Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Wolf, H.
Results
2014 / IEEE
By: Bock, K.; Yacoub-George, E.; Kutter, C.; Gieser, H.; Klink, G.; Landesberger, C.; Bollmann, D.; Wolf, H.; Drost, A.; Hell, W.;
By: Bock, K.; Yacoub-George, E.; Kutter, C.; Gieser, H.; Klink, G.; Landesberger, C.; Bollmann, D.; Wolf, H.; Drost, A.; Hell, W.;
1991 / IEEE / 0-87942-585-7
By: Modrow, S.; Aberl, F.; Sandmaier, H.; Drost, S.; Rehder, A.; Kosslinger, C.; Wolf, H.;
By: Modrow, S.; Aberl, F.; Sandmaier, H.; Drost, S.; Rehder, A.; Kosslinger, C.; Wolf, H.;
1995 / IEEE
By: Wolf, H.; Kinder, H.; Prusseit, W.; Utz, B.; Barth, R.; Jaekel, C.; Spangenberg, B.; Siewert, J.; Kurz, H.;
By: Wolf, H.; Kinder, H.; Prusseit, W.; Utz, B.; Barth, R.; Jaekel, C.; Spangenberg, B.; Siewert, J.; Kurz, H.;
1997 / IEEE
By: Krupenin, V.A.; Zorin, A.B.; Scherer, H.; Weimann, T.; Lotkhov, S.V.; Niemeyer, J.; Ahlers, F.J.; Wolf, H.; Presnov, D.E.;
By: Krupenin, V.A.; Zorin, A.B.; Scherer, H.; Weimann, T.; Lotkhov, S.V.; Niemeyer, J.; Ahlers, F.J.; Wolf, H.; Presnov, D.E.;
1997 / IEEE / 0-8186-7952-2
By: Wolf, H.; Hertz, P.; Weir, H.; Zuotao Li; Ruixin Yang; Wang, X.S.; Kafatos, M.; Ziskin, D.; King, D.;
By: Wolf, H.; Hertz, P.; Weir, H.; Zuotao Li; Ruixin Yang; Wang, X.S.; Kafatos, M.; Ziskin, D.; King, D.;
1998 / IEEE / 1-878303-91-0
By: Mergens, M.; Stricker, A.D.; Gieser, H.; Wolf, H.; Fichtner, W.; Wilkening, W.; Mettler, S.;
By: Mergens, M.; Stricker, A.D.; Gieser, H.; Wolf, H.; Fichtner, W.; Wilkening, W.; Mettler, S.;
1999 / IEEE / 1-58637-007-X
By: Mettler, S.; Wilkening, W.; Mergens, M.; Fichtner, W.; Stricker, A.; Wolf, H.;
By: Mettler, S.; Wilkening, W.; Mergens, M.; Fichtner, W.; Stricker, A.; Wolf, H.;
2000 / IEEE / 1-58537-018-5
By: Wilkening, W.; Mergens, M.P.J.; Fichtner, W.; Hieber, J.; Wolf, H.; Mettler, S.; Kiesewetter, G.;
By: Wilkening, W.; Mergens, M.P.J.; Fichtner, W.; Hieber, J.; Wolf, H.; Mettler, S.; Kiesewetter, G.;
2001 / IEEE / 0-7803-6520-8
By: Streiter, R.; Zhu Zhaomin; Gessner, T.; Otto, T.; Wolf, H.; Ruan Gang; Xiao Xia;
By: Streiter, R.; Zhu Zhaomin; Gessner, T.; Otto, T.; Wolf, H.; Ruan Gang; Xiao Xia;
2003 / IEEE
By: Roock, S.; Kornstadt, A.; Koch, J.; Breitling, H.; Schmolitzky, A.; Lippert, M.; Zullighoven, H.; Becker-Pecbau, P.; Wolf, H.;
By: Roock, S.; Kornstadt, A.; Koch, J.; Breitling, H.; Schmolitzky, A.; Lippert, M.; Zullighoven, H.; Becker-Pecbau, P.; Wolf, H.;
2004 / IEEE
By: Pogany, D.; Gieser, H.A.; Andreini, A.; Stella, R.; Gornik, E.; Zullino, L.; Wolf, H.; Blaho, M.;
By: Pogany, D.; Gieser, H.A.; Andreini, A.; Stella, R.; Gornik, E.; Zullino, L.; Wolf, H.; Blaho, M.;
2003 / IEEE / 0-7803-7779-6
By: Wolf, H.; Sommer, G.; Gieser, H.A.; Doerr, I.; Reichl, H.; Wilkening, W.; John, W.; Fotheringham, G.; Salhi, F.; Andreini, A.; Willemen, J.;
By: Wolf, H.; Sommer, G.; Gieser, H.A.; Doerr, I.; Reichl, H.; Wilkening, W.; John, W.; Fotheringham, G.; Salhi, F.; Andreini, A.; Willemen, J.;
2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Wichert, T.; Grill, R.; Belas, E.; Wolf, H.; Toth, A.L.; Hoschl, P.; Horodysky, P.; Moravec, P.; Franc, J.;
By: Wichert, T.; Grill, R.; Belas, E.; Wolf, H.; Toth, A.L.; Hoschl, P.; Horodysky, P.; Moravec, P.; Franc, J.;
2005 / IEEE
By: Horodysky, P.; Moravec, P.; Toth, A.L.; Grill, R.; Franc, J.; Wichert, T.; Belas, E.; Wolf, H.; Hoschl, P.;
By: Horodysky, P.; Moravec, P.; Toth, A.L.; Grill, R.; Franc, J.; Wichert, T.; Belas, E.; Wolf, H.; Hoschl, P.;
2007 / IEEE / 978-3-00-021644-2
By: Seidel, A.; Kehrer, J.; Hess, M.-P.; Wolf, H.; UnPyo Hong; Gehring, R.; Hartwanger, C.;
By: Seidel, A.; Kehrer, J.; Hess, M.-P.; Wolf, H.; UnPyo Hong; Gehring, R.; Hartwanger, C.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1217-4
By: Wolf, H.; Bonfert, D.; Cazacu, E.; Romanescu, A.; Svasta, P.; Gieser, H.;
By: Wolf, H.; Bonfert, D.; Cazacu, E.; Romanescu, A.; Svasta, P.; Gieser, H.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2813-7
By: Svasta, P.; Bock, K.; Klink, G.; Gieser, H.; Wolf, H.; Bonfert, D.; Ionescu, C.;
By: Svasta, P.; Bock, K.; Klink, G.; Gieser, H.; Wolf, H.; Bonfert, D.; Ionescu, C.;
2009 / IEEE / 978-0-7695-3709-2
By: Leymann, F.; Herrmann, K.; Foll, S.; Eberle, H.; Wolf, H.; Unger, T.; Marconi, A.;
By: Leymann, F.; Herrmann, K.; Foll, S.; Eberle, H.; Wolf, H.; Unger, T.; Marconi, A.;
2002 / IEEE / 978-1-5853-7040-5
By: Gieser, H.; Stadler, W.; Stecher, M.; Esmark, K.; Groos, G.; Gornik, E.; Pogany, D.; Litzenberger, M.; Dubec, V.; Bychikhin, S.; Wolf, H.;
By: Gieser, H.; Stadler, W.; Stecher, M.; Esmark, K.; Groos, G.; Gornik, E.; Pogany, D.; Litzenberger, M.; Dubec, V.; Bychikhin, S.; Wolf, H.;
2003 / IEEE / 978-1-5853-7057-3
By: Stadler, W.; Esmark, K.; Frank, M.; Konrad, A.; Foss, C.; Gornik, E.; Pogany, D.; Litzenberger, M.; Andreini, A.; Stella, R.; Morena, E.; Groeseneken, G.; Natarajan, M.; De Heyn, V.; Soppa, W.; Gieser, H.; Wolf, H.; Nuernbergk, D.; Etherton, M.; Mettler, S.; Qu, N.; Willemen, J.; Wilkening, W.; Reynders, K.; Zubeidat, M.; Graf, M.;
By: Stadler, W.; Esmark, K.; Frank, M.; Konrad, A.; Foss, C.; Gornik, E.; Pogany, D.; Litzenberger, M.; Andreini, A.; Stella, R.; Morena, E.; Groeseneken, G.; Natarajan, M.; De Heyn, V.; Soppa, W.; Gieser, H.; Wolf, H.; Nuernbergk, D.; Etherton, M.; Mettler, S.; Qu, N.; Willemen, J.; Wilkening, W.; Reynders, K.; Zubeidat, M.; Graf, M.;
2003 / IEEE / 978-1-5853-7057-3
By: Wolf, H.; Gieser, H.A.; Stadler, W.; Natarajan, M.I.; Andreini, A.; Reichl, H.; Soldner, W.;
By: Wolf, H.; Gieser, H.A.; Stadler, W.; Natarajan, M.I.; Andreini, A.; Reichl, H.; Soldner, W.;
2003 / IEEE / 978-1-5853-7057-3
By: Wolf, H.; Soppa, W.; Gornik, E.; Pogany, D.; Graf, M.; Dudek, V.; Dietz, F.; Bychikhin, S.;
By: Wolf, H.; Soppa, W.; Gornik, E.; Pogany, D.; Graf, M.; Dudek, V.; Dietz, F.; Bychikhin, S.;
2003 / IEEE / 978-1-5853-7057-3
By: De Heyn, V.; Stadler, W.; Andreini, A.; Willemen, J.; Zullino, L.; Wolf, H.; Wilkening, W.; Stella, R.; Esmark, K.; Soppa, W.; Qu, N.; Morena, E.; Mettler, S.; Groeseneken, G.; Gieser, H.; Etherton, M.;
By: De Heyn, V.; Stadler, W.; Andreini, A.; Willemen, J.; Zullino, L.; Wolf, H.; Wilkening, W.; Stella, R.; Esmark, K.; Soppa, W.; Qu, N.; Morena, E.; Mettler, S.; Groeseneken, G.; Gieser, H.; Etherton, M.;
2003 / IEEE / 978-1-5853-7057-3
By: Gieser, H.; Domanski, K.; Esmark, K.; Streibl, M.; Wolf, H.; Stadler, W.; Bargstadt-Franke, S.; Bala, W.;
By: Gieser, H.; Domanski, K.; Esmark, K.; Streibl, M.; Wolf, H.; Stadler, W.; Bargstadt-Franke, S.; Bala, W.;
2004 / IEEE / 978-1-5853-7063-4
By: Qu, N.; Etherton, M.; Fichtner, W.; Wolf, H.; Gieser, H.; Wilkening, W.; Willemen, J.; Zullino, L.; Stella, R.; Dissegna, M.; Mettler, S.; Andreini, A.;
By: Qu, N.; Etherton, M.; Fichtner, W.; Wolf, H.; Gieser, H.; Wilkening, W.; Willemen, J.; Zullino, L.; Stella, R.; Dissegna, M.; Mettler, S.; Andreini, A.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-3973-7
By: Gieser, H.; Wolf, H.; Bonfert, D.; Ionescu, C.; Svasta, P.; Bock, K.; Klink, G.;
By: Gieser, H.; Wolf, H.; Bonfert, D.; Ionescu, C.; Svasta, P.; Bock, K.; Klink, G.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4748-0
By: Maiwald, M.; Ruttkowski, V.; Curran, B.; Werner, C.; Ndip, I.; Wolf, H.; Reichl, H.; Gieser, H.; Guttovski, S.; Domann, G.; Zoellmer, V.;
By: Maiwald, M.; Ruttkowski, V.; Curran, B.; Werner, C.; Ndip, I.; Wolf, H.; Reichl, H.; Gieser, H.; Guttovski, S.; Domann, G.; Zoellmer, V.;
2009 / IEEE / 978-1-58537-176-1
By: Wolf, H.; Yen-Yi Lin; Duvvury, C.; Jahanzeb, A.; Bock, K.; Gieser, H.;
By: Wolf, H.; Yen-Yi Lin; Duvvury, C.; Jahanzeb, A.; Bock, K.; Gieser, H.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-8555-0
By: Zollmer, V.; Bock, K.; Wolf, H.; Hengelmann, H.; Bonfert, D.; Gieser, H.A.; Werner, C.; Oehler, F.; Curran, B.; Milosiu, H.; Ndip, I.; Bahr, J.; Domann, G.;
By: Zollmer, V.; Bock, K.; Wolf, H.; Hengelmann, H.; Bonfert, D.; Gieser, H.A.; Werner, C.; Oehler, F.; Curran, B.; Milosiu, H.; Ndip, I.; Bahr, J.; Domann, G.;
2011 / IEEE / 978-88-8202-074-3
By: Wolf, H.; Gehring, R.; Un Pyo Hong; Hartwanger, C.; Stirland, S.; Reiche, E.;
By: Wolf, H.; Gehring, R.; Un Pyo Hong; Hartwanger, C.; Stirland, S.; Reiche, E.;