Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Wilson, W.J.
Results
Polarimetric measurements of sea surface brightness temperatures using an aircraft K-band radiometer
1995 / IEEEBy: Li, F.K.; Wilson, W.J.; Yueh, S.H.; Ricketts, W.B.; Nghiem, S.V.;
1995 / IEEE / 0-7803-2567-2
By: Jarnot, R.F.; Lau, C.L.; Lau, G.K.; Maddison, B.J.; Pickett, H.M.; Pumphrey, H.C.; Read, W.G.; Santee, M.L.; Suttie, R.A.; Wilson, W.J.; Peckham, G.E.; Waters, J.W.; Harwood, R.S.; Cofield, R.E.; Flower, D.A.; Frerking, M.A.; Froidevaux, L.;
By: Jarnot, R.F.; Lau, C.L.; Lau, G.K.; Maddison, B.J.; Pickett, H.M.; Pumphrey, H.C.; Read, W.G.; Santee, M.L.; Suttie, R.A.; Wilson, W.J.; Peckham, G.E.; Waters, J.W.; Harwood, R.S.; Cofield, R.E.; Flower, D.A.; Frerking, M.A.; Froidevaux, L.;
1997 / IEEE / 0-7803-3836-7
By: Schneider, T.L.; Wilson, W.J.; Tanner, A.B.; Edelstein, W.N.; Li, F.K.; Stephens, G.L.; Durden, S.L.; Dinardo, S.J.; McIntosh, R.E.; Sadowy, G.A.;
By: Schneider, T.L.; Wilson, W.J.; Tanner, A.B.; Edelstein, W.N.; Li, F.K.; Stephens, G.L.; Durden, S.L.; Dinardo, S.J.; McIntosh, R.E.; Sadowy, G.A.;
1997 / IEEE
By: Haddad, Z.S.; Tanner, A.B.; Im, E.; Kitlyakara, A.; Durden, S.L.; Wilson, W.J.; Li, F.K.;
By: Haddad, Z.S.; Tanner, A.B.; Im, E.; Kitlyakara, A.; Durden, S.L.; Wilson, W.J.; Li, F.K.;
2000 / IEEE / 0-7803-6359-0
By: Wilson, W.J.; Njoku, E.G.; Yueh, S.H.; Lakshmi, V.; Jackson, T.; Li, F.K.;
By: Wilson, W.J.; Njoku, E.G.; Yueh, S.H.; Lakshmi, V.; Jackson, T.; Li, F.K.;
2001 / IEEE
By: Dinardo, S.J.; Yueh, S.H.; Wilson, W.J.; Rahmat-Samii, Y.; Li, F.K.; Kitiyakara, A.; Chazanoff, S.L.;
By: Dinardo, S.J.; Yueh, S.H.; Wilson, W.J.; Rahmat-Samii, Y.; Li, F.K.; Kitiyakara, A.; Chazanoff, S.L.;
2001 / IEEE / 0-7803-7031-7
By: Howden, S.; Lagerloef, G.; Koblinsky, C.; Yi Chao; Wilson, W.J.; Dinardo, S.; Li, F.K.; Yueh, S.H.;
By: Howden, S.; Lagerloef, G.; Koblinsky, C.; Yi Chao; Wilson, W.J.; Dinardo, S.; Li, F.K.; Yueh, S.H.;
1977 / IEEE
By: Ashley, J.R.; Balister, M.; Wilson, W.J.; Whelehan, J.J.; Barley, T.A., Jr.; Benson, W.S.; Bottjer, M.F.; Edrich, J.; Goedbloed, J.J.; Kelly, A.J.; Levis, C.A.; Heng-Cheng Lin; Maas, S.; McColl, M.; Millea, M.F.; Napier, P.J.; Okean, H.C.; Pedersen, R.J., Jr.; Rast, G.J.; Silver, A.H., Jr.; Uldir, A.; van der Heyden, B.F., Jr.; Vernon, F.L.; Vlaardingerbroek, M.T.; Weinreb, S.;
By: Ashley, J.R.; Balister, M.; Wilson, W.J.; Whelehan, J.J.; Barley, T.A., Jr.; Benson, W.S.; Bottjer, M.F.; Edrich, J.; Goedbloed, J.J.; Kelly, A.J.; Levis, C.A.; Heng-Cheng Lin; Maas, S.; McColl, M.; Millea, M.F.; Napier, P.J.; Okean, H.C.; Pedersen, R.J., Jr.; Rast, G.J.; Silver, A.H., Jr.; Uldir, A.; van der Heyden, B.F., Jr.; Vernon, F.L.; Vlaardingerbroek, M.T.; Weinreb, S.;
1980 / IEEE
By: Aikawa, M.; Alseyab, S.A.; Wilson, W.J.; Wilser, W.T.; Ayasli, Y.; Bahl, I.J.; Barabas, U.; Berry, G.G.; Beyer, J.B.; ButIer, J.K.; Chang, D.C.; Chaudhuri, B.B.; Cristal, E.G.; Dickman, R.L.; Franz, M.; Gold, R.B.; Gupta, K.C.; Hitchens, W.R.; Kaczkowski, A.; Kuester, E.F.; Milewski, A.; Miyauchi, S.; Miyoshi, T.; Morita, K.; Niclas, K.B.; Ogawa, H.; Rhodes, J.D.; Scott, M.W.; Tanaka, T.;
By: Aikawa, M.; Alseyab, S.A.; Wilson, W.J.; Wilser, W.T.; Ayasli, Y.; Bahl, I.J.; Barabas, U.; Berry, G.G.; Beyer, J.B.; ButIer, J.K.; Chang, D.C.; Chaudhuri, B.B.; Cristal, E.G.; Dickman, R.L.; Franz, M.; Gold, R.B.; Gupta, K.C.; Hitchens, W.R.; Kaczkowski, A.; Kuester, E.F.; Milewski, A.; Miyauchi, S.; Miyoshi, T.; Morita, K.; Niclas, K.B.; Ogawa, H.; Rhodes, J.D.; Scott, M.W.; Tanaka, T.;
1981 / IEEE
By: Bardati, F.; Berry, G.G.; Wilson, W.J.; Valier, G.; Chun Hsiung Chen; Dickman, R.L.; Esdale, D.J.; Ferguson, P.E.; Howes, M.J.; Kobayashi, K.; Lindell, I.V.; Chang-Tsuo Liu; Madjar, A.; Majewski, M.L.; Nemoto, Y.; Plourde, J.K.; Chung-Li Ren; Rose, R.W.; Rosenbaum, F.J.; Sato, R.; Scott, J.R.; Symons, R.S.; Tucker, R.S.;
By: Bardati, F.; Berry, G.G.; Wilson, W.J.; Valier, G.; Chun Hsiung Chen; Dickman, R.L.; Esdale, D.J.; Ferguson, P.E.; Howes, M.J.; Kobayashi, K.; Lindell, I.V.; Chang-Tsuo Liu; Madjar, A.; Majewski, M.L.; Nemoto, Y.; Plourde, J.K.; Chung-Li Ren; Rose, R.W.; Rosenbaum, F.J.; Sato, R.; Scott, J.R.; Symons, R.S.; Tucker, R.S.;
2003 / IEEE / 0-7803-7929-2
By: Yueh, S.H.; Rahmat-Samii, Y.; Bahadori, K.; Kona, K.S.; Njoku, E.; Wilson, W.J.;
By: Yueh, S.H.; Rahmat-Samii, Y.; Bahadori, K.; Kona, K.S.; Njoku, E.; Wilson, W.J.;
2003 / IEEE / 0-7803-7929-2
By: Yueh, S.H.; Wilson, W.J.; Edelstein, W.; Farra, D.; Johnson, M.; Pellerano, F.; LeVine, D.; Hilderbrand, P.;
By: Yueh, S.H.; Wilson, W.J.; Edelstein, W.; Farra, D.; Johnson, M.; Pellerano, F.; LeVine, D.; Hilderbrand, P.;
2004 / IEEE / 0-7803-8742-2
By: Piepmeier, J.R.; Doiron, T.A.; Lambrigtsen, B.H.; Tanner, A.B.; Wilson, W.J.; Ruf, C.S.;
By: Piepmeier, J.R.; Doiron, T.A.; Lambrigtsen, B.H.; Tanner, A.B.; Wilson, W.J.; Ruf, C.S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8742-2
By: Wilson, W.J.; Tanner, A.B.; Musko, S.; Gross, S.M.; Rogacki, S.; Ruf, C.S.; Piepmeier, J.R.; Dinardo, S.J.; Lambrigsten, B.H.; Kangaslahti, P.P.;
By: Wilson, W.J.; Tanner, A.B.; Musko, S.; Gross, S.M.; Rogacki, S.; Ruf, C.S.; Piepmeier, J.R.; Dinardo, S.J.; Lambrigsten, B.H.; Kangaslahti, P.P.;
2004 / IEEE / 0-7803-8742-2
By: Wilson, W.J.; Kerr, Y.H.; Abraham, S.; Le Vine, D.M.; Sobjaerg, S.; Skou, N.;
By: Wilson, W.J.; Kerr, Y.H.; Abraham, S.; Le Vine, D.M.; Sobjaerg, S.; Skou, N.;
1977 / IEEE
By: Anderson, J.H.; Hutchison, M.A.; Wilson, W.J.; Raina, V.M.; Okongwu, E.; Quintana, V.H.;
By: Anderson, J.H.; Hutchison, M.A.; Wilson, W.J.; Raina, V.M.; Okongwu, E.; Quintana, V.H.;
2006 / IEEE / 0-7803-9545-X
By: Ruf, C.S.; Piepmeier, J.R.; Wilson, W.J.; Lambrigtsen, B.H.; Kangaslahti, P.P.; Gaier, T.M.; Gross, S.M.; Brown, S.T.; Tanner, A.B.; Rogacki, S.; Dinardo, S.J.; Musko, S.; Lim, B.H.;
By: Ruf, C.S.; Piepmeier, J.R.; Wilson, W.J.; Lambrigtsen, B.H.; Kangaslahti, P.P.; Gaier, T.M.; Gross, S.M.; Brown, S.T.; Tanner, A.B.; Rogacki, S.; Dinardo, S.J.; Musko, S.; Lim, B.H.;
2006 / IEEE
By: Hunter, D.; Dinardo, S.; Wilson, W.J.; Yueh, S.; Manteghi, M.; Kona, K.S.; Rahmat-Samil, Y.;
By: Hunter, D.; Dinardo, S.; Wilson, W.J.; Yueh, S.; Manteghi, M.; Kona, K.S.; Rahmat-Samil, Y.;
2006 / IEEE / 0-7803-9510-7
By: Horgan, K.; Triesky, M.; Piepmeier, J.; Pellerano, F.A.; Freedman, A.; Forgione, J.; Spencer, M.; McWatters, D.; Yueh, S.; Wilson, W.J.; Caldwell, J.;
By: Horgan, K.; Triesky, M.; Piepmeier, J.; Pellerano, F.A.; Freedman, A.; Forgione, J.; Spencer, M.; McWatters, D.; Yueh, S.; Wilson, W.J.; Caldwell, J.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap