Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Welch, D.F.
Results
1991 / IEEE
By: Hardy, A.; Welch, D.F.; Waarts, R.G.; Parke, R.; Mehuys, D.; Scifres, D.R.; Streifer, W.;
By: Hardy, A.; Welch, D.F.; Waarts, R.G.; Parke, R.; Mehuys, D.; Scifres, D.R.; Streifer, W.;
1992 / IEEE
By: Endriz, J.G.; Yao, H.C.; Worland, D.P.; Willing, S.; Welch, D.F.; Browder, G.S.; Vakili, M.; Plano, W.E.; Harnagel, G.L.; Haden, J.M.; DeVito, M.; Sakamoto, M.;
By: Endriz, J.G.; Yao, H.C.; Worland, D.P.; Willing, S.; Welch, D.F.; Browder, G.S.; Vakili, M.; Plano, W.E.; Harnagel, G.L.; Haden, J.M.; DeVito, M.; Sakamoto, M.;
1992 / IEEE
By: Paoli, T.L.; Bringans, R.D.; Thornton, R.L.; Treat, D.W.; Bour, D.P.; Welch, D.F.; Geels, R.S.;
By: Paoli, T.L.; Bringans, R.D.; Thornton, R.L.; Treat, D.W.; Bour, D.P.; Welch, D.F.; Geels, R.S.;
1993 / IEEE
By: Parke, R.; Scifres, D.; Dzurko, K.; O'Brien, S.; Welch, D.F.; Mehuys, D.; Lang, R.; Hardy, A.;
By: Parke, R.; Scifres, D.; Dzurko, K.; O'Brien, S.; Welch, D.F.; Mehuys, D.; Lang, R.; Hardy, A.;
1993 / IEEE
By: Dzurko, K.; Welch, D.F.; Mehuys, D.; Parke, R.A.; Lang, R.J.; O'Brien, S.; Scifres, D.; Waarts, R.;
By: Dzurko, K.; Welch, D.F.; Mehuys, D.; Parke, R.A.; Lang, R.J.; O'Brien, S.; Scifres, D.; Waarts, R.;
1994 / IEEE
By: Bringans, R.D.; Geels, R.S.; Bour, D.P.; Welch, D.F.; Treat, D.W.; Krusor, B.S.; Thornton, R.L.; Ponce, F.; Paoli, T.L.;
By: Bringans, R.D.; Geels, R.S.; Bour, D.P.; Welch, D.F.; Treat, D.W.; Krusor, B.S.; Thornton, R.L.; Ponce, F.; Paoli, T.L.;
1993 / IEEE / 0-7803-1263-5
By: Lang, R.; Mehuys, D.; Dzurko, K.; O'Brien, S.; Parke, R.; Welch, D.F.; Osinski, J.;
By: Lang, R.; Mehuys, D.; Dzurko, K.; O'Brien, S.; Parke, R.; Welch, D.F.; Osinski, J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2450-1
By: Myers, L.E.; Welch, D.F.; Nam, D.W.; Mehuys, D.G.; Bortz, M.L.; Lang, R.J.; Sanders, S.; Byer, R.L.; Fejer, M.M.;
By: Myers, L.E.; Welch, D.F.; Nam, D.W.; Mehuys, D.G.; Bortz, M.L.; Lang, R.J.; Sanders, S.; Byer, R.L.; Fejer, M.M.;
1994 / IEEE / 0-7803-1754-8
By: Major, J.S., Nr.; Dzurko, K.M.; Osinski, J.S.; Welch, D.F.; Parke, R.A.;
By: Major, J.S., Nr.; Dzurko, K.M.; Osinski, J.S.; Welch, D.F.; Parke, R.A.;
1994 / IEEE / 0-7803-1754-8
By: Mehuys, D.; Osinski, J.S.; Major, J.S., Jr.; Lang, R.; Waarts, R.; Dzurko, K.M.; Welch, D.F.;
By: Mehuys, D.; Osinski, J.S.; Major, J.S., Jr.; Lang, R.; Waarts, R.; Dzurko, K.M.; Welch, D.F.;
1994 / IEEE / 0-7803-1470-0
By: Lang, R.J.; Verdiell, J.-M.; O'Brien, S.; Osinski, J.S.; Parke, R.; Dzurko, K.M.; Welch, D.F.;
By: Lang, R.J.; Verdiell, J.-M.; O'Brien, S.; Osinski, J.S.; Parke, R.; Dzurko, K.M.; Welch, D.F.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Balakrishnan, A.; Giltner, D.M.; Sauke, T.B.; Welch, D.F.; Lang, RobertJ.; Mehuys, D.G.; Sanders, S.;
By: Balakrishnan, A.; Giltner, D.M.; Sauke, T.B.; Welch, D.F.; Lang, RobertJ.; Mehuys, D.G.; Sanders, S.;
1992 / IEEE / 0-87942-652-7
By: Bour, D.F.; Wang, T.Y.; Welch, D.F.; GeeIs, R.S.; Krusor, B.S.; Bringans, R.D.; Paoli, T.L.; Thornton, R.L.; Treat, D.W.;
By: Bour, D.F.; Wang, T.Y.; Welch, D.F.; GeeIs, R.S.; Krusor, B.S.; Bringans, R.D.; Paoli, T.L.; Thornton, R.L.; Treat, D.W.;
1992 / IEEE / 0-7803-0526-4
By: Scifres, D.R.; Welch, D.F.; Geels, R.S.; Bringans, R.D.; Treat, D.W.; Bour, D.P.;
By: Scifres, D.R.; Welch, D.F.; Geels, R.S.; Bringans, R.D.; Treat, D.W.; Bour, D.P.;
1992 / IEEE / 4-930813-51-4
By: Scifres, D.R.; Welch, D.F.; Geels, R.S.; Bringans, R.D.; Treat, D.W.; Bour, D.P.;
By: Scifres, D.R.; Welch, D.F.; Geels, R.S.; Bringans, R.D.; Treat, D.W.; Bour, D.P.;
1996 / IEEE / 1-55752-443-2
By: Scifres, D.R.; Welch, D.F.; Hardy, A.; Lang, R.J.; Dzurko, K.M.; DeMars, S.D.;
By: Scifres, D.R.; Welch, D.F.; Hardy, A.; Lang, R.J.; Dzurko, K.M.; DeMars, S.D.;
1996 / IEEE / 1-55752-422-X
By: DiGiovanni, D.J.; Grubb, S.G.; Rockney, B.; Welch, D.F.; Sanders, S.; Cheung, W.Y.; Simpson, I.R.;
By: DiGiovanni, D.J.; Grubb, S.G.; Rockney, B.; Welch, D.F.; Sanders, S.; Cheung, W.Y.; Simpson, I.R.;
1996 / IEEE / 1-55752-422-X
By: Mehuys, D.C.; Ralston, J.D.; Lang, R.J.; Shum, F.; Sanders, S.; Welch, D.F.; Waarts, R.G.;
By: Mehuys, D.C.; Ralston, J.D.; Lang, R.J.; Shum, F.; Sanders, S.; Welch, D.F.; Waarts, R.G.;
2005 / IEEE
By: Nagarajan, R.; Welch, D.F.; Schneider, R.P., Jr.; Bostak, J.S.; Butrie, T.; Dentai, A.G.; Dominic, V.G.; Evans, P.W.; Kato, M.; Kauffman, M.; Lambert, D.J.H.; Mathis, S.K.; Mathur, A.; Miles, R.H.; Mitchell, M.L.; Missey, M.J.; Murthy, S.; Nilsson, A.C.; Peters, F.H.; Pennypacker, S.C.; Pleumeekers, J.L.; Salvatore, R.A.; Schlenker, R.K.; Taylor, R.B.; Huan-Shang Tsai; Van Leeuwen, M.F.; Webjorn, J.; Ziari, M.; Perkins, D.; Singh, J.; Grubb, S.G.; Reffle, M.S.; Mehuys, D.G.; Kish, F.A.; Joyner, C.H.;
By: Nagarajan, R.; Welch, D.F.; Schneider, R.P., Jr.; Bostak, J.S.; Butrie, T.; Dentai, A.G.; Dominic, V.G.; Evans, P.W.; Kato, M.; Kauffman, M.; Lambert, D.J.H.; Mathis, S.K.; Mathur, A.; Miles, R.H.; Mitchell, M.L.; Missey, M.J.; Murthy, S.; Nilsson, A.C.; Peters, F.H.; Pennypacker, S.C.; Pleumeekers, J.L.; Salvatore, R.A.; Schlenker, R.K.; Taylor, R.B.; Huan-Shang Tsai; Van Leeuwen, M.F.; Webjorn, J.; Ziari, M.; Perkins, D.; Singh, J.; Grubb, S.G.; Reffle, M.S.; Mehuys, D.G.; Kish, F.A.; Joyner, C.H.;
1985 / IEEE
By: Welch, D.F.; Scifres, D.R.; Cross, P.; Kung, H.; Streifer, W.; Burnham, R.D.; Yaeli, J.;
By: Welch, D.F.; Scifres, D.R.; Cross, P.; Kung, H.; Streifer, W.; Burnham, R.D.; Yaeli, J.;
2005 / IEEE / 1-55752-783-0
By: Nagarajan, R.; Kato, M.; Welch, D.F.; Kish, F.A.; Perkins, D.; Brubb, S.G.; Ziari, M.; Webjorn, J.; Van Leeuwen, M.F.; Taylor, R.B.; Salvatore, R.A.; Pleumeekers, J.L.; Peters, F.H.; Nilsson, A.C.; Missey, M.J.; Mitchell, M.L.; Mathur, A.; Mathis, S.K.; Lambert, D.J.H.; Evans, P.W.; Dentai, A.G.; Schneider, R.P., Jr.; Joyner, C.H.; Desikan, T.; Dominic, V.G.; Kauffman, M.; Murthy, S.; Huan-Shang Tsai;
By: Nagarajan, R.; Kato, M.; Welch, D.F.; Kish, F.A.; Perkins, D.; Brubb, S.G.; Ziari, M.; Webjorn, J.; Van Leeuwen, M.F.; Taylor, R.B.; Salvatore, R.A.; Pleumeekers, J.L.; Peters, F.H.; Nilsson, A.C.; Missey, M.J.; Mitchell, M.L.; Mathur, A.; Mathis, S.K.; Lambert, D.J.H.; Evans, P.W.; Dentai, A.G.; Schneider, R.P., Jr.; Joyner, C.H.; Desikan, T.; Dominic, V.G.; Kauffman, M.; Murthy, S.; Huan-Shang Tsai;
2005 / IEEE / 0-7803-9217-5
By: Joyner, C.H.; Welch, D.F.; Pleumeekers, J.L.; Mathur, A.; Evans, P.W.; Lambert, D.J.H.; Murthy, S.; Mathis, S.K.; Peters, F.H.; Baeck, J.; Missey, M.J.; Dentai, A.G.; Salvatore, R.A.; Schneider, R.P.; Ziari, M.; Kato, M.; Nagarajan, R.; Bostak, J.S.; Butrie, T.; Dominic, V.G.; Kauffman, M.; Miles, R.H.; Mitchell, M.L.; Nilsson, A.C.; Pennypacker, S.C.; Schlenker, R.; Taylor, R.B.; Huan-Shang Tsai; Van Leeuwen, M.F.; Webjorn, J.; Perkins, D.; Singh, J.; Grubb, S.G.; Reffle, M.; Mehuys, D.G.; Kish, F.A.;
By: Joyner, C.H.; Welch, D.F.; Pleumeekers, J.L.; Mathur, A.; Evans, P.W.; Lambert, D.J.H.; Murthy, S.; Mathis, S.K.; Peters, F.H.; Baeck, J.; Missey, M.J.; Dentai, A.G.; Salvatore, R.A.; Schneider, R.P.; Ziari, M.; Kato, M.; Nagarajan, R.; Bostak, J.S.; Butrie, T.; Dominic, V.G.; Kauffman, M.; Miles, R.H.; Mitchell, M.L.; Nilsson, A.C.; Pennypacker, S.C.; Schlenker, R.; Taylor, R.B.; Huan-Shang Tsai; Van Leeuwen, M.F.; Webjorn, J.; Perkins, D.; Singh, J.; Grubb, S.G.; Reffle, M.; Mehuys, D.G.; Kish, F.A.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Kish, F.A.; Nagarajan, R.; Welch, D.F.; Perkins, D.; Mehuys, D.G.; Reffle, M.; Grubb, S.G.; Ziari, M.; Webjorn, J.; Van Leeuwen, M.F.; Tsai, H.-S.; Taylor, R.B.; Schlenker, R.; Salvatore, R.A.; Pleumeekers, J.L.; Pennypacker, S.C.; Peters, F.H.; Nilsson, A.C.; Murthy, S.; Missey, M.J.; Mitchell, M.L.; Miles, R.H.; Mathur, A.; Mathis, S.K.; Lambert, D.J.H.; Kauffman, M.; Kato, M.; Evans, P.W.; Joyner, C.H.; Schneider, R.P., Jr.; Bostak, J.S.; Butrie, T.; Dentai, A.G.; Dominic, V.G.;
By: Kish, F.A.; Nagarajan, R.; Welch, D.F.; Perkins, D.; Mehuys, D.G.; Reffle, M.; Grubb, S.G.; Ziari, M.; Webjorn, J.; Van Leeuwen, M.F.; Tsai, H.-S.; Taylor, R.B.; Schlenker, R.; Salvatore, R.A.; Pleumeekers, J.L.; Pennypacker, S.C.; Peters, F.H.; Nilsson, A.C.; Murthy, S.; Missey, M.J.; Mitchell, M.L.; Miles, R.H.; Mathur, A.; Mathis, S.K.; Lambert, D.J.H.; Kauffman, M.; Kato, M.; Evans, P.W.; Joyner, C.H.; Schneider, R.P., Jr.; Bostak, J.S.; Butrie, T.; Dentai, A.G.; Dominic, V.G.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Pleumeekers, J.L.; Pennypacker, S.C.; Schlenker, R.; Schneider, R.P., Jr.; Tsai, H.-S.; Webjorn, J.; Ziari, M.; Reffle, M.; Kish, F.A.; Mehuys, D.G.; Perkins, D.; Salvatore, R.A.; Peters, F.; Nilsson, A.C.; Nagarajan, R.; Murthy, S.; Missey, M.J.; Miles, R.H.; Mathur, A.; Mathis, S.K.; Lambert, D.J.H.; Kauffman, M.; Kato, M.; Joyner, C.H.; Evans, P.W.; Dentai, A.G.; Butrie, T.; Bostak, J.S.; Van Leeuwen, M.F.; Taylor, R.B.; Mitchell, M.L.; Grubb, S.G.; Welch, D.F.; Dominic, V.G.;
By: Pleumeekers, J.L.; Pennypacker, S.C.; Schlenker, R.; Schneider, R.P., Jr.; Tsai, H.-S.; Webjorn, J.; Ziari, M.; Reffle, M.; Kish, F.A.; Mehuys, D.G.; Perkins, D.; Salvatore, R.A.; Peters, F.; Nilsson, A.C.; Nagarajan, R.; Murthy, S.; Missey, M.J.; Miles, R.H.; Mathur, A.; Mathis, S.K.; Lambert, D.J.H.; Kauffman, M.; Kato, M.; Joyner, C.H.; Evans, P.W.; Dentai, A.G.; Butrie, T.; Bostak, J.S.; Van Leeuwen, M.F.; Taylor, R.B.; Mitchell, M.L.; Grubb, S.G.; Welch, D.F.; Dominic, V.G.;
2006 / IEEE / 1-55752-803-9
By: Kish, F.A.; Welch, D.F.; Singh, J.; Perkins, D.; Mehuys, D.G.; Reffle, M.; Grubb, S.G.; Webjorn, J.; Van Leeuwen, M.F.; Huan-Shang Tsai; Taylor, R.B.; Schlenker, R.; Salvatore, R.A.; Pennypacker, S.C.; Peters, F.H.; Nagarajan, R.; Missey, M.J.; Mitchell, M.L.; Miles, R.H.; Lambert, D.J.H.; Kato, M.; Hurtt, S.K.; Dominic, V.G.; Dentai, A.G.; Butrie, T.; Pleumeekers, J.L.; Mathur, A.; Evans, P.W.; Muthiah, R.; Murthy, S.; Kauffman, M.; Freeman, P.; Schneider, R.P.; Ziari, M.; Joyner, C.H.; Bostak, J.S.;
By: Kish, F.A.; Welch, D.F.; Singh, J.; Perkins, D.; Mehuys, D.G.; Reffle, M.; Grubb, S.G.; Webjorn, J.; Van Leeuwen, M.F.; Huan-Shang Tsai; Taylor, R.B.; Schlenker, R.; Salvatore, R.A.; Pennypacker, S.C.; Peters, F.H.; Nagarajan, R.; Missey, M.J.; Mitchell, M.L.; Miles, R.H.; Lambert, D.J.H.; Kato, M.; Hurtt, S.K.; Dominic, V.G.; Dentai, A.G.; Butrie, T.; Pleumeekers, J.L.; Mathur, A.; Evans, P.W.; Muthiah, R.; Murthy, S.; Kauffman, M.; Freeman, P.; Schneider, R.P.; Ziari, M.; Joyner, C.H.; Bostak, J.S.;
2006 / IEEE / 0-7803-9556-5
By: Kish, F.; Welch, D.F.; Nilsson, A.; Perkins, D.; Chiang, T.-K.; Nagarajan, R.; Grubb, S.; Mitchell, M.; Dominic, V.; Schneider, R.; Joyner, C.;
By: Kish, F.; Welch, D.F.; Nilsson, A.; Perkins, D.; Chiang, T.-K.; Nagarajan, R.; Grubb, S.; Mitchell, M.; Dominic, V.; Schneider, R.; Joyner, C.;
2006 / IEEE
By: Welch, D.F.; Nilsson, A.C.; Perkins, D.D.; Ting-Kuang Chiang; Grubb, S.G.; Nagarajan, R.; Mitchell, M.L.; Dominic, V.G.; Schneider, R.P.; Joyner, C.H.; Kish, F.A.;
By: Welch, D.F.; Nilsson, A.C.; Perkins, D.D.; Ting-Kuang Chiang; Grubb, S.G.; Nagarajan, R.; Mitchell, M.L.; Dominic, V.G.; Schneider, R.P.; Joyner, C.H.; Kish, F.A.;
2007 / IEEE
By: Welch, D.F.; Mehuys, D.G.; Melle, S.; Nagarajan, R.; Kato, M.; Joyner, C.H.; Pleumeekers, J.L.; Schneider, R.P.; Back, J.; Dentai, A.G.; Dominic, V.G.; Evans, P.W.; Kauffman, M.; Lambert, D.J.H.; Hurtt, S.K.; Mathur, A.; Mitchell, M.L.; Missey, M.; Murthy, S.; Nilsson, A.C.; Salvatore, R.A.; Van Leeuwen, M.F.; Webjorn, J.; Ziari, M.; Grubb, S.G.; Perkins, D.; Reffle, M.; Kish, F.A.;
By: Welch, D.F.; Mehuys, D.G.; Melle, S.; Nagarajan, R.; Kato, M.; Joyner, C.H.; Pleumeekers, J.L.; Schneider, R.P.; Back, J.; Dentai, A.G.; Dominic, V.G.; Evans, P.W.; Kauffman, M.; Lambert, D.J.H.; Hurtt, S.K.; Mathur, A.; Mitchell, M.L.; Missey, M.; Murthy, S.; Nilsson, A.C.; Salvatore, R.A.; Van Leeuwen, M.F.; Webjorn, J.; Ziari, M.; Grubb, S.G.; Perkins, D.; Reffle, M.; Kish, F.A.;
2007 / IEEE / 1-55752-831-4
By: Kish, F.A.; Nagarajan, R.; Welch, D.F.; Mehuys, D.G.; Reffle, M.; Grubb, S.G.; Van Leeuwen, M.F.; Huan-Shang Tsai; Taylor, R.B.; Schlenker, R.; Pennypacker, S.C.; Mitchell, M.L.; Miles, R.H.; Butrie, T.; Bostak, J.S.; Kato, M.; Schneider, R.P.; Pleumeekers, J.L.; Evans, P.W.; Hurtt, S.K.; Dentai, A.G.; Lambert, D.J.H.; Missey, M.J.; Webjorn, J.; Dominic, V.G.; Kauffman, M.; Mathur, A.; Salvatore, R.A.; Ziari, M.; Muthiah, R.; Murthy, S.; Joyner, C.H.;
By: Kish, F.A.; Nagarajan, R.; Welch, D.F.; Mehuys, D.G.; Reffle, M.; Grubb, S.G.; Van Leeuwen, M.F.; Huan-Shang Tsai; Taylor, R.B.; Schlenker, R.; Pennypacker, S.C.; Mitchell, M.L.; Miles, R.H.; Butrie, T.; Bostak, J.S.; Kato, M.; Schneider, R.P.; Pleumeekers, J.L.; Evans, P.W.; Hurtt, S.K.; Dentai, A.G.; Lambert, D.J.H.; Missey, M.J.; Webjorn, J.; Dominic, V.G.; Kauffman, M.; Mathur, A.; Salvatore, R.A.; Ziari, M.; Muthiah, R.; Murthy, S.; Joyner, C.H.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1101-6
By: Nagarajan, R.; Dentai, A.G.; Hurtt, S.; Welch, D.F.; Kish, F.A.; Pleumeekers, J.L.; Schneider, R.P.; Joyner, C.; Muthiah, R.; Mathur, A.;
By: Nagarajan, R.; Dentai, A.G.; Hurtt, S.; Welch, D.F.; Kish, F.A.; Pleumeekers, J.L.; Schneider, R.P.; Joyner, C.; Muthiah, R.; Mathur, A.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0924-2
By: Lambert, D.J.H.; Joyner, C.H.; Welch, D.F.; Mehuys, D.G.; Reffle, M.; Webjom, J.; Huan-Shang Tsai; Schlenker, R.; Pennypacker, S.C.; Nilsson, A.C.; Mitchell, M.L.; Miles, R.H.; Kauffman, M.; Dominic, V.G.; Butrie, T.; Bostak, J.S.; Laliberte, M.; Mertz, P.; Ziari, M.; Schneider, R.P.; Salvatore, R.A.; Dentai, A.G.; Rossi, J.; Kish, F.A.; Nagarajan, R.; Grubb, S.; Van Leeuwen, F.; Kato, M.; Pleumeekers, J.L.; Mathur, A.; Evans, P.W.; Murthy, S.; Mathis, S.K.; Baeck, J.; Missey, M.J.;
By: Lambert, D.J.H.; Joyner, C.H.; Welch, D.F.; Mehuys, D.G.; Reffle, M.; Webjom, J.; Huan-Shang Tsai; Schlenker, R.; Pennypacker, S.C.; Nilsson, A.C.; Mitchell, M.L.; Miles, R.H.; Kauffman, M.; Dominic, V.G.; Butrie, T.; Bostak, J.S.; Laliberte, M.; Mertz, P.; Ziari, M.; Schneider, R.P.; Salvatore, R.A.; Dentai, A.G.; Rossi, J.; Kish, F.A.; Nagarajan, R.; Grubb, S.; Van Leeuwen, F.; Kato, M.; Pleumeekers, J.L.; Mathur, A.; Evans, P.W.; Murthy, S.; Mathis, S.K.; Baeck, J.; Missey, M.J.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Jianping Zhang; Welch, D.F.; Kish, F.; Reffle, M.; Schneider, R.; Rossi, J.; Joyner, C.; Baeck, J.; Liu, P.; Christini, D.; Salvatore, R.; Chen, A.; Agashe, S.; Nilson, A.; Fisher, M.; Dominic, V.; Muthiah, R.; Pleumeekers, J.; Evans, P.; Mathur, A.; Stewart, J.; Missey, M.; Kato, M.; Murthy, S.; Lal, V.; Taylor, B.; Nagarajan, R.; Ziari, M.;
By: Jianping Zhang; Welch, D.F.; Kish, F.; Reffle, M.; Schneider, R.; Rossi, J.; Joyner, C.; Baeck, J.; Liu, P.; Christini, D.; Salvatore, R.; Chen, A.; Agashe, S.; Nilson, A.; Fisher, M.; Dominic, V.; Muthiah, R.; Pleumeekers, J.; Evans, P.; Mathur, A.; Stewart, J.; Missey, M.; Kato, M.; Murthy, S.; Lal, V.; Taylor, B.; Nagarajan, R.; Ziari, M.;
2010 / IEEE
By: Kish, F.; Joyner, C.H.; Stewart, J.; Ziari, M.; Nagarajan, R.; Schneider, R.; Chen, A.; Pleumeekers, J.L.; Strzelecka, E.; Murthy, S.; Salvatore, R.; Muthiah, R.; Spannagel, A.; Lambert, D.; Missey, M.; Studenkov, P.; Dentai, A.; Lyubomirsky, I.; Rahn, J.; Nilsson, A.; Samra, P.; Dominic, V.; Kato, M.; Gheorma, J.; Fisher, M.; Evans, P.; Corzine, S.W.; Welch, D.F.;
By: Kish, F.; Joyner, C.H.; Stewart, J.; Ziari, M.; Nagarajan, R.; Schneider, R.; Chen, A.; Pleumeekers, J.L.; Strzelecka, E.; Murthy, S.; Salvatore, R.; Muthiah, R.; Spannagel, A.; Lambert, D.; Missey, M.; Studenkov, P.; Dentai, A.; Lyubomirsky, I.; Rahn, J.; Nilsson, A.; Samra, P.; Dominic, V.; Kato, M.; Gheorma, J.; Fisher, M.; Evans, P.; Corzine, S.W.; Welch, D.F.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-884-1
By: Rahn, J.; Goldfarb, G.; Welch, D.F.; Kish, F.; Nagarajan, R.; Stewart, J.; Lyubomirsky, I.; Grubb, S.; Nilsson, A.; Jie Tang; Ziari, M.; Jiaming Zhang; Butrie, T.; Wenlu Chen; Johnson, F.; Hryniewicz, J.; Little, B.; Sai Chu; Wei Chen; Huan-Shang Tsai;
By: Rahn, J.; Goldfarb, G.; Welch, D.F.; Kish, F.; Nagarajan, R.; Stewart, J.; Lyubomirsky, I.; Grubb, S.; Nilsson, A.; Jie Tang; Ziari, M.; Jiaming Zhang; Butrie, T.; Wenlu Chen; Johnson, F.; Hryniewicz, J.; Little, B.; Sai Chu; Wei Chen; Huan-Shang Tsai;