Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Williamson, D.
Results
1991 / IEEE / 0-7803-0132-3
By: Lousteau, D.; Smith, D.L.; Williamson, D.; Raffray, A.; Badawi, A.; Ying, A.; Abdou, M.; El-Guebaly, L.; Sawan, M.; Sviatoslavsky, I.; Mogahed, E.; Kulcinski, G.; Nelson, B.; Mattas, R.; Majumdar, S.; Kopasz, J.; Johnson, C.; Billone, M.; Attaya, H.; Gohar, Y.;
By: Lousteau, D.; Smith, D.L.; Williamson, D.; Raffray, A.; Badawi, A.; Ying, A.; Abdou, M.; El-Guebaly, L.; Sawan, M.; Sviatoslavsky, I.; Mogahed, E.; Kulcinski, G.; Nelson, B.; Mattas, R.; Majumdar, S.; Kopasz, J.; Johnson, C.; Billone, M.; Attaya, H.; Gohar, Y.;
1995 / IEEE / 0-7803-2969-4
By: Cardella, A.; Elio, F.; Zolti, E.; Williamson, D.; Takahashi, T.; Tachakawa, N.; Shimizu, K.; Santoro, R.; Raffray, R.; Ioki, K.; Parker, R.; Mohri, K.; Lousteau, D.; Kalinin, G.; Johnson, G.; Iizuka, T.; Gohar, Y.;
By: Cardella, A.; Elio, F.; Zolti, E.; Williamson, D.; Takahashi, T.; Tachakawa, N.; Shimizu, K.; Santoro, R.; Raffray, R.; Ioki, K.; Parker, R.; Mohri, K.; Lousteau, D.; Kalinin, G.; Johnson, G.; Iizuka, T.; Gohar, Y.;
1995 / IEEE / 0-7803-2969-4
By: Johnson, G.; Ioki, K.; Barabaschi, P.; Strickler, D.; Shimizu, K.; Riemer, B.; Nelson, B.; Sayer, R.; Williamson, D.;
By: Johnson, G.; Ioki, K.; Barabaschi, P.; Strickler, D.; Shimizu, K.; Riemer, B.; Nelson, B.; Sayer, R.; Williamson, D.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Elio, F.; Ioki, K.; Takatsu, H.; Strebkov, Y.; Mattas, R.; Daenner, W.; Yamada, M.; Williamson, D.; Raffray, R.; Parker, R.; Mohri, K.; Miki, N.; Lousteau, D.; Loesser, D.; Lodato, A.; Kodama, T.; Hechler, M.; Gohar, Y.; Cardella, A.; Bruno, L.;
By: Elio, F.; Ioki, K.; Takatsu, H.; Strebkov, Y.; Mattas, R.; Daenner, W.; Yamada, M.; Williamson, D.; Raffray, R.; Parker, R.; Mohri, K.; Miki, N.; Lousteau, D.; Loesser, D.; Lodato, A.; Kodama, T.; Hechler, M.; Gohar, Y.; Cardella, A.; Bruno, L.;
1999 / IEEE / 0-7803-5829-5
By: Heitzenroeder, P.; Hechler, M.; Goranson, P.; Cole, M.; Fan, H.-M.; Nelson, B.; Brown, T.; Brooks, A.; Williamson, D.; Reiersen, W.T.;
By: Heitzenroeder, P.; Hechler, M.; Goranson, P.; Cole, M.; Fan, H.-M.; Nelson, B.; Brown, T.; Brooks, A.; Williamson, D.; Reiersen, W.T.;
2002 / IEEE / 0-7803-7073-2
By: Dahgren, F.; Fan, H.-M.; Cole, M.; Chrznowski, J.; Brown, T.; Brooks, A.; Berry, L.; Nelson, B.; Williamson, D.; Reiersen, W.T.; Strickler, D.; Neilson, H.; Lyon, J.; Jones, G.; Hirshman, S.; Heitzenroeder, P.; Goranson, P.; Fogarty, P.;
By: Dahgren, F.; Fan, H.-M.; Cole, M.; Chrznowski, J.; Brown, T.; Brooks, A.; Berry, L.; Nelson, B.; Williamson, D.; Reiersen, W.T.; Strickler, D.; Neilson, H.; Lyon, J.; Jones, G.; Hirshman, S.; Heitzenroeder, P.; Goranson, P.; Fogarty, P.;
2002 / IEEE / 0-7803-7073-2
By: Strickler, D.; Nelson, B.; Fogarty, P.; Fan, H.-M.; Reiersen, W.; Brooks, A.; Cole, M.; Williamson, D.;
By: Strickler, D.; Nelson, B.; Fogarty, P.; Fan, H.-M.; Reiersen, W.; Brooks, A.; Cole, M.; Williamson, D.;
2003 / IEEE / 0-7803-7908-X
By: Nelson, B.; Cole, M.; Sutton, L.; Malinowski, F.; Viola, M.; Reiersen, W.; Williamson, D.; Brown, T.; Heitzenroeder, P.; Keilbach, R.; Neilson, G.H.; Goranson, P.;
By: Nelson, B.; Cole, M.; Sutton, L.; Malinowski, F.; Viola, M.; Reiersen, W.; Williamson, D.; Brown, T.; Heitzenroeder, P.; Keilbach, R.; Neilson, G.H.; Goranson, P.;
2003 / IEEE / 0-7803-7908-X
By: Nelson, B.; Benson, R.; Williamson, D.; Ware, A.; Strickler, D.; Spong, D.; Parang, M.; Neilson, G.; Monticello, D.; Mioduszewski, P.; Madhukar, M.; Lyon, J.; Lovett, G.; Jones, G.; Hirshman, S.; Heitzenroeder, P.; Hargrove, T.; Goranson, P.; Freudenberg, K.; Fortier, G.; Fogarty, P.; Cole, M.; Berry, L.; Brooks, A.;
By: Nelson, B.; Benson, R.; Williamson, D.; Ware, A.; Strickler, D.; Spong, D.; Parang, M.; Neilson, G.; Monticello, D.; Mioduszewski, P.; Madhukar, M.; Lyon, J.; Lovett, G.; Jones, G.; Hirshman, S.; Heitzenroeder, P.; Hargrove, T.; Goranson, P.; Freudenberg, K.; Fortier, G.; Fogarty, P.; Cole, M.; Berry, L.; Brooks, A.;
2003 / IEEE / 0-7803-7908-X
By: Nelson, B.; Chrzanowski, J.; Zatz, I.J.; Fabian, P.; Williamson, D.;
By: Nelson, B.; Chrzanowski, J.; Zatz, I.J.; Fabian, P.; Williamson, D.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Goranson, P.; Raftopoulos, S.; Fogarty, P.; Chrzanowski, J.; Cole, M.; Brown, T.; Gettelfinger, G.; Brooks, A.; Zarnstorff, M.; Reiersen, W.; Nelson, B.; Lyon, J.; Heitzenroeder, P.; Neilson, G.H.; Williamson, D.; Williams, M.; Viola, M.; Strykowsky, R.; Simmons, R.; Stratton, B.; Schmidt, J.;
By: Goranson, P.; Raftopoulos, S.; Fogarty, P.; Chrzanowski, J.; Cole, M.; Brown, T.; Gettelfinger, G.; Brooks, A.; Zarnstorff, M.; Reiersen, W.; Nelson, B.; Lyon, J.; Heitzenroeder, P.; Neilson, G.H.; Williamson, D.; Williams, M.; Viola, M.; Strykowsky, R.; Simmons, R.; Stratton, B.; Schmidt, J.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Strickler, D.; Spong, D.; Shannon, T.; Parang, M.; Neilson, G.; Madhukar, M.; Lyon, J.; Lumsdaine, A.; Lovett, G.; Jones, G.; Hirshman, S.; Heitzenroeder, P.; Hargrove, T.; Goranson, P.; Freudenberg, K.; Fogarty, P.; Cole, M.; Brooks, A.; Berry, L.; Benson, R.; Nelson, B.; Williamson, D.;
By: Strickler, D.; Spong, D.; Shannon, T.; Parang, M.; Neilson, G.; Madhukar, M.; Lyon, J.; Lumsdaine, A.; Lovett, G.; Jones, G.; Hirshman, S.; Heitzenroeder, P.; Hargrove, T.; Goranson, P.; Freudenberg, K.; Fogarty, P.; Cole, M.; Brooks, A.; Berry, L.; Benson, R.; Nelson, B.; Williamson, D.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Hatzilias, K.; Bowling, K.; Edwards, J.; Goddard, B.; Horton, N.; Williamson, D.; Heitzenroeder, P.; Nelson, B.; Sutton, L.; Malinowski, F.; Neilson, G.; Brown, T.;
By: Hatzilias, K.; Bowling, K.; Edwards, J.; Goddard, B.; Horton, N.; Williamson, D.; Heitzenroeder, P.; Nelson, B.; Sutton, L.; Malinowski, F.; Neilson, G.; Brown, T.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Nelson, B.; Raftopolous, S.; Heitzenroeder, P.; Hargrove, T.; Fogarty, P.; Freudenberg, K.; Fan, H.-M.; Cole, M.; Chrzanowski, J.; Brown T; Brooks, A.; Williamson, D.; Strickler, D.; Lovett, G.; Stratton, B.; Reiersen, W.;
By: Nelson, B.; Raftopolous, S.; Heitzenroeder, P.; Hargrove, T.; Fogarty, P.; Freudenberg, K.; Fan, H.-M.; Cole, M.; Chrzanowski, J.; Brown T; Brooks, A.; Williamson, D.; Strickler, D.; Lovett, G.; Stratton, B.; Reiersen, W.;
2005 / IEEE / 0-4244-0159-6
By: Meighan, T.; Heitzenroeder, P.J.; Fogarty, P.J.; Chrzanowski, J.H.; Williamson, D.; Raftopoulos, S.; Nelson, B.;
By: Meighan, T.; Heitzenroeder, P.J.; Fogarty, P.J.; Chrzanowski, J.H.; Williamson, D.; Raftopoulos, S.; Nelson, B.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1193-1
By: Raftopoulos, S.; Meighan, T.; Chrzanowski, J.H.; Williamson, D.; Nelson, B.; Heitzenroeder, P.J.; Fogarty, P.J.;
By: Raftopoulos, S.; Meighan, T.; Chrzanowski, J.H.; Williamson, D.; Nelson, B.; Heitzenroeder, P.J.; Fogarty, P.J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1193-1
By: Cole, M.; Chrzanowski, J.; Brown, T.; Brooks, A.; Heitzenroeder, P.; Nelson, B.; Reiersen, W.; Zarnstorff, M.; Williamson, D.; Williams, M.; Viola, M.; Strykowsky, R.; Stratton, B.; Raftopoulos, S.; Neilson, G.H.; Lyon, J.; Labik, G.; Kalish, M.; Goranson, P.; Gettelfinger, G.; Fogarty, P.; Fan, H.-M.; Dudek, L.;
By: Cole, M.; Chrzanowski, J.; Brown, T.; Brooks, A.; Heitzenroeder, P.; Nelson, B.; Reiersen, W.; Zarnstorff, M.; Williamson, D.; Williams, M.; Viola, M.; Strykowsky, R.; Stratton, B.; Raftopoulos, S.; Neilson, G.H.; Lyon, J.; Labik, G.; Kalish, M.; Goranson, P.; Gettelfinger, G.; Fogarty, P.; Fan, H.-M.; Dudek, L.;