Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Uchiyama, H.
Results
2012 / IEEE
By: Watanabe, K.; Ozaki, H.; Fujii, K.; Wakana, H.; Yamazoe, T.; Torii, K.; Kawamura, T.; Uchiyama, H.;
By: Watanabe, K.; Ozaki, H.; Fujii, K.; Wakana, H.; Yamazoe, T.; Torii, K.; Kawamura, T.; Uchiyama, H.;
1997 / IEEE / 0-7803-4100-7
By: Mochizuki, K.; Uchiyama, H.; Ouchi, L.K.; Hirata, K.; Oka, T.; Nakamura, T.;
By: Mochizuki, K.; Uchiyama, H.; Ouchi, L.K.; Hirata, K.; Oka, T.; Nakamura, T.;
1998 / IEEE / 0-7803-4320-4
By: Uchiyama, H.; Nakagawa, Y.; Kanaya, M.; Suzuki, M.; Takahashi, S.; Kokaji, H.;
By: Uchiyama, H.; Nakagawa, Y.; Kanaya, M.; Suzuki, M.; Takahashi, S.; Kokaji, H.;
1998 / IEEE / 0-7803-4774-9
By: Ouchi, K.; Hirata, K.; Oka, T.; Nakamura, T.; Mochizuki, K.; Taniguchi, T.; Uchiyama, H.;
By: Ouchi, K.; Hirata, K.; Oka, T.; Nakamura, T.; Mochizuki, K.; Taniguchi, T.; Uchiyama, H.;
1999 / IEEE / 0-7803-5403-6
By: Furukawa, R.; Ohji, Y.; Uchiyama, H.; Takahashi, M.; Kunitomo, M.; Kanai, M.; Honma, T.; Uemura, T.; Yamagami, N.; Yoshida, T.; Yamamoto, H.; Kanda, N.;
By: Furukawa, R.; Ohji, Y.; Uchiyama, H.; Takahashi, M.; Kunitomo, M.; Kanai, M.; Honma, T.; Uemura, T.; Yamagami, N.; Yoshida, T.; Yamamoto, H.; Kanda, N.;
1999 / IEEE / 0-7803-5403-6
By: Yamamoto, H.; Furukawa, R.; Yamaguchi, K.; Yoshida, T.; Ohji, Y.; Honma, T.; Iijima, S.; Uchiyama, H.; Uchino, T.; Ishizaka, M.;
By: Yamamoto, H.; Furukawa, R.; Yamaguchi, K.; Yoshida, T.; Ohji, Y.; Honma, T.; Iijima, S.; Uchiyama, H.; Uchino, T.; Ishizaka, M.;
2001 / IEEE
By: Ouchi, K.; Suzuki, H.; Hirata, K.; Oka, T.; Uchiyama, H.; Nakamura, T.; Mochizuki, K.; Taniguchi, T.;
By: Ouchi, K.; Suzuki, H.; Hirata, K.; Oka, T.; Uchiyama, H.; Nakamura, T.; Mochizuki, K.; Taniguchi, T.;
2003 / IEEE / 0-7803-7704-4
By: Uchiyama, H.; Kudo, H.; Hashimoto, M.; Watanabe, K.; Takeyari, R.; Ouchi, K.; Ohta, H.;
By: Uchiyama, H.; Kudo, H.; Hashimoto, M.; Watanabe, K.; Takeyari, R.; Ouchi, K.; Ohta, H.;
2003 / IEEE / 0-7803-7704-4
By: Sato, H.; Shinoda, K.; Uchiyama, H.; Tsuji, S.; Taniguchi, T.; Taike, A.;
By: Sato, H.; Shinoda, K.; Uchiyama, H.; Tsuji, S.; Taniguchi, T.; Taike, A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8315-X
By: Uchiyama, H.; Ohyu, K.; Kimura, S.; Takeda, Y.; Mori, Y.; Yamada, R.;
By: Uchiyama, H.; Ohyu, K.; Kimura, S.; Takeda, Y.; Mori, Y.; Yamada, R.;
2004 / IEEE / 1-55752-772-5
By: Aoki, M.; Nakahara, K.; Takahashi, N.; Shinoda, K.; Sato, H.; Taike, A.; Kitatani, T.; Tsuchiya, T.; Uchiyama, H.;
By: Aoki, M.; Nakahara, K.; Takahashi, N.; Shinoda, K.; Sato, H.; Taike, A.; Kitatani, T.; Tsuchiya, T.; Uchiyama, H.;
2004 / IEEE / 0-7803-8627-2
By: Arimoto, H.; Tsuji, S.; Aoki, M.; Uchiyama, H.; Kitatami, T.; Takei, A.; Shinoda, K.; Tsuchiya, T.; Sato, H.;
By: Arimoto, H.; Tsuji, S.; Aoki, M.; Uchiyama, H.; Kitatami, T.; Takei, A.; Shinoda, K.; Tsuchiya, T.; Sato, H.;
2005 / IEEE
By: Aoki, M.; Tsuji, S.; Uchiyama, H.; Ouchi, K.; Sato, H.; Tsuchiya, T.; Shinoda, K.; Kitatani, T.;
By: Aoki, M.; Tsuji, S.; Uchiyama, H.; Ouchi, K.; Sato, H.; Tsuchiya, T.; Shinoda, K.; Kitatani, T.;
2004 / IEEE / 0-7803-8595-0
By: Ouchi, K.; Shinoda, K.; Sato, H.; Tsuchiya, T.; Uchiyama, H.; Kitatani, T.; Aoki, M.; Tsuji, S.;
By: Ouchi, K.; Shinoda, K.; Sato, H.; Tsuchiya, T.; Uchiyama, H.; Kitatani, T.; Aoki, M.; Tsuji, S.;
2005 / IEEE
By: Taniguchi, T.; Tanaka, K.-I.; Mochizuki, K.; Mita, R.; Uchiyama, H.; Kikawa, T.; Terano, A.; Ohta, H.;
By: Taniguchi, T.; Tanaka, K.-I.; Mochizuki, K.; Mita, R.; Uchiyama, H.; Kikawa, T.; Terano, A.; Ohta, H.;
2005 / IEEE / 0-7695-2419-2
By: Uchiyama, H.; Shibutani, M.; Kitada, S.; Tanji, M.; Wakita, A.; Inakage, M.;
By: Uchiyama, H.; Shibutani, M.; Kitada, S.; Tanji, M.; Wakita, A.; Inakage, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Ninomiya, S.; Hashimoto, Y.; Uchiyama, H.; Shibuya, S.; Syresin, E.; Meshkov, I.; Tann, D.; Noda, K.; Fujisawa, T.; Uesugi, T.;
By: Ninomiya, S.; Hashimoto, Y.; Uchiyama, H.; Shibuya, S.; Syresin, E.; Meshkov, I.; Tann, D.; Noda, K.; Fujisawa, T.; Uesugi, T.;
2002 / IEEE / 87-90974-63-8
By: Sato, H.; Tsuji, S.; Nakahara, K.; Tsuchiya, T.; Shinoda, K.; Uchiyama, H.; Taike, A.;
By: Sato, H.; Tsuji, S.; Nakahara, K.; Tsuchiya, T.; Shinoda, K.; Uchiyama, H.; Taike, A.;
2006 / IEEE
By: Kitatani, T.; Arimoto, H.; Tsuji, S.; Aoki, M.; Uchiyama, H.; Takei, A.; Shinoda, K.; Tsuchiya, T.;
By: Kitatani, T.; Arimoto, H.; Tsuji, S.; Aoki, M.; Uchiyama, H.; Takei, A.; Shinoda, K.; Tsuchiya, T.;
2006 / IEEE / 1-4244-0810-5
By: Komine, T.; Wada, K.; Kurokouchi, A.; Morita, H.; Hasegawa, Y.; Uchiyama, H.;
By: Komine, T.; Wada, K.; Kurokouchi, A.; Morita, H.; Hasegawa, Y.; Uchiyama, H.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1143-6
By: Kamiya, Y.; Umebayashi, K.; Uchiyama, H.; Sakaguchi, K.; Ono, F.; Fujii, T.; Suzuki, Y.;
By: Kamiya, Y.; Umebayashi, K.; Uchiyama, H.; Sakaguchi, K.; Ono, F.; Fujii, T.; Suzuki, Y.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1767-4
By: Kakehashi, T.; Haruyama, S.; Nakagawa, M.; Saito, H.; Yoshino, M.; Uchiyama, H.; Nagamoto, N.;
By: Kakehashi, T.; Haruyama, S.; Nakagawa, M.; Saito, H.; Yoshino, M.; Uchiyama, H.; Nagamoto, N.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2377-4
By: Wakana, H.; Kawamura, T.; Saito, S.; Uchiyama, H.; Mine, T.; Onai, T.; Torii, K.; Hatano, M.;
By: Wakana, H.; Kawamura, T.; Saito, S.; Uchiyama, H.; Mine, T.; Onai, T.; Torii, K.; Hatano, M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2377-4
By: Hisamoto, D.; Arimoto, H.; Suwa, Y.; Sakuma, N.; Saito, S.; Onai, T.; Uchiyama, H.; Sugawara, T.; Aoki, M.; Kimura, S.; Mine, T.; Sakamizu, T.; Yamamoto, J.;
By: Hisamoto, D.; Arimoto, H.; Suwa, Y.; Sakuma, N.; Saito, S.; Onai, T.; Uchiyama, H.; Sugawara, T.; Aoki, M.; Kimura, S.; Mine, T.; Sakamizu, T.; Yamamoto, J.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9346-3
By: Hara, T.; Miyashita, T.; Saito, H.; Enriquez, G.; Uchiyama, H.; Martedi, S.;
By: Hara, T.; Miyashita, T.; Saito, H.; Enriquez, G.; Uchiyama, H.; Martedi, S.;