Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Uschmann, I.
Results
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Audebert, P.; Geindre, J.-P.; Forster, E.; Uschmann, I.; Antonetti, A.; Gauthier, J.-C.; Rischel, C.; Rousee, A.; Martin, J.-L.; Albouy, P.-A.;
By: Audebert, P.; Geindre, J.-P.; Forster, E.; Uschmann, I.; Antonetti, A.; Gauthier, J.-C.; Rischel, C.; Rousee, A.; Martin, J.-L.; Albouy, P.-A.;
1998 / IEEE / 1-55752-541-2
By: Audebert, P.; Geindre, J.-P.; Forster, E.; Uschmann, I.; Gauthier, J.-C.; Martin, J.-L.; Rischel, C.; Rousse, A.; Antonetti, A.;
By: Audebert, P.; Geindre, J.-P.; Forster, E.; Uschmann, I.; Gauthier, J.-C.; Martin, J.-L.; Rischel, C.; Rousse, A.; Antonetti, A.;
1999 / IEEE / 1-55752-576-X
By: Fourmaux, S.; Rousse, A.; Gauthier, J.-C.; Audebert, P.; Geindre, J.-P.; Forster, E.; Sebban, S.; Uschmann, I.; Rischel, C.; Hulin, D.; Darpentigny, G.; Grillon, G.; Balcou, Ph.;
By: Fourmaux, S.; Rousse, A.; Gauthier, J.-C.; Audebert, P.; Geindre, J.-P.; Forster, E.; Sebban, S.; Uschmann, I.; Rischel, C.; Hulin, D.; Darpentigny, G.; Grillon, G.; Balcou, Ph.;
1999 / IEEE
By: Huang, G.; Tang, H.; Wang, S.; Kato, Y.; Mima, K.; Gu, Y.; Yoon, G.-Y.; Jitsuno, T.; Norimatsu, T.; Sakaya, N.; Daido, H.; Sebban, S.; Koike, F.; Takenaka, H.; Desai, T.; Zhang, G.; Nilsen, J.; Forster, E.; Vollbrecht, M.; Uschmann, I.; Butzbach, R.; Zeitoun, P.; Klisnick, A.; Murai, K.;
By: Huang, G.; Tang, H.; Wang, S.; Kato, Y.; Mima, K.; Gu, Y.; Yoon, G.-Y.; Jitsuno, T.; Norimatsu, T.; Sakaya, N.; Daido, H.; Sebban, S.; Koike, F.; Takenaka, H.; Desai, T.; Zhang, G.; Nilsen, J.; Forster, E.; Vollbrecht, M.; Uschmann, I.; Butzbach, R.; Zeitoun, P.; Klisnick, A.; Murai, K.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Darpentigny, G.; Grillon, G.; Rousse, A.; Balcou, P.; Sebban, S.; Fourmaux, S.; Hulin, D.; Gauthier, J.-C.; Audebert, P.; Geindre, J.-P.; Forster, E.; Uschmann, I.; Rischel, C.;
By: Darpentigny, G.; Grillon, G.; Rousse, A.; Balcou, P.; Sebban, S.; Fourmaux, S.; Hulin, D.; Gauthier, J.-C.; Audebert, P.; Geindre, J.-P.; Forster, E.; Uschmann, I.; Rischel, C.;
2000 / IEEE / 1-55752-608-7
By: Gauthier, J.; Audebert, P.; Geindre, J.; Forster, E.; Uschmann, I.; Rischel, C.; Hulin, D.; Sebban, S.; Fourmaux, S.; Rousse, A.;
By: Gauthier, J.; Audebert, P.; Geindre, J.; Forster, E.; Uschmann, I.; Rischel, C.; Hulin, D.; Sebban, S.; Fourmaux, S.; Rousse, A.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Dusterer, S.; Schwoerer, H.; Behrens, R.; Sauerbrey, R.; Uschmann, I.; Feurer, T.; Ziener, C.;
By: Dusterer, S.; Schwoerer, H.; Behrens, R.; Sauerbrey, R.; Uschmann, I.; Feurer, T.; Ziener, C.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Stobrawa, G.; Ziener, C.; Sauerbrey, R.; Schwoerer, H.; Uschmann, I.;
By: Stobrawa, G.; Ziener, C.; Sauerbrey, R.; Schwoerer, H.; Uschmann, I.;
2001 / IEEE / 1-55752-663-X
By: Grillon, G.; Audebert, P.; Sebban, S.; Rousse, A.; Fourmaux, S.; Gauthier, J.-C.; Balcou, P.; Geindre, J.-P.; Forster, E.; Uschmann, I.; Rischel, C.; Hulin, D.;
By: Grillon, G.; Audebert, P.; Sebban, S.; Rousse, A.; Fourmaux, S.; Gauthier, J.-C.; Balcou, P.; Geindre, J.-P.; Forster, E.; Uschmann, I.; Rischel, C.; Hulin, D.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Forster, E.; Uschmann, I.; Rischel, C.; Balcou, P.; Rousse, A.; Sebban, S.; Fourmaux, S.; Grillon, G.;
By: Forster, E.; Uschmann, I.; Rischel, C.; Balcou, P.; Rousse, A.; Sebban, S.; Fourmaux, S.; Grillon, G.;
2003 / IEEE / 1-55752-749-0
By: Sauerbrey, R.; Forster, E.; Uschmann, I.; Podorov, S.; Nazarkin, A.;
By: Sauerbrey, R.; Forster, E.; Uschmann, I.; Podorov, S.; Nazarkin, A.;
2003 / IEEE / 0-7803-7915-2
By: Ralchenko, Yu.; Fisher, V.; Bernshtam, V.; Starobinets, A.; Osin, D.; Carasso, D.; Zarnitsky, Yu.; Fisher, A.; Forster, E.; Kroupp, E.; Uschmann, I.; Maron, Y.;
By: Ralchenko, Yu.; Fisher, V.; Bernshtam, V.; Starobinets, A.; Osin, D.; Carasso, D.; Zarnitsky, Yu.; Fisher, A.; Forster, E.; Kroupp, E.; Uschmann, I.; Maron, Y.;
2003 / IEEE / 1-55752-748-2
By: Uschmann, I.; Kammler, M.; Cavlleri, A.; von der Linde, D.; Horn-von-Hoegen, M.; Tarasevitch, A.; Dietrich, C.; Blums, J.; Blome, C.; Sokolowski-Tinten, K.; Forster, E.;
By: Uschmann, I.; Kammler, M.; Cavlleri, A.; von der Linde, D.; Horn-von-Hoegen, M.; Tarasevitch, A.; Dietrich, C.; Blums, J.; Blome, C.; Sokolowski-Tinten, K.; Forster, E.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Kroupp, E.; Carasso, D.; Osin, D.; Baruch, G.; Starobinets, A.; Fisher, A.; Bernshtam, V.; Ralchenko, Yu.; Maron, Y.; Uschmann, I.; Forster, E.; Fisher, V.;
By: Kroupp, E.; Carasso, D.; Osin, D.; Baruch, G.; Starobinets, A.; Fisher, A.; Bernshtam, V.; Ralchenko, Yu.; Maron, Y.; Uschmann, I.; Forster, E.; Fisher, V.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Fisher, A.; Foerster, E.; Uschmann, I.; Maron, Y.; Bernshtam, V.; Fisher, V.; Jones, B.; Kroupp, E.; Osin, D.; Deeney, C.; Starobinets, A.; Cuneo, M.E.; LePell, P.D.;
By: Fisher, A.; Foerster, E.; Uschmann, I.; Maron, Y.; Bernshtam, V.; Fisher, V.; Jones, B.; Kroupp, E.; Osin, D.; Deeney, C.; Starobinets, A.; Cuneo, M.E.; LePell, P.D.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2617-1
By: Lee, R.W.; Nagler, B.; Zastrau, U.; Faustlin, R.; Vinko, S.; Whitcher, T.; Sobierajski, R.; Krzywinski, J.; Juha, L.; Nelson, A.; Bajt, S.; Bornath, T.; Burian, T.; Chalupsky, J.; Chapman, H.; Cihelka, J.; Doppner, T.; Dzelzainis, T.; Dusterer, S.; Fajardo, M.; Forster, E.; Fortmann, C.; Glenzer, S.H.; Gode, S.; Gregori, G.; Hajkova, V.; Heimann, P.; Jurek, M.; Khattak, F.; Khorsand, A.R.; Klinger, D.; Kozlova, M.; Laarmann, T.; Lee, H.; Meiwes-Broer, K.; Mercere, P.; Murphy, W.J.; Przystawik, A.; Redmer, R.; Reinholz, H.; Riley, D.; Ropke, G.; Saksl, K.; Thiele, R.; Tiggesbaumker, J.; Toleikis, S.; Tschentscher, T.; Uschmann, I.; Wark, J.S.;
By: Lee, R.W.; Nagler, B.; Zastrau, U.; Faustlin, R.; Vinko, S.; Whitcher, T.; Sobierajski, R.; Krzywinski, J.; Juha, L.; Nelson, A.; Bajt, S.; Bornath, T.; Burian, T.; Chalupsky, J.; Chapman, H.; Cihelka, J.; Doppner, T.; Dzelzainis, T.; Dusterer, S.; Fajardo, M.; Forster, E.; Fortmann, C.; Glenzer, S.H.; Gode, S.; Gregori, G.; Hajkova, V.; Heimann, P.; Jurek, M.; Khattak, F.; Khorsand, A.R.; Klinger, D.; Kozlova, M.; Laarmann, T.; Lee, H.; Meiwes-Broer, K.; Mercere, P.; Murphy, W.J.; Przystawik, A.; Redmer, R.; Reinholz, H.; Riley, D.; Ropke, G.; Saksl, K.; Thiele, R.; Tiggesbaumker, J.; Toleikis, S.; Tschentscher, T.; Uschmann, I.; Wark, J.S.;