Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Yagi, T.
Results
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Tanizawa, K.; Namiki, S.; Yagi, T.; Takahashi, M.; Kurumida, J.;
By: Tanizawa, K.; Namiki, S.; Yagi, T.; Takahashi, M.; Kurumida, J.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Tanizawa, K.; Namiki, S.; Yagi, T.; Takahashi, M.; Kurumida, J.;
By: Tanizawa, K.; Namiki, S.; Yagi, T.; Takahashi, M.; Kurumida, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Kawabata, Y.; Kondo, N.; Kinashi, Y.; Masunaga, S.; Suzuki, M.; Yagi, T.; Tanaka, H.; Maruhashi, A.; Sakurai, Y.; Ono, K.; Misawa, T.;
By: Kawabata, Y.; Kondo, N.; Kinashi, Y.; Masunaga, S.; Suzuki, M.; Yagi, T.; Tanaka, H.; Maruhashi, A.; Sakurai, Y.; Ono, K.; Misawa, T.;
1989 / IEEE
By: Oka, Y.; Ando, A.; Kaneko, O.; Yagi, T.; Watanabe, Y.; Takeiri, Y.; Masuda, K.; Kai, T.; Kuroda, T.; Karita, A.; Kohmoto, T.;
By: Oka, Y.; Ando, A.; Kaneko, O.; Yagi, T.; Watanabe, Y.; Takeiri, Y.; Masuda, K.; Kai, T.; Kuroda, T.; Karita, A.; Kohmoto, T.;
1997 / IEEE / 0-7803-3744-1
By: Hirai, Y.; Takimoto, K.; Matsuda, H.; Takamatsu, O.; Ikeda, T.; Shimada, Y.; Yagi, T.;
By: Hirai, Y.; Takimoto, K.; Matsuda, H.; Takamatsu, O.; Ikeda, T.; Shimada, Y.; Yagi, T.;
1999 / IEEE / 0-7803-5731-0
By: Ito, Y.; Yagi, T.; Uchikawa, Y.; Watanabe, M.; Tanaka, S.; Kanda, H.;
By: Ito, Y.; Yagi, T.; Uchikawa, Y.; Watanabe, M.; Tanaka, S.; Kanda, H.;
1999 / IEEE / 0-7803-5731-0
By: Tanaka, S.; Yagi, T.; Kanda, H.; Ito, Y.; Watanabe, M.; Uchikawa, Y.;
By: Tanaka, S.; Yagi, T.; Kanda, H.; Ito, Y.; Watanabe, M.; Uchikawa, Y.;
1999 / IEEE / 0-7803-5731-0
By: Ito, Y.; Yagi, T.; Kanda, H.; Uchikawa, Y.; Watanabe, M.; Tanaka, S.;
By: Ito, Y.; Yagi, T.; Kanda, H.; Uchikawa, Y.; Watanabe, M.; Tanaka, S.;
1999 / IEEE / 0-7803-5731-0
By: Uchikawa, Y.; Watanabe, M.; Tanaka, S.; Kanda, H.; Yagi, T.; Ito, Y.;
By: Uchikawa, Y.; Watanabe, M.; Tanaka, S.; Kanda, H.; Yagi, T.; Ito, Y.;
1999 / IEEE / 0-7803-5661-6
By: Sakano, M.; Uchida, Y.; Fujioka, T.; Nanri, K.; Sato, K.; Yamaguchi, S.; Shinozaki, M.; Yagi, T.; Tamagawa, T.;
By: Sakano, M.; Uchida, Y.; Fujioka, T.; Nanri, K.; Sato, K.; Yamaguchi, S.; Shinozaki, M.; Yagi, T.; Tamagawa, T.;
1999 / IEEE / 0-7803-5529-6
By: Kanda, H.; Yagi, T.; Ito, Y.; Uchikawa, Y.; Watanabe, M.; Tanaka, S.;
By: Kanda, H.; Yagi, T.; Ito, Y.; Uchikawa, Y.; Watanabe, M.; Tanaka, S.;
1999 / IEEE / 0-7803-5871-6
By: Ito, Y.; Ushikawa, Y.; Watanabe, M.; Tanaka, S.; Kanda, H.; Yagi, T.;
By: Ito, Y.; Ushikawa, Y.; Watanabe, M.; Tanaka, S.; Kanda, H.; Yagi, T.;
2000 / IEEE / 0-7803-6259-4
By: Tashiro, Y.; Kawazu, Z.; Omura, E.; Yagi, T.; Nishiguchi, H.; Suzuki, D.; Shima, A.;
By: Tashiro, Y.; Kawazu, Z.; Omura, E.; Yagi, T.; Nishiguchi, H.; Suzuki, D.; Shima, A.;
2001 / IEEE
By: Kawazu, Z.; Omura, E.; Yagi, T.; Nishiguchi, H.; Suzuki, D.; Shima, A.; Tashiro, Y.;
By: Kawazu, Z.; Omura, E.; Yagi, T.; Nishiguchi, H.; Suzuki, D.; Shima, A.; Tashiro, Y.;
2001 / IEEE / 0-7803-6705-7
By: Kumano, N.; Kokura, K.; Yagi, T.; Moridaira, H.; Sakano, M.; Mukasa, K.;
By: Kumano, N.; Kokura, K.; Yagi, T.; Moridaira, H.; Sakano, M.; Mukasa, K.;
2001 / IEEE / 0-7803-6705-7
By: Kado, S.; Akasaka, Y.; Kamiya, T.; Koaizawa, H.; Suzuki, T.; Yagi, T.; Aiso, K.;
By: Kado, S.; Akasaka, Y.; Kamiya, T.; Koaizawa, H.; Suzuki, T.; Yagi, T.; Aiso, K.;
2002 / IEEE / 0-7803-7320-0
By: Gao, X.; Nishikawa, K.; Uetsuji, T.; Susaki, W.; Oomura, E.; Yagi, T.; Ohno, N.;
By: Gao, X.; Nishikawa, K.; Uetsuji, T.; Susaki, W.; Oomura, E.; Yagi, T.; Ohno, N.;
2002 / IEEE / 1-55752-701-6
By: Yoshida, Y.; Kawasaki, K.; Shigihara, K.; Omura, E.; Yagi, T.; Yamamura, S.;
By: Yoshida, Y.; Kawasaki, K.; Shigihara, K.; Omura, E.; Yagi, T.; Yamamura, S.;
2002 / IEEE / 0-7803-7598-X
By: Yagi, T.; Mitsui, Y.; Ono, K.; Sakamoto, Y.; Nishiguchi, H.; Sasaki, M.; Miyashita, M.; Yoshida, Y.;
By: Yagi, T.; Mitsui, Y.; Ono, K.; Sakamoto, Y.; Nishiguchi, H.; Sasaki, M.; Miyashita, M.; Yoshida, Y.;
2002 / IEEE / 0-7803-7683-8
By: Yanase, N.; Giri, R.; Yagi, T.; Obara, H.; Yamamoto, A.; Lee, C.H.; Inagawal, I.; Shirotani, I.; Sekine, C.;
By: Yanase, N.; Giri, R.; Yagi, T.; Obara, H.; Yamamoto, A.; Lee, C.H.; Inagawal, I.; Shirotani, I.; Sekine, C.;
2003 / IEEE / 1-55752-746-6
By: Mitsui, Y.; Yagi, T.; Kawasaki, K.; Shigihara, K.; Zaizen, S.; Hatta, T.; Yamamura, S.; Sugitatsu, A.;
By: Mitsui, Y.; Yagi, T.; Kawasaki, K.; Shigihara, K.; Zaizen, S.; Hatta, T.; Yamamura, S.; Sugitatsu, A.;
2003 / IEEE / 1-55752-746-6
By: Ota, Y.; Shigihara, K.; Kawasaki, K.; Yamamura, S.; Mitsui, Y.; Yagi, T.;
By: Ota, Y.; Shigihara, K.; Kawasaki, K.; Yamamura, S.; Mitsui, Y.; Yagi, T.;
2003 / IEEE / 0-7803-7992-6
By: Omura, E.; Yagi, T.; Ono, K.; Miyashita, M.; Yoshida, Y.; Abe, S.; Sasaki, M.; Nishiguchi, H.; Ohno, A.;
By: Omura, E.; Yagi, T.; Ono, K.; Miyashita, M.; Yoshida, Y.; Abe, S.; Sasaki, M.; Nishiguchi, H.; Ohno, A.;
2003 / IEEE
By: Yoshida, Y.; Nishiguchi, H.; Yagi, T.; Mitsui, Y.; Miyashita, M.; Ono, K.-I.; Sakamoto, Y.; Sasaki, M.;
By: Yoshida, Y.; Nishiguchi, H.; Yagi, T.; Mitsui, Y.; Miyashita, M.; Ono, K.-I.; Sakamoto, Y.; Sasaki, M.;
2003 / IEEE / 0-7803-7766-4
By: Matsuoka, H.; Kawasaki, K.; Shigihara, K.; Mitsui, Y.; Kunitsugu, Y.; Oomura, E.; Yagi, T.; Yamamura, S.;
By: Matsuoka, H.; Kawasaki, K.; Shigihara, K.; Mitsui, Y.; Kunitsugu, Y.; Oomura, E.; Yagi, T.; Yamamura, S.;
2003 / IEEE / 1-55752-748-2
By: Hiroishi, J.; Miyabe, R.; Igarashi, K.; Namiki, S.; Takasaka, S.; Yagi, T.; Matsushita, S.; Tobioka, H.;
By: Hiroishi, J.; Miyabe, R.; Igarashi, K.; Namiki, S.; Takasaka, S.; Yagi, T.; Matsushita, S.; Tobioka, H.;
2004 / IEEE / 1-55752-772-5
By: Aso, O.; Yagi, T.; Hiroishi, J.; Miyabe, R.; Namiki, S.; Tobioka, H.; Igarashi, K.; Takasaka, S.;
By: Aso, O.; Yagi, T.; Hiroishi, J.; Miyabe, R.; Namiki, S.; Tobioka, H.; Igarashi, K.; Takasaka, S.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Yagi, T.; Sugizaki, R.; Hiroishi, J.; Miyabe, R.; Takasaka, S.; Igarashi, K.; Namiki, S.;
By: Yagi, T.; Sugizaki, R.; Hiroishi, J.; Miyabe, R.; Takasaka, S.; Igarashi, K.; Namiki, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8627-2
By: Ono, K.; Sasaki, M.; Yoshida, Y.; Shibata, K.; Nishimura, T.; Yagi, T.; Horie, J.;
By: Ono, K.; Sasaki, M.; Yoshida, Y.; Shibata, K.; Nishimura, T.; Yagi, T.; Horie, J.;
2005 / IEEE
By: Kawazu, Z.; Shibata, K.; Sasaki, M.; Yoshida, Y.; Ono, K.-I.; Nishimura, T.; Yagi, T.; Nishiguchi, H.;
By: Kawazu, Z.; Shibata, K.; Sasaki, M.; Yoshida, Y.; Ono, K.-I.; Nishimura, T.; Yagi, T.; Nishiguchi, H.;