Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Airborne Radar
Results
2011 / IEEE
By: Dreuillet, P.; Bonin, G.; Baque, R.; Nouvel, J.; Ruault du Plessis, O.; Oriot, H.; Coulombeix, C.;
By: Dreuillet, P.; Bonin, G.; Baque, R.; Nouvel, J.; Ruault du Plessis, O.; Oriot, H.; Coulombeix, C.;
2012 / IEEE
By: Byers, K.J.; Hale, R.D.; Arnold, E.J.; Paden, J.; Harish, A.R.; Leuschen, C.J.; Seguin, S.A.; Rodriguez-Morales, F.;
By: Byers, K.J.; Hale, R.D.; Arnold, E.J.; Paden, J.; Harish, A.R.; Leuschen, C.J.; Seguin, S.A.; Rodriguez-Morales, F.;
2012 / IEEE
By: Jie-Bang Yan; Jilu Li; Crowe, R.; Gomez-Garcia, D.; Rodriguez-Morales, F.; Paden, J.; Leuschen, C.J.; Gogineni, S.; Arnold, E.J.;
By: Jie-Bang Yan; Jilu Li; Crowe, R.; Gomez-Garcia, D.; Rodriguez-Morales, F.; Paden, J.; Leuschen, C.J.; Gogineni, S.; Arnold, E.J.;
2010 / IEEE / 978-1-61284-986-7
By: Holmberg, C.M.; Fabozzi, D.J.; McKay, J.; Hancock, R.; Duncan, B.;
By: Holmberg, C.M.; Fabozzi, D.J.; McKay, J.; Hancock, R.; Duncan, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0564-9
By: Abdullah, K.; Sim Chong Keat; Putra, S.P.A.R.; Nordin, M.N.M.; Lim Hwee San;
By: Abdullah, K.; Sim Chong Keat; Putra, S.P.A.R.; Nordin, M.N.M.; Lim Hwee San;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0969-2
By: Jixian Zhang; Jing Liang; Qunshan Shi; Zhengjun Liu; Kazhong Deng;
By: Jixian Zhang; Jing Liang; Qunshan Shi; Zhengjun Liu; Kazhong Deng;
2011 / IEEE / 978-3-927535-28-2
By: Querry, S.; Querry, B.; Samczynski, P.; Kulpa, K.; Pinelli, G.; Greco, M.;
By: Querry, S.; Querry, B.; Samczynski, P.; Kulpa, K.; Pinelli, G.; Greco, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Brogioni, E.S.M.; Pettinato, S.; Pampaloni, P.; Paloscia, S.; Macelloni, G.; Fontanelli, G.;
By: Brogioni, E.S.M.; Pettinato, S.; Pampaloni, P.; Paloscia, S.; Macelloni, G.; Fontanelli, G.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Prats, P.; Scheiber, R.; Horn, R.; Fischer, J.; Jager, M.; Reigber, A.; Nottensteiner, A.;
By: Prats, P.; Scheiber, R.; Horn, R.; Fischer, J.; Jager, M.; Reigber, A.; Nottensteiner, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Plants, M.; Filemyr, T.; Winkert, T.; Ramos-Izquierdo, L.; Valett, S.; Kirchner, C.; Cavanaugh, J.; Xiaoli Sun; Abshire, J.B.; Harding, D.J.; Krainak, M.A.; Yu, A.W.; Hasselbrack, W.; Kamamia, B.;
By: Plants, M.; Filemyr, T.; Winkert, T.; Ramos-Izquierdo, L.; Valett, S.; Kirchner, C.; Cavanaugh, J.; Xiaoli Sun; Abshire, J.B.; Harding, D.J.; Krainak, M.A.; Yu, A.W.; Hasselbrack, W.; Kamamia, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Kawasaki, K.; Satoh, M.; Kobayashi, T.; Kojima, S.; Taira, S.; Satake, M.; Matsuoka, T.; Yamamoto, S.-I.; Umehara, T.; Uratsuka, S.; Uemoto, J.; Suzuki, R.; Nadai, A.;
By: Kawasaki, K.; Satoh, M.; Kobayashi, T.; Kojima, S.; Taira, S.; Satake, M.; Matsuoka, T.; Yamamoto, S.-I.; Umehara, T.; Uratsuka, S.; Uemoto, J.; Suzuki, R.; Nadai, A.;
2011 / IEEE / 978-3-927535-28-2
By: Ender, J.H.G.; Brenner, A.R.; Klare, J.; Walterscheid, I.; Espeter, T.;
By: Ender, J.H.G.; Brenner, A.R.; Klare, J.; Walterscheid, I.; Espeter, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Xiaoqing Wu; Michel, T.; Muellerschoen, R.; Moller, D.; Rodriguez, E.; Hensley, S.;
By: Xiaoqing Wu; Michel, T.; Muellerschoen, R.; Moller, D.; Rodriguez, E.; Hensley, S.;
2011 / IEEE / 978-88-903482-3-5
By: Malanowski, M.; Kulpa, K.; Smolarczyk, M.; Misiurewicz, J.; Samczynski, P.;
By: Malanowski, M.; Kulpa, K.; Smolarczyk, M.; Misiurewicz, J.; Samczynski, P.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9644-0
By: Kozhyn, R.V.; Bezvesilniy, O.O.; Vavriv, D.M.; Sekretarov, S.S.; Volkov, V.A.; Vynogradov, V.V.;
By: Kozhyn, R.V.; Bezvesilniy, O.O.; Vavriv, D.M.; Sekretarov, S.S.; Volkov, V.A.; Vynogradov, V.V.;
2011 / IEEE / 978-89-93246-17-9
By: Hacker, J.; Walker, J.; Panciera, R.; Yardley, H.; McGrath, A.; Gray, D.; Stacy, N.; Ruiting Yang; Bates, B.;
By: Hacker, J.; Walker, J.; Panciera, R.; Yardley, H.; McGrath, A.; Gray, D.; Stacy, N.; Ruiting Yang; Bates, B.;
Results from an airship-mounted ultra-wideband synthetic aperture radar for penetrating surveillance
2011 / IEEE / 978-89-93246-17-9By: Li Yang-huan; Liang Fu-lai; Zhang Han-hua; Song Qian; Zhou Zhi-min;
2011 / IEEE / 978-1-4577-2201-1
By: Ton, D.P.; Chen, H.; OlafNiemann, K.; Quinn, G.S.; Goodenough, D.G.;
By: Ton, D.P.; Chen, H.; OlafNiemann, K.; Quinn, G.S.; Goodenough, D.G.;
2011 / IEEE / 978-2-87487-022-4
By: Dobbs, R.; Hyttinen, M.; Horoyski, P.; Roitman, A.; Steer, B.; Berry, D.;
By: Dobbs, R.; Hyttinen, M.; Horoyski, P.; Roitman, A.; Steer, B.; Berry, D.;
2011 / IEEE / 978-0-85825-974-4
By: Hantscher, S.; Wilcke, J.; Wahlen, A.; Johannes, W.; Sommer, R.; Stanko, S.; Essen, H.;
By: Hantscher, S.; Wilcke, J.; Wahlen, A.; Johannes, W.; Sommer, R.; Stanko, S.; Essen, H.;