Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Antenna Testing
Results
2012 / IEEE
By: Wang Hong-jian; Liu Shihua; Cai Minghui; Huang Jianguo; Xu Yan; Fan Bin; Chen Xue; Liu Guang; Guan Fu-Ling; Yi Min;
By: Wang Hong-jian; Liu Shihua; Cai Minghui; Huang Jianguo; Xu Yan; Fan Bin; Chen Xue; Liu Guang; Guan Fu-Ling; Yi Min;
2012 / IEEE
By: Scialacqua, L.; Foged, L.J.; Sabbadini, M.; Vecchi, G.; Quijano, J.L.A.; Saccardi, F.;
By: Scialacqua, L.; Foged, L.J.; Sabbadini, M.; Vecchi, G.; Quijano, J.L.A.; Saccardi, F.;
2012 / IEEE
By: Hallbjorner, P.; Sanchez-Heredia, J.D.; Gruden, M.; Marin-Soler, A.; Sanchez-Hernandez, D.A.; Rydberg, A.; Martinez-Gonzalez, A.M.;
By: Hallbjorner, P.; Sanchez-Heredia, J.D.; Gruden, M.; Marin-Soler, A.; Sanchez-Hernandez, D.A.; Rydberg, A.; Martinez-Gonzalez, A.M.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9563-4
By: Araque Quijano, J.L.; Foged, L.J.; Mioc, F.; Scialacqua, L.; Sabbadini, M.; Vecchi, G.;
By: Araque Quijano, J.L.; Foged, L.J.; Mioc, F.; Scialacqua, L.; Sabbadini, M.; Vecchi, G.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-463-3
By: Jwo-Shiun Sun; Kuo-Liang Wu; Guan-Yu Chen; Chen, Y.D.; Yung-Sheng Chen; Jui-Yi Yang;
By: Jwo-Shiun Sun; Kuo-Liang Wu; Guan-Yu Chen; Chen, Y.D.; Yung-Sheng Chen; Jui-Yi Yang;
2011 / IEEE / 978-1-61284-965-2
By: Perregrini, L.; Carli, F.; Bozzi, M.; Formaggi, M.; Pasian, M.; Dauron, G.; Philippou, G.;
By: Perregrini, L.; Carli, F.; Bozzi, M.; Formaggi, M.; Pasian, M.; Dauron, G.; Philippou, G.;
2011 / IEEE / 978-966-335-357-9
By: Leushin, V.Y.; Gudkov, A.G.; Silkin, A.T.; Porokhov, I.O.; Kolpakov, N.S.; Mikheev, V.A.;
By: Leushin, V.Y.; Gudkov, A.G.; Silkin, A.T.; Porokhov, I.O.; Kolpakov, N.S.; Mikheev, V.A.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-978-2
By: Spagnuolo, D.; Migliozzi, M.; Guerriero, R.; Gennarelli, C.; Ferrara, F.; D'Agostino, F.;
By: Spagnuolo, D.; Migliozzi, M.; Guerriero, R.; Gennarelli, C.; Ferrara, F.; D'Agostino, F.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-978-2
By: Gennarelli, C.; Ferrara, F.; D'Agostino, F.; Migliozzi, M.; Guerriero, R.; Gennarelli, G.;
By: Gennarelli, C.; Ferrara, F.; D'Agostino, F.; Migliozzi, M.; Guerriero, R.; Gennarelli, G.;
2011 / IEEE / 978-2-87487-025-5
By: Bakker, L.; Woestenburg, E.E.M.; Witvers, R.H.; Ivashina, M.V.; Ruiter, M.;
By: Bakker, L.; Woestenburg, E.E.M.; Witvers, R.H.; Ivashina, M.V.; Ruiter, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-0920-3
By: Blin, T.; Duchesne, L.; Durand, L.; Paquay, M.; Garreau, P.; Forma, G.; Decoux, E.; Iversen, P.; Meisse, P.;
By: Blin, T.; Duchesne, L.; Durand, L.; Paquay, M.; Garreau, P.; Forma, G.; Decoux, E.; Iversen, P.; Meisse, P.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-0920-3
By: D'Agostino, F.; Rizzo, C.; Migliozzi, M.; Guerriero, R.; Gennarelli, C.; Ferrara, F.;
By: D'Agostino, F.; Rizzo, C.; Migliozzi, M.; Guerriero, R.; Gennarelli, C.; Ferrara, F.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-0920-3
By: McCormick, J.; Gregson, S.F.; Hindman, G.E.; Newell, A.C.; Kerse, B.J.;
By: McCormick, J.; Gregson, S.F.; Hindman, G.E.; Newell, A.C.; Kerse, B.J.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-0920-3
By: Ariza, A.P.G.; Stephan, R.; Muller, R.; Wollenschlager, F.; Schulz, A.; Hein, M.A.; Muller, J.; Thoma, R.S.;
By: Ariza, A.P.G.; Stephan, R.; Muller, R.; Wollenschlager, F.; Schulz, A.; Hein, M.A.; Muller, J.; Thoma, R.S.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-0920-3
By: Yoshitomi, K.; Tammam, E.; Yoshida, K.; Pokharel, R.; El-Sayed, M.; Allam, A.;
By: Yoshitomi, K.; Tammam, E.; Yoshida, K.; Pokharel, R.; El-Sayed, M.; Allam, A.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-0920-3
By: Borries, O.; Meincke, P.; Hess, D.W.; Jorgensen, E.; Fordham, J.; Cappellin, C.;
By: Borries, O.; Meincke, P.; Hess, D.W.; Jorgensen, E.; Fordham, J.; Cappellin, C.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-0920-3
By: Fordham, J.; Wayne, D.; Awadalla, M.; McBride, S.; Netzov, Y.; Cawthon, G.; Schwartz, T.;
By: Fordham, J.; Wayne, D.; Awadalla, M.; McBride, S.; Netzov, Y.; Cawthon, G.; Schwartz, T.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-0920-3
By: Vipiana, F.; Bercigli, M.; Bandinelli, M.; Scialacqua, L.; Giordanengo, G.; Vecchi, G.; Foged, L.J.; Sabbadini, M.;
By: Vipiana, F.; Bercigli, M.; Bandinelli, M.; Scialacqua, L.; Giordanengo, G.; Vecchi, G.; Foged, L.J.; Sabbadini, M.;
Multi-frequency, multi-resolution and probe compensated advanced near-field antenna characterization
2012 / IEEE / 978-1-4577-0920-3By: Curcio, C.; Capozzoli, A.; Liseno, A.;
1992 / IEEE / 0-7803-0730-5
By: Ekstrom, H.; Gearhart, S.; Rebeiz, G.; Jacobsson, S.; Kollberg, E.; Acharya, P.;
By: Ekstrom, H.; Gearhart, S.; Rebeiz, G.; Jacobsson, S.; Kollberg, E.; Acharya, P.;