Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Wang, L.
Results
2012 / IEEE
By: Yin, L.X.; Virostek, S.P.; Cao, Y.; Sun, S.; Wang, L.; Guo, X.L.; Demello, A.; Li, D.R.; Green, M.A.; Pan, H.;
By: Yin, L.X.; Virostek, S.P.; Cao, Y.; Sun, S.; Wang, L.; Guo, X.L.; Demello, A.; Li, D.R.; Green, M.A.; Pan, H.;
2012 / IEEE
By: Ayala-Garcia, I.N.; Weddell, A.S.; Al-Hashimi, B.M.; Wang, L.; Merrett, G.V.; Kazmierski, T.J.;
By: Ayala-Garcia, I.N.; Weddell, A.S.; Al-Hashimi, B.M.; Wang, L.; Merrett, G.V.; Kazmierski, T.J.;
2012 / IEEE
By: Wang, L.; Han, S.; Pan, W.; Wu, W.; Yu, X.; Liu, L.; Libeyre, P.; Foussat, A.; Zhou, Z.; Du, S.; Wei, J.;
By: Wang, L.; Han, S.; Pan, W.; Wu, W.; Yu, X.; Liu, L.; Libeyre, P.; Foussat, A.; Zhou, Z.; Du, S.; Wei, J.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-774-0
By: Yu Qiu; Wang, L.; Heqiu Zhang; Lizhong Hu; Ye Lang; Jin xue Ma; Jiuyu Ji; Guangwei Qu; Guoqiang Liu;
By: Yu Qiu; Wang, L.; Heqiu Zhang; Lizhong Hu; Ye Lang; Jin xue Ma; Jiuyu Ji; Guangwei Qu; Guoqiang Liu;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1617-1
By: Wang, L.; Panitz, P.; Buhler, M.; Buchner, T.; Barke, E.; Olbrich, M.;
By: Wang, L.; Panitz, P.; Buhler, M.; Buchner, T.; Barke, E.; Olbrich, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1400-9
By: Wang, L.; Panitz, P.; Buhler, M.; Buchner, T.; Barke, E.; Olbrich, M.;
By: Wang, L.; Panitz, P.; Buhler, M.; Buchner, T.; Barke, E.; Olbrich, M.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1041-4
By: Zheng, Y.F.; Vela, R.; Fraker, C.; Law, S.; Wang, L.; Scalzi, G.; Ewing, R.;
By: Zheng, Y.F.; Vela, R.; Fraker, C.; Law, S.; Wang, L.; Scalzi, G.; Ewing, R.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1246-2
By: Tal, R.; Corral-Soto, E.R.; Elder, J.H.; Sohn, G.; Hou, B.; Solomon, C.; Luo Chao; Persad, R.; Wang, L.;
By: Tal, R.; Corral-Soto, E.R.; Elder, J.H.; Sohn, G.; Hou, B.; Solomon, C.; Luo Chao; Persad, R.; Wang, L.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-2145-8
By: Kazmierski, T.J.; Wang, L.; Wenninger, J.; Aloufi, M.; Al-Hashimi, B.M.;
By: Kazmierski, T.J.; Wang, L.; Wenninger, J.; Aloufi, M.; Al-Hashimi, B.M.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1858-8
By: Ayache, N.; Frangi, A.F.; Wong, K.C.L.; Sebastian, R.; Romero, D.; Plank, G.; Pashaei, A.; Niederer, S.; Zhang, H.; Liu, H.; Delingette, H.; De Craene, M.; Relan, J.; Pop, M.; Wang, L.; Lamata, P.; Sermesant, M.; Camara, O.; Wright, G.A.; Smith, N.P.; Shi, P.;
By: Ayache, N.; Frangi, A.F.; Wong, K.C.L.; Sebastian, R.; Romero, D.; Plank, G.; Pashaei, A.; Niederer, S.; Zhang, H.; Liu, H.; Delingette, H.; De Craene, M.; Relan, J.; Pop, M.; Wang, L.; Lamata, P.; Sermesant, M.; Camara, O.; Wright, G.A.; Smith, N.P.; Shi, P.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0442-9
By: Li, M.; Wang, L.; Carranza, R.; Castruita, A.; Waltrip, B.C.; Campos, S.; Lu, Z.; Nelson, T.; Angelo, D.; So, E.; Wijesinghe, W.M.S.; Park, Y.T.;
By: Li, M.; Wang, L.; Carranza, R.; Castruita, A.; Waltrip, B.C.; Campos, S.; Lu, Z.; Nelson, T.; Angelo, D.; So, E.; Wijesinghe, W.M.S.; Park, Y.T.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1888-4
By: Wang, L.; Vangala, S.; Moparthi, R.; Desjardins, F.; Reddy, S.; Reddy, R.;
By: Wang, L.; Vangala, S.; Moparthi, R.; Desjardins, F.; Reddy, S.; Reddy, R.;
2013 / IEEE
By: Zhang, R.; Wang, L.; Bigham, J.; Hanzo, L.; Vasudevan, K.; Ribeiro, V.; Ramkumar, B.; Rajashekar, R.; Moessner, K.; Millet, K.; Mehta, N.; Parr, G.; Aliu, O.G.; Awoseyila, B.; Azarmi, N.; Bhatti, S.; Bodanese, E.; Chen, H.; Dianati, M.; Dutta, A.; Fitch, M.; Giridhar, K.; Hailes, S.; Hari, K.V.S.; Imran, M.A.; Jagannatham, A.K.; Karandikar, A.; Kawade, S.; Zafar Ali Khan, M.; Kompalli, S.C.; Langdon, P.; Narayanan, B.; Mauthe, A.; McGeehan, J.;
By: Zhang, R.; Wang, L.; Bigham, J.; Hanzo, L.; Vasudevan, K.; Ribeiro, V.; Ramkumar, B.; Rajashekar, R.; Moessner, K.; Millet, K.; Mehta, N.; Parr, G.; Aliu, O.G.; Awoseyila, B.; Azarmi, N.; Bhatti, S.; Bodanese, E.; Chen, H.; Dianati, M.; Dutta, A.; Fitch, M.; Giridhar, K.; Hailes, S.; Hari, K.V.S.; Imran, M.A.; Jagannatham, A.K.; Karandikar, A.; Kawade, S.; Zafar Ali Khan, M.; Kompalli, S.C.; Langdon, P.; Narayanan, B.; Mauthe, A.; McGeehan, J.;
2012 / IEEE
By: Priyabadini, S.; Sterken, T.; Wang, L.; Dhaenens, K.; Vandecasteele, B.; Van Put, S.; Vanfleteren, J.; Petersen, A.E.;
By: Priyabadini, S.; Sterken, T.; Wang, L.; Dhaenens, K.; Vandecasteele, B.; Van Put, S.; Vanfleteren, J.; Petersen, A.E.;
2013 / IEEE
By: Xie, Q.; Chen, Y.; Kao, C.-M.; Chen, C.-T.; Xiao, P.; Wang, L.; Xi, D.; Wu, Z.; Niu, M.; Chen, X.; Liu, W.; Wang, X.; Liu, J.; Zhu, J.;
By: Xie, Q.; Chen, Y.; Kao, C.-M.; Chen, C.-T.; Xiao, P.; Wang, L.; Xi, D.; Wu, Z.; Niu, M.; Chen, X.; Liu, W.; Wang, X.; Liu, J.; Zhu, J.;
2013 / IEEE
By: Yang, M.; Yu, G.-H.; Wang, J.-P.; Li, B.; Feng, C.; Wang, L.; Wang, H.; Gong, K.; Zhan, Q.;
By: Yang, M.; Yu, G.-H.; Wang, J.-P.; Li, B.; Feng, C.; Wang, L.; Wang, H.; Gong, K.; Zhan, Q.;
2014 / IEEE
By: Wang, L.; Brown, A. R.; Nedjalkov, M.; Alexander, C.; Cheng, B.; Asenov, A.; Millar, C.;
By: Wang, L.; Brown, A. R.; Nedjalkov, M.; Alexander, C.; Cheng, B.; Asenov, A.; Millar, C.;
2015 / IEEE
By: Yu, F.; Wang, Y.; Huang, Z.; Shang, Y.; Chen, H.; Wang, L.; Xu, X.; Ding, X.; Guo, D.; Zhou, M.; Zheng, Q.; Wang, Z.;
By: Yu, F.; Wang, Y.; Huang, Z.; Shang, Y.; Chen, H.; Wang, L.; Xu, X.; Ding, X.; Guo, D.; Zhou, M.; Zheng, Q.; Wang, Z.;
2015 / IEEE
By: Zhang, W.; Jiang, Z.; Xu, J.; Zhang, Y.; Wei, L.; Luo, A.; Liu, J.; Wang, L.; Li, X.; You, G.; Atalla, M.R.M.; Elahi, A.M.;
By: Zhang, W.; Jiang, Z.; Xu, J.; Zhang, Y.; Wei, L.; Luo, A.; Liu, J.; Wang, L.; Li, X.; You, G.; Atalla, M.R.M.; Elahi, A.M.;
2015 / IEEE
By: Fargeas, A.; Coloigner, J.; Albera, L.; Acosta, O.; Kachenoura, A.; Senhadji, L.; Lafond, C.; Drean, G.; Wang, L.; de Crevoisier, R.;
By: Fargeas, A.; Coloigner, J.; Albera, L.; Acosta, O.; Kachenoura, A.; Senhadji, L.; Lafond, C.; Drean, G.; Wang, L.; de Crevoisier, R.;