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Author: Yamada, T.
Results
2012 / IEEE
By: Kondo, R.; Yazawa, K.; Yamaguchi, T.; Hashimoto, N.; Kon, S.; Yamada, T.; Kurosawa, K.;
By: Kondo, R.; Yazawa, K.; Yamaguchi, T.; Hashimoto, N.; Kon, S.; Yamada, T.; Kurosawa, K.;
2011 / IEEE / 978-3-00-035081-8
By: Kudo, Y.; Saito, I.; Okano, K.; Takahashi, I.; Yamada, T.; Onishi, M.; Kato, R.; Masuzawa, T.; Miyazaki, W.;
By: Kudo, Y.; Saito, I.; Okano, K.; Takahashi, I.; Yamada, T.; Onishi, M.; Kato, R.; Masuzawa, T.; Miyazaki, W.;
2011 / IEEE / 978-3-00-035081-8
By: Hasegawa, M.; Yamada, T.; Nebel, C.E.; Okano, K.; Masuzawa, T.; Kudo, Y.;
By: Hasegawa, M.; Yamada, T.; Nebel, C.E.; Okano, K.; Masuzawa, T.; Kudo, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1356-9
By: Taniguchi, H.; Kochi, M.; Yamada, T.; Kariya, M.; Saito, N.; Kato, K.; Ozawa, S.; Minato, A.;
By: Taniguchi, H.; Kochi, M.; Yamada, T.; Kariya, M.; Saito, N.; Kato, K.; Ozawa, S.; Minato, A.;
2011 / IEEE / 978-4-907764-39-5
By: Watanabe, Y.; Yamada, T.; Suzuki, K.; Hisada, M.; Fukuhara, H.; Hayashi, T.; Terazono, J.; Koseda, I.; Iwase, J.; Saito, S.; Miyazaki, T.; Suzuki, T.;
By: Watanabe, Y.; Yamada, T.; Suzuki, K.; Hisada, M.; Fukuhara, H.; Hayashi, T.; Terazono, J.; Koseda, I.; Iwase, J.; Saito, S.; Miyazaki, T.; Suzuki, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0672-1
By: Yamada, T.; Oda, R.; Ikegaya, T.; Nakashima, Y.; Matsuo, H.; Tsumura, T.;
By: Yamada, T.; Oda, R.; Ikegaya, T.; Nakashima, Y.; Matsuo, H.; Tsumura, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0255-6
By: Yamada, T.; Makino, S.; Miyabe, S.; Nakajima, H.; Miura, S.; Nakadai, K.;
By: Yamada, T.; Makino, S.; Miyabe, S.; Nakajima, H.; Miura, S.; Nakadai, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0255-6
By: Yamada, T.; Miyabe, S.; Araki, S.; Sawada, H.; Kameoka, H.; Takeda, K.; Makino, S.;
By: Yamada, T.; Miyabe, S.; Araki, S.; Sawada, H.; Kameoka, H.; Takeda, K.; Makino, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1796-3
By: Oda, R.; Nakashima, Y.; Matsuo, H.; Tsumura, T.; Ikegaya, T.; Yamada, T.;
By: Oda, R.; Nakashima, Y.; Matsuo, H.; Tsumura, T.; Ikegaya, T.; Yamada, T.;
2011 / IEEE / 978-0-7695-4479-3
By: Miyashita, H.; Wakabayashi, K.; Gake, T.; Yano, Y.; Rikino, K.; Kishigami, S.; Yamada, T.; Niitsu, K.; Kobayashi, H.; Kato, K.; Kobayashi, O.; Uemori, S.;
By: Miyashita, H.; Wakabayashi, K.; Gake, T.; Yano, Y.; Rikino, K.; Kishigami, S.; Yamada, T.; Niitsu, K.; Kobayashi, H.; Kato, K.; Kobayashi, O.; Uemori, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Igarashi, M.; Matsumoto, M.; Yamada, T.; Sato, Y.; Murayama, H.; Iryo, J.; Wada, Y.; Oda, K.; Hasegawa, T.; Kamitaka, H.;
By: Igarashi, M.; Matsumoto, M.; Yamada, T.; Sato, Y.; Murayama, H.; Iryo, J.; Wada, Y.; Oda, K.; Hasegawa, T.; Kamitaka, H.;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Nishi, H.; Mutoh, S.; Wada, K.; Ishikawa, Y.; Kimura, H.; Yamada, T.; Yamada, K.; Shinojima, H.; Kou, R.; Tsuchizawa, T.;
By: Nishi, H.; Mutoh, S.; Wada, K.; Ishikawa, Y.; Kimura, H.; Yamada, T.; Yamada, K.; Shinojima, H.; Kou, R.; Tsuchizawa, T.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0990-5
By: Uehara, K.; Yamaguchi, Y.; Akabane, K.; Yamada, T.; Sasaki, T.; Doohwan Lee;
By: Uehara, K.; Yamaguchi, Y.; Akabane, K.; Yamada, T.; Sasaki, T.; Doohwan Lee;
Adaptive bandwidth aggregation mechanisms using a shared wavelength for energy-efficient WDM/TDM-PON
2012 / IEEE / 978-4-88552-263-5By: Yamada, T.; Nishihara, S.; Kubo, R.; Tadokoro, M.; Nakamura, H.;
2014 / IEEE
By: Domae, A.; Maruyama, M.; Kaneko, N.; Fukuyama, Y.; Yamamori, T.; Yamada, T.; Urano, C.; Kiryu, S.; Yoshida, S.; Yamazawa, K.;
By: Domae, A.; Maruyama, M.; Kaneko, N.; Fukuyama, Y.; Yamamori, T.; Yamada, T.; Urano, C.; Kiryu, S.; Yoshida, S.; Yamazawa, K.;
1988 / IEEE
By: Yamamoto, H.; Inoue, M.; Odanaka, S.; Ogawa, S.; Fuse, G.; Aoi, N.; Nakao, I.; Ueno, A.; Kubota, M.; Fukumoto, M.; Akamatsu, H.; Matsushima, J.; Fujiwara, A.; Yamauchi, H.; Kotani, H.; Yamada, T.;
By: Yamamoto, H.; Inoue, M.; Odanaka, S.; Ogawa, S.; Fuse, G.; Aoi, N.; Nakao, I.; Ueno, A.; Kubota, M.; Fukumoto, M.; Akamatsu, H.; Matsushima, J.; Fujiwara, A.; Yamauchi, H.; Kotani, H.; Yamada, T.;
1988 / IEEE
By: Hamano, T.; Suzuki, T.; Takinami, M.; Yamada, T.; Nakamura, T.; Thompson, M.; Ozawa, T.; Fennell, L.; Tuan, H.; Weisfield, R.; MacDonald, D.; Tomiyama, S.;
By: Hamano, T.; Suzuki, T.; Takinami, M.; Yamada, T.; Nakamura, T.; Thompson, M.; Ozawa, T.; Fennell, L.; Tuan, H.; Weisfield, R.; MacDonald, D.; Tomiyama, S.;
1990 / IEEE
By: Shiragasawa, T.; Okada, S.; Matsushima, J.; Akamatsu, H.; Kotani, H.; Inoue, M.; Yamada, T.;
By: Shiragasawa, T.; Okada, S.; Matsushima, J.; Akamatsu, H.; Kotani, H.; Inoue, M.; Yamada, T.;
1989 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Horiguchi, F.; Samata, S.; Yamada, T.; Masuoka, F.; Takato, H.; Nitayama, A.; Hieda, K.; Matsushita, Y.;
By: Horiguchi, F.; Samata, S.; Yamada, T.; Masuoka, F.; Takato, H.; Nitayama, A.; Hieda, K.; Matsushita, Y.;
1989 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Yamada, T.; Okabe, N.; Takato, H.; Sunouchi, K.; Masuoka, F.; Ozaki, T.; Nitayama, A.; Horiguchi, F.; Hieda, K.; Hashimoto, K.; Inoue, S.;
By: Yamada, T.; Okabe, N.; Takato, H.; Sunouchi, K.; Masuoka, F.; Ozaki, T.; Nitayama, A.; Horiguchi, F.; Hieda, K.; Hashimoto, K.; Inoue, S.;
1991 / IEEE
By: Nitayama, A.; Hieda, K.; Takato, H.; Matsushita, Y.; Horiguchi, F.; Samata, S.; Yamada, T.; Masuoka, F.;
By: Nitayama, A.; Hieda, K.; Takato, H.; Matsushita, Y.; Horiguchi, F.; Samata, S.; Yamada, T.; Masuoka, F.;
1991 / IEEE
By: Sasago, M.; Shibayama, A.; Amano, N.; Hasegawa, J.; Nakata, Y.; Matsuo, N.; Inoue, M.; Okada, S.; Yamada, T.; Matsumoto, S.; Yabu, T.;
By: Sasago, M.; Shibayama, A.; Amano, N.; Hasegawa, J.; Nakata, Y.; Matsuo, N.; Inoue, M.; Okada, S.; Yamada, T.; Matsumoto, S.; Yabu, T.;
1991 / IEEE
By: Arima, Y.; Kayano, S.; Kondoh, H.; Notani, H.; Mashiko, K.; Maeda, A.; Yamada, T.; Okada, K.;
By: Arima, Y.; Kayano, S.; Kondoh, H.; Notani, H.; Mashiko, K.; Maeda, A.; Yamada, T.; Okada, K.;
1991 / IEEE
By: Maeda, S.; Morita, M.; Ueda, A.; Yoshimura, H.; Tanaka, M.; Nagao, M.; Yamada, T.; Nagata, Y.; Matsuo, Y.; Shimohata, K.;
By: Maeda, S.; Morita, M.; Ueda, A.; Yoshimura, H.; Tanaka, M.; Nagao, M.; Yamada, T.; Nagata, Y.; Matsuo, Y.; Shimohata, K.;
1991 / IEEE
By: Fujiwara, Y.; Minakuchi, D.; Kaito, T.; Kishida, T.; Morita, M.; Yoshizaki, K.; Fujiwara, F.; Ohara, A.; Yamada, T.;
By: Fujiwara, Y.; Minakuchi, D.; Kaito, T.; Kishida, T.; Morita, M.; Yoshizaki, K.; Fujiwara, F.; Ohara, A.; Yamada, T.;
1991 / IEEE / 0-87942-626-8
By: Matsuda, K.; Sakamoto, Y.; Ninomiya, H.; Yamada, T.; Yamamoto, H.; Sugino, T.; Shirafuji, J.;
By: Matsuda, K.; Sakamoto, Y.; Ninomiya, H.; Yamada, T.; Yamamoto, H.; Sugino, T.; Shirafuji, J.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Ikegami, K.; Matsuda, T.; Nakanishi, T.; Okuda, S.; Iwamoto, M.; Yamada, T.; Itagaki, H.; Fujimura, S.; Nakata, S.; Yamamoto, S.; Kodera, I.; Nakamura, S.; Tanaka, H.; Maruyama, A.; Tsukishima, C.; Nakagawa, T.;
By: Ikegami, K.; Matsuda, T.; Nakanishi, T.; Okuda, S.; Iwamoto, M.; Yamada, T.; Itagaki, H.; Fujimura, S.; Nakata, S.; Yamamoto, S.; Kodera, I.; Nakamura, S.; Tanaka, H.; Maruyama, A.; Tsukishima, C.; Nakagawa, T.;