Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Brillouin Zone
Results
2011 / IEEE / 978-1-61284-418-3
By: Zhang, W.; Rideau, D.; Jaouen, H.; Tavernier, C.; Delerue, C.; Niquet, Y.M.;
By: Zhang, W.; Rideau, D.; Jaouen, H.; Tavernier, C.; Delerue, C.; Niquet, Y.M.;
2000 / IEEE / 0-7803-5235-1
By: Vragovic, I.D.; Junger, I.; Setrajcic, J.P.; Stojkovic, S.M.; Lazarev, S.B.;
By: Vragovic, I.D.; Junger, I.; Setrajcic, J.P.; Stojkovic, S.M.; Lazarev, S.B.;
2000 / IEEE / 0-85261-704-6
By: Bellotti, E.; Ghione, G.; Goano, M.; Garetto, C.; Ghillino, E.; Brennan, K.F.;
By: Bellotti, E.; Ghione, G.; Goano, M.; Garetto, C.; Ghillino, E.; Brennan, K.F.;
2000 / IEEE / 0-85261-704-6
By: Brennan, K.F.; Zhang, Y.; Ruden, P.P.; Nilsson, H.-E.; Farahmand, M.; Bellotti, E.;
By: Brennan, K.F.; Zhang, Y.; Ruden, P.P.; Nilsson, H.-E.; Farahmand, M.; Bellotti, E.;
2000 / IEEE
By: Bellotti, E.; Brennan, K.F.; Yumin Zhang; Ruden, P.P.; Nilsson, H.-E.; Farahmand, M.;
By: Bellotti, E.; Brennan, K.F.; Yumin Zhang; Ruden, P.P.; Nilsson, H.-E.; Farahmand, M.;
2000 / IEEE / 1-55752-608-7
By: Abstreiter, G.; Wegscheider, W.; Bichler, M.; Leitenstorfer, A.; Betz, M.; Goger, G.;
By: Abstreiter, G.; Wegscheider, W.; Bichler, M.; Leitenstorfer, A.; Betz, M.; Goger, G.;
2002 / IEEE / 0-7803-7235-2
By: Koprinarova, J.; Atanassova, E.; Konakova, R.V.; Kolyadina, E.Yu.; Boltovets, N.S.; Matveeva, L.A.; Voitsikhovskyi, D.I.; Shynkarenko, V.V.; Mitin, V.F.; Milenin, V.V.;
By: Koprinarova, J.; Atanassova, E.; Konakova, R.V.; Kolyadina, E.Yu.; Boltovets, N.S.; Matveeva, L.A.; Voitsikhovskyi, D.I.; Shynkarenko, V.V.; Mitin, V.F.; Milenin, V.V.;
2003 / IEEE / 0-7803-7733-8
By: Christodoulides, D.N.; Carmon, T.; Fleischer, J.W.; Segev, M.; Efremidis, N.K.;
By: Christodoulides, D.N.; Carmon, T.; Fleischer, J.W.; Segev, M.; Efremidis, N.K.;
2004 / IEEE / 0-7803-8331-1
By: Shapiro, M.A.; Temkin, R.J.; Smirnova, E.I.; Sirigiri, J.R.; Chen, C.;
By: Shapiro, M.A.; Temkin, R.J.; Smirnova, E.I.; Sirigiri, J.R.; Chen, C.;
2004 / IEEE / 0-7803-8343-5
By: Chen, Y.; Andreani, L.C.; Agio, M.; Gerace, D.; Guizzetti, G.; Galli, M.; Paleari, F.; Belotti, M.; Bajoni, D.; Patrini, M.;
By: Chen, Y.; Andreani, L.C.; Agio, M.; Gerace, D.; Guizzetti, G.; Galli, M.; Paleari, F.; Belotti, M.; Bajoni, D.; Patrini, M.;
2005 / IEEE
By: Paleari, F.; Chen, Y.; Belotti, M.; Bajoni, D.; Galli, M.; Patrini, M.; Peyrade, D.; Andreani, L.C.; Agio, M.; Gerace, D.; Guizzetti, G.;
By: Paleari, F.; Chen, Y.; Belotti, M.; Bajoni, D.; Galli, M.; Patrini, M.; Peyrade, D.; Andreani, L.C.; Agio, M.; Gerace, D.; Guizzetti, G.;
2005 / IEEE / 0-7803-9149-7
By: Herzinger, C.M.; Schmidt, H.; Schmidt-Grund, R.; Fritsch, D.; Grundmann, M.;
By: Herzinger, C.M.; Schmidt, H.; Schmidt-Grund, R.; Fritsch, D.; Grundmann, M.;
2005 / IEEE
By: Gauthier-Lafaye, O.; Lozes-Dupuy, F.; Mulin, D.; Bonnefont, S.; Guang-Hua Duan; Poingt, F.; Lelarge, F.; Valentin, J.; Legouezigou, O.L.; Legouezigou, L.; Drisse, O.; Derouin, E.; Cuisin, C.; Pommereau, F.; Lourtioz, J.-M.; Boucaud, P.; Checoury, X.; Talneau, A.;
By: Gauthier-Lafaye, O.; Lozes-Dupuy, F.; Mulin, D.; Bonnefont, S.; Guang-Hua Duan; Poingt, F.; Lelarge, F.; Valentin, J.; Legouezigou, O.L.; Legouezigou, L.; Drisse, O.; Derouin, E.; Cuisin, C.; Pommereau, F.; Lourtioz, J.-M.; Boucaud, P.; Checoury, X.; Talneau, A.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0930-3
By: Desyatnikov, A.S.; Hickmann, J.M.; Cavalcanti, S.B.; Shchesnovich, V.S.; Kivshar, Y.S.;
By: Desyatnikov, A.S.; Hickmann, J.M.; Cavalcanti, S.B.; Shchesnovich, V.S.; Kivshar, Y.S.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1383-6
By: Chen, C.-C.; Choujaa, A.; Moubchir, H.; Khelif, A.; Hsiao, F.-L.; Laude, V.;
By: Chen, C.-C.; Choujaa, A.; Moubchir, H.; Khelif, A.; Hsiao, F.-L.; Laude, V.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Viktorovitch, P.; Letartre, X.; Seassal, C.; Ben Bakir, B.; Monnier, P.; Vecchi, G.; Di Cioccio, L.; Yacomotti, A.M.; Levenson, A.; Raineri, F.; Raj, R.; Fedeli, J.M.;
By: Viktorovitch, P.; Letartre, X.; Seassal, C.; Ben Bakir, B.; Monnier, P.; Vecchi, G.; Di Cioccio, L.; Yacomotti, A.M.; Levenson, A.; Raineri, F.; Raj, R.; Fedeli, J.M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2428-3
By: Khelif, A.; Benchabane, S.; Achaoui, Y.; Aoubiza, B.; Laude, V.;
By: Khelif, A.; Benchabane, S.; Achaoui, Y.; Aoubiza, B.; Laude, V.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2428-3
By: Petreni, V.; Rauch, J.-y.; Choujaa, A.; Khelif, A.; Laude, V.; Benchabane, S.; Moubchir, H.;
By: Petreni, V.; Rauch, J.-y.; Choujaa, A.; Khelif, A.; Laude, V.; Benchabane, S.; Moubchir, H.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4079-5
By: Krolikowski, W.; Neshev, D.N.; Desyatnikov, A.S.; Terhalle, B.; Kivshar, Yu.S.; Denz, C.;
By: Krolikowski, W.; Neshev, D.N.; Desyatnikov, A.S.; Terhalle, B.; Kivshar, Yu.S.; Denz, C.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Reimann, K.; Gaal, P.; Kuehn, W.; Hey, R.; Elsaesser, T.; Woerner, M.;
By: Reimann, K.; Gaal, P.; Kuehn, W.; Hey, R.; Elsaesser, T.; Woerner, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0532-8
By: Peschel, U.; Romanov, S.G.; Busch, K.; Kuchenmeister, J.; Wolff, C.;
By: Peschel, U.; Romanov, S.G.; Busch, K.; Kuchenmeister, J.; Wolff, C.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-911-4
By: Belarouci, A.; Rahmani, A.; Thanh-Phong Vo; Callard, S.; Seassal, C.; Grosjean, T.; Charraut, D.; Mivel, M.; Nedeljkovic, D.;
By: Belarouci, A.; Rahmani, A.; Thanh-Phong Vo; Callard, S.; Seassal, C.; Grosjean, T.; Charraut, D.; Mivel, M.; Nedeljkovic, D.;
2011 / Springer Science+Business Media / 0027-1349
By: E. Nikolaeva; A. Silinin; Yu. Basalaev; P. Demushin;
By: E. Nikolaeva; A. Silinin; Yu. Basalaev; P. Demushin;