Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Watanabe, S.
Results
2012 / IEEE
By: Sasaki, H.; Yamashiro, Y.; Watanabe, S.; Kojima, M.; Sasaki, K.; Sakai, T.; Wakatsuchi, H.; Hashimoto, O.;
By: Sasaki, H.; Yamashiro, Y.; Watanabe, S.; Kojima, M.; Sasaki, K.; Sakai, T.; Wakatsuchi, H.; Hashimoto, O.;
2012 / IEEE
By: Kanayama, Y.; Takahashi, T.; Watanabe, S.; Aono, H.; Hiromura, M.; Ishikawa, S.; Odaka, H.; Takeda, S.; Enomoto, S.;
By: Kanayama, Y.; Takahashi, T.; Watanabe, S.; Aono, H.; Hiromura, M.; Ishikawa, S.; Odaka, H.; Takeda, S.; Enomoto, S.;
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Yamazaki, H.; Sakuma, N.; Kaneko, T.; Watanabe, S.; Takahashi, M.; Matsumoto, T.;
By: Yamazaki, H.; Sakuma, N.; Kaneko, T.; Watanabe, S.; Takahashi, M.; Matsumoto, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-7355-7
By: Oba, R.; Suzuki, T.; Iwahashi, M.; Kasahara, Y.; Watanabe, S.; Kato, M.; Tamura, T.; Kano, T.; Kanetani, A.;
By: Oba, R.; Suzuki, T.; Iwahashi, M.; Kasahara, Y.; Watanabe, S.; Kato, M.; Tamura, T.; Kano, T.; Kanetani, A.;
Key Activities for Introducing Software Product Lines into Multiple Divisions: Experience at Hitachi
2011 / IEEE / 978-1-4577-1029-2By: Atarashi, Y.; Okamoto, C.; Shimabukuro, J.; Ohara, T.; Koizumi, S.; Yoshimura, K.; Funakoshi, K.; Watanabe, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Taki, M.; Watanabe, S.; Wake, K.; Sakai, T.; Sasaki, H.; Suzuki, Y.; Koike, A.; Kojima, M.; Sasaki, K.;
By: Taki, M.; Watanabe, S.; Wake, K.; Sakai, T.; Sasaki, H.; Suzuki, Y.; Koike, A.; Kojima, M.; Sasaki, K.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Elschner, R.; Ludwig, R.; Okabe, R.; Kato, T.; Watanabe, S.; Schubert, C.;
By: Elschner, R.; Ludwig, R.; Okabe, R.; Kato, T.; Watanabe, S.; Schubert, C.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Uno, T.; Arima, T.; Watanabe, S.; Hamada, L.; Itou, A.; Simba, A.Y.;
By: Uno, T.; Arima, T.; Watanabe, S.; Hamada, L.; Itou, A.; Simba, A.Y.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-993-5
By: Nakatani-Enomoto, S.; Watanabe, S.; Wake, K.; Simba, A.Y.; Ugawa, Y.;
By: Nakatani-Enomoto, S.; Watanabe, S.; Wake, K.; Simba, A.Y.; Ugawa, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1647-8
By: Nagaike, H.; Watanabe, S.; Miyauchi, K.; Matsui, H.; Moriya, T.; Sakamori, S.; Hayamizu, T.; Oshima, C.;
By: Nagaike, H.; Watanabe, S.; Miyauchi, K.; Matsui, H.; Moriya, T.; Sakamori, S.; Hayamizu, T.; Oshima, C.;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Troppenz, U.; Meuer, C.; Richter, T.; Okabe, R.; Schubert, C.; Elschner, R.; Kato, T.; Watanabe, S.;
By: Troppenz, U.; Meuer, C.; Richter, T.; Okabe, R.; Schubert, C.; Elschner, R.; Kato, T.; Watanabe, S.;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Richter, T.; Elschner, R.; Schubert, C.; Watanabe, S.; Kato, T.;
By: Richter, T.; Elschner, R.; Schubert, C.; Watanabe, S.; Kato, T.;
2011 / IEEE / 978-0-9775657-8-8
By: Igarashi, T.; Watanabe, S.; Kondo, Y.; Kawato, S.; Sasatani, Y.; Matsubara, S.; Hitotsuya, H.; Sasaki, K.;
By: Igarashi, T.; Watanabe, S.; Kondo, Y.; Kawato, S.; Sasatani, Y.; Matsubara, S.; Hitotsuya, H.; Sasaki, K.;
2011 / IEEE / 978-0-9775657-8-8
By: Kondo, Y.; Igarashi, T.; Watanabe, S.; Yonezawa, S.; Matsubara, S.; Sasatani, Y.; Furuta, H.; Sasaki, K.; Kawato, S.; Hitotsuya, H.;
By: Kondo, Y.; Igarashi, T.; Watanabe, S.; Yonezawa, S.; Matsubara, S.; Sasatani, Y.; Furuta, H.; Sasaki, K.; Kawato, S.; Hitotsuya, H.;
2015 / IEEE
By: Elschner, R.; Schmidt-Langhorst, C.; Richter, T.; Schubert, C.; Watanabe, S.; Tanimura, T.; Kato, T.;
By: Elschner, R.; Schmidt-Langhorst, C.; Richter, T.; Schubert, C.; Watanabe, S.; Tanimura, T.; Kato, T.;
2015 / IEEE
By: Kobayashi, N.; Yamazaki, H.; Yamada, H.; Kita, T.; Watanabe, S.; Yamamoto, K.; Namiwaka, M.; Sato, K.;
By: Kobayashi, N.; Yamazaki, H.; Yamada, H.; Kita, T.; Watanabe, S.; Yamamoto, K.; Namiwaka, M.; Sato, K.;
2014 / IEEE
By: Sasaki, K.; Sakai, T.; Shirai, H.; Hirata, A.; Kamimura, Y.; Taki, M.; Suzuki, Y.; Sasaki, K.; Sasaki, H.; Hasanova, N.; Kojima, M.; Watanabe, S.; Wake, K.; Nagaoka, T.;
By: Sasaki, K.; Sakai, T.; Shirai, H.; Hirata, A.; Kamimura, Y.; Taki, M.; Suzuki, Y.; Sasaki, K.; Sasaki, H.; Hasanova, N.; Kojima, M.; Watanabe, S.; Wake, K.; Nagaoka, T.;
2014 / IEEE
By: Furenlid, L. R.; Takahashi, T.; Watanabe, S.; Takeda, S.; Barber, H. B.; Barrett, H. H.; Salcin, E.;
By: Furenlid, L. R.; Takahashi, T.; Watanabe, S.; Takeda, S.; Barber, H. B.; Barrett, H. H.; Salcin, E.;
1989 / IEEE
By: Ohuchi, K.; Masuoka, F.; Mitayama, A.; Hieda, K.; Horiguchi, F.; Ohta, M.; Hara, T.; Hamamoto, T.; Chiba, M.; Tsuchida, K.; Kobayashi, T.; Fuse, T.; Numata, K.; Sakui, K.; Itoh, Y.; Oowaki, Y.; Watanabe, S.;
By: Ohuchi, K.; Masuoka, F.; Mitayama, A.; Hieda, K.; Horiguchi, F.; Ohta, M.; Hara, T.; Hamamoto, T.; Chiba, M.; Tsuchida, K.; Kobayashi, T.; Fuse, T.; Numata, K.; Sakui, K.; Itoh, Y.; Oowaki, Y.; Watanabe, S.;
1989 / IEEE
By: Hara, T.; Itoh, Y.; Oowaki, Y.; Numata, K.; Tsuchida, K.; Ohuchi, K.; Watanabe, S.; Ohta, M.;
By: Hara, T.; Itoh, Y.; Oowaki, Y.; Numata, K.; Tsuchida, K.; Ohuchi, K.; Watanabe, S.; Ohta, M.;
1988 / IEEE
By: Benyamina, M.; Han, W.Z.; Ohashi, A.; Tanabe, K.; Fujii, M.; Watanabe, S.; Touchard, G.;
By: Benyamina, M.; Han, W.Z.; Ohashi, A.; Tanabe, K.; Fujii, M.; Watanabe, S.; Touchard, G.;
1989 / IEEE
By: Fujii, S.; Ogihara, M.; Hamamoto, T.; Aochi, H.; Saito, Y.; Kaki, S.; Yoshikawa, S.; Kumagai, J.; Toita, K.-I.; Mizuno, T.; Sawada, S.; Watanabe, S.; Hara, T.; Numata, K.; Yoshida, M.; Shimizu, M.;
By: Fujii, S.; Ogihara, M.; Hamamoto, T.; Aochi, H.; Saito, Y.; Kaki, S.; Yoshikawa, S.; Kumagai, J.; Toita, K.-I.; Mizuno, T.; Sawada, S.; Watanabe, S.; Hara, T.; Numata, K.; Yoshida, M.; Shimizu, M.;
1990 / IEEE
By: Ohta, M.; Oowaki, Y.; Tsuchida, K.; Masuoka, F.; Ohuchi, K.; Watanabe, S.; Takashima, D.;
By: Ohta, M.; Oowaki, Y.; Tsuchida, K.; Masuoka, F.; Ohuchi, K.; Watanabe, S.; Takashima, D.;
1990 / IEEE
By: Seino, M.; Suyama, M.; Miyata, H.; Kiyonaga, T.; Onoda, Y.; Kuwahara, H.; Onaka, H.; Naito, T.; Watanabe, S.; Chikama, T.;
By: Seino, M.; Suyama, M.; Miyata, H.; Kiyonaga, T.; Onoda, Y.; Kuwahara, H.; Onaka, H.; Naito, T.; Watanabe, S.; Chikama, T.;
1989 / IEEE
By: Mizobuchi, A.; Nakai, M.; Katsuki, K.; Hattori, T.; Honma, T.; Chida, K.; Katayama, T.; Yoshizawa, M.; Watanabe, T.; Watanabe, S.; Ueda, N.; Tanabe, T.; Soga, F.; Sekiguchi, M.; Noda, K.; Noda, A.;
By: Mizobuchi, A.; Nakai, M.; Katsuki, K.; Hattori, T.; Honma, T.; Chida, K.; Katayama, T.; Yoshizawa, M.; Watanabe, T.; Watanabe, S.; Ueda, N.; Tanabe, T.; Soga, F.; Sekiguchi, M.; Noda, K.; Noda, A.;
1991 / IEEE
By: Ohuchi, K.; Horiguchi, F.; Nitayama, A.; Watanabe, S.; Nakano, H.; Masuoka, F.; Takashima, D.; Watanabe, Y.; Tsuchida, K.; Oowaki, Y.; Ohta, M.;
By: Ohuchi, K.; Horiguchi, F.; Nitayama, A.; Watanabe, S.; Nakano, H.; Masuoka, F.; Takashima, D.; Watanabe, Y.; Tsuchida, K.; Oowaki, Y.; Ohta, M.;
1992 / IEEE
By: Takashima, D.; Ohuchi, K.; Watanabe, S.; Nakano, H.; Ohta, M.; Tsuchida, K.; Watanabe, Y.; Ogiwara, R.; Oowaki, Y.;
By: Takashima, D.; Ohuchi, K.; Watanabe, S.; Nakano, H.; Ohta, M.; Tsuchida, K.; Watanabe, Y.; Ogiwara, R.; Oowaki, Y.;
1991 / IEEE / 0-87942-568-7
By: Ohashi, A.; Kinoshita, K.; Tanabe, K.; Suzuki, Y.; Watanabe, S.; Touchard, G.;
By: Ohashi, A.; Kinoshita, K.; Tanabe, K.; Suzuki, Y.; Watanabe, S.; Touchard, G.;
1991 / IEEE / 0-7803-0243-5
By: Horiguchi, F.; Watanabe, S.; Matsubara, Y.; Hasegawa, T.; Fuse, T.; Sunouchi, K.;
By: Horiguchi, F.; Watanabe, S.; Matsubara, Y.; Hasegawa, T.; Fuse, T.; Sunouchi, K.;
1993 / IEEE
By: Aoki, M.; Yamada, T.; Hamamoto, T.; Shiratake, S.-I.; Ohta, M.; Ogiwara, R.; Ishibashi, S.; Hasegawa, T.; Masuoka, F.; Takashima, D.; Watanabe, S.; Oowaki, Y.;
By: Aoki, M.; Yamada, T.; Hamamoto, T.; Shiratake, S.-I.; Ohta, M.; Ogiwara, R.; Ishibashi, S.; Hasegawa, T.; Masuoka, F.; Takashima, D.; Watanabe, S.; Oowaki, Y.;
1993 / IEEE / 0-7803-0987-1
By: Masuoka, F.; Watanabe, S.; Oowaki, Y.; Ishibashi, S.; Aoki, M.; Yamada, T.; Hasegawa, T.; Hamamoto, T.; Shiratake, S.-i.; Ohta, M.; Ogiwara, R.; Takashima, D.;
By: Masuoka, F.; Watanabe, S.; Oowaki, Y.; Ishibashi, S.; Aoki, M.; Yamada, T.; Hasegawa, T.; Hamamoto, T.; Shiratake, S.-i.; Ohta, M.; Ogiwara, R.; Takashima, D.;