Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Yoshida, Y.
Results
2012 / IEEE
By: Dat, P.T.; Kanno, A.; Kitayama, K.; Yasumura, Y.; Kuri, T.; Yoshida, Y.; Kawanishi, T.; Hosako, I.;
By: Dat, P.T.; Kanno, A.; Kitayama, K.; Yasumura, Y.; Kuri, T.; Yoshida, Y.; Kawanishi, T.; Hosako, I.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-175-5
By: Ikeda, H.; Ishizaki, H.; Mizuno, M.; Kuroda, T.; Maeda, T.; Yoshida, Y.;
By: Ikeda, H.; Ishizaki, H.; Mizuno, M.; Kuroda, T.; Maeda, T.; Yoshida, Y.;
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Mizuochi, T.; Nakagawa, J.; Koguchi, K.; Suzuki, N.; Ichikawa, T.; Yoshida, Y.; Yoshida, T.; Akiyama, Y.; Ishii, K.; Kitayama, K.; Maruta, A.;
By: Mizuochi, T.; Nakagawa, J.; Koguchi, K.; Suzuki, N.; Ichikawa, T.; Yoshida, Y.; Yoshida, T.; Akiyama, Y.; Ishii, K.; Kitayama, K.; Maruta, A.;
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Mizuochi, T.; Akiyama, Y.; Kitayama, K.; Maruta, A.; Yoshida, Y.; Ishii, K.; Nakagawa, J.; Koguchi, K.; Ichikawa, T.; Suzuki, N.; Yoshida, T.;
By: Mizuochi, T.; Akiyama, Y.; Kitayama, K.; Maruta, A.; Yoshida, Y.; Ishii, K.; Nakagawa, J.; Koguchi, K.; Ichikawa, T.; Suzuki, N.; Yoshida, T.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-456-5
By: Sato, F.; Nenchev, D.; Mitsuhashi, M.; Yoshida, Y.; Takahashi, J.; Nishii, T.;
By: Sato, F.; Nenchev, D.; Mitsuhashi, M.; Yoshida, Y.; Takahashi, J.; Nishii, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1005-6
By: Eguchi, N.; Yokota, T.; Watanabe, H.; Maksyutov, S.; Uchino, O.; Inoue, M.; Saeki, T.; Kikuchi, N.; Morino, I.; Yoshida, Y.;
By: Eguchi, N.; Yokota, T.; Watanabe, H.; Maksyutov, S.; Uchino, O.; Inoue, M.; Saeki, T.; Kikuchi, N.; Morino, I.; Yoshida, Y.;
Thermo-responsiveness of auto-oxidized cholesterol-containing lipid membranes, observed in real-time
2011 / IEEE / 978-1-4577-1362-0By: Yoshida, Y.; Akazawa, Y.; Hamada, T.; Yoda, T.; Vestergaard, M.C.; Takagi, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1516-7
By: Mathew, A.; Kumar, D.S.; Venugopal, K.; Maekawa, T.; Yoshida, Y.; Nagaoka, Y.; Hasumura, T.; Fukuda, T.; Aravind, A.;
By: Mathew, A.; Kumar, D.S.; Venugopal, K.; Maekawa, T.; Yoshida, Y.; Nagaoka, Y.; Hasumura, T.; Fukuda, T.; Aravind, A.;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Miyoshi, Y.; Guoxiu Huang; Kitayama, K.; Maruta, A.; Yoshida, Y.;
By: Miyoshi, Y.; Guoxiu Huang; Kitayama, K.; Maruta, A.; Yoshida, Y.;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Suzuki, N.; Yoshida, T.; Ishii, K.; Akiyama, Y.; Maruta, A.; Koguchi, K.; Yoshida, Y.; Kitayama, K.; Mizuochi, T.; Nakagawa, J.;
By: Suzuki, N.; Yoshida, T.; Ishii, K.; Akiyama, Y.; Maruta, A.; Koguchi, K.; Yoshida, Y.; Kitayama, K.; Mizuochi, T.; Nakagawa, J.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-0920-3
By: Itoh, K.; Betsudan, S.; Okada, K.; Sasaki, S.; Noguchi, K.; Yoshida, Y.; Makino, S.; Takahashi, T.; Hirota, T.;
By: Itoh, K.; Betsudan, S.; Okada, K.; Sasaki, S.; Noguchi, K.; Yoshida, Y.; Makino, S.; Takahashi, T.; Hirota, T.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2663-6
By: Watanabe, M.; Saito, H.; Yoshida, Y.; Muranaka, Y.; Kamitani, T.;
By: Watanabe, M.; Saito, H.; Yoshida, Y.; Muranaka, Y.; Kamitani, T.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0978-3
By: Akiyama, Y.; Ishii, K.; Kitayama, K.; Maruta, A.; Yoshida, Y.; Mizuochi, T.; Nakagawa, J.; Koguchi, K.; Ichikawa, T.; Suzuki, N.; Yoshida, T.;
By: Akiyama, Y.; Ishii, K.; Kitayama, K.; Maruta, A.; Yoshida, Y.; Mizuochi, T.; Nakagawa, J.; Koguchi, K.; Ichikawa, T.; Suzuki, N.; Yoshida, T.;
2015 / IEEE
By: Yoshida, Y.; Maruta, A.; Marhuenda, J.; Lopez, V.; Aguado, A.; Martinez, R.; Casellas, R.; Munoz, R.; Vilalta, R.; Simeonidou, D.; Zervas, G.; Kitayama, K.; Nishihara, M.; Tanaka, T.; Takahara, T.; Rasmussen, J.C.; Yoshikane, N.; Tsuritani, T.; Morita, I.; Yan, S.; Shu, Y.; Yan, Y.; Nejabati, R.;
By: Yoshida, Y.; Maruta, A.; Marhuenda, J.; Lopez, V.; Aguado, A.; Martinez, R.; Casellas, R.; Munoz, R.; Vilalta, R.; Simeonidou, D.; Zervas, G.; Kitayama, K.; Nishihara, M.; Tanaka, T.; Takahara, T.; Rasmussen, J.C.; Yoshikane, N.; Tsuritani, T.; Morita, I.; Yan, S.; Shu, Y.; Yan, Y.; Nejabati, R.;
Systematic Variation of Hybrid APCs Into YBCO Thin Films for Improving the Vortex Pinning Properties
2015 / IEEEBy: Saini, S.; Horide, T.; Matsumoto, K.; Jha, A.K.; Awaji, S.; Yoshida, Y.; Mele, P.;
2015 / IEEE
By: Matsumoto, K.; Ichinose, A.; Miura, S.; Ichino, Y.; Yoshida, Y.; Tsuruta, A.; Awaji, S.;
By: Matsumoto, K.; Ichinose, A.; Miura, S.; Ichino, Y.; Yoshida, Y.; Tsuruta, A.; Awaji, S.;
2015 / IEEE
By: Miura, S.; Awaji, S.; Ichinose, A.; Matsumoto, K.; Tsuruta, A.; Ichino, Y.; Yoshida, Y.;
By: Miura, S.; Awaji, S.; Ichinose, A.; Matsumoto, K.; Tsuruta, A.; Ichino, Y.; Yoshida, Y.;
2015 / IEEE
By: Maruta, A.; Yoshida, Y.; Kitayama, K.; Mizuochi, T.; Ishii, K.; Nogami, M.; Noda, M.; Akiyama, Y.; Onohara, K.; Koguchi, K.;
By: Maruta, A.; Yoshida, Y.; Kitayama, K.; Mizuochi, T.; Ishii, K.; Nogami, M.; Noda, M.; Akiyama, Y.; Onohara, K.; Koguchi, K.;
2015 / IEEE
By: Yoshida, Y.; Huang, Y.; Kitayama, K.; Hiramatsu, A.; Mizukoshi, Y.; Takahashi, R.; Hayashitani, M.; Suzaki, Y.; Nakahara, T.; Ibrahim, S.; Segawa, T.; Hasegawa, Y.;
By: Yoshida, Y.; Huang, Y.; Kitayama, K.; Hiramatsu, A.; Mizukoshi, Y.; Takahashi, R.; Hayashitani, M.; Suzaki, Y.; Nakahara, T.; Ibrahim, S.; Segawa, T.; Hasegawa, Y.;
2014 / IEEE
By: Kitayama, K.; Mizuochi, T.; Koguchi, K.; Nogami, M.; Yoshida, Y.; Akiyama, Y.; Onohara, K.; Ishii, K.; Maruta, A.; Noda, M.;
By: Kitayama, K.; Mizuochi, T.; Koguchi, K.; Nogami, M.; Yoshida, Y.; Akiyama, Y.; Onohara, K.; Ishii, K.; Maruta, A.; Noda, M.;
2014 / IEEE
By: Fabrega, J. M.; Moreolo, M. Svaluto; Vflchez, F. J.; Rofoee, B. R.; Ou, Y.; Amaya, N.; Zervas, G.; Kitayama, K.; Yoshida, Y.; Simeonidou, D.;
By: Fabrega, J. M.; Moreolo, M. Svaluto; Vflchez, F. J.; Rofoee, B. R.; Ou, Y.; Amaya, N.; Zervas, G.; Kitayama, K.; Yoshida, Y.; Simeonidou, D.;
2014 / IEEE
By: Yoshida, Y.; Maruta, A.; Fernandez-Palacios, J. P.; de Dios, O. Gonzalez; Kitayama, K.; Nishihara, M.; Tanaka, T.; Takahara, T.; Rasmussen, J. C.; Yoshikane, N.; Tsuritani, T.; Morita, I.; Yan, S.; Shu, Y.; Channegowda, M.; Yan, Y.; Rofoee, B.R.; Hugues-Salas, E.; Saridis, G.; Zervas, G.; Nejabati, R.; Simeonidou, D.; Vilalta, R.; Munoz, R.; Casellas, R.; Martinez, R.; Svaluto, M.; Fabrega, J. M.; Aguado, A.; Lopez, V.; Marhuenda, J.;
By: Yoshida, Y.; Maruta, A.; Fernandez-Palacios, J. P.; de Dios, O. Gonzalez; Kitayama, K.; Nishihara, M.; Tanaka, T.; Takahara, T.; Rasmussen, J. C.; Yoshikane, N.; Tsuritani, T.; Morita, I.; Yan, S.; Shu, Y.; Channegowda, M.; Yan, Y.; Rofoee, B.R.; Hugues-Salas, E.; Saridis, G.; Zervas, G.; Nejabati, R.; Simeonidou, D.; Vilalta, R.; Munoz, R.; Casellas, R.; Martinez, R.; Svaluto, M.; Fabrega, J. M.; Aguado, A.; Lopez, V.; Marhuenda, J.;
2014 / IEEE
By: Kuze, A.; Taylor, T. E.; Yoshida, Y.; Yokota, T.; Urabe, T.; Tanaka, T.; Takeda, T.; Suto, H.; Shiomi, K.; Schwandner, F. M.; Pollock, H.; Ohyama, H.; O'Dell, C. W.; O'Brien, D. M.; Naitoh, M.; Kataoka, F.; Bruegge, C. J.; Crisp, D.; Harada, M.; Helmlinger, M.; Inoue, M.; Kawakami, S.; Kikuchi, N.; Mitomi, Y.; Murooka, J.;
By: Kuze, A.; Taylor, T. E.; Yoshida, Y.; Yokota, T.; Urabe, T.; Tanaka, T.; Takeda, T.; Suto, H.; Shiomi, K.; Schwandner, F. M.; Pollock, H.; Ohyama, H.; O'Dell, C. W.; O'Brien, D. M.; Naitoh, M.; Kataoka, F.; Bruegge, C. J.; Crisp, D.; Harada, M.; Helmlinger, M.; Inoue, M.; Kawakami, S.; Kikuchi, N.; Mitomi, Y.; Murooka, J.;
2014 / IEEE
By: Hashimoto, T.; Oda, K.; Shima, A.; Kubo, M.; Satoh, H.; Yoshida, Y.; Fukumoto, K.; Tokunaga, K.;
By: Hashimoto, T.; Oda, K.; Shima, A.; Kubo, M.; Satoh, H.; Yoshida, Y.; Fukumoto, K.; Tokunaga, K.;
1990 / IEEE / 0-87942-600-4
By: Yoshida, H.; Yoshida, Y.; Shinohara, S.; Sumi, M.; Nishide, K.; Miyata, M.; Ikeda, H.;
By: Yoshida, H.; Yoshida, Y.; Shinohara, S.; Sumi, M.; Nishide, K.; Miyata, M.; Ikeda, H.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Ueda, T.; Kobayashi, T.; Kozawa, T.; Shibata, H.; Nakajima, K.; Ogata, A.; Nakanishi, H.; Nishida, Y.; Yugami, N.; Yoshida, Y.;
By: Ueda, T.; Kobayashi, T.; Kozawa, T.; Shibata, H.; Nakajima, K.; Ogata, A.; Nakanishi, H.; Nishida, Y.; Yugami, N.; Yoshida, Y.;
1990 / IEEE
By: Kodama, M.; Ishihara, K.; Yokozawa, N.; Ogawa, T.; Kishimoto, S.; Kamada, T.; Mukai, N.; Kondo, H.; Doi, Y.; Yoshida, Y.; Masuyama, T.; Uematsu, M.; Kitabatake, A.; Tanouchi, J.;
By: Kodama, M.; Ishihara, K.; Yokozawa, N.; Ogawa, T.; Kishimoto, S.; Kamada, T.; Mukai, N.; Kondo, H.; Doi, Y.; Yoshida, Y.; Masuyama, T.; Uematsu, M.; Kitabatake, A.; Tanouchi, J.;
1991 / IEEE / 0-87942-688-8
By: Ikeda, H.; Shinohara, S.; Yoshida, Y.; Sumi, M.; Nishide, K.; Yoshida, H.; Tada, K.;
By: Ikeda, H.; Shinohara, S.; Yoshida, Y.; Sumi, M.; Nishide, K.; Yoshida, H.; Tada, K.;
1991 / IEEE / 0-7803-0620-1
By: Shinohara, S.; Yoshida, Y.; Sumi, M.; Nishide, K.; Yoshida, H.; Tada, K.; Ikeda, H.;
By: Shinohara, S.; Yoshida, Y.; Sumi, M.; Nishide, K.; Yoshida, H.; Tada, K.; Ikeda, H.;
1992 / IEEE / 0-7803-0803-4
By: Taguchi, A.; Iijima, N.; Kamiyama, N.; Sone, M.; Yoshida, Y.; Mitsui, H.;
By: Taguchi, A.; Iijima, N.; Kamiyama, N.; Sone, M.; Yoshida, Y.; Mitsui, H.;
1993 / IEEE
By: Arrott, A.S.; Li, X.-Z.; Yoshida, Y.; Templeton, T.L.; Curzon, A.E.; LaCombe, J.L.; Schurer, P.J.; Gee, M.A.; Hamed, F.;
By: Arrott, A.S.; Li, X.-Z.; Yoshida, Y.; Templeton, T.L.; Curzon, A.E.; LaCombe, J.L.; Schurer, P.J.; Gee, M.A.; Hamed, F.;
1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Arinaga, M.; Whittum, D.; Ogata, A.; Kawakubo, T.; Nakajima, K.; Nakanishi, H.; Yoshida, Y.; Nishida, Y.; Yugami, N.; Tagawa, S.; Shibata, H.; Kobayashi, T.; Ueda, T.;
By: Arinaga, M.; Whittum, D.; Ogata, A.; Kawakubo, T.; Nakajima, K.; Nakanishi, H.; Yoshida, Y.; Nishida, Y.; Yugami, N.; Tagawa, S.; Shibata, H.; Kobayashi, T.; Ueda, T.;
1994 / IEEE / 0-7803-1896-X
By: Kusanagi, K.; Tanaka, K.; Sakakibara, K.; Nakagawa, Y.; Hirota, K.; Yoshida, Y.;
By: Kusanagi, K.; Tanaka, K.; Sakakibara, K.; Nakagawa, Y.; Hirota, K.; Yoshida, Y.;
1993 / IEEE / 0-7803-1450-6
By: Yoshida, Y.; Asayama, K.; Fujita, E.; Hashimoto, N.; Koike, A.; Ikeda, S.; Meguro, S.; Ishibashi, K.; Yamanaka, T.;
By: Yoshida, Y.; Asayama, K.; Fujita, E.; Hashimoto, N.; Koike, A.; Ikeda, S.; Meguro, S.; Ishibashi, K.; Yamanaka, T.;
1993 / IEEE / 0-7803-1450-6
By: Watanabe, H.; Yoshida, Y.; Shimatani, T.; Tsuno, M.; Matsumoto, T.; Koyanagi, M.;
By: Watanabe, H.; Yoshida, Y.; Shimatani, T.; Tsuno, M.; Matsumoto, T.; Koyanagi, M.;
1994 / IEEE
By: Edagawa, N.; Suzuki, M.; Taga, H.; Wakabayashi, H.; Tanaka, H.; Akiba, S.; Yamamoto, S.; Yoshida, Y.;
By: Edagawa, N.; Suzuki, M.; Taga, H.; Wakabayashi, H.; Tanaka, H.; Akiba, S.; Yamamoto, S.; Yoshida, Y.;
1994 / IEEE / 0-7803-2009-3
By: Numano, Y.; Yoshida, Y.; Yoshimoto, T.; Ukazaki, Y.; Takahashi, M.; Goto, N.; Ando, M.; Suzuki, M.;
By: Numano, Y.; Yoshida, Y.; Yoshimoto, T.; Ukazaki, Y.; Takahashi, M.; Goto, N.; Ando, M.; Suzuki, M.;