Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: Accelerator Rf Systems
Results
2012 / IEEE
By: Gvozdev, A.K.; Semenov, V.E.; Zaitsev, N.I.; Zharova, N.A.; Sorokin, A.A.; Puech, J.; Rasch, J.; Lisak, M.;
By: Gvozdev, A.K.; Semenov, V.E.; Zaitsev, N.I.; Zharova, N.A.; Sorokin, A.A.; Puech, J.; Rasch, J.; Lisak, M.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Jensen, D.; Koontz, R.; Pearson, C.; Fant, K.; Vlieks, A.; Wright, E.L.; Miram, G.;
By: Jensen, D.; Koontz, R.; Pearson, C.; Fant, K.; Vlieks, A.; Wright, E.L.; Miram, G.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Chen, S.C.; Wurtele, J.S.; Trotz, S.; Temkin, R.J.; Lin, C.L.; Gonichon, J.; Danly, B.G.;
By: Chen, S.C.; Wurtele, J.S.; Trotz, S.; Temkin, R.J.; Lin, C.L.; Gonichon, J.; Danly, B.G.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Black, W.M.; Manheimer, W.M.; Hafizi, B.; Sullivan, C.A.; Gold, S.H.;
By: Black, W.M.; Manheimer, W.M.; Hafizi, B.; Sullivan, C.A.; Gold, S.H.;
1992 / IEEE / 000-0-0000-0000-0
By: Konovalov, I.U.; Ivanov, U.U.; Selemir, U.D.; Pavlovskii, A.I.; Zhdanov, U.S.; Prikhod'ko, I.G.; Uatrunin, U.Y.; Kornilov, U.G.; Shibalko, K.U.; Suvorov, U.G.;
By: Konovalov, I.U.; Ivanov, U.U.; Selemir, U.D.; Pavlovskii, A.I.; Zhdanov, U.S.; Prikhod'ko, I.G.; Uatrunin, U.Y.; Kornilov, U.G.; Shibalko, K.U.; Suvorov, U.G.;
2011 / IEEE / 978-83-932075-2-7
By: Napieralski, A.; Jablonski, G.; Makowski, D.; Mielczarek, A.; Perek, P.; Ludwig, F.; Schlarb, H.; Jezynski, T.; Predki, P.;
By: Napieralski, A.; Jablonski, G.; Makowski, D.; Mielczarek, A.; Perek, P.; Ludwig, F.; Schlarb, H.; Jezynski, T.; Predki, P.;
2007 / American Institute of Physics
By: R. J. Macek; S. Assadi; J. M. Byrd; C. E. Deibele; S. D. Henderson; S. Y. Lee; R. C. McCrady; M. F. T. Pivi; M. A. Plum; S. B. Walbridge; T. J. Zaugg;
By: R. J. Macek; S. Assadi; J. M. Byrd; C. E. Deibele; S. D. Henderson; S. Y. Lee; R. C. McCrady; M. F. T. Pivi; M. A. Plum; S. B. Walbridge; T. J. Zaugg;
2007 / American Institute of Physics
By: A. Irman; M. J. H. Luttikhof; A. G. Khachatryan; F. A. van Goor; J. W. J. Verschuur; H. M. J. Bastiaens; K.-J. Boller;
By: A. Irman; M. J. H. Luttikhof; A. G. Khachatryan; F. A. van Goor; J. W. J. Verschuur; H. M. J. Bastiaens; K.-J. Boller;
2008 / American Institute of Physics
By: Norihiro Sei; Ryunosuke Kuroda; Masato Yasumoto; Hiroyuki Toyokawa; Hiroshi Ogawa; Masaki Koike; Kawakatsu Yamada;
By: Norihiro Sei; Ryunosuke Kuroda; Masato Yasumoto; Hiroyuki Toyokawa; Hiroshi Ogawa; Masaki Koike; Kawakatsu Yamada;
2007 / American Institute of Physics
By: Yusuke Suetsugu; Ken-ichi Kanazawa; Kyo Shibata; Mitsuru Shirai; Aleksander E. Bondar; Victor S. Kuzminykh; Kakuyu Kawada; Aleksander I. Gorbovsky; Kurt Sonderegger; Minoru Morii;
By: Yusuke Suetsugu; Ken-ichi Kanazawa; Kyo Shibata; Mitsuru Shirai; Aleksander E. Bondar; Victor S. Kuzminykh; Kakuyu Kawada; Aleksander I. Gorbovsky; Kurt Sonderegger; Minoru Morii;
2008 / American Institute of Physics
By: Claude M. Lyneis; D. Leitner; D. S. Todd; G. Sabbi; S. Prestemon; P. Ferracin; S. Caspi;
By: Claude M. Lyneis; D. Leitner; D. S. Todd; G. Sabbi; S. Prestemon; P. Ferracin; S. Caspi;
2008 / American Institute of Physics
By: E. N. Beebe; J. G. Alessi; O. Gould; A. Kponou; R. Lockey; R. Lambiase; V. Zajic; A. Pikin; K. Prelec; J. Ritter;
By: E. N. Beebe; J. G. Alessi; O. Gould; A. Kponou; R. Lockey; R. Lambiase; V. Zajic; A. Pikin; K. Prelec; J. Ritter;
2008 / American Institute of Physics
By: S. X. Peng; M. Zhang; Z. Z. Song; R. Xu; J. Zhao; Z. X. Yuan; Z. Y. Guo; J. X. Yu; J. Chen;
By: S. X. Peng; M. Zhang; Z. Z. Song; R. Xu; J. Zhao; Z. X. Yuan; Z. Y. Guo; J. X. Yu; J. Chen;
2008 / American Institute of Physics
By: Thorsten Kamps; Andre Arnold; Daniel Boehlick; Marc Dirsat; Guido Klemz; Dirk Lipka; Torsten Quast; Ingo Will; Jeniffa Rudolph; Mario Schenk; Friedrich Staufenbiel; Jochen Teichert;
By: Thorsten Kamps; Andre Arnold; Daniel Boehlick; Marc Dirsat; Guido Klemz; Dirk Lipka; Torsten Quast; Ingo Will; Jeniffa Rudolph; Mario Schenk; Friedrich Staufenbiel; Jochen Teichert;
2009 / American Institute of Physics
By: Akhilesh Jain; Deepak Kumar Sharma; Alok Kumar Gupta; P. R. Hannurkar;
By: Akhilesh Jain; Deepak Kumar Sharma; Alok Kumar Gupta; P. R. Hannurkar;
2010 / American Institute of Physics
By: S. Dechoudhury; V. Naik; A. Chakrabarti; M. Mondal; A. Chatterjee; H. K. Pandey; T. K. Mandi; A. Bandyopadhyay; P. Karmakar; S. Bhattacharjee; P. S. Chouhan; S. Ali; S. C. L. Srivastava;
By: S. Dechoudhury; V. Naik; A. Chakrabarti; M. Mondal; A. Chatterjee; H. K. Pandey; T. K. Mandi; A. Bandyopadhyay; P. Karmakar; S. Bhattacharjee; P. S. Chouhan; S. Ali; S. C. L. Srivastava;
2010 / American Institute of Physics
By: K. Jayamanna; G. Wight; F. Yan; D. Gallop; R. Dube; V. Jovicic; C. Laforge; M. Marchetto; M. Leross; D. Louie; R. Laplante; R. Laxdal; M. McDonald; G. J. Wiebe; V. Wang;
By: K. Jayamanna; G. Wight; F. Yan; D. Gallop; R. Dube; V. Jovicic; C. Laforge; M. Marchetto; M. Leross; D. Louie; R. Laplante; R. Laxdal; M. McDonald; G. J. Wiebe; V. Wang;
2010 / American Institute of Physics
By: R. F. Welton; J. Carmichael; M. P. Stockli; N. J. Desai; R. Fuga; R. H. Goulding; B. Han; Y. Kang; S. W. Lee; S. N. Murray; T. Pennisi; K. G. Potter; M. Santana;
By: R. F. Welton; J. Carmichael; M. P. Stockli; N. J. Desai; R. Fuga; R. H. Goulding; B. Han; Y. Kang; S. W. Lee; S. N. Murray; T. Pennisi; K. G. Potter; M. Santana;
2010 / American Institute of Physics
By: R. Gobin; V. Blideanu; F. Senée; D. Bogard; G. Bourdelle; N. Chauvin; O. Delferrière; P. Girardot; J. L. Jannin; S. Langlois; D. Loiseau; B. Pottin; J.-Y. Rousse;
By: R. Gobin; V. Blideanu; F. Senée; D. Bogard; G. Bourdelle; N. Chauvin; O. Delferrière; P. Girardot; J. L. Jannin; S. Langlois; D. Loiseau; B. Pottin; J.-Y. Rousse;
2010 / American Institute of Physics
By: H. T. Ren; S. X. Peng; J. E. Chen; M. Zhang; Q. F. Zhou; Z. Z. Song; Z. X. Yuan; P. N. Lu; R. Xu; J. Zhao; J. X. Yu; Y. R. Lu; Z. Y. Guo;
By: H. T. Ren; S. X. Peng; J. E. Chen; M. Zhang; Q. F. Zhou; Z. Z. Song; Z. X. Yuan; P. N. Lu; R. Xu; J. Zhao; J. X. Yu; Y. R. Lu; Z. Y. Guo;
2010 / American Institute of Physics
By: C. Gabor; D. C. Faircloth; D. A. Lee; S. R. Lawrie; J. K. Pozimski; A. P. Letchford;
By: C. Gabor; D. C. Faircloth; D. A. Lee; S. R. Lawrie; J. K. Pozimski; A. P. Letchford;
2010 / American Institute of Physics
By: Hirotsugu Kashiwagi; Masahiro Okamura; R. A. Jameson; Toshiyuki Hattori; Noriyosu Hayashizaki;
By: Hirotsugu Kashiwagi; Masahiro Okamura; R. A. Jameson; Toshiyuki Hattori; Noriyosu Hayashizaki;
2010 / American Institute of Physics
By: J. Tamura; T. Hattori; N. Hayashizaki; T. Ishibashi; T. Kanesue; M. Okamura; H. Kashiwagi; K. Kondo;
By: J. Tamura; T. Hattori; N. Hayashizaki; T. Ishibashi; T. Kanesue; M. Okamura; H. Kashiwagi; K. Kondo;
2012 / American Institute of Physics
By: Martin P. Stockli; B. X. Han; T. W. Hardek; Y. W. Kang; S. N. Murray; T. R. Pennisi; C. Piller; M. Santana; R. Welton;
By: Martin P. Stockli; B. X. Han; T. W. Hardek; Y. W. Kang; S. N. Murray; T. R. Pennisi; C. Piller; M. Santana; R. Welton;
2012 / American Institute of Physics
By: S. Sha; H. W. Zhao; X. H. Guo; Z. L. Zhang; X. Fang; J. W. Guo; W. H. Zhang; W. Lu; Y. Cao; H. Y. Ma; S. H. Lin; X. X. Li; B. H. Ma; Y. Yang; H. Wang; Q. Wu; J. Y. Li; Y. C. Feng; H. Y. Zhao; Y. H. Zhu; L. T. Sun; X. Z. Zhang; X. M. Chen; D. Z. Xie;
By: S. Sha; H. W. Zhao; X. H. Guo; Z. L. Zhang; X. Fang; J. W. Guo; W. H. Zhang; W. Lu; Y. Cao; H. Y. Ma; S. H. Lin; X. X. Li; B. H. Ma; Y. Yang; H. Wang; Q. Wu; J. Y. Li; Y. C. Feng; H. Y. Zhao; Y. H. Zhu; L. T. Sun; X. Z. Zhang; X. M. Chen; D. Z. Xie;
2012 / American Institute of Physics
By: Ø. Midttun; T. Kalvas; M. Kronberger; J. Lettry; H. Pereira; C. Schmitzer; R. Scrivens;
By: Ø. Midttun; T. Kalvas; M. Kronberger; J. Lettry; H. Pereira; C. Schmitzer; R. Scrivens;
2012 / American Institute of Physics
By: H. T. Ren; S. X. Peng; P. N. Lu; S. Yan; Q. F. Zhou; J. Zhao; Z. X. Yuan; Z. Y. Guo; J. E. Chen;
By: H. T. Ren; S. X. Peng; P. N. Lu; S. Yan; Q. F. Zhou; J. Zhao; Z. X. Yuan; Z. Y. Guo; J. E. Chen;
2012 / American Institute of Physics
By: Sumit Som; Sudeshna Seth; Aditya Mandal; Saikat Paul; Anjan Duttagupta;
By: Sumit Som; Sudeshna Seth; Aditya Mandal; Saikat Paul; Anjan Duttagupta;
2012 / American Institute of Physics
By: Tanushyam Bhattacharjee; Malay Kanti Dey; Partha Dhara; Suvodeep Roy; Jayanta Debnath; Rajendra Balakrishna Bhole; Atanu Dutta; Jedidiah Pradhan; Sarbajit Pal; Gautam Pal; Amitava Roy; Alok Chakrabarti;
By: Tanushyam Bhattacharjee; Malay Kanti Dey; Partha Dhara; Suvodeep Roy; Jayanta Debnath; Rajendra Balakrishna Bhole; Atanu Dutta; Jedidiah Pradhan; Sarbajit Pal; Gautam Pal; Amitava Roy; Alok Chakrabarti;
2012 / American Institute of Physics
By: M. R. Hadmack; B. T. Jacobson; J. M. D. Kowalczyk; B. R. Lienert; J. M. J. Madey; E. B. Szarmes;
By: M. R. Hadmack; B. T. Jacobson; J. M. D. Kowalczyk; B. R. Lienert; J. M. J. Madey; E. B. Szarmes;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Sinclair, C.; Wiseman, M.; Neuffer, D.; Neil, G.R.; Merminga, L.; Liu, H.; Li, Z.; Shinn, M.; Kehne, D.; Jordan, K.; Fugitt, J.; Engwall, D.; Cardman, L.; Bohn, C.L.; Bisognano, J.; Benson, S.; Dylla, H.F.; Kelly, M.J.; Helvajian, H.; Henkel, D.P.; Brillson, K.J.;
By: Sinclair, C.; Wiseman, M.; Neuffer, D.; Neil, G.R.; Merminga, L.; Liu, H.; Li, Z.; Shinn, M.; Kehne, D.; Jordan, K.; Fugitt, J.; Engwall, D.; Cardman, L.; Bohn, C.L.; Bisognano, J.; Benson, S.; Dylla, H.F.; Kelly, M.J.; Helvajian, H.; Henkel, D.P.; Brillson, K.J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Vetter, A.M.; Parazzoli, C.G.; Hayward, T.D.; Dowell, D.H.; Adamski, J.L.;
By: Vetter, A.M.; Parazzoli, C.G.; Hayward, T.D.; Dowell, D.H.; Adamski, J.L.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Bulyak, E.; Efimov, S.; Nemoshkalenko, V.; Molodkin, V.; Zelinsky, A.; Telegin, Y.; Shcherbakov, A.; Mytsykov, A.; Shpak, A.; Mocheshnikov, N.; Markov, V.; Kozin, V.; Kononenko, S.; Karnaukhov, I.; Gladkikh, P.; Gevchuk, A.;
By: Bulyak, E.; Efimov, S.; Nemoshkalenko, V.; Molodkin, V.; Zelinsky, A.; Telegin, Y.; Shcherbakov, A.; Mytsykov, A.; Shpak, A.; Mocheshnikov, N.; Markov, V.; Kozin, V.; Kononenko, S.; Karnaukhov, I.; Gladkikh, P.; Gevchuk, A.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Murata, H.; Ino, H.; Kawai, M.; Okumura, Y.; Kusano, J.; Touchi, Y.; Hasegawa, K.; Mizumoto, M.; Ito, N.; Oguri, H.;
By: Murata, H.; Ino, H.; Kawai, M.; Okumura, Y.; Kusano, J.; Touchi, Y.; Hasegawa, K.; Mizumoto, M.; Ito, N.; Oguri, H.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Crandall, K.R.; Swenson, D.A.; Walling, L.S.; Ringwall, A.D.; Lenz, J.W.; Guy, F.W.;
By: Crandall, K.R.; Swenson, D.A.; Walling, L.S.; Ringwall, A.D.; Lenz, J.W.; Guy, F.W.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Beveridge, J.L.; Baartman, R.; Bricault, P.G.; Schneider, H.R.; Schmor, P.W.; Clark, G.S.; Root, L.; Koscielniak, S.; Hodges, T.; Dutto, G.; Doornbos, J.;
By: Beveridge, J.L.; Baartman, R.; Bricault, P.G.; Schneider, H.R.; Schmor, P.W.; Clark, G.S.; Root, L.; Koscielniak, S.; Hodges, T.; Dutto, G.; Doornbos, J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Imanishi, A.; Arai, S.; Tokuda, N.; Tojyo, E.; Takeda, Y.; Okada, M.; Niki, K.;
By: Imanishi, A.; Arai, S.; Tokuda, N.; Tojyo, E.; Takeda, Y.; Okada, M.; Niki, K.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Reece, R.K.; Lee, Y.Y.; Hseuh, H.C.; Gardner, C.J.; Brennan, J.M.; Roser, T.; Benjamin, J.; Ahrens, L.A.; Thieberger, P.; Blaskiewicz, M.; Soukas, A.;
By: Reece, R.K.; Lee, Y.Y.; Hseuh, H.C.; Gardner, C.J.; Brennan, J.M.; Roser, T.; Benjamin, J.; Ahrens, L.A.; Thieberger, P.; Blaskiewicz, M.; Soukas, A.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Brunner, O.; Zhang, C.; Verdiaer, A.; Schmidt, R.; Poole, J.; Meddahi, M.; Lamont, M.; Keil, E.; von Holtey, G.; Herr, W.;
By: Brunner, O.; Zhang, C.; Verdiaer, A.; Schmidt, R.; Poole, J.; Meddahi, M.; Lamont, M.; Keil, E.; von Holtey, G.; Herr, W.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Fox, J.; Fisher, A.; Wienands, U.; Davies-White, W.; Seeman, J.T.; Reuter, E.; Genova, L.; Jackson, T.; Taylor, T.; Schwarz, H.; Pietryka, M.; Perkins, C.; Gracia, J.;
By: Fox, J.; Fisher, A.; Wienands, U.; Davies-White, W.; Seeman, J.T.; Reuter, E.; Genova, L.; Jackson, T.; Taylor, T.; Schwarz, H.; Pietryka, M.; Perkins, C.; Gracia, J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Wuensch, W.; Wilson, I.; Vlieks, A.E.; Ruth, R.D.; Loewen, R.J.; Loew, G.A.; Wang, J.W.;
By: Wuensch, W.; Wilson, I.; Vlieks, A.E.; Ruth, R.D.; Loewen, R.J.; Loew, G.A.; Wang, J.W.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Chen, P.; Sheppard, J.; Burke, D.; Adolphsen, C.; Raubenheimer, T.; Wilson, P.; Thompson, K.; Tang, H.; Ecklund, S.; Ruth, R.; Ross, K.; Phinney, N.; Paterson, E.; Miller, R.; Markiewicz, T.; Loew, G.; Irwin, J.;
By: Chen, P.; Sheppard, J.; Burke, D.; Adolphsen, C.; Raubenheimer, T.; Wilson, P.; Thompson, K.; Tang, H.; Ecklund, S.; Ruth, R.; Ross, K.; Phinney, N.; Paterson, E.; Miller, R.; Markiewicz, T.; Loew, G.; Irwin, J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Moshammer, W.; Robin, D.; Mattison, T.; Kubo, K.; Krejcik, P.; Minty, M.; Jackson, A.; Furman, M.; Early, R.; Corlett, J.; Byrd, J.; Raubenheimer, T.O.; Wilson, P.; Thompson, K.; Spencer, J.; Scott, B.;
By: Moshammer, W.; Robin, D.; Mattison, T.; Kubo, K.; Krejcik, P.; Minty, M.; Jackson, A.; Furman, M.; Early, R.; Corlett, J.; Byrd, J.; Raubenheimer, T.O.; Wilson, P.; Thompson, K.; Spencer, J.; Scott, B.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Johnson, C.; Guignard, G.; Delahaye, J.; Corsini, R.; Braun, H.; Madsen, J.; Wuensch, W.; Zotter, B.; Wilson, I.; Thorndahl, L.; Schnell, W.;
By: Johnson, C.; Guignard, G.; Delahaye, J.; Corsini, R.; Braun, H.; Madsen, J.; Wuensch, W.; Zotter, B.; Wilson, I.; Thorndahl, L.; Schnell, W.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Suberlucq, G.; Schreiber, S.; Rinolfi, L.; Madsen, J.H.B.; Kamber, I.; Godot, J.C.; Wilson, I.; Delahaye, J.P.; Comunian, M.; Chautard, F.; Braun, H.; Bossart, R.; Wuensch, W.;
By: Suberlucq, G.; Schreiber, S.; Rinolfi, L.; Madsen, J.H.B.; Kamber, I.; Godot, J.C.; Wilson, I.; Delahaye, J.P.; Comunian, M.; Chautard, F.; Braun, H.; Bossart, R.; Wuensch, W.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Westenskow, G.; Sessler, A.; Reginato, L.; Peters, C.; Li, H.; Henestroza, E.; Chattopadhyay, S.; Yu, S.; Houck, T.; Chen, Y.; Caporaso, G.;
By: Westenskow, G.; Sessler, A.; Reginato, L.; Peters, C.; Li, H.; Henestroza, E.; Chattopadhyay, S.; Yu, S.; Houck, T.; Chen, Y.; Caporaso, G.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Giordanot, G.; Westenskow, C.; Houck, T.; Yu, S.; Li, H.; Sessler, A.; Henestroza, E.; Goffeney, N.;
By: Giordanot, G.; Westenskow, C.; Houck, T.; Yu, S.; Li, H.; Sessler, A.; Henestroza, E.; Goffeney, N.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Lara, P.; Hodgkins, D.; Sherman, J.; Stevens, R., Jr.; Schneider, J.D.;
By: Lara, P.; Hodgkins, D.; Sherman, J.; Stevens, R., Jr.; Schneider, J.D.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Alton, G.D.; Welton, R.F.; Murray, S.N.; Dellwo, J.; Mills, G.D.; Becher, D.;
By: Alton, G.D.; Welton, R.F.; Murray, S.N.; Dellwo, J.; Mills, G.D.; Becher, D.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Pogorelsky, I.; Malone, R.; Batchelor, K.; Ben-Zvi, I.; Babzien, M.; Qui, X.; Srinivasan-Rao, T.; Wang, X.J.; Skaritka, J.; Sheehan, J.;
By: Pogorelsky, I.; Malone, R.; Batchelor, K.; Ben-Zvi, I.; Babzien, M.; Qui, X.; Srinivasan-Rao, T.; Wang, X.J.; Skaritka, J.; Sheehan, J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Danly, B.G.; Chen, S.C.; Wurtele, J.S.; Trotz, S.R.; Temkin, R.J.; Lin, C.L.; Gonichon, J.;
By: Danly, B.G.; Chen, S.C.; Wurtele, J.S.; Trotz, S.R.; Temkin, R.J.; Lin, C.L.; Gonichon, J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Schneider, J.D.; Sherman, J.D.; Rees, D.; Milder, M.L.; Schafstall, P.J.; Lara, P.D.; Hodgkins, D.; Clark, D.C.; Brown, V.W.; Keffeler, D.R.; Bolme, G.O.; Smith, B.H.; Davidson, A.D.; Sheikh, J.Y.; Zaugg, T.; Stevens, R.R.;
By: Schneider, J.D.; Sherman, J.D.; Rees, D.; Milder, M.L.; Schafstall, P.J.; Lara, P.D.; Hodgkins, D.; Clark, D.C.; Brown, V.W.; Keffeler, D.R.; Bolme, G.O.; Smith, B.H.; Davidson, A.D.; Sheikh, J.Y.; Zaugg, T.; Stevens, R.R.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Travier, C.; Georges, P.; Thomas, P.; Cayla, J.N.; Bernard, M.; Leblond, B.;
By: Travier, C.; Georges, P.; Thomas, P.; Cayla, J.N.; Bernard, M.; Leblond, B.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Rosenzweig, J.; Conde, M.; Nicol, T.; Ostiguy, J.E.; Bharadwaj, V.; Colby, E.;
By: Rosenzweig, J.; Conde, M.; Nicol, T.; Ostiguy, J.E.; Bharadwaj, V.; Colby, E.;