaire, P.; Jorgenson, R.; Portmann, C.; Smith, M.J.S.; Mattos, D.W.; Ching, H.;
1990 / IEEE
By: Hino, Y.; Kobayashi, O.; Sugihara, K.; Asami, F.; Akiba, T.; Tahara, N.; Kohiyama, K.; Ohta, M.;
By: Hino, Y.; Kobayashi, O.; Sugihara, K.; Asami, F.; Akiba, T.; Tahara, N.; Kohiyama, K.; Ohta, M.;
1989 / IEEE
By: Perez-Verdu, B.; Sanchez-Sinencio, E.; Huertas, J.L.; Rodriguez-Vazquez, A.; Linares-Barranco, B.; Cruz, J.;
By: Perez-Verdu, B.; Sanchez-Sinencio, E.; Huertas, J.L.; Rodriguez-Vazquez, A.; Linares-Barranco, B.; Cruz, J.;
1990 / IEEE / 0-87942-573-3
By: Bonaime, J.; Blanc, J.P.; Montaron, J.; Martin, J.L.; Dupont-Nivet, E.; Truche, R.; de Pontcharra, J.; Gautier, J.; Delevoye, E.;
By: Bonaime, J.; Blanc, J.P.; Montaron, J.; Martin, J.L.; Dupont-Nivet, E.; Truche, R.; de Pontcharra, J.; Gautier, J.; Delevoye, E.;
1990 / IEEE / 0-8186-2066-8
By: Maloberti, F.; Chiappano, G.; Boarin, G.; Porta, M.; Napolitano, S.;
By: Maloberti, F.; Chiappano, G.; Boarin, G.; Porta, M.; Napolitano, S.;
1991 / IEEE / 0-8186-2153-2
By: Bishofberger, B.; Horiuchi, T.; Bair, W.; Moore, A.; Koch, C.; Lazzaro, J.;
By: Bishofberger, B.; Horiuchi, T.; Bair, W.; Moore, A.; Koch, C.; Lazzaro, J.;