Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: 150 Mum
Results
1994 / IEEE / 0-7803-1460-3
By: Carey, P.G.; Glenn, G.S.; Sinton, R.A.; Williams, K.A.; Colella, N.J.; Aceves, R.C.;
By: Carey, P.G.; Glenn, G.S.; Sinton, R.A.; Williams, K.A.; Colella, N.J.; Aceves, R.C.;
1995 / IEEE / 0-7803-3622-4
By: Kawamura, T.; Kob, Y.; Yamaguchi, C.; Ichino, H.; Matsumura, T.; Yamanaka, N.;
By: Kawamura, T.; Kob, Y.; Yamaguchi, C.; Ichino, H.; Matsumura, T.; Yamanaka, N.;
1996 / IEEE / 0-7803-3534-1
By: Takegai, T.; Sumisawa, K.; Senyo, K.; Nagashima, Y.; Hazumi, M.; Kawasaki, T.; Haba, J.;
By: Takegai, T.; Sumisawa, K.; Senyo, K.; Nagashima, Y.; Hazumi, M.; Kawasaki, T.; Haba, J.;
1999 / IEEE
By: Bowen, R.; Yu, M.; Hamilton, L.R.; Petre, P.; Matloubian, M.; Lui, M.; Robertson, R.S.; Baker, D.W.; Janke, P.; Ngo, C.M.; Sun, H.-C.;
By: Bowen, R.; Yu, M.; Hamilton, L.R.; Petre, P.; Matloubian, M.; Lui, M.; Robertson, R.S.; Baker, D.W.; Janke, P.; Ngo, C.M.; Sun, H.-C.;
2000 / IEEE / 0-7803-6603-4
By: McShane, M.J.; Mills, D.K.; Green, H.; Glawe, J.D.; Mengyan Li; Gale, B.K.;
By: McShane, M.J.; Mills, D.K.; Green, H.; Glawe, J.D.; Mengyan Li; Gale, B.K.;
2000 / IEEE / 0-7803-5772-8
By: Piwczyk, B.P.; Kalejs, J.P.; Rosenblum, M.D.; Ouellette, M.P.; Mackintosh, B.H.;
By: Piwczyk, B.P.; Kalejs, J.P.; Rosenblum, M.D.; Ouellette, M.P.; Mackintosh, B.H.;
2001 / IEEE
By: Yamada, Y.; Mito, T.; Tamura, H.; Iwamoto, A.; Tachikawa, K.; Suzuki, O.; Takiguchi, M.;
By: Yamada, Y.; Mito, T.; Tamura, H.; Iwamoto, A.; Tachikawa, K.; Suzuki, O.; Takiguchi, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8627-2
By: Ohira, K.; Murayama, T.; Hirose, M.; Yagi, H.; Tamura, S.; Arai, S.;
By: Ohira, K.; Murayama, T.; Hirose, M.; Yagi, H.; Tamura, S.; Arai, S.;
2003 / IEEE / 0-7803-7908-X
By: Hegeler, F.; Ciebiera, L.; Butler, J.E.; Sethian, J.D.; Jun, C.; Parsells, R.; Gentile, C.A.; Myers, M.; Langish, S.;
By: Hegeler, F.; Ciebiera, L.; Butler, J.E.; Sethian, J.D.; Jun, C.; Parsells, R.; Gentile, C.A.; Myers, M.; Langish, S.;
2006 / IEEE
By: Soo Beom Lee; Oh, P.Y.; Han Seb Moon; Se Hoon Jeong; Jun Ho Lee; Ki Baek Song; Eun Ha Choi; Uhm, H.S.; Gaungsup Cho; Yunki Kim; Yoon Jung;
By: Soo Beom Lee; Oh, P.Y.; Han Seb Moon; Se Hoon Jeong; Jun Ho Lee; Ki Baek Song; Eun Ha Choi; Uhm, H.S.; Gaungsup Cho; Yunki Kim; Yoon Jung;
2006 / IEEE / 1-55752-803-9
By: Baets, R.; Jaenen, P.; Van Thourhout, D.; Bogaerts, W.; Dumon, P.; McKenzie, I.; Halkias, G.; Kyriakis-Bitzaros, E.; Grivas, E.; Morthier, G.; Ryan, N.; Farrell, T.; Wouters, J.; Beckx, S.;
By: Baets, R.; Jaenen, P.; Van Thourhout, D.; Bogaerts, W.; Dumon, P.; McKenzie, I.; Halkias, G.; Kyriakis-Bitzaros, E.; Grivas, E.; Morthier, G.; Ryan, N.; Farrell, T.; Wouters, J.; Beckx, S.;