Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Zhang, J.
Results
2012 / IEEE
By: Cheng, Z.; Takahashi, N.; Forghani, B.; Liu, L.; Fan, Y.; Liu, T.; Zhang, J.; Wang, X.;
By: Cheng, Z.; Takahashi, N.; Forghani, B.; Liu, L.; Fan, Y.; Liu, T.; Zhang, J.; Wang, X.;
The Development and Performance Test of a 10 kV Resistive Type Superconducting Fault Current Limiter
2012 / IEEEBy: Zhang, J.; Sheng, J.; Hong, Z.; Jin, Z.; Li, Y.; Ying, L.; Lin, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-5731-1
By: Lal, V.; Evans, P.; Fisher, M.; Malendevich, R.; James, A.; Studenkov, P.; Goldfarb, G.; Vallaitis, T.; Kato, M.; Samra, P.; Corzine, S.; Strzelecka, E.; Salvatore, R.; Sedgwick, F.; Kuntz, M.; Lambert, D.; Dentai, A.; Pavinski, D.; Zhang, J.; Behnia, B.; Bostak, J.; Dominic, V.; Nilsson, A.; Taylor, B.; Rahn, J.; Sanders, S.; Shaw, W.; Sun, H.; Tsai, C.; Wu, K.; Pleumeekers, J.; Muthiah, R.; Missey, M.; Schneider, R.; Stewart, J.; Reffle, M.; Butrie, T.; Nagarajan, R.; Joyner, C.; Ziari, M.; Kish, F.; Welch, D.;
By: Lal, V.; Evans, P.; Fisher, M.; Malendevich, R.; James, A.; Studenkov, P.; Goldfarb, G.; Vallaitis, T.; Kato, M.; Samra, P.; Corzine, S.; Strzelecka, E.; Salvatore, R.; Sedgwick, F.; Kuntz, M.; Lambert, D.; Dentai, A.; Pavinski, D.; Zhang, J.; Behnia, B.; Bostak, J.; Dominic, V.; Nilsson, A.; Taylor, B.; Rahn, J.; Sanders, S.; Shaw, W.; Sun, H.; Tsai, C.; Wu, K.; Pleumeekers, J.; Muthiah, R.; Missey, M.; Schneider, R.; Stewart, J.; Reffle, M.; Butrie, T.; Nagarajan, R.; Joyner, C.; Ziari, M.; Kish, F.; Welch, D.;
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Zhang, J.; Zhu, S.Y.; Ren, F.F.; Ang, K.W.; Yu, M.B.; Fang, Q.; Ng, J.W.; Liow, T.-Y.; Dim-Lee Kwong; Lo, G.Q.; Xiong, Y.Z.; Song, J.F.;
By: Zhang, J.; Zhu, S.Y.; Ren, F.F.; Ang, K.W.; Yu, M.B.; Fang, Q.; Ng, J.W.; Liow, T.-Y.; Dim-Lee Kwong; Lo, G.Q.; Xiong, Y.Z.; Song, J.F.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Somers, T.; Zhang, J.; Holmes, C.; Wronkiewicz, M.; Bundy, D.; Fok, S.; Schwartz, R.; Leuthardt, E.;
By: Somers, T.; Zhang, J.; Holmes, C.; Wronkiewicz, M.; Bundy, D.; Fok, S.; Schwartz, R.; Leuthardt, E.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Plum, E.; Zheludev, N.I.; Jia, B.; Ou, J.Y.; Ren, M.; Zhang, J.; MacDonald, K.F.; Gu, M.; Xu, J.J.; Nikolaenko, A.; Jiang, L.;
By: Plum, E.; Zheludev, N.I.; Jia, B.; Ou, J.Y.; Ren, M.; Zhang, J.; MacDonald, K.F.; Gu, M.; Xu, J.J.; Nikolaenko, A.; Jiang, L.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-2152-6
By: Begum, T.; Reza, F.; Abdullah, J.M.; Zhang, J.; Hanif, M.C.L.; Ilmie, M.U.;
By: Begum, T.; Reza, F.; Abdullah, J.M.; Zhang, J.; Hanif, M.C.L.; Ilmie, M.U.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1756-7
By: Zhang, J.; Shaheen, W.; Scozzie, C.; O'Brien, H.; Lin Cheng; Temple, V.; Ogunniyi, A.; Agarwal, A.;
By: Zhang, J.; Shaheen, W.; Scozzie, C.; O'Brien, H.; Lin Cheng; Temple, V.; Ogunniyi, A.; Agarwal, A.;
2011 / IEEE / 978-0-9775657-8-8
By: Xu, W.; Tang, D.Y.; Xu, X.D.; Zheng, L.H.; Xu, J.; Tan, W.D.; Li, D.Z.; Su, B.L.; Zhang, J.;
By: Xu, W.; Tang, D.Y.; Xu, X.D.; Zheng, L.H.; Xu, J.; Tan, W.D.; Li, D.Z.; Su, B.L.; Zhang, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0631-8
By: Ogunniyi, A.; Temple, V.; Agarwal, A.; Zhang, J.; Shaheen, W.; Scozzie, C.J.; O'Brien, H.;
By: Ogunniyi, A.; Temple, V.; Agarwal, A.; Zhang, J.; Shaheen, W.; Scozzie, C.J.; O'Brien, H.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-2084-0
By: Wang, X.L.; Ye, T.C.; Chen, D.P.; Yang, H.; Han, K.; Ma, X.L.; Xiang, J.J.; Zhang, J.; Wang, W.W.;
By: Wang, X.L.; Ye, T.C.; Chen, D.P.; Yang, H.; Han, K.; Ma, X.L.; Xiang, J.J.; Zhang, J.; Wang, W.W.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0351-4
By: Tai, L.; Economikos, L.; Ticknor, A.; Canaperi, D.; Wei-Tsu Tseng; Jianping Zheng; Qiang Fang; Zhang, J.; Xiaomeng Chen; Devarapalli, V.; Muncy, J.; Angyal, M.; Bunke, C.; MacDougal, J.;
By: Tai, L.; Economikos, L.; Ticknor, A.; Canaperi, D.; Wei-Tsu Tseng; Jianping Zheng; Qiang Fang; Zhang, J.; Xiaomeng Chen; Devarapalli, V.; Muncy, J.; Angyal, M.; Bunke, C.; MacDougal, J.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1858-8
By: Zhang, J.; Fuerst, B.; Khurd, P.; Mansi, T.; Declerck, J.; Kamen, A.; Bayouth, J.; Navab, N.; Boettger, T.;
By: Zhang, J.; Fuerst, B.; Khurd, P.; Mansi, T.; Declerck, J.; Kamen, A.; Bayouth, J.; Navab, N.; Boettger, T.;
2012 / IEEE / 978-0-7695-4747-3
By: Auradkar, A.; Zhang, J.; Botev, C.; Das, S.; De Maagd, D.; Feinberg, A.; Ganti, P.; Lei Gao; Ghosh, B.; Gopalakrishna, K.; Harris, B.; Koshy, J.; Krawez, K.; Kreps, J.; Shi Lu; Nagaraj, S.; Narkhede, N.; Pachev, S.; Perisic, I.; Lin Qiao; Quiggle, T.; Jun Rao; Schulman, B.; Sebastian, A.; Seeliger, O.; Silberstein, A.; Shkolnik, B.; Soman, C.; Sumbaly, R.; Surlaker, K.; Topiwala, S.; Tran, C.; Varadarajan, B.; Westerman, J.; White, Z.; Zhang, D.;
By: Auradkar, A.; Zhang, J.; Botev, C.; Das, S.; De Maagd, D.; Feinberg, A.; Ganti, P.; Lei Gao; Ghosh, B.; Gopalakrishna, K.; Harris, B.; Koshy, J.; Krawez, K.; Kreps, J.; Shi Lu; Nagaraj, S.; Narkhede, N.; Pachev, S.; Perisic, I.; Lin Qiao; Quiggle, T.; Jun Rao; Schulman, B.; Sebastian, A.; Seeliger, O.; Silberstein, A.; Shkolnik, B.; Soman, C.; Sumbaly, R.; Surlaker, K.; Topiwala, S.; Tran, C.; Varadarajan, B.; Westerman, J.; White, Z.; Zhang, D.;
2013 / IEEE
By: Hai, Z.; Zhang, J.; Suhling, J. C.; Zhang, Y.; Bozack, M. J.; Evans, J. L.; Thirugnanasambandam, S.;
By: Hai, Z.; Zhang, J.; Suhling, J. C.; Zhang, Y.; Bozack, M. J.; Evans, J. L.; Thirugnanasambandam, S.;
2013 / IEEE
By: Zhu, Z.; Dai, S.; Lin, L.; Ma, T.; Zhang, G.; Xu, X.; Qiu, Q.; Zhang, Z.; Song, N.; Gao, Z.; Zhang, D.; Guo, W.; Teng, Y.; Zhang, J.; Xiao, L.;
By: Zhu, Z.; Dai, S.; Lin, L.; Ma, T.; Zhang, G.; Xu, X.; Qiu, Q.; Zhang, Z.; Song, N.; Gao, Z.; Zhang, D.; Guo, W.; Teng, Y.; Zhang, J.; Xiao, L.;
2013 / IEEE
By: Xu, Z.; Wang, J.; Zhang, J.; Ma, X.; Wu, W.; Xie, B.; Yu, M.; Wang, M.; Liu, Y.; Cai, J.; Liu, J.;
By: Xu, Z.; Wang, J.; Zhang, J.; Ma, X.; Wu, W.; Xie, B.; Yu, M.; Wang, M.; Liu, Y.; Cai, J.; Liu, J.;
2013 / IEEE
By: Zhou, L.; Wu, J.; Shi, Y.; Zhang, F.; Zhao, L.; Zhang, J.; Liu, M.; Leng, S.; Zhang, J.;
By: Zhou, L.; Wu, J.; Shi, Y.; Zhang, F.; Zhao, L.; Zhang, J.; Liu, M.; Leng, S.; Zhang, J.;
2012 / IEEE
By: Becker, J.; Bianco, L.; Kruger, H.; Gronewald, M.; Shi, X.; Schmitt, B.; Mozzanica, A.; Henrich, B.; Greiffenberg, D.; Dinapoli, R.; Gottlicher, P.; Graafsma, H.; Hirsemann, H.; Jack, S.; Klyuev, A.; Marras, A.; Trunk, U.; Klanner, R.; Schwandt, J.; Zhang, J.;
By: Becker, J.; Bianco, L.; Kruger, H.; Gronewald, M.; Shi, X.; Schmitt, B.; Mozzanica, A.; Henrich, B.; Greiffenberg, D.; Dinapoli, R.; Gottlicher, P.; Graafsma, H.; Hirsemann, H.; Jack, S.; Klyuev, A.; Marras, A.; Trunk, U.; Klanner, R.; Schwandt, J.; Zhang, J.;
2013 / IEEE
By: Song, J.-Z.; Zhang, Y.; Zhang, Y.; Liu, J. P.; Qi, X.-Y.; Zhang, J.; Xia, W.-X.; Du, J.; Yan, A.-R.;
By: Song, J.-Z.; Zhang, Y.; Zhang, Y.; Liu, J. P.; Qi, X.-Y.; Zhang, J.; Xia, W.-X.; Du, J.; Yan, A.-R.;
2014 / IEEE
By: Zhang, J.; Faraone, L.; Dell, J. M.; Antoszewski, J.; Lei, W.; Gu, R.; Umana-Membreno, G. A.;
By: Zhang, J.; Faraone, L.; Dell, J. M.; Antoszewski, J.; Lei, W.; Gu, R.; Umana-Membreno, G. A.;
2014 / IEEE
By: Marras, A.; Allahgholi, A.; Graafsma, H.; Schwandt, J.; Klanner, R.; Shi, X.; Schmitt, B.; Mozzanica, A.; Becker, J.; Bianco, L.; Delfs, A.; Goettlicher, P.; Klyuev, A.; Jack, S.; Lange, S.; Sheviakov, I.; Trunk, U.; Xia, Q.; Zhang, J.; Zimmer, M.; Dinapoli, R.; Greiffenberg, D.; Mezza, D.;
By: Marras, A.; Allahgholi, A.; Graafsma, H.; Schwandt, J.; Klanner, R.; Shi, X.; Schmitt, B.; Mozzanica, A.; Becker, J.; Bianco, L.; Delfs, A.; Goettlicher, P.; Klyuev, A.; Jack, S.; Lange, S.; Sheviakov, I.; Trunk, U.; Xia, Q.; Zhang, J.; Zimmer, M.; Dinapoli, R.; Greiffenberg, D.; Mezza, D.;
2014 / IEEE
By: Golovin, G.; Chen, S.; Powers, N.; Liu, C.; Banerjee, S.; Zhang, J.; Umstadter, D.; Sheng, Z.; Zeng, M.;
By: Golovin, G.; Chen, S.; Powers, N.; Liu, C.; Banerjee, S.; Zhang, J.; Umstadter, D.; Sheng, Z.; Zeng, M.;