Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: 300 Mw
Results
1989 / IEEE
By: Crow, J.D.; Widiger, D.; Bermon, S.; Callegari, A.; Ewen, J.F.; Feder, J.D.; Greiner, J.H.; Harris, E.P.; Hoh, P.D.; Hovel, H.J.; Magerlein, J.H.; McKoy, T.E.; Pomerene, A.T.S.; Rogers, D.L.; Scott, G.J.; Thomas, M.; Mulvey, G.W.; Ko, B.K.; Ohashi, T.; Scontras, M.; Anderson, C.J.;
By: Crow, J.D.; Widiger, D.; Bermon, S.; Callegari, A.; Ewen, J.F.; Feder, J.D.; Greiner, J.H.; Harris, E.P.; Hoh, P.D.; Hovel, H.J.; Magerlein, J.H.; McKoy, T.E.; Pomerene, A.T.S.; Rogers, D.L.; Scott, G.J.; Thomas, M.; Mulvey, G.W.; Ko, B.K.; Ohashi, T.; Scontras, M.; Anderson, C.J.;
1991 / IEEE
By: Thode, L.; Sidler, J.D., III; Platt, R.; Doss, K.; Haworth, M.; Cremer, D.; Christofferson, J.; Anderson, B.;
By: Thode, L.; Sidler, J.D., III; Platt, R.; Doss, K.; Haworth, M.; Cremer, D.; Christofferson, J.; Anderson, B.;
1992 / IEEE
By: Scheuerlein, R.E.; Satoh, A.; Sunaga, T.; Kitamura, K.; Dhong, S.H.; Kirihata, T.; Kazusawa, M.; Hashimoto, H.; Yoshikawa, T.; Katayama, Y.; Saitoh, T.; Hosokawa, K.; Tobimatsu, K.; Sakaue, Y.;
By: Scheuerlein, R.E.; Satoh, A.; Sunaga, T.; Kitamura, K.; Dhong, S.H.; Kirihata, T.; Kazusawa, M.; Hashimoto, H.; Yoshikawa, T.; Katayama, Y.; Saitoh, T.; Hosokawa, K.; Tobimatsu, K.; Sakaue, Y.;
1994 / IEEE / 0-7803-1886-2
By: Ono, A.; Okabe, K.; Abiko, H.; Igura, H.; Nomura, M.; Nakayama, T.; Izumikawa, M.; Yamada, H.; Suzuki, K.; Yamashina, M.;
By: Ono, A.; Okabe, K.; Abiko, H.; Igura, H.; Nomura, M.; Nakayama, T.; Izumikawa, M.; Yamada, H.; Suzuki, K.; Yamashina, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2966-X
By: Heima, T.; Shimada, M.; Higashisaka, N.; Ohta, A.; Tanino, N.; Ohmura, R.; Hosogi, K.;
By: Heima, T.; Shimada, M.; Higashisaka, N.; Ohta, A.; Tanino, N.; Ohmura, R.; Hosogi, K.;
1995 / IEEE / 0-7803-2495-1
By: Tago, H.; Nagamatsu, M.; Malik, K.; Kawasumi, A.; Mabuchi, K.; Kamata, M.; Mijamori, T.; Utsumi, T.; Goto, H.; Ootaguro, Y.; Murakami, H.; Teruyama, T.;
By: Tago, H.; Nagamatsu, M.; Malik, K.; Kawasumi, A.; Mabuchi, K.; Kamata, M.; Mijamori, T.; Utsumi, T.; Goto, H.; Ootaguro, Y.; Murakami, H.; Teruyama, T.;
1996 / IEEE / 0-7803-3322-5
By: Phillips, R.; Caryotakis, G.; Scheitrum, G.; Fowkes, R.; Sprehn, D.;
By: Phillips, R.; Caryotakis, G.; Scheitrum, G.; Fowkes, R.; Sprehn, D.;
1996 / IEEE / 0-7803-3309-8
By: Verbanets, W.R.; Liberman, I.; Chantry, P.J.; Partlow, W.D.; Cather, R.L.; Petronio, C.F.;
By: Verbanets, W.R.; Liberman, I.; Chantry, P.J.; Partlow, W.D.; Cather, R.L.; Petronio, C.F.;
1989 / IEEE
By: Fujishima, K.; Arimoto, K.; Nakano, T.; Yamada, M.; Satoh, S.; Wakamiya, W.; Oishi, T.; Tsukude, M.; Matsuda, Y.;
By: Fujishima, K.; Arimoto, K.; Nakano, T.; Yamada, M.; Satoh, S.; Wakamiya, W.; Oishi, T.; Tsukude, M.; Matsuda, Y.;
1997 / IEEE / 0-7803-3814-6
By: Wang, H.; Huang, T.W.; Lai, R.; Biedenbender, M.; Geiger, C.; Lin, E.; Huang, P.; Liu, P.H.; Block, T.;
By: Wang, H.; Huang, T.W.; Lai, R.; Biedenbender, M.; Geiger, C.; Lin, E.; Huang, P.; Liu, P.H.; Block, T.;
1997 / IEEE / 0-7803-3814-6
By: Zell, G.; Schreyer, G.; Lester, J.; Hwang, Y.; Lai, R.; Schrier, S.; Kono, R.; Chen, Y.C.; Kasody, B.; Onak, G.; Yamauchi, D.;
By: Zell, G.; Schreyer, G.; Lester, J.; Hwang, Y.; Lai, R.; Schrier, S.; Kono, R.; Chen, Y.C.; Kasody, B.; Onak, G.; Yamauchi, D.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Schweizer, H.; Scholz, F.; Geng, C.; Gauggel, H.-P.; Lichtenstein, N.;
By: Schweizer, H.; Scholz, F.; Geng, C.; Gauggel, H.-P.; Lichtenstein, N.;
1997 / IEEE
By: Lai, R.; Dow, G.S.; Lin, E.W.; Yonghui Shu; Biedenbender, M.; Huei Wang; Tian-Wei Huang; Pin-Pin Huang; Elliott, J.H.;
By: Lai, R.; Dow, G.S.; Lin, E.W.; Yonghui Shu; Biedenbender, M.; Huei Wang; Tian-Wei Huang; Pin-Pin Huang; Elliott, J.H.;
1998 / IEEE
By: Baillargeon, J.N.; Capasso, F.; Sivco, D.L.; Sirtori, C.; Hutchinson, A.L.; Tredicucci, A.; Faist, J.; Cho, A.Y.;
By: Baillargeon, J.N.; Capasso, F.; Sivco, D.L.; Sirtori, C.; Hutchinson, A.L.; Tredicucci, A.; Faist, J.; Cho, A.Y.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Phillips, R.; Pearson, C.; Hanna, S.; Scheitrum, G.; Luhmann, N.C., Jr.; Laurent, L.;
By: Phillips, R.; Pearson, C.; Hanna, S.; Scheitrum, G.; Luhmann, N.C., Jr.; Laurent, L.;
1999 / IEEE / 0-7803-4893-1
By: Tsubota, Y.; Yonezawa, H.; Sugimoto, S.; Izumi, K.; Suzuki, H.; Nakajima, T.;
By: Tsubota, Y.; Yonezawa, H.; Sugimoto, S.; Izumi, K.; Suzuki, H.; Nakajima, T.;
1999 / IEEE / 1-55752-582-X
By: Oeda, Y.; Yamada, Y.; Okubo, A.; Muro, K.; Yamada, Y.; Fujimoto, T.; Igarashi, K.;
By: Oeda, Y.; Yamada, Y.; Okubo, A.; Muro, K.; Yamada, Y.; Fujimoto, T.; Igarashi, K.;
2000 / IEEE / 0-7803-5459-1
By: Jiang Yan; Song Jianchang; Xie Hengkun; Cheng Yonghong; Zheng Taiqiu;
By: Jiang Yan; Song Jianchang; Xie Hengkun; Cheng Yonghong; Zheng Taiqiu;
2000 / IEEE / 0-7803-6259-4
By: Horie, M.; Miyazaki, T.; Chida, H.; Fukagai, K.; Igarashi, T.; Torikai, T.; Ishikawa, S.;
By: Horie, M.; Miyazaki, T.; Chida, H.; Fukagai, K.; Igarashi, T.; Torikai, T.; Ishikawa, S.;
2000 / IEEE
By: Gotoh, H.; Mitsuishi, Y.; Kaneda, H.; Komuro, N.; Usami, M.; Arai, N.; Horie, H.; Matsushima, Y.;
By: Gotoh, H.; Mitsuishi, Y.; Kaneda, H.; Komuro, N.; Usami, M.; Arai, N.; Horie, H.; Matsushima, Y.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Hall, J.L.; Cundiff, S.T.; Diddams, S.A.; Jones, D.J.; Stentz, A.J.; Windeler, R.S.; Ranka, J.K.;
By: Hall, J.L.; Cundiff, S.T.; Diddams, S.A.; Jones, D.J.; Stentz, A.J.; Windeler, R.S.; Ranka, J.K.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Notebaert, L.; Rousseau, J.P.; Pittman, M.; Cheriaux, G.; Chambaret, J.P.; Ferre, S.;
By: Notebaert, L.; Rousseau, J.P.; Pittman, M.; Cheriaux, G.; Chambaret, J.P.; Ferre, S.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Hetzler, J.; Scholz, F.; Schweizer, H.; Schwartz, J.; Butendeich, R.; Wegener, M.; Morgner, U.; Kremp, T.; Schibli, T.R.; Kartner, F.X.;
By: Hetzler, J.; Scholz, F.; Schweizer, H.; Schwartz, J.; Butendeich, R.; Wegener, M.; Morgner, U.; Kremp, T.; Schibli, T.R.; Kartner, F.X.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Efremov, A.M.; Zherlitsyn, A.A.; Polevin, S.D.; Pegel, I.V.; Loginov, S.V.; Kutenkov, O.P.; Kurkan, I.K.; Kovalchuk, B.M.; Korovin, S.D.; Klimov, A.I.; Kitsanov, S.A.;
By: Efremov, A.M.; Zherlitsyn, A.A.; Polevin, S.D.; Pegel, I.V.; Loginov, S.V.; Kutenkov, O.P.; Kurkan, I.K.; Kovalchuk, B.M.; Korovin, S.D.; Klimov, A.I.; Kitsanov, S.A.;
2001 / IEEE / 7-5062-5115-9
By: Cui Xiang; Liu Xiaofang; Zhou Ji; Luo Yingli; Zhao Lingzhi; Meng Liang; Bao Hai;
By: Cui Xiang; Liu Xiaofang; Zhou Ji; Luo Yingli; Zhao Lingzhi; Meng Liang; Bao Hai;
S-band vircator with electron beam premodulation based on compact inductive energy storage generator
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8By: Loginov, S.V.; Kutenkov, O.P.; Kurkan, I.K.; Kovalchuk, B.M.; Korovin, S.D.; Pegel, I.V.; Klimov, A.I.; Kitsanov, S.A.; Zherlitsyn, A.A.; Efremov, A.M.; Polevin, S.D.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Mirov, S.; Sorokin, E.; Sorokina, I.T.; Panyutin, V.; Badikov, V.; Graham, K.; Fedorov, V.;
By: Mirov, S.; Sorokin, E.; Sorokina, I.T.; Panyutin, V.; Badikov, V.; Graham, K.; Fedorov, V.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Sebastian, J.; Ressel, P.; Klehr, A.; Knauer, A.; Erbert, G.; Fricke, J.; Braun, M.; Wenzel, H.;
By: Sebastian, J.; Ressel, P.; Klehr, A.; Knauer, A.; Erbert, G.; Fricke, J.; Braun, M.; Wenzel, H.;
2002 / IEEE / 1-55752-701-6
By: Maiorov, M.; Roff, W.; Tsekoun, A.; Komissarov, A.; Menna, R.; Kudryashov, I.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Lunev, A.;
By: Maiorov, M.; Roff, W.; Tsekoun, A.; Komissarov, A.; Menna, R.; Kudryashov, I.; Garbuzov, D.; Connolly, J.; Lunev, A.;