Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Werner, J.
Results
2011 / IEEE
By: Oehme, M.; Schulze, J.; Kasper, E.; Kaschel, M.; Schmid, M.; Gollhofer, M.; Werner, J.;
By: Oehme, M.; Schulze, J.; Kasper, E.; Kaschel, M.; Schmid, M.; Gollhofer, M.; Werner, J.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1865-6
By: Gollhofer, M.; Schmid, M.; Kaschel, M.; Schulze, J.; Oehme, M.; Werner, J.;
By: Gollhofer, M.; Schmid, M.; Kaschel, M.; Schulze, J.; Oehme, M.; Werner, J.;
Frequency locking of 1.5 mu m DFB laser diode to a neon indicator lamp using the optogalvanic effect
1989 / IEEEBy: Werner, J.; Patel, J.S.; Andreadakis, N.; Menocal, S.G.; Liao, P.F.; Lee, T.P.; Zah, C.E.;
1989 / IEEE
By: Schwartz, C.L.; Schwarz, S.A.; Colas, E.; Stoffel, N.G.; Kapon, E.; Werner, J.; Andreadakis, N.;
By: Schwartz, C.L.; Schwarz, S.A.; Colas, E.; Stoffel, N.G.; Kapon, E.; Werner, J.; Andreadakis, N.;
1993 / IEEE
By: Adam, W.; Albrecht, E.; Ambec, I.; Augustinus, A.; Barnoux, C.; Bostjancic, B.; Botner, O.; Budziak, A.; Carechio, P.; Cavalli, P.; Ceelie, L.; Cereseto, R.; Cerutti, G.; Dahl-Jensen, E.; Dam, P.; Damgaard, G.; Dimitriou, N.; Dulinski, W.; Eek, L.O.; Ekelof, T.; Erikson, J.; Florek, A.; Florek, B.; Fontanelli, F.; Fontenille, A.; Galuszka, K.; Garcia, J.; Gracco, V.; Hallgren, A.; Hao, W.; Henkes, T.; Isenhower, D.; Johansson, H.; Karvelas, E.; Kindblom, P.; Koene, B.; de Koning, N.; Korporaal, A.; Kostarakis, P.; Lenzen, G.; Lindqvist, L.-E.; Lorenz, P.; Loukas, D.; Lund-Jensen, B.; Maltezos, A.; Markou, A.; Mattsson, L.; Medbo, J.; Michalowski, J.; Montano, F.; Nielsen, B.S.; Pakonski, K.; Perdikes, C.; Polok, G.; Robohm, A.; Sajot, G.; Sannino, M.; Saragas, E.; Schyns, E.; Squarcia, A.; Stavropoulos, G.; Stodulski, M.; Stopa, Z.; Thadome, J.; Theodosiou, G.; Thome, Z.; Traspedini, L.; Turala, M.; Ullaland, O.; de la Vega, A.S.; Warm, A.; Werner, J.; Xyroutsikos, S.; Zavrtanik, M.; Zevgolatakos, E.;
By: Adam, W.; Albrecht, E.; Ambec, I.; Augustinus, A.; Barnoux, C.; Bostjancic, B.; Botner, O.; Budziak, A.; Carechio, P.; Cavalli, P.; Ceelie, L.; Cereseto, R.; Cerutti, G.; Dahl-Jensen, E.; Dam, P.; Damgaard, G.; Dimitriou, N.; Dulinski, W.; Eek, L.O.; Ekelof, T.; Erikson, J.; Florek, A.; Florek, B.; Fontanelli, F.; Fontenille, A.; Galuszka, K.; Garcia, J.; Gracco, V.; Hallgren, A.; Hao, W.; Henkes, T.; Isenhower, D.; Johansson, H.; Karvelas, E.; Kindblom, P.; Koene, B.; de Koning, N.; Korporaal, A.; Kostarakis, P.; Lenzen, G.; Lindqvist, L.-E.; Lorenz, P.; Loukas, D.; Lund-Jensen, B.; Maltezos, A.; Markou, A.; Mattsson, L.; Medbo, J.; Michalowski, J.; Montano, F.; Nielsen, B.S.; Pakonski, K.; Perdikes, C.; Polok, G.; Robohm, A.; Sajot, G.; Sannino, M.; Saragas, E.; Schyns, E.; Squarcia, A.; Stavropoulos, G.; Stodulski, M.; Stopa, Z.; Thadome, J.; Theodosiou, G.; Thome, Z.; Traspedini, L.; Turala, M.; Ullaland, O.; de la Vega, A.S.; Warm, A.; Werner, J.; Xyroutsikos, S.; Zavrtanik, M.; Zevgolatakos, E.;
1991 / IEEE
By: Anassontzis, E.G.; Ioannou, P.; Kalkanis, G.; Katsanevas, S.; Kontaxis, I.; Koukoumelis, C.; Nounos, S.; Preve, P.; Resvanis, L.K.; Brunet, J.M.; Dolbeau, J.; Guglielmi, L.; Ledroit, F.; Poutot, D.; Tristram, G.; Baillon, P.; Barranco-Luque, M.; Davenport, M.; Delorme, S.; Dixon, J.; Dracos, M.; Fraissard, D.; Franco, J.B.; Gaumann, E.; Goret, B.; Hahn, F.; Haider, S.; Klempt, W.; Koene, B.; Lecoeur, G.; Mourgue, G.; Perez, J.; Queru, P.; Raynaud, J.; Rosso, E.; Soria-Buil, D.; Treille, D.; Tsirou, A.; Tzamarias, S.; Zanolini, M.; Aria, E.; Berst, J.D.; Bloch, D.; Christophel, E.; Dulinski, W.; Husson, D.; Juillot, P.; Schaeffer, M.; Galuszka, K.; Michalowski, J.; Stodulski, M.; Loukas, D.; Theodosiou, G.; Dalmagne, B.; Fulda-Quenzer, F.; Greguric, N.; Noppe, J.M.; Chevry, M.; Kesteman, J.; van Apeldoorn, G.; Brummer, N.; van Dam, P.; Diddens, A.N.; Evers, G.; Homma, J.; Hulman, F.; Koene, B.; Kok, H.; de Koning, N.; Korporaal, A.; Kuilman, W.; Langerveld, D.; Leenbeek, H.; Leguyt, R.; Schyns, E.; Toet, D.Z.; Ypma, T.; Dris, M.; Filippas, T.A.; Fokitis, E.; Gazis, E.; Katsoufis, E.; Maltezos, S.; Papadopoulou, T.; Ekelof, T.; Drees, J.; Herbst, I.; Lenzen, G.; Thadome, J.; Werner, J.;
By: Anassontzis, E.G.; Ioannou, P.; Kalkanis, G.; Katsanevas, S.; Kontaxis, I.; Koukoumelis, C.; Nounos, S.; Preve, P.; Resvanis, L.K.; Brunet, J.M.; Dolbeau, J.; Guglielmi, L.; Ledroit, F.; Poutot, D.; Tristram, G.; Baillon, P.; Barranco-Luque, M.; Davenport, M.; Delorme, S.; Dixon, J.; Dracos, M.; Fraissard, D.; Franco, J.B.; Gaumann, E.; Goret, B.; Hahn, F.; Haider, S.; Klempt, W.; Koene, B.; Lecoeur, G.; Mourgue, G.; Perez, J.; Queru, P.; Raynaud, J.; Rosso, E.; Soria-Buil, D.; Treille, D.; Tsirou, A.; Tzamarias, S.; Zanolini, M.; Aria, E.; Berst, J.D.; Bloch, D.; Christophel, E.; Dulinski, W.; Husson, D.; Juillot, P.; Schaeffer, M.; Galuszka, K.; Michalowski, J.; Stodulski, M.; Loukas, D.; Theodosiou, G.; Dalmagne, B.; Fulda-Quenzer, F.; Greguric, N.; Noppe, J.M.; Chevry, M.; Kesteman, J.; van Apeldoorn, G.; Brummer, N.; van Dam, P.; Diddens, A.N.; Evers, G.; Homma, J.; Hulman, F.; Koene, B.; Kok, H.; de Koning, N.; Korporaal, A.; Kuilman, W.; Langerveld, D.; Leenbeek, H.; Leguyt, R.; Schyns, E.; Toet, D.Z.; Ypma, T.; Dris, M.; Filippas, T.A.; Fokitis, E.; Gazis, E.; Katsoufis, E.; Maltezos, S.; Papadopoulou, T.; Ekelof, T.; Drees, J.; Herbst, I.; Lenzen, G.; Thadome, J.; Werner, J.;
1996 / IEEE / 0-8186-7373-7
By: Schlussler, J.-U.; Klar, H.; Chang-Han Yi; Ramacher, U.; Koren, I.; Dohndorf, J.; Werner, J.;
By: Schlussler, J.-U.; Klar, H.; Chang-Han Yi; Ramacher, U.; Koren, I.; Dohndorf, J.; Werner, J.;
1988 / IEEE
By: Kapon, E.; Werner, J.; Schwarz, S.A.; Stoffel, N.G.; Colas, E.; Bhat, R.; Von Lehmen, A.C.;
By: Kapon, E.; Werner, J.; Schwarz, S.A.; Stoffel, N.G.; Colas, E.; Bhat, R.; Von Lehmen, A.C.;
1990 / IEEE / 0-87942-683-7
By: Anassontzis, E.G.; van Apeldoorn, G.; Aria, E.; Baillon, P.; Barranco-Luque, M.; Bersi, J.D.; Bloch, D.; Brummer, N.; Brunet, J.M.; Chevry, M.; Christophel, E.; Dalmagne, B.; van Dams, P.; Davenport, M.; Delorme, S.; Diddens, A.N.; Dixon, J.; Dolbeau, J.; Dracos, M.; Drees, J.; Dris, M.; Dulinski, W.; Ekelof, T.; Evers, G.; Filippas, T.A.; Fokitis, E.; Fraissard, D.; Franco, J.B.; Gaumann, E.; Gazis, E.; Goret, B.; Greguric, N.; Guglielmi, L.; Hahn, F.; Haider, S.; Herbst, I.; Homma, J.; Hulman, F.; Husson, D.; loannou, P.; Juillot, P.; Kalkanis, G.; Katsanevas, S.; Katsoufis, E.; Kesteman, J.; Klempt, W.; Koene, B.; Kok, H.; de Koning, N.; Kontaxis, I.; Korporaal, A.; Kourkoumelis, C.; Kuilman, W.; Langerveld, D.; Lecoeur, G.; Ledroit, F.; Leenbeek, H.; Lenzen, G.; Lequytz, R.; Loukas, D.; Maltezos, S.; Mourgu, G.; Nounos, S.; Papadopoulou, T.; Perez, J.; Poutot, D.; Preve, P.; Queru, P.; Raynaud, J.; Resvanis, L.K.; Rosso, E.; Schaeffer, M.; Soria-Buil, D.; Thadome, J.; Theodosiou, G.; Toet, D.Z.; Treille, D.; Tristram, G.; Tsiro, A.; Tzamari, S.; Werner, J.; Ypma, T.; Zanolini, M.;
By: Anassontzis, E.G.; van Apeldoorn, G.; Aria, E.; Baillon, P.; Barranco-Luque, M.; Bersi, J.D.; Bloch, D.; Brummer, N.; Brunet, J.M.; Chevry, M.; Christophel, E.; Dalmagne, B.; van Dams, P.; Davenport, M.; Delorme, S.; Diddens, A.N.; Dixon, J.; Dolbeau, J.; Dracos, M.; Drees, J.; Dris, M.; Dulinski, W.; Ekelof, T.; Evers, G.; Filippas, T.A.; Fokitis, E.; Fraissard, D.; Franco, J.B.; Gaumann, E.; Gazis, E.; Goret, B.; Greguric, N.; Guglielmi, L.; Hahn, F.; Haider, S.; Herbst, I.; Homma, J.; Hulman, F.; Husson, D.; loannou, P.; Juillot, P.; Kalkanis, G.; Katsanevas, S.; Katsoufis, E.; Kesteman, J.; Klempt, W.; Koene, B.; Kok, H.; de Koning, N.; Kontaxis, I.; Korporaal, A.; Kourkoumelis, C.; Kuilman, W.; Langerveld, D.; Lecoeur, G.; Ledroit, F.; Leenbeek, H.; Lenzen, G.; Lequytz, R.; Loukas, D.; Maltezos, S.; Mourgu, G.; Nounos, S.; Papadopoulou, T.; Perez, J.; Poutot, D.; Preve, P.; Queru, P.; Raynaud, J.; Resvanis, L.K.; Rosso, E.; Schaeffer, M.; Soria-Buil, D.; Thadome, J.; Theodosiou, G.; Toet, D.Z.; Treille, D.; Tristram, G.; Tsiro, A.; Tzamari, S.; Werner, J.; Ypma, T.; Zanolini, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5126-6
By: Werner, J.; Kodytek, T.; Heer, C.; Geib, H.; Koren, I.; Dohndorf, J.; Kirmser, S.; Ramacher, U.; Poidevin, J.; Schlussler, J.-U.;
By: Werner, J.; Kodytek, T.; Heer, C.; Geib, H.; Koren, I.; Dohndorf, J.; Kirmser, S.; Ramacher, U.; Poidevin, J.; Schlussler, J.-U.;
1999 / IEEE
By: Squitieri, A.A.; Lee, P.J.; Naus, M.T.; Larbalestier, D.C.; Fischer, C.M.; Starch, W.L.; Gregory, E.; Zlobin, A.; Sabbi, C.; Limon, P.J.; Werner, J.;
By: Squitieri, A.A.; Lee, P.J.; Naus, M.T.; Larbalestier, D.C.; Fischer, C.M.; Starch, W.L.; Gregory, E.; Zlobin, A.; Sabbi, C.; Limon, P.J.; Werner, J.;
2001 / IEEE / 0-7803-6608-5
By: von Kaenel, V.; Jiang, J.; Forssell, P.; Chiu, T.; Bhasin, I.; Ying-Wai Ho; Werner, J.; Ukanwa, M.; Townley, K.; Tien, G.; Saha, U.; Reaves, J.; Rajagopalan, V.; Peng, V.; Patel, K.; Nasir, Q.; Matthews, D.; Kelley, J.;
By: von Kaenel, V.; Jiang, J.; Forssell, P.; Chiu, T.; Bhasin, I.; Ying-Wai Ho; Werner, J.; Ukanwa, M.; Townley, K.; Tien, G.; Saha, U.; Reaves, J.; Rajagopalan, V.; Peng, V.; Patel, K.; Nasir, Q.; Matthews, D.; Kelley, J.;
2003 / IEEE / 0-7803-7733-8
By: Werner, J.; Schmidt, P.; Hensler, S.; Pfau, T.; Gorlitz, A.; Griesmaier, A.;
By: Werner, J.; Schmidt, P.; Hensler, S.; Pfau, T.; Gorlitz, A.; Griesmaier, A.;
2003 / IEEE / 0-7803-7733-8
By: Pfan, T.; Gorlitz, A.; Schmidt, P.O.; Werner, J.; Hensler, S.; Griesmaier, A.;
By: Pfan, T.; Gorlitz, A.; Schmidt, P.O.; Werner, J.; Hensler, S.; Griesmaier, A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8412-1
By: Schwabe, M.; Siebers, S.; Ermert, H.; Werner, J.; Welp, C.; Scheipers, U.;
By: Schwabe, M.; Siebers, S.; Ermert, H.; Werner, J.; Welp, C.; Scheipers, U.;
1999 / IEEE
By: Schlussler, J.; Koren, I.; Werner, J.; Dohndorf, J.; Ramacher, U.; Heer, C.; Kirmser, S.; Geib, H.;
By: Schlussler, J.; Koren, I.; Werner, J.; Dohndorf, J.; Ramacher, U.; Heer, C.; Kirmser, S.; Geib, H.;
2005 / IEEE / 0-7803-8973-5
By: Pfau, T.; Hensler, S.; Werner, J.; Fattori, M.; Griesmaier, A.; Stuhler, J.;
By: Pfau, T.; Hensler, S.; Werner, J.; Fattori, M.; Griesmaier, A.; Stuhler, J.;
2006 / IEEE / 1-4244-0438-X
By: Palfinger, G.; Schubert, M.; Tobail, O.; Wurz, R.; Burwick, C.; Werner, J.; Remmers, N.; Appel, W.; Burghartz, J.N.; Zimmermann, M.;
By: Palfinger, G.; Schubert, M.; Tobail, O.; Wurz, R.; Burwick, C.; Werner, J.; Remmers, N.; Appel, W.; Burghartz, J.N.; Zimmermann, M.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0850-4
By: Mathe, J.L.; Werner, J.; Sztipanovits, J.; Jirjis, J.N.; Ledeczi, A.; Malin, B.; Duncavage, S.;
By: Mathe, J.L.; Werner, J.; Sztipanovits, J.; Jirjis, J.N.; Ledeczi, A.; Malin, B.; Duncavage, S.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1123-8
By: Malm, B.G.; Hallstedt, J.; Kasper, E.; Lyutovich, K.; Hellstrom, P.-E.; Werner, J.; Oehme, M.; Ostling, M.;
By: Malm, B.G.; Hallstedt, J.; Kasper, E.; Lyutovich, K.; Hellstrom, P.-E.; Werner, J.; Oehme, M.; Ostling, M.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4389-5
By: Eun-Joo Park; Werner, J.; Jaiswal, D.; Francischelli, D.; Smith, N.B.;
By: Eun-Joo Park; Werner, J.; Jaiswal, D.; Francischelli, D.; Smith, N.B.;
2010 / IEEE
By: Kasper, E.; Werner, J.; Kaschel, M.; Hahnel, D.; Sarlija, M.; Oehme, M.; Schulze, J.;
By: Kasper, E.; Werner, J.; Kaschel, M.; Hahnel, D.; Sarlija, M.; Oehme, M.; Schulze, J.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6346-6
By: Kasper, E.; Werner, J.; Kaschel, M.; Oehme, M.; Schmid, M.; Schulze, J.;
By: Kasper, E.; Werner, J.; Kaschel, M.; Oehme, M.; Schmid, M.; Schulze, J.;