Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Zhang, S.
Results
2012 / IEEE
By: Kaviani, K.; Xingchao Yuan; Wei, J.; Amirkhany, A.; Jie Shen; Chin, T.J.; Thakkar, C.; Beyene, W.T.; Chan, N.; Chen, C.; Bing Ren Chuang; Dressler, D.; Gadde, V.P.; Hekmat, M.; Ho, E.; Huang, C.; Phuong Le; Mahabaleshwara; Madden, C.; Mishra, N.K.; Raghavan, L.; Saito, K.; Schmitt, R.; Secker, D.; Xudong Shi; Fazeel, S.; Srinivas, G.S.; Zhang, S.; Tran, C.; Vaidyanath, A.; Vyas, K.; Jain, M.; Kun-Yung Ken Chang; Ting Wu;
By: Kaviani, K.; Xingchao Yuan; Wei, J.; Amirkhany, A.; Jie Shen; Chin, T.J.; Thakkar, C.; Beyene, W.T.; Chan, N.; Chen, C.; Bing Ren Chuang; Dressler, D.; Gadde, V.P.; Hekmat, M.; Ho, E.; Huang, C.; Phuong Le; Mahabaleshwara; Madden, C.; Mishra, N.K.; Raghavan, L.; Saito, K.; Schmitt, R.; Secker, D.; Xudong Shi; Fazeel, S.; Srinivas, G.S.; Zhang, S.; Tran, C.; Vaidyanath, A.; Vyas, K.; Jain, M.; Kun-Yung Ken Chang; Ting Wu;
2012 / IEEE
By: Green, R.P.; Rae, B.R.; Zhang, S.; Massoubre, D.; Gu, E.; Dawson, M.D.; McKendry, J.J.D.; Kelly, A.E.; Henderson, R.K.;
By: Green, R.P.; Rae, B.R.; Zhang, S.; Massoubre, D.; Gu, E.; Dawson, M.D.; McKendry, J.J.D.; Kelly, A.E.; Henderson, R.K.;
2012 / IEEE
By: Inoue, T.; Yaman, F.; Mateo, E.; Qian, D.; Inada, Y.; Zhang, S.; Huang, M.; Wang, T.;
By: Inoue, T.; Yaman, F.; Mateo, E.; Qian, D.; Inada, Y.; Zhang, S.; Huang, M.; Wang, T.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1965-2
By: Seungbae Park; Zhang, S.; Hohyung Lee; Yeonsung Kim; Dapeng Liu;
By: Seungbae Park; Zhang, S.; Hohyung Lee; Yeonsung Kim; Dapeng Liu;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2229-4
By: Massoubre, D.; Zhang, S.; McKendry, J.J.D.; Kelly, A.E.; Rae, B.R.; Dawson, M.D.; Henderson, R.K.; Green, R.P.;
By: Massoubre, D.; Zhang, S.; McKendry, J.J.D.; Kelly, A.E.; Rae, B.R.; Dawson, M.D.; Henderson, R.K.; Green, R.P.;
Digital control of isolated Cuk power factor correction converter under wide range of load variation
2015 / IEEEBy: Wen, X.; Dian, S.; Zhang, S.; Deng, X.;
2015 / IEEE
By: Zhang, X.; Zhang, S.; Liu, L.; Cui, G.; Zhang, Y.; Huang, L.; Wang, Y.; Dong, J.; Wu, J.; Cong, Y.; Zhao, N.; Han, D.; Chen, Z.; Zhao, F.;
By: Zhang, X.; Zhang, S.; Liu, L.; Cui, G.; Zhang, Y.; Huang, L.; Wang, Y.; Dong, J.; Wu, J.; Cong, Y.; Zhao, N.; Han, D.; Chen, Z.; Zhao, F.;
2015 / IEEE
By: Song, Z.; Liu, H.; Hu, B.; Shi, Y.; Hu, W.; Wang, Z.; Yao, Z.; Cao, M.; Zhang, S.; Hao, H.;
By: Song, Z.; Liu, H.; Hu, B.; Shi, Y.; Hu, W.; Wang, Z.; Yao, Z.; Cao, M.; Zhang, S.; Hao, H.;
2015 / IEEE
By: Lv, J.; Jiang, X.; Liu, T.; Guo, L.; Ye, J.; Han, J.; Hu, X.; Zhang, T.; Chen, H.; Zhao, S.; Zhang, S.; Zhu, D.; Li, X.;
By: Lv, J.; Jiang, X.; Liu, T.; Guo, L.; Ye, J.; Han, J.; Hu, X.; Zhang, T.; Chen, H.; Zhao, S.; Zhang, S.; Zhu, D.; Li, X.;
2015 / IEEE
By: Zhang, S.; Chauraya, A.; Acti, T.; Dias, T.; Vardaxoglou, J. C.; Seager, R.; Whittow, W. G.;
By: Zhang, S.; Chauraya, A.; Acti, T.; Dias, T.; Vardaxoglou, J. C.; Seager, R.; Whittow, W. G.;
2015 / IEEE
By: Metaxas, D.N.; Burgoon, J.K.; Jensen, M.L.; Dunbar, N.E.; Yu, X.; Yang, F.; Yan, Z.; Zhang, S.; Huang, J.;
By: Metaxas, D.N.; Burgoon, J.K.; Jensen, M.L.; Dunbar, N.E.; Yu, X.; Yang, F.; Yan, Z.; Zhang, S.; Huang, J.;
2015 / IEEE
By: Zhang, D.; Wu, H.; Wang, P.; Gong, Y.; Wu, J.; Bu, W.; Lin, X.; Zhang, S.; Shi, J.; Liu, L.; Zhang, C.; Liu, X.; Wang, W.;
By: Zhang, D.; Wu, H.; Wang, P.; Gong, Y.; Wu, J.; Bu, W.; Lin, X.; Zhang, S.; Shi, J.; Liu, L.; Zhang, C.; Liu, X.; Wang, W.;
2015 / IEEE
By: Han, D.; Zhao, N.; Wang, Y.; Zhang, X.; Chen, Z.; Zhao, F.; Dong, J.; Cong, Y.; Wu, J.; Zhang, S.;
By: Han, D.; Zhao, N.; Wang, Y.; Zhang, X.; Chen, Z.; Zhao, F.; Dong, J.; Cong, Y.; Wu, J.; Zhang, S.;
2015 / IEEE
By: Li, J.; Yang, L.; Wu, F.; Liao, R.; Grzybowski, S.; Li, J.; Wang, K.; Yan, J.; Zhang, S.;
By: Li, J.; Yang, L.; Wu, F.; Liao, R.; Grzybowski, S.; Li, J.; Wang, K.; Yan, J.; Zhang, S.;
2014 / IEEE
By: Andre, T.; Hummel, K.A.; Zhang, S.; Sand, S.; Hellwagner, H.; Grippa, P.; Bettstetter, C.; Asadpour, M.; Yanmaz, E.; Schoellig, A.P.;
By: Andre, T.; Hummel, K.A.; Zhang, S.; Sand, S.; Hellwagner, H.; Grippa, P.; Bettstetter, C.; Asadpour, M.; Yanmaz, E.; Schoellig, A.P.;
2012 / IEEE
By: Wei, Q.; Lee, J. H.; Woo, S. T.; Lee, S. B.; Seong, K. W.; Zhang, S.; Zhu, C. W.; Cho, J. H.; Li, Y.;
By: Wei, Q.; Lee, J. H.; Woo, S. T.; Lee, S. B.; Seong, K. W.; Zhang, S.; Zhu, C. W.; Cho, J. H.; Li, Y.;
2014 / IEEE
By: Chen, Z.; Han, D.; Wang, Y.; Zhang, X.; Zhang, S.; Liu, L.; Zhao, F.; Dong, J.; Huang, L.; Zhao, N.; Cong, Y.; Wu, J.;
By: Chen, Z.; Han, D.; Wang, Y.; Zhang, X.; Zhang, S.; Liu, L.; Zhao, F.; Dong, J.; Huang, L.; Zhao, N.; Cong, Y.; Wu, J.;