Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Biomedical Ultrasonics
Results
2011 / IEEE
By: Gurun, G.; Satir, S.; Xu, T.; Hochman, M.; Zahorian, J.; Degertekin, F.L.; Karaman, M.;
By: Gurun, G.; Satir, S.; Xu, T.; Hochman, M.; Zahorian, J.; Degertekin, F.L.; Karaman, M.;
2011 / IEEE
By: Fotiou, E.; Stefanou, K.; Karvounis, E.; Athanasiou, L.; Exarchos, T.P.; Sakellarios, A.; Fotiadis, D.I.; Siogkas, P.; Parodi, O.; Filipovic, N.; Michalis, L.K.; Naka, K.K.;
By: Fotiou, E.; Stefanou, K.; Karvounis, E.; Athanasiou, L.; Exarchos, T.P.; Sakellarios, A.; Fotiadis, D.I.; Siogkas, P.; Parodi, O.; Filipovic, N.; Michalis, L.K.; Naka, K.K.;
2011 / IEEE
By: Shih, W.Y.; Youngsoo Chung; Wei Wu; Xiang Li; Shung, K.K.; Qifa Zhou; Wei-Heng Shih;
By: Shih, W.Y.; Youngsoo Chung; Wei Wu; Xiang Li; Shung, K.K.; Qifa Zhou; Wei-Heng Shih;
2011 / IEEE
By: Dave, J.K.; Forsberg, F.; Leung, C.; Dickie, K.; Halldorsdottir, V.G.; McDonald, M.E.; Ji-Bin Liu; Eisenbrey, J.R.;
By: Dave, J.K.; Forsberg, F.; Leung, C.; Dickie, K.; Halldorsdottir, V.G.; McDonald, M.E.; Ji-Bin Liu; Eisenbrey, J.R.;
2012 / IEEE
By: Welch, M.; Jalal, R.; Nagpal, S.; Lasso, A.; Jaeger, M.; Borschneck, D.P.; Fichtinger, G.; Mousavi, P.; Ayukawa, I.; Abolmaesumi, P.; Ungi, T.;
By: Welch, M.; Jalal, R.; Nagpal, S.; Lasso, A.; Jaeger, M.; Borschneck, D.P.; Fichtinger, G.; Mousavi, P.; Ayukawa, I.; Abolmaesumi, P.; Ungi, T.;
2012 / IEEE
By: Pujol, O.; Ciompi, F.; Gatta, C.; Balocco, S.; Silva, J.; Alberti, M.; Radeva, P.; Carrillo, X.;
By: Pujol, O.; Ciompi, F.; Gatta, C.; Balocco, S.; Silva, J.; Alberti, M.; Radeva, P.; Carrillo, X.;
2012 / IEEE
By: Senhadji, L.; Mabo, P.; Donal, E.; Amblard, A.; Frogerais, P.; Giorgis, L.; Hernandez, A.I.;
By: Senhadji, L.; Mabo, P.; Donal, E.; Amblard, A.; Frogerais, P.; Giorgis, L.; Hernandez, A.I.;
2012 / IEEE
By: Suri, J.S.; Nicolaides, A.; Saba, L.; Molinari, F.; Sree, S.V.; Faust, O.; Acharya, U.R.;
By: Suri, J.S.; Nicolaides, A.; Saba, L.; Molinari, F.; Sree, S.V.; Faust, O.; Acharya, U.R.;
2012 / IEEE
By: Suri, J.S.; Acharya, U.R.; Krishnamurthi, G.; Molinari, F.; Sree, S.V.; Nicolaides, A.; Saba, L.; Guang Zeng;
By: Suri, J.S.; Acharya, U.R.; Krishnamurthi, G.; Molinari, F.; Sree, S.V.; Nicolaides, A.; Saba, L.; Guang Zeng;
2012 / IEEE
By: Sink, Z.; Dord, J.-F.; Goenezen, S.; Oberai, A.A.; Hall, T.J.; Jingfeng Jiang; Barbone, P.E.;
By: Sink, Z.; Dord, J.-F.; Goenezen, S.; Oberai, A.A.; Hall, T.J.; Jingfeng Jiang; Barbone, P.E.;
2012 / IEEE
By: Salomir, R.; Gross, P.; Becker, C.D.; Terraz, S.; Goget, T.; Kickhefel, A.; Auboiroux, V.; Petrusca, L.; Morel, D.R.; Roland, J.; Viallon, M.;
By: Salomir, R.; Gross, P.; Becker, C.D.; Terraz, S.; Goget, T.; Kickhefel, A.; Auboiroux, V.; Petrusca, L.; Morel, D.R.; Roland, J.; Viallon, M.;
2012 / IEEE
By: Lovstakken, L.; Degroote, J.; De Santis, G.; Swillens, A.; Segers, P.; Vierendeels, J.;
By: Lovstakken, L.; Degroote, J.; De Santis, G.; Swillens, A.; Segers, P.; Vierendeels, J.;
2012 / IEEE
By: Salcudean, S.E.; Fichtinger, G.; Morris, W.J.; Dehghan, E.; Chng, N.; Moradi, M.; Lobo, J.R.;
By: Salcudean, S.E.; Fichtinger, G.; Morris, W.J.; Dehghan, E.; Chng, N.; Moradi, M.; Lobo, J.R.;
2012 / IEEE
By: Sheet, D.; Karamalis, A.; Katouzian, A.; Laine, A.F.; Baseri, B.; Konofagou, E.; Konig, A.; Eslami, A.; Carlier, S.G.; Navab, N.;
By: Sheet, D.; Karamalis, A.; Katouzian, A.; Laine, A.F.; Baseri, B.; Konofagou, E.; Konig, A.; Eslami, A.; Carlier, S.G.; Navab, N.;
2012 / IEEE
By: McGraw, R.C.; Pinter, C.; Lasso, A.; Moult, E.; Sargent, D.; Ungi, T.; Fichtinger, G.;
By: McGraw, R.C.; Pinter, C.; Lasso, A.; Moult, E.; Sargent, D.; Ungi, T.; Fichtinger, G.;
2012 / IEEE
By: Bourantas, C.V.; Michalis, L.K.; Naka, K.K.; Tsakanikas, V.D.; Karvelis, P.S.; Athanasiou, L.S.; Fotiadis, D.I.;
By: Bourantas, C.V.; Michalis, L.K.; Naka, K.K.; Tsakanikas, V.D.; Karvelis, P.S.; Athanasiou, L.S.; Fotiadis, D.I.;
2012 / IEEE
By: Debono, C.J.; Amso, N.N.; Istepanian, R.S.H.; Alinejad, A.; Philip, N.Y.; Micallef, B.W.;
By: Debono, C.J.; Amso, N.N.; Istepanian, R.S.H.; Alinejad, A.; Philip, N.Y.; Micallef, B.W.;
2012 / IEEE
By: Nicolaides, A.; Kakkos, S.; Griffin, M.; Pattichis, M.S.; Pattichis, C.S.; Petroudi, S.; Kyriacou, E.C.;
By: Nicolaides, A.; Kakkos, S.; Griffin, M.; Pattichis, M.S.; Pattichis, C.S.; Petroudi, S.; Kyriacou, E.C.;
2012 / IEEE
By: Golemati, S.; Nikita, K.S.; Koropouli, V.; Dimopoulos, A.C.; Gastounioti, A.; Stoitsis, J.S.;
By: Golemati, S.; Nikita, K.S.; Koropouli, V.; Dimopoulos, A.C.; Gastounioti, A.; Stoitsis, J.S.;
2012 / IEEE
By: Weibao Qiu; Yan Chen; Xiang Li; Yanyan Yu; Lei Sun; Fu Keung Tsang; Qifa Zhou; Shung, K.K.; Jiyan Dai; Wang Fai Cheng;
By: Weibao Qiu; Yan Chen; Xiang Li; Yanyan Yu; Lei Sun; Fu Keung Tsang; Qifa Zhou; Shung, K.K.; Jiyan Dai; Wang Fai Cheng;
2012 / IEEE
By: Jeeun Kang; Youngbae Lee; Sang-Bum Kye; Changhan Yoon; Gi-Duck Kim; Tai-kyong Song; Yangmo Yoo;
By: Jeeun Kang; Youngbae Lee; Sang-Bum Kye; Changhan Yoon; Gi-Duck Kim; Tai-kyong Song; Yangmo Yoo;
2012 / IEEE
By: Tymkiewicz, R.; Lewandowski, M.; Cieslik, L.; Litniewski, J.; Nowicki, A.; Zienkiewicz, B.;
By: Tymkiewicz, R.; Lewandowski, M.; Cieslik, L.; Litniewski, J.; Nowicki, A.; Zienkiewicz, B.;
2012 / IEEE
By: Tran-Huu-Hue, L.P.; Lou-Moeller, R.; Levassort, F.; Ketterling, J.A.; Filoux, E.; Lethiecq, M.; Wolny, W.W.; Silverman, R.H.;
By: Tran-Huu-Hue, L.P.; Lou-Moeller, R.; Levassort, F.; Ketterling, J.A.; Filoux, E.; Lethiecq, M.; Wolny, W.W.; Silverman, R.H.;