Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Zecca, M.
Results
Waseda Bioinstrumentation system WB-3 as a wearable tool for objective laparoscopic skill evaluation
2011 / IEEE / 978-1-61284-385-8By: Bartolomeo, L.; Ishii, H.; Sessa, S.; Zecca, M.; Uemura, M.; Itoh, K.; Takanishi, A.; Zhuohua Lin; Hashizume, M.; Tomikawa, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1573-0
By: Lin, Z.; Fukui, K.; Petersen, K.; Dillmann, R.; Asfour, T.; Endo, N.; Takanishi, A.; Zecca, M.; Ishii, H.; Kazuki, E.;
By: Lin, Z.; Fukui, K.; Petersen, K.; Dillmann, R.; Asfour, T.; Endo, N.; Takanishi, A.; Zecca, M.; Ishii, H.; Kazuki, E.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Zhuohua Lin; Takanishi, A.; Ishii, H.; Bartolomeo, L.; Sessa, S.; Zecca, M.;
By: Zhuohua Lin; Takanishi, A.; Ishii, H.; Bartolomeo, L.; Sessa, S.; Zecca, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-2138-0
By: Zecca, M.; Ishii, H.; Zhuohua Lin; Doho, S.; Ukawa, G.; Jaewoo Lee; Takanishi, A.;
By: Zecca, M.; Ishii, H.; Zhuohua Lin; Doho, S.; Ukawa, G.; Jaewoo Lee; Takanishi, A.;
2014 / IEEE
By: Salah, Omar; Ramadan, Ahmed A.; Fujie, M.; Takanishi, A.; Kobayashi, Yo; Zecca, M.; Abo-Ismail, Ahmed; Fath El-Bab, Ahmed M. R.; Sessa, Salvatore;
By: Salah, Omar; Ramadan, Ahmed A.; Fujie, M.; Takanishi, A.; Kobayashi, Yo; Zecca, M.; Abo-Ismail, Ahmed; Fath El-Bab, Ahmed M. R.; Sessa, Salvatore;
2014 / IEEE
By: Kong, W.; Sessa, S.; Takanishi, A.; Kawashima, R.; Takeuchi, H.; Ishii, H.; Zecca, M.; Cosentino, S.; Imtiaz, U.; Zhang, D.; Magistro, D.;
By: Kong, W.; Sessa, S.; Takanishi, A.; Kawashima, R.; Takeuchi, H.; Ishii, H.; Zecca, M.; Cosentino, S.; Imtiaz, U.; Zhang, D.; Magistro, D.;
2014 / IEEE
By: Niibori, A.; Matsuoka, Y.; Takanishi, A.; Zecca, M.; Ishii, H.; Sessa, S.; Ozaki, M.; Nagai, M.; Kasuya, Y.; Zhang, D.; Imtiaz, U.; Kong, W.; Bartolomeo, L.; Cosentino, S.;
By: Niibori, A.; Matsuoka, Y.; Takanishi, A.; Zecca, M.; Ishii, H.; Sessa, S.; Ozaki, M.; Nagai, M.; Kasuya, Y.; Zhang, D.; Imtiaz, U.; Kong, W.; Bartolomeo, L.; Cosentino, S.;
2014 / IEEE
By: Kishi, T.; Endo, N.; Takanishi, A.; Hashimoto, K.; Zecca, M.; Cosentino, S.; Otani, T.; Nozawa, T.;
By: Kishi, T.; Endo, N.; Takanishi, A.; Hashimoto, K.; Zecca, M.; Cosentino, S.; Otani, T.; Nozawa, T.;
2000 / IEEE / 0-7803-6348-5
By: Zecca, M.; Massa, B.; Teti, G.; Guglielmelli, E.; Taddeucci, D.; Laschi, C.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Leoni, F.;
By: Zecca, M.; Massa, B.; Teti, G.; Guglielmelli, E.; Taddeucci, D.; Laschi, C.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Leoni, F.;
2001 / IEEE / 0-7803-6736-7
By: Micera, S.; Carrozza, M.C.; Dario, P.; Canelli, N.; Lazzarini, R.; Zecca, M.; Massa, B.;
By: Micera, S.; Carrozza, M.C.; Dario, P.; Canelli, N.; Lazzarini, R.; Zecca, M.; Massa, B.;
2003 / IEEE / 0-7803-7736-2
By: Carrozza, M.C.; Dario, P.; Lazzarini, R.; Zecca, M.; Vecchi, F.; Cappiello, G.; Sebastiani, F.; Roccella, S.;
By: Carrozza, M.C.; Dario, P.; Lazzarini, R.; Zecca, M.; Vecchi, F.; Cappiello, G.; Sebastiani, F.; Roccella, S.;
2003 / IEEE / 0-7803-7860-1
By: Vecchi, F.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Sebastiani, F.; Zecca, M.; Roccella, S.;
By: Vecchi, F.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Sebastiani, F.; Zecca, M.; Roccella, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8463-6
By: Zecca, M.; Cabibihan, J.J.; Cappiello, G.; Dario, P.; Miwa, H.; Carrozza, M.C.; Roccella, S.; Marsumoto, M.; Itoh, K.;
By: Zecca, M.; Cabibihan, J.J.; Cappiello, G.; Dario, P.; Miwa, H.; Carrozza, M.C.; Roccella, S.; Marsumoto, M.; Itoh, K.;
2004 / IEEE / 0-7803-8463-6
By: Dario, P.; Carrozza, M.C.; Rocella, S.; Takanobu, H.; Takanishi, A.; Zecca, M.; Matsumoto, M.; Itoh, K.; Miwa, H.;
By: Dario, P.; Carrozza, M.C.; Rocella, S.; Takanobu, H.; Takanishi, A.; Zecca, M.; Matsumoto, M.; Itoh, K.; Miwa, H.;
2004 / IEEE / 0-7803-8564-0
By: Carrozza, M.C.; Roccella, S.; Takanobu, H.; Zecca, M.; Dario, P.; Matsumoto, M.; Miwa, H.; Itoh, K.; Takanishi, A.;
By: Carrozza, M.C.; Roccella, S.; Takanobu, H.; Zecca, M.; Dario, P.; Matsumoto, M.; Miwa, H.; Itoh, K.; Takanishi, A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8863-1
By: Takanishi, A.; Dario, P.; Takanobu, H.; Matsumoto, M.; Cabibihan, J.-J.; Roccella, S.; Cappiello, G.; Itoh, K.; Miwa, H.; Carrozza, M.C.; Zecca, M.;
By: Takanishi, A.; Dario, P.; Takanobu, H.; Matsumoto, M.; Cabibihan, J.-J.; Roccella, S.; Cappiello, G.; Itoh, K.; Miwa, H.; Carrozza, M.C.; Zecca, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-9048-2
By: Miwa, H.; Itoh, K.; Takanishi, A.; Dario, P.; Takanobu, H.; Zecca, M.; Nukariya, Y.;
By: Miwa, H.; Itoh, K.; Takanishi, A.; Dario, P.; Takanobu, H.; Zecca, M.; Nukariya, Y.;
2005 / IEEE / 0-7803-9320-1
By: Itoh, K.; Takanishi, A.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Matsumoto, M.; Roccella, S.; Takanobu, H.; Zecca, M.; Miwa, H.;
By: Itoh, K.; Takanishi, A.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Matsumoto, M.; Roccella, S.; Takanobu, H.; Zecca, M.; Miwa, H.;
2006 / IEEE / 1-4244-0258-1
By: Dario, P.; Miwa, H.; Itoh, K.; Takanishi, A.; Nukariya, Y.; Carrozza, M.C.; Roccella, S.; Takanobu, H.; Zecca, M.;
By: Dario, P.; Miwa, H.; Itoh, K.; Takanishi, A.; Nukariya, Y.; Carrozza, M.C.; Roccella, S.; Takanobu, H.; Zecca, M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1646-2
By: Momoki, S.; Endo, N.; Takanishi, A.; Itoh, K.; Mizoguchi, Yu.; Saito, M.; Zecca, M.;
By: Momoki, S.; Endo, N.; Takanishi, A.; Itoh, K.; Mizoguchi, Yu.; Saito, M.; Zecca, M.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3788-7
By: Itoh, K.; Sasaki, T.; Zhuohua Lin; Zecca, M.; Sessa, S.; Takanishi, A.;
By: Itoh, K.; Sasaki, T.; Zhuohua Lin; Zecca, M.; Sessa, S.; Takanishi, A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2852-6
By: Takanishi, A.; Itoh, K.; Kusano, T.; Sessa, S.; Zecca, M.; Zhuohua Lin;
By: Takanishi, A.; Itoh, K.; Kusano, T.; Sessa, S.; Zecca, M.; Zhuohua Lin;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3803-7
By: Sasaki, T.; Zhuohua Lin; Zecca, M.; Sessa, S.; Suzuki, T.; Takanishi, A.; Iseki, H.; Itoh, K.;
By: Sasaki, T.; Zhuohua Lin; Zecca, M.; Sessa, S.; Suzuki, T.; Takanishi, A.; Iseki, H.; Itoh, K.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9315-9
By: Zecca, M.; Lin, Z.; Takanishi, A.; Itoh, K.; Ishii, H.; Bartolomeo, L.; Sessa, S.;
By: Zecca, M.; Lin, Z.; Takanishi, A.; Itoh, K.; Ishii, H.; Bartolomeo, L.; Sessa, S.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9315-9
By: Sessa, S.; Zecca, M.; Lin, Z.; Takanishi, A.; Itoh, K.; Ishii, H.; Bartolomeo, L.;
By: Sessa, S.; Zecca, M.; Lin, Z.; Takanishi, A.; Itoh, K.; Ishii, H.; Bartolomeo, L.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9318-0
By: Zecca, M.; Ieiri, S.; Uemura, M.; Zhuohua Lin; Takanishi, A.; Hashizume, M.; Konishi, K.; Sessa, S.; Tanoue, K.; Odaira, T.; Tomikawa, M.; Itoh, K.; Bartolomeo, L.; Ishii, H.;
By: Zecca, M.; Ieiri, S.; Uemura, M.; Zhuohua Lin; Takanishi, A.; Hashizume, M.; Konishi, K.; Sessa, S.; Tanoue, K.; Odaira, T.; Tomikawa, M.; Itoh, K.; Bartolomeo, L.; Ishii, H.;
Ultra-miniaturized WB-3 Inertial Measurement Unit: Performance evaluation of the attitude estimation
2010 / IEEE / 978-1-4244-9318-0By: Zecca, M.; Sessa, S.; Takanishi, A.; Suzuki, Y.; Lin, Z.; Mukaeda, Y.; Ishii, H.; Itoh, K.; Bartolomeo, L.;