Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: 14 W
Results
2000 / IEEE / 0-7803-6320-5
By: Donetsky, D.; Trussell, W.; Belenky, G.; Shterengas, L.; Maiorov, M.; Menna, R.; Garbuzov, D.; Connolly, J.;
By: Donetsky, D.; Trussell, W.; Belenky, G.; Shterengas, L.; Maiorov, M.; Menna, R.; Garbuzov, D.; Connolly, J.;
2000 / IEEE / 0-7803-5687-X
By: Ibbetson, J.; Wapolnek, D.; Wu, Y.-F.; Mishra, U.K.; Keller, B.P.; Parikh, P.;
By: Ibbetson, J.; Wapolnek, D.; Wu, Y.-F.; Mishra, U.K.; Keller, B.P.; Parikh, P.;
2004 / IEEE / 0-7803-8410-5
By: Chung, K.H.; Yoo, J.H.; Lee, C.H.; Song, H.S.; Jeong, Y.H.; Hwang, L.H.; Jang, E.S.; Jeong, H.S.;
By: Chung, K.H.; Yoo, J.H.; Lee, C.H.; Song, H.S.; Jeong, Y.H.; Hwang, L.H.; Jang, E.S.; Jeong, H.S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Heymann, P.; Neuner, M.; Maassdorf, A.; Kurpas, P.; Auxemery, P.; Blanck, H.; Janke, B.; Wurfl, J.; Doser, W.; Heinrich, W.; Grasshoff, T.; Bergunde, T.; Schnieder, F.;
By: Heymann, P.; Neuner, M.; Maassdorf, A.; Kurpas, P.; Auxemery, P.; Blanck, H.; Janke, B.; Wurfl, J.; Doser, W.; Heinrich, W.; Grasshoff, T.; Bergunde, T.; Schnieder, F.;
2005 / IEEE / 1-55752-796-2
By: Saji, T.; Nishimae, J.; Kojima, T.; Katsura, T.; Sasaki, T.; Mori, Y.; Hisaminato, N.; Yoshimura, Y.;
By: Saji, T.; Nishimae, J.; Kojima, T.; Katsura, T.; Sasaki, T.; Mori, Y.; Hisaminato, N.; Yoshimura, Y.;
2006 / IEEE
By: Sirigiri, J.R.; Griffin, R.G.; Joye, C.D.; Woskov, P.P.; Temkin, R.J.; Hornstein, M.K.; Shapiro, M.A.; Rosay, M.; Kreischer, K.E.; Kan-Nian Hu;
By: Sirigiri, J.R.; Griffin, R.G.; Joye, C.D.; Woskov, P.P.; Temkin, R.J.; Hornstein, M.K.; Shapiro, M.A.; Rosay, M.; Kreischer, K.E.; Kan-Nian Hu;
2006 / IEEE / 0-7803-9560-3
By: Fricke, J.; Knauer, A.; Sumpf, B.; Klehr, A.; Dittmar, F.; Trankle, G.; Erbert, G.;
By: Fricke, J.; Knauer, A.; Sumpf, B.; Klehr, A.; Dittmar, F.; Trankle, G.; Erbert, G.;