Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Venanzi, C.
Results
2001 / IEEE / 0-7803-7136-4
By: Salvatori, S.; Rossi, M.C.; Piermattei, A.; Fidanzio, A.; Venanzi, C.; Acarelli, P.; Conte, G.; Cappelli, E.;
By: Salvatori, S.; Rossi, M.C.; Piermattei, A.; Fidanzio, A.; Venanzi, C.; Acarelli, P.; Conte, G.; Cappelli, E.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Nurdan, K.; Conka-Nurdan, T.; Venanzi, C.; Longo, R.; Walenta, A.H.;
By: Nurdan, K.; Conka-Nurdan, T.; Venanzi, C.; Longo, R.; Walenta, A.H.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Conka-Nurdan, T.; Walenta, A.H.; Laihem, K.; Nurdan, K.; Fiorini, C.; Venanzi, C.; Struder, L.; Hornel, N.;
By: Conka-Nurdan, T.; Walenta, A.H.; Laihem, K.; Nurdan, K.; Fiorini, C.; Venanzi, C.; Struder, L.; Hornel, N.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Nurdan, K.; Conka-Nurdan, T.; Venanzi, C.; Struder, L.; Hornel, N.; Fiorini, C.; Walenta, A.H.; Laihem, K.;
By: Nurdan, K.; Conka-Nurdan, T.; Venanzi, C.; Struder, L.; Hornel, N.; Fiorini, C.; Walenta, A.H.; Laihem, K.;
2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Pani, S.; Olivo, A.; Longo, R.; Dreossi, D.; Bergamaschi, A.; Venanzi, C.; Castelli, E.;
By: Pani, S.; Olivo, A.; Longo, R.; Dreossi, D.; Bergamaschi, A.; Venanzi, C.; Castelli, E.;
2006 / IEEE / 1-4244-0560-2
By: Greenwood, S.; Jones, J.; Zachariadis, D.; Tsakas, C.; Psomadellis, F.; Giannakakis, K.; Triantis, F.; Manthos, N.; Bolanakis, D.; Asimidis, A.; Bergamaschi, A.; Venanzi, C.; Longo, R.; Speller, R.D.; Royle, G.J.; Metaxas, M.G.; Griffiths, J.; Turchetta, R.; Gasiorek, P.; Fant, A.; Noy, M.; Hall, G.; Khaleeq, M.; Leaver, J.; Machin, D.;
By: Greenwood, S.; Jones, J.; Zachariadis, D.; Tsakas, C.; Psomadellis, F.; Giannakakis, K.; Triantis, F.; Manthos, N.; Bolanakis, D.; Asimidis, A.; Bergamaschi, A.; Venanzi, C.; Longo, R.; Speller, R.D.; Royle, G.J.; Metaxas, M.G.; Griffiths, J.; Turchetta, R.; Gasiorek, P.; Fant, A.; Noy, M.; Hall, G.; Khaleeq, M.; Leaver, J.; Machin, D.;
2006 / IEEE / 1-4244-0560-2
By: Griffiths, J.A.; Metaxas, M.G.; Speller, R.D.; Bergamaschi, A.; Longo, R.; Manthos, N.; Bolanakis, D.; Asimidis, A.; Triantis, F.; Ostby, J.M.; Schulerud, H.; Khaleeq, M.; Greenwood, S.; Machin, D.; Leaver, J.; Jones, J.; Noy, M.; Hall, G.; Cavouras, D.; Georgiou, H.; Theodoridis, S.; Gasiorek, P.; Fant, A.; Turchetta, R.; Gang Li; Verheij, H.; van der Stelt, P.F.; Esbrand, C.; Venanzi, C.; Royle, G.J.;
By: Griffiths, J.A.; Metaxas, M.G.; Speller, R.D.; Bergamaschi, A.; Longo, R.; Manthos, N.; Bolanakis, D.; Asimidis, A.; Triantis, F.; Ostby, J.M.; Schulerud, H.; Khaleeq, M.; Greenwood, S.; Machin, D.; Leaver, J.; Jones, J.; Noy, M.; Hall, G.; Cavouras, D.; Georgiou, H.; Theodoridis, S.; Gasiorek, P.; Fant, A.; Turchetta, R.; Gang Li; Verheij, H.; van der Stelt, P.F.; Esbrand, C.; Venanzi, C.; Royle, G.J.;
2006 / IEEE / 1-4244-0560-2
By: Halsall, R.; Crooks, J.; Clark, A.; Segneri, G.; Royle, G.; Venanzi, C.; Key-Charriere, M.; Bohndiek, S.E.; Arvanitis, C.D.; Speller, R.; Turchetta, R.; Prydderch, M.; Martin, S.;
By: Halsall, R.; Crooks, J.; Clark, A.; Segneri, G.; Royle, G.; Venanzi, C.; Key-Charriere, M.; Bohndiek, S.E.; Arvanitis, C.D.; Speller, R.; Turchetta, R.; Prydderch, M.; Martin, S.;
2008 / IEEE
By: Fant, A.; Gasiorek, P.; Esbrand, C.; Cavouras, D.; Venanzi, C.; Royle, G.J.; Metaxas, M.G.; Griffiths, J.A.; Speller, R.D.; Turchetta, R.; Triantis, F.A.; Theodoridis, S.; Schulerud, H.; Rokvic, T.; Ostby, J.M.; Noy, M.; Manthos, N.; Longo, R.; Leaver, J.D.G.; Jones, J.; Hall, G.; Georgiou, H.;
By: Fant, A.; Gasiorek, P.; Esbrand, C.; Cavouras, D.; Venanzi, C.; Royle, G.J.; Metaxas, M.G.; Griffiths, J.A.; Speller, R.D.; Turchetta, R.; Triantis, F.A.; Theodoridis, S.; Schulerud, H.; Rokvic, T.; Ostby, J.M.; Noy, M.; Manthos, N.; Longo, R.; Leaver, J.D.G.; Jones, J.; Hall, G.; Georgiou, H.;