Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Walker, R.
Results
2012 / IEEE
By: Fishburn, M.W.; Trimananda, R.; Maruyama, Y.; Gersbach, M.; Stoppa, D.; Charbon, E.; Henderson, R.; Walker, R.; Richardson, J.A.;
By: Fishburn, M.W.; Trimananda, R.; Maruyama, Y.; Gersbach, M.; Stoppa, D.; Charbon, E.; Henderson, R.; Walker, R.; Richardson, J.A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0708-7
By: Li, D.U.; Walker, R.; Richardson, J.; Veerappan, C.; Charbon, E.; Bruschini, C.; Fishburn, M.W.; Henderson, R.K.; Gersbach, M.; Maruyama, Y.; Borghetti, F.; Stoppa, D.;
By: Li, D.U.; Walker, R.; Richardson, J.; Veerappan, C.; Charbon, E.; Bruschini, C.; Fishburn, M.W.; Henderson, R.K.; Gersbach, M.; Maruyama, Y.; Borghetti, F.; Stoppa, D.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-6051-9
By: Ashour-Abdalla, M.; Meng Zhou; El-Alaoui, M.; Schriver, D.; Richard, R.; Walker, R.;
By: Ashour-Abdalla, M.; Meng Zhou; El-Alaoui, M.; Schriver, D.; Richard, R.; Walker, R.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0014-8
By: Hughes, C.; Miles, H.; Pop, S.; Walker, R.; ap Cenydd, L.; Roberts, J.C.; Teahan, W.;
By: Hughes, C.; Miles, H.; Pop, S.; Walker, R.; ap Cenydd, L.; Roberts, J.C.; Teahan, W.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Perenzoni, M.; Gasparini, L.; Pancheri, L.; Braga, L.H.C.; Stoppa, D.; Henderson, R.K.; Walker, R.;
By: Perenzoni, M.; Gasparini, L.; Pancheri, L.; Braga, L.H.C.; Stoppa, D.; Henderson, R.K.; Walker, R.;
2014 / IEEE
By: Walker, R.; Sirotkin, E.; Schiavone, G.; Terry, J. G.; Smith, S.; Mount, A. R.; Walton, A. J.; Desmulliez, M. P. Y.;
By: Walker, R.; Sirotkin, E.; Schiavone, G.; Terry, J. G.; Smith, S.; Mount, A. R.; Walton, A. J.; Desmulliez, M. P. Y.;
2014 / IEEE
By: Walker, R.; Sirotkin, E.; Terry, J. G.; Smith, S.; Desmulliez, M. P. Y.; Walton, A. J.;
By: Walker, R.; Sirotkin, E.; Terry, J. G.; Smith, S.; Desmulliez, M. P. Y.; Walton, A. J.;
2013 / IEEE
By: Thiagarajan, P.; Smith, S.; McElhinney, M.; Walker, R.; Pennington, G.; Lapinski, F.; Das, S.; Helmrich, J.; Caliva, B.;
By: Thiagarajan, P.; Smith, S.; McElhinney, M.; Walker, R.; Pennington, G.; Lapinski, F.; Das, S.; Helmrich, J.; Caliva, B.;
1991 / IEEE
By: Walker, R.; Brady, G.; Gottler, M.; Rothman, J.; Duane, G.; Anderson, C.; Mathis, D.; Wolfe, W.J.; Alaghband, G.;
By: Walker, R.; Brady, G.; Gottler, M.; Rothman, J.; Duane, G.; Anderson, C.; Mathis, D.; Wolfe, W.J.; Alaghband, G.;
1992 / IEEE / 0-8186-2655-0
By: Walker, R.; McFarland, W.; Yen, C.; Kwan, G.; Lai, B.; Wu, J.; Stout, C.;
By: Walker, R.; McFarland, W.; Yen, C.; Kwan, G.; Lai, B.; Wu, J.; Stout, C.;
1992 / IEEE / 0-7803-0573-6
By: Stout, C.; Wu, J.-T.; Walker, R.; Petruno, P.; Hornak, T.; Yen, C.-S.; Lai, B.;
By: Stout, C.; Wu, J.-T.; Walker, R.; Petruno, P.; Hornak, T.; Yen, C.-S.; Lai, B.;
1992 / IEEE / 0-7803-0599-X
By: Walker, R.; Yen, C.; Homak, T.; Kwan, G.; Cunningham, D.; McFarland, W.;
By: Walker, R.; Yen, C.; Homak, T.; Kwan, G.; Cunningham, D.; McFarland, W.;
1993 / IEEE / 0-7803-0987-1
By: Budin, D.; Atkinson, S.; Walker, R.; Fox, B.; Wupperman, B.; Bleiweiss, S.; Lanzi, C.;
By: Budin, D.; Atkinson, S.; Walker, R.; Fox, B.; Wupperman, B.; Bleiweiss, S.; Lanzi, C.;
1998 / IEEE
By: Hyde, D.G.; Truly, R.; Puttgen, H.B.; Hurwitch, J.W.; Cohen, G.; Terrado, E.; Walker, R.;
By: Hyde, D.G.; Truly, R.; Puttgen, H.B.; Hurwitch, J.W.; Cohen, G.; Terrado, E.; Walker, R.;
1993 / IEEE / 0-7803-1487-5
By: Koehn, P.; Sakumoto, W.K.; Bodek, A.; Budd, H.; Fan, Q.; Koehn, P.; Olsson, M.; Pillai, M.; Walker, R.; Winer, B.; Freeman, J.; Ozelis, J.; Huston, J.; Mansour, J.; Richards, R.; Skup, E.; Tannenbaum, B.; de Barbaro, P.;
By: Koehn, P.; Sakumoto, W.K.; Bodek, A.; Budd, H.; Fan, Q.; Koehn, P.; Olsson, M.; Pillai, M.; Walker, R.; Winer, B.; Freeman, J.; Ozelis, J.; Huston, J.; Mansour, J.; Richards, R.; Skup, E.; Tannenbaum, B.; de Barbaro, P.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Jordan, K.; Krafft, G.; Fugitt, J.; Evans, R.; Hill, R.; Douglas, D.; Campisi, I.; Biallas, G.; Benson, S.; Bohn, C.L.; Yunn, B.; Walker, R.; Siggins, T.; Shinn, M.; Preble, J.; Piot, P.; Neil, G.; Merminga, L.; Li, R.;
By: Jordan, K.; Krafft, G.; Fugitt, J.; Evans, R.; Hill, R.; Douglas, D.; Campisi, I.; Biallas, G.; Benson, S.; Bohn, C.L.; Yunn, B.; Walker, R.; Siggins, T.; Shinn, M.; Preble, J.; Piot, P.; Neil, G.; Merminga, L.; Li, R.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Hill, R.; Jordan, K.; Douglas, D.; Evans, R.; Campisi, I.E.; Bohn, C.L.; Biallas, G.; Benson, S.; Yunn, B.C.; Walker, R.; Siggins, T.; Shinn, M.; Preble, J.; Piot, P.; Neil, G.R.; Merminga, L.; Li, R.; Krafft, G.A.;
By: Hill, R.; Jordan, K.; Douglas, D.; Evans, R.; Campisi, I.E.; Bohn, C.L.; Biallas, G.; Benson, S.; Yunn, B.C.; Walker, R.; Siggins, T.; Shinn, M.; Preble, J.; Piot, P.; Neil, G.R.; Merminga, L.; Li, R.; Krafft, G.A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Piekarz, H.; Mazur, P.O.; McAshan, M.; Kashikhin, V.; Foster, G.W.; Walker, R.; Volk, J.T.;
By: Piekarz, H.; Mazur, P.O.; McAshan, M.; Kashikhin, V.; Foster, G.W.; Walker, R.; Volk, J.T.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Biallas, G.; Neil, G.R.; Benson, S.V.; Douglas, D.; Yunn, B.; Walker, R.; Siggins, T.; Shinn, M.; Preble, J.; Phillips, L.; Boyce, J.; Merminga, L.; Mammosser, J.; Li, R.; Krafft, G.; Jordan, K.; Gubeli, J.; Grippo, A.; Evans, R.; Dylla, H.F.;
By: Biallas, G.; Neil, G.R.; Benson, S.V.; Douglas, D.; Yunn, B.; Walker, R.; Siggins, T.; Shinn, M.; Preble, J.; Phillips, L.; Boyce, J.; Merminga, L.; Mammosser, J.; Li, R.; Krafft, G.; Jordan, K.; Gubeli, J.; Grippo, A.; Evans, R.; Dylla, H.F.;
1985 / IEEE
By: Pidgeon, C.; Smith, S.; Martin, P.; Gillespie, W.; Walker, R.; Saxon, G.; Poole, M.; Kelliher, M.; Reid, J.; Kimmitt, M.; Mackay, J.; Tratt, D.; Jaroszynski, D.; Firth, W.;
By: Pidgeon, C.; Smith, S.; Martin, P.; Gillespie, W.; Walker, R.; Saxon, G.; Poole, M.; Kelliher, M.; Reid, J.; Kimmitt, M.; Mackay, J.; Tratt, D.; Jaroszynski, D.; Firth, W.;
1987 / IEEE
By: Saxon, G.; Tratt, D.; Jaroszynski, D.; Gillespie, W.; Kelliher, M.; Walker, R.; Pidgeon, C.; Poole, M.; Cheng, C.; Kimmitt, M.; Firth, W.; Smith, S.;
By: Saxon, G.; Tratt, D.; Jaroszynski, D.; Gillespie, W.; Kelliher, M.; Walker, R.; Pidgeon, C.; Poole, M.; Cheng, C.; Kimmitt, M.; Firth, W.; Smith, S.;
2003 / IEEE / 1-55752-746-6
By: Wale, M.; Carter, A.; Wadsworth, S.; Walker, R.; Johnstone, R.; Griffin, R.;
By: Wale, M.; Carter, A.; Wadsworth, S.; Walker, R.; Johnstone, R.; Griffin, R.;
2004 / IEEE / 0-7695-2194-0
By: Youlian Pan; Walker, R.; Sikorska, M.; Famili, F.A.; Hung Fang; Smith, B.;
By: Youlian Pan; Walker, R.; Sikorska, M.; Famili, F.A.; Hung Fang; Smith, B.;
2004 / IEEE / 0-7803-8439-3
By: Odetayo, M.O.; Walker, R.; Seker, H.; Ibrahim, D.; Frize, M.; Naguib, R.N.G.; Petrovic, D.;
By: Odetayo, M.O.; Walker, R.; Seker, H.; Ibrahim, D.; Frize, M.; Naguib, R.N.G.; Petrovic, D.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Walker, R.; Shinn, M.; Hernandez-Garcia, C.; Siggins, T.; Neil, G.R.; Bullard, D.; Dylla, H.F.; Jordan, K.; Murray, C.; Benson, S.;
By: Walker, R.; Shinn, M.; Hernandez-Garcia, C.; Siggins, T.; Neil, G.R.; Bullard, D.; Dylla, H.F.; Jordan, K.; Murray, C.; Benson, S.;
2006 / IEEE / 0-7695-2522-9
By: BlefariMelazzi, N.; Bartolomeo, G.; Salsano, S.; Walker, R.; Prezerakos, G.; Friday, A.; Cortese, G.;
By: BlefariMelazzi, N.; Bartolomeo, G.; Salsano, S.; Walker, R.; Prezerakos, G.; Friday, A.; Cortese, G.;
1981 / IEEE
By: Jensen, H.; Nodulman, L.; Hanssen, D.; Atac, M.; Tollestrup, A.; Walker, R.; Kennett, R. G.; Urish, J.;
By: Jensen, H.; Nodulman, L.; Hanssen, D.; Atac, M.; Tollestrup, A.; Walker, R.; Kennett, R. G.; Urish, J.;
1985 / IEEE
By: Fowler, W. B.; Ferry, B.; Rode, C. H.; Walker, R.; Theilacker, J.; Peterson, T.; Makara, J.;
By: Fowler, W. B.; Ferry, B.; Rode, C. H.; Walker, R.; Theilacker, J.; Peterson, T.; Makara, J.;
1985 / IEEE
By: Lim, C. B.; Gottschalk, S.; Styblo, D.; King, S.; Coulman, K.; Shand, D.; Kim, K. I.; Anderson, J.; Perusek, A.; Covic, J.; Janzo, J.; Pinkstaff, C.; Valentino, F.; Schreiner, R.; Walker, R.;
By: Lim, C. B.; Gottschalk, S.; Styblo, D.; King, S.; Coulman, K.; Shand, D.; Kim, K. I.; Anderson, J.; Perusek, A.; Covic, J.; Janzo, J.; Pinkstaff, C.; Valentino, F.; Schreiner, R.; Walker, R.;
1986 / IEEE
By: Janzso, J.; Lim, C. B.; Coulman, K.; Valentino, F.; Shand, D.; Walker, R.; King, S.; Anderson, J.; Kim, K. I.; Pinkstaff, C.;
By: Janzso, J.; Lim, C. B.; Coulman, K.; Valentino, F.; Shand, D.; Walker, R.; King, S.; Anderson, J.; Kim, K. I.; Pinkstaff, C.;
2007 / IEEE / 0-7695-3064-8
By: Barberis, D.; Bos, K.; Espinal, X.; Walker, R.; de Salvo, A.; Resconi, S.; Rebatto, D.; Poulard, G.; Perini, L.; Padhi, S.; Negri, G.; Kennedy, J.; Goossens, L.; Campana, S.;
By: Barberis, D.; Bos, K.; Espinal, X.; Walker, R.; de Salvo, A.; Resconi, S.; Rebatto, D.; Poulard, G.; Perini, L.; Padhi, S.; Negri, G.; Kennedy, J.; Goossens, L.; Campana, S.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Benson, S.; Zhang, S.; Biallas, G.; Boyce, J.; Bullard, D.; Coleman, J.; Douglas, D.; Dylla, F.; Evans, R.; Evtushenko, P.; Hernandez-Garcia, C.; Grippo, A.; Gould, C.; Gubeli, J.; Hardy, D.; Hovater, C.; Jordan, K.; Klopf, M.; Li, R.; Moore, W.; Neil, G.; Poelker, M.; Powers, T.; Preble, J.; Rimmer, R.; Sexton, D.; Shinn, M.; Tennant, C.; Walker, R.; Williams, G.; Beard, K.;
By: Benson, S.; Zhang, S.; Biallas, G.; Boyce, J.; Bullard, D.; Coleman, J.; Douglas, D.; Dylla, F.; Evans, R.; Evtushenko, P.; Hernandez-Garcia, C.; Grippo, A.; Gould, C.; Gubeli, J.; Hardy, D.; Hovater, C.; Jordan, K.; Klopf, M.; Li, R.; Moore, W.; Neil, G.; Poelker, M.; Powers, T.; Preble, J.; Rimmer, R.; Sexton, D.; Shinn, M.; Tennant, C.; Walker, R.; Williams, G.; Beard, K.;
2008 / IEEE / 978-0-7695-3250-9
By: Deatrich, D.; Vetterli, M.; Wong, A.; Walker, R.; Tafirout, R.; Payne, C.; Liu, S.;
By: Deatrich, D.; Vetterli, M.; Wong, A.; Walker, R.; Tafirout, R.; Payne, C.; Liu, S.;
2008 / IEEE / 978-0-7695-3250-9
By: Wong, A.; Walker, R.; Tafirout, R.; Payne, C.; Liu, S.; Deatrich, D.;
By: Wong, A.; Walker, R.; Tafirout, R.; Payne, C.; Liu, S.; Deatrich, D.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3827-3
By: Day-Uei Li; Henderson, R.; Renshaw, D.; Buts, A.; Rae, B.; Richardson, J.; Walker, R.;
By: Day-Uei Li; Henderson, R.; Renshaw, D.; Buts, A.; Rae, B.; Richardson, J.; Walker, R.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4071-9
By: Grant, L.; Walker, R.; Richardson, J.; Henderson, R.K.; Stoppa, D.; Gersbach, M.; Charbon, E.; Borghetti, F.;
By: Grant, L.; Walker, R.; Richardson, J.; Henderson, R.K.; Stoppa, D.; Gersbach, M.; Charbon, E.; Borghetti, F.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4355-0
By: Gersbach, M.; Henderson, R.K.; Grant, L.; Walker, R.; Charbon, E.; Borghetti, F.; Stoppa, D.; Richardson, J.;
By: Gersbach, M.; Henderson, R.K.; Grant, L.; Walker, R.; Charbon, E.; Borghetti, F.; Stoppa, D.; Richardson, J.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4355-0
By: Grant, L.; Walker, R.; Richardson, J.; Labonne, E.; Maruyama, Y.; Henderson, R.; Gersbach, M.; Charbon, E.; Stoppa, D.; Borghetti, F.;
By: Grant, L.; Walker, R.; Richardson, J.; Labonne, E.; Maruyama, Y.; Henderson, R.; Gersbach, M.; Charbon, E.; Stoppa, D.; Borghetti, F.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap