Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Biomedical Equipment
Results
2011 / IEEE
By: Brown, E.R.; Hubschman, J.-P.; Hua Lee; Stojadinovic, A.; Culjat, M.O.; Bajwa, N.; Grundfest, W.S.; Tewari, P.; Bennett, D.B.; Singh, R.S.; Taylor, Z.D.; Kealey, C.P.;
By: Brown, E.R.; Hubschman, J.-P.; Hua Lee; Stojadinovic, A.; Culjat, M.O.; Bajwa, N.; Grundfest, W.S.; Tewari, P.; Bennett, D.B.; Singh, R.S.; Taylor, Z.D.; Kealey, C.P.;
2011 / IEEE
By: del Valle, P.; Martinez, I.; Escayola, J.; Aragues, A.; Garcia, J.; Trigo, J.D.; Munoz, P.;
By: del Valle, P.; Martinez, I.; Escayola, J.; Aragues, A.; Garcia, J.; Trigo, J.D.; Munoz, P.;
2011 / IEEE
By: Arunachalam, K.; Jacobsen, S.K.; Klemetsen, O.; Birkelund, Y.; Stauffer, P.R.; Maccarini, P.;
By: Arunachalam, K.; Jacobsen, S.K.; Klemetsen, O.; Birkelund, Y.; Stauffer, P.R.; Maccarini, P.;
2011 / IEEE
By: Shitao Liu; Hongdi Li; Shaohui An; Wai-Hoi Wong; Baghaei, H.; Chao Wang; Yuxuan Zhang; Ramirez, R.;
By: Shitao Liu; Hongdi Li; Shaohui An; Wai-Hoi Wong; Baghaei, H.; Chao Wang; Yuxuan Zhang; Ramirez, R.;
2012 / IEEE
By: Webster, R.J.; Noble, J.H.; Balachandran, R.; McRackan, T.R.; Schurzig, D.; Kratchman, L.B.; Labadie, R.F.;
By: Webster, R.J.; Noble, J.H.; Balachandran, R.; McRackan, T.R.; Schurzig, D.; Kratchman, L.B.; Labadie, R.F.;
2012 / IEEE
By: von Woedtke, T.; Weltmann, K.-D.; Schroder, K.; Nebe, B.; Quade, A.; Duske, K.; Fricke, K.;
By: von Woedtke, T.; Weltmann, K.-D.; Schroder, K.; Nebe, B.; Quade, A.; Duske, K.; Fricke, K.;
2012 / IEEE
By: Senhadji, L.; Mabo, P.; Donal, E.; Amblard, A.; Frogerais, P.; Giorgis, L.; Hernandez, A.I.;
By: Senhadji, L.; Mabo, P.; Donal, E.; Amblard, A.; Frogerais, P.; Giorgis, L.; Hernandez, A.I.;
2011 / IEEE
By: de la Rosa, J.M.; Fabila, D.A.; Soto, J.L.; Mercado, R.; Arellano, A.; Moreno, E.; Alvarez, M.; Lopez, T.; Mercado, S.M.; Dominguez, J.; Stolik, S.;
By: de la Rosa, J.M.; Fabila, D.A.; Soto, J.L.; Mercado, R.; Arellano, A.; Moreno, E.; Alvarez, M.; Lopez, T.; Mercado, S.M.; Dominguez, J.; Stolik, S.;
2011 / IEEE
By: Fukuyama, H.; Lopez, H.S.; Poole, M.; Crozier, S.; Ozaki, O.; Sato, K.; Urayama, S.; Nakajima, I.; Kitaguchi, H.;
By: Fukuyama, H.; Lopez, H.S.; Poole, M.; Crozier, S.; Ozaki, O.; Sato, K.; Urayama, S.; Nakajima, I.; Kitaguchi, H.;
2012 / IEEE
By: Pannetier-Lecoeur, M.; Fermon, C.; Parkkonen, L.; Azizi-Rogeau, L.; Campiglio, P.; Paul, E.; Caruso, L.; Demonti, A.;
By: Pannetier-Lecoeur, M.; Fermon, C.; Parkkonen, L.; Azizi-Rogeau, L.; Campiglio, P.; Paul, E.; Caruso, L.; Demonti, A.;
2012 / IEEE
By: Sahakian, A.V.; Cox, N.M.; Elmer, T.W.; Bakhtiari, S.; Gopalsami, N.; Mikhelson, I.; Liao, S.; Raptis, A.C.;
By: Sahakian, A.V.; Cox, N.M.; Elmer, T.W.; Bakhtiari, S.; Gopalsami, N.; Mikhelson, I.; Liao, S.; Raptis, A.C.;
2012 / IEEE
By: Leveque, P.; Arnaud-Cormos, D.; Gaborit, G.; Duvillaret, L.; Jarrige, P.; O'Connor, R.P.; Kohler, S.; Ticaud, N.;
By: Leveque, P.; Arnaud-Cormos, D.; Gaborit, G.; Duvillaret, L.; Jarrige, P.; O'Connor, R.P.; Kohler, S.; Ticaud, N.;
2012 / IEEE
By: Culurciello, E.; Platisa, J.; Dickensheets, D.; Joon Hyuk Park; Osman, A.; Pieribone, V.A.;
By: Culurciello, E.; Platisa, J.; Dickensheets, D.; Joon Hyuk Park; Osman, A.; Pieribone, V.A.;
2012 / IEEE
By: Yoshihara, H.; Chihara, K.; Takemura, T.; Ohboshi, N.; Hori, K.; Kuroda, T.; Masuda, Y.; Suenaga, T.; Sasaki, H.; Yasumuro, Y.;
By: Yoshihara, H.; Chihara, K.; Takemura, T.; Ohboshi, N.; Hori, K.; Kuroda, T.; Masuda, Y.; Suenaga, T.; Sasaki, H.; Yasumuro, Y.;
2012 / IEEE
By: Oshita, D.; Akiyama, H.; Katsuki, S.; Sakugawa, T.; Miyamoto, Y.; Okuda, Y.; Hosseini, S.H.R.;
By: Oshita, D.; Akiyama, H.; Katsuki, S.; Sakugawa, T.; Miyamoto, Y.; Okuda, Y.; Hosseini, S.H.R.;
2012 / IEEE
By: Kanayama, Y.; Takahashi, T.; Watanabe, S.; Aono, H.; Hiromura, M.; Ishikawa, S.; Odaka, H.; Takeda, S.; Enomoto, S.;
By: Kanayama, Y.; Takahashi, T.; Watanabe, S.; Aono, H.; Hiromura, M.; Ishikawa, S.; Odaka, H.; Takeda, S.; Enomoto, S.;
2012 / IEEE
By: Paradiso, R.; Lanata, A.; Caldani, L.; Secco, E.L.; Curone, D.; Magenes, G.; Tognetti, A.;
By: Paradiso, R.; Lanata, A.; Caldani, L.; Secco, E.L.; Curone, D.; Magenes, G.; Tognetti, A.;
2012 / IEEE
By: Ferro, J.M.; De Nardis, L.; Borges, L.M.; Velez, F.J.; Goncalves, V.; Balasingham, I.; Barroca, N.; Holland, O.; Nolan, K.E.; Chavez-Santiago, R.;
By: Ferro, J.M.; De Nardis, L.; Borges, L.M.; Velez, F.J.; Goncalves, V.; Balasingham, I.; Barroca, N.; Holland, O.; Nolan, K.E.; Chavez-Santiago, R.;