Your Search Results
Use materials about this topic in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content - such as case studies and journal articles - for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Topic: 1.55 Mum
Results
1993 / IEEE
By: Hildebrand, O.; Zielinski, E.; Wunstel, K.; Idler, W.; Hofmann, M.; Elsasser, W.; Sacher, J.; Baums, D.; Schilling, M.;
By: Hildebrand, O.; Zielinski, E.; Wunstel, K.; Idler, W.; Hofmann, M.; Elsasser, W.; Sacher, J.; Baums, D.; Schilling, M.;
1993 / IEEE
By: Metaal, E.G.; Pedersen, J.W.; van der Tol, J.J.G.M.; Moerman, I.; van Brug, H.; Oei, Y.S.;
By: Metaal, E.G.; Pedersen, J.W.; van der Tol, J.J.G.M.; Moerman, I.; van Brug, H.; Oei, Y.S.;
1994 / IEEE
By: Westenhofer, S.; Wehrmann, F.; Sohler, W.; Rust, U.; Tian, F.; Reimann, V.; Herrmann, H.; Harizi, C.; Ricken, R.;
By: Westenhofer, S.; Wehrmann, F.; Sohler, W.; Rust, U.; Tian, F.; Reimann, V.; Herrmann, H.; Harizi, C.; Ricken, R.;
Mach-Zehnder switch using an ultra-compact directional coupler in a strongly-confining rib structure
1994 / IEEEBy: Rolland, C.; Hillier, G.; Fallahi, M.; Macdonald, R.I.; Allegretto, W.; Keyworth, B.P.; Janz, C.F.;
1994 / IEEE / 0-7803-1476-X
By: Iga, K.; Koyama, F.; Inaba, Y.; Yokouchi, N.; Miyamoto, T.; Mori, K.;
By: Iga, K.; Koyama, F.; Inaba, Y.; Yokouchi, N.; Miyamoto, T.; Mori, K.;
1994 / IEEE / 0-7803-1476-X
By: Streubel, K.; Dudley, J.J.; Babic, D.I.; Bowers, J.E.; Hu, E.L.; Mirin, R.P.;
By: Streubel, K.; Dudley, J.J.; Babic, D.I.; Bowers, J.E.; Hu, E.L.; Mirin, R.P.;
1994 / IEEE
By: Kerdiles, J.F.; Sorel, A.C.Y.; Huet, F.; Carre, M.; Henry, M.; Mircea, A.; Ougazzaden, A.; Chelles, S.; Devaux, F.;
By: Kerdiles, J.F.; Sorel, A.C.Y.; Huet, F.; Carre, M.; Henry, M.; Mircea, A.; Ougazzaden, A.; Chelles, S.; Devaux, F.;
Semiconductor 1.55 /spl mu/m laser source with gigabit/second integrated electroabsorptive modulator
1994 / IEEEBy: Zhang, L.M.; Carroll, J.E.;
1995 / IEEE
By: Ougazzaden, A.; Harmand, J.-C.; Fouchet, S.; Allovon, M.; Devaux, F.; Gloukhian, A.; Rose, B.;
By: Ougazzaden, A.; Harmand, J.-C.; Fouchet, S.; Allovon, M.; Devaux, F.; Gloukhian, A.; Rose, B.;
1995 / IEEE
By: Suzuki, M.; Hamaguchi, T.; Himi, S.; Ikushima, I.; Yamashita, K.; Kodera, H.; Maeda, N.;
By: Suzuki, M.; Hamaguchi, T.; Himi, S.; Ikushima, I.; Yamashita, K.; Kodera, H.; Maeda, N.;
1995 / IEEE
By: Joulie, G.; Keromnes, J.C.; Vaudry, C.; Henry, L.; Simon, J.C.; Lamouler, P.; Salaun, S.; Clerot, F.; Le Corre, A.; Godefroy, A.; Loualiche, S.;
By: Joulie, G.; Keromnes, J.C.; Vaudry, C.; Henry, L.; Simon, J.C.; Lamouler, P.; Salaun, S.; Clerot, F.; Le Corre, A.; Godefroy, A.; Loualiche, S.;
1995 / IEEE
By: Campbell, J.C.; Streetman, B.G.; Dupuis, R.D.; Hu, E.L.; Bowers, J.E.; Murtaza, S.S.; Srinivasan, A.; Islam, M.R.; Chelakara, R.V.; Tan, I.-H.; Anselm, K.A.;
By: Campbell, J.C.; Streetman, B.G.; Dupuis, R.D.; Hu, E.L.; Bowers, J.E.; Murtaza, S.S.; Srinivasan, A.; Islam, M.R.; Chelakara, R.V.; Tan, I.-H.; Anselm, K.A.;
High-power semiconductor edge-emitting light-emitting diodes for optical low coherence reflectometry
1995 / IEEEBy: Fouquet, J.E.; Trott, G.R.; Sorin, W.V.; Ludowise, M.J.; Braun, D.M.;
1995 / IEEE
By: Logan, R.A.; Tanbun-Ek, T.; Kazarinov, R.F.; Hybertsen, M.S.; Sergent, A.M.; Shtengel, G.E.; Ackerman, D.A.; Morton, P.A.;
By: Logan, R.A.; Tanbun-Ek, T.; Kazarinov, R.F.; Hybertsen, M.S.; Sergent, A.M.; Shtengel, G.E.; Ackerman, D.A.; Morton, P.A.;
1995 / IEEE
By: Shimizu, H.; Tan, G.L.; Irikawa, M.; Xu, J.M.; Fukushima, T.; Xu, M.L.; Mand, R.S.; Hirayama, Y.;
By: Shimizu, H.; Tan, G.L.; Irikawa, M.; Xu, J.M.; Fukushima, T.; Xu, M.L.; Mand, R.S.; Hirayama, Y.;
1995 / IEEE
By: Hamoudi, A.; Rao, E.V.K.; Krauz, P.; Ramdane, A.; Ougazzaden, A.; Carre, M.; Gloukhian, A.; Robein, D.;
By: Hamoudi, A.; Rao, E.V.K.; Krauz, P.; Ramdane, A.; Ougazzaden, A.; Carre, M.; Gloukhian, A.; Robein, D.;
1995 / IEEE
By: Zyskind, J.L.; Feldman, R.D.; Feuer, M.D.; Burrus, C.A.; Lion, K.-Y.; Sulhoff, J.; Wood, T.H.;
By: Zyskind, J.L.; Feldman, R.D.; Feuer, M.D.; Burrus, C.A.; Lion, K.-Y.; Sulhoff, J.; Wood, T.H.;
1995 / IEEE
By: Depovere, G.F.G.; van Gils, R.A.J.C.M.; Khoe, G.-d.; Schouten, D.; Pennings, E.C.M.;
By: Depovere, G.F.G.; van Gils, R.A.J.C.M.; Khoe, G.-d.; Schouten, D.; Pennings, E.C.M.;
1995 / IEEE
By: Burkhard, H.; Mohrdiek, S.; Gobel, R.; Schlapp, W.; Losch, R.; Hillmer, H.; Steinhagen, F.;
By: Burkhard, H.; Mohrdiek, S.; Gobel, R.; Schlapp, W.; Losch, R.; Hillmer, H.; Steinhagen, F.;
1995 / IEEE / 0-7803-2450-1
By: Perrin, S.D.; Cooper, K.; Peed, C.M.; Rivers, L.J.; Robertson, M.J.; Waller, R.G.; Nield, M.W.; Jones, C.A.; Fiddyment, P.J.; Collins, J.V.; MacDonald, B.M.; Lealman, I.F.; Harlow, M.J.;
By: Perrin, S.D.; Cooper, K.; Peed, C.M.; Rivers, L.J.; Robertson, M.J.; Waller, R.G.; Nield, M.W.; Jones, C.A.; Fiddyment, P.J.; Collins, J.V.; MacDonald, B.M.; Lealman, I.F.; Harlow, M.J.;