Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Velikovich, A.
Results
2002 / IEEE / 978-0-7354-0107-5
By: Davis, J.; Giuliani, J.L.; LePell, P.O.; Deeney, C.; Coverdale, C.A.; Chong, Y. K.; Apruzese, J.P.; Clark, R.W.; Thornhill, J.W.; Whitney, K.G.; Velikovich, A.;
By: Davis, J.; Giuliani, J.L.; LePell, P.O.; Deeney, C.; Coverdale, C.A.; Chong, Y. K.; Apruzese, J.P.; Clark, R.W.; Thornhill, J.W.; Whitney, K.G.; Velikovich, A.;
2011 / IEEE / 978-0-9775657-8-8
By: Murakami, M.; Nagatomo, H.; Obenschain, S.; Sethian, J.; Schmitt, A.; Bates, J.; Zalesak, S.; Velikovich, A.; Aglitskiy, Y.; Weaver, J.; Karasik, M.; Azechi, H.; Shiraga, H.; Norimatsu, T.; Arinaga, Y.; Watari, T.; Hironaka, Y.; Shigemori, K.; Johzaki, T.;
By: Murakami, M.; Nagatomo, H.; Obenschain, S.; Sethian, J.; Schmitt, A.; Bates, J.; Zalesak, S.; Velikovich, A.; Aglitskiy, Y.; Weaver, J.; Karasik, M.; Azechi, H.; Shiraga, H.; Norimatsu, T.; Arinaga, Y.; Watari, T.; Hironaka, Y.; Shigemori, K.; Johzaki, T.;
2014 / IEEE
By: Petrova, Tz. B.; Davis, J.; Petrov, G. M.; Ouart, N.; Giuliani, J. L.; Velikovich, A.; Whitney, K. G.; Krushelnik, K.; Thomas, A. G. R.; Maksimchuk, A.;
By: Petrova, Tz. B.; Davis, J.; Petrov, G. M.; Ouart, N.; Giuliani, J. L.; Velikovich, A.; Whitney, K. G.; Krushelnik, K.; Thomas, A. G. R.; Maksimchuk, A.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Peter, W.; Maron, Y.; Ralchenko, Yu.; Fisher, V.; Velikovich, A.; Gregorian, L.; Davara, G.;
By: Peter, W.; Maron, Y.; Ralchenko, Yu.; Fisher, V.; Velikovich, A.; Gregorian, L.; Davara, G.;
2003 / IEEE / 0-7803-7915-2
By: Sze, H.; Coleman, P.; Krishnan, M.; Velikovich, A.; Thornhill, J.W.; Levine, J.; Weber, B.V.; Davis, R.; Vitkovitsky, I.; Apruzese, J.P.; Maron, Y.;
By: Sze, H.; Coleman, P.; Krishnan, M.; Velikovich, A.; Thornhill, J.W.; Levine, J.; Weber, B.V.; Davis, R.; Vitkovitsky, I.; Apruzese, J.P.; Maron, Y.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Ouart, N.; Osborne, G.; Safronova, A.; Chuvatin, A.; Rudakov, L.; LePell, P.D.; Deeney, C.; Coverdale, C.; Velikovich, A.; Kantsyrev, V.; Apruzese, J.; Cowan, T.; Fedin, D.; Esaulov, A.; Yilmaz, F.; Shrestha, I.; Williamson, K.;
By: Ouart, N.; Osborne, G.; Safronova, A.; Chuvatin, A.; Rudakov, L.; LePell, P.D.; Deeney, C.; Coverdale, C.; Velikovich, A.; Kantsyrev, V.; Apruzese, J.; Cowan, T.; Fedin, D.; Esaulov, A.; Yilmaz, F.; Shrestha, I.; Williamson, K.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Cowan, T.; Rudakov, L.; LeGalloudec, B.; Batie, S.; Astanovitsky, A.; Yilmaz, F.; Gruner, M.; Shrestha, I.; Ouart, N.; Osborne, G.; Williamson, K.; Ivanov, V.; Esaulov, A.; Safronova, A.; Kantsyrev, V.; Chuvatin, A.; Gradel, J.; LePell, P.D.; Deeney, C.; Coverdale, C.; Velikovich, A.;
By: Cowan, T.; Rudakov, L.; LeGalloudec, B.; Batie, S.; Astanovitsky, A.; Yilmaz, F.; Gruner, M.; Shrestha, I.; Ouart, N.; Osborne, G.; Williamson, K.; Ivanov, V.; Esaulov, A.; Safronova, A.; Kantsyrev, V.; Chuvatin, A.; Gradel, J.; LePell, P.D.; Deeney, C.; Coverdale, C.; Velikovich, A.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Velikovich, A.; Davis, J.; Bailey, J.E.; Ruiz, C.; Deeney, C.; Coverdale, C.A.; Banister, J.; Levine, J.; Nelson, A.; Cooper, G.; Casey, D.; Dunham, G.; Franklin, J.; Clark, R.W.;
By: Velikovich, A.; Davis, J.; Bailey, J.E.; Ruiz, C.; Deeney, C.; Coverdale, C.A.; Banister, J.; Levine, J.; Nelson, A.; Cooper, G.; Casey, D.; Dunham, G.; Franklin, J.; Clark, R.W.;
2005 / IEEE / 0-7803-9300-7
By: Velikovich, A.; Apruzese, J.P.; Coleman, P.L.; Murphy, D.P.; Commisso, R.J.; Young, F.C.;
By: Velikovich, A.; Apruzese, J.P.; Coleman, P.L.; Murphy, D.P.; Commisso, R.J.; Young, F.C.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Velikovich, A.; Safronova, A.; Kantsyrev, V.; Esaulov, A.; Struve, K.; Mehlhorn, T.; Cuneo, M.;
By: Velikovich, A.; Safronova, A.; Kantsyrev, V.; Esaulov, A.; Struve, K.; Mehlhorn, T.; Cuneo, M.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Le Galloudec, B.; Nalajala, V.; Batie, S.; Osborne, G.; Quart, N.; Yilmaz, F.; Shrestha, I.; Williamson, K.; Esaulov, A.; Safronova, A.; Rudakov, L.; Kantsyrev, V.; Astanovitsky, A.; Velikovich, A.; Chuvatin, A.; Coverdale, C.; Jones, B.; Cuneo, M.;
By: Le Galloudec, B.; Nalajala, V.; Batie, S.; Osborne, G.; Quart, N.; Yilmaz, F.; Shrestha, I.; Williamson, K.; Esaulov, A.; Safronova, A.; Rudakov, L.; Kantsyrev, V.; Astanovitsky, A.; Velikovich, A.; Chuvatin, A.; Coverdale, C.; Jones, B.; Cuneo, M.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Davis, J.; Zalesak, S.; Apruzese, J.P.; Velikovich, A.; Thornhill, J.W.; Giuliani, J.L.; Deeney, C.; Fisher, A.; Maron, Y.; Fisher, V.; Bernshtam, V.; Dasgupta, A.; Stambulchik, E.; Starobinets, A.; Osin, D.; Kroupp, E.; Clark, R.;
By: Davis, J.; Zalesak, S.; Apruzese, J.P.; Velikovich, A.; Thornhill, J.W.; Giuliani, J.L.; Deeney, C.; Fisher, A.; Maron, Y.; Fisher, V.; Bernshtam, V.; Dasgupta, A.; Stambulchik, E.; Starobinets, A.; Osin, D.; Kroupp, E.; Clark, R.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Giuliani, J.; Coleman, P.L.; Madden, R.; Elliott, K.W.; Krishnaru, M.; Coverdale, C.; Velikovich, A.; Ampleford, D.; Cuneo, M.; Waisman, E.; Jones, B.; Clark, R.; Thornhill, W.;
By: Giuliani, J.; Coleman, P.L.; Madden, R.; Elliott, K.W.; Krishnaru, M.; Coverdale, C.; Velikovich, A.; Ampleford, D.; Cuneo, M.; Waisman, E.; Jones, B.; Clark, R.; Thornhill, W.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap