Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Turner, G.W.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Redmond, S.M.; Connors, M.K.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Mathewson, D.C.; Smith, G.M.; Turner, G.W.; Sanchez-Rubio, A.; Swint, R.B.;
By: Redmond, S.M.; Connors, M.K.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Mathewson, D.C.; Smith, G.M.; Turner, G.W.; Sanchez-Rubio, A.; Swint, R.B.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Smith, G.M.; Juodawlkis, P.W.; Turner, G.W.; Mathewson, D.C.; Connors, M.K.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Siegel, A.M.; Duerr, E.K.;
By: Smith, G.M.; Juodawlkis, P.W.; Turner, G.W.; Mathewson, D.C.; Connors, M.K.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Siegel, A.M.; Duerr, E.K.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-1527-3
By: Smith, G.M.; Redmond, S.M.; Turner, G.W.; Sanchez-Rubio, A.; Swint, R.B.; Mathewson, D.C.; Creedon, K.J.; Connors, M.K.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.;
By: Smith, G.M.; Redmond, S.M.; Turner, G.W.; Sanchez-Rubio, A.; Swint, R.B.; Mathewson, D.C.; Creedon, K.J.; Connors, M.K.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.;
1988 / IEEE
By: Finn, M.C.; Turner, G.W.; Chen, C.L.; Smith, F.W.; Calawa, A.R.; Manfra, M.J.; Mahoney, L.J.;
By: Finn, M.C.; Turner, G.W.; Chen, C.L.; Smith, F.W.; Calawa, A.R.; Manfra, M.J.; Mahoney, L.J.;
1993 / IEEE
By: Turner, G.W.; Walpole, J.N.; Choi, H.K.; Conners, M.K.; Missaggia, L.J.; Eglash, S.J.;
By: Turner, G.W.; Walpole, J.N.; Choi, H.K.; Conners, M.K.; Missaggia, L.J.; Eglash, S.J.;
1994 / IEEE
By: Hoffheins, B.S.; McMillan, D.E.; Turner, G.W.; Ericson, M.N.; Hiller, J.M.; Todd, R.A.;
By: Hoffheins, B.S.; McMillan, D.E.; Turner, G.W.; Ericson, M.N.; Hiller, J.M.; Todd, R.A.;
1998 / IEEE
By: Conners, M.K.; Turner, G.W.; Walpole, J.N.; Choi, H.K.; Manfra, M.J.; Missaggia, L.J.;
By: Conners, M.K.; Turner, G.W.; Walpole, J.N.; Choi, H.K.; Manfra, M.J.; Missaggia, L.J.;
1999 / IEEE / 0-7695-0056-0
By: Clonts, L.G.; Rochelle, J.M.; Threatt, T.D.; Wintenberg, A.L.; Turner, G.W.; Moore, M.R.; Emery, M.S.; Ericson, M.N.; Hu, Z.; Depriest, J.C.; Bryan, W.L.; Brown, G.M.; Thundat, T.; Jones, R.L.; Oden, P.I.; Smith, S.F.; Warmack, R.J.; Britton, C.L., Jr.;
By: Clonts, L.G.; Rochelle, J.M.; Threatt, T.D.; Wintenberg, A.L.; Turner, G.W.; Moore, M.R.; Emery, M.S.; Ericson, M.N.; Hu, Z.; Depriest, J.C.; Bryan, W.L.; Brown, G.M.; Thundat, T.; Jones, R.L.; Oden, P.I.; Smith, S.F.; Warmack, R.J.; Britton, C.L., Jr.;
1999 / IEEE
By: Connors, M.K.; Liau, Z.L.; Missaggia, L.G.; Choi, H.K.; Turner, G.W.; Walpole, J.N.; Cook, C.C.; Manfra, M.J.;
By: Connors, M.K.; Liau, Z.L.; Missaggia, L.G.; Choi, H.K.; Turner, G.W.; Walpole, J.N.; Cook, C.C.; Manfra, M.J.;
2000 / IEEE / 0-7803-5947-X
By: Bewley, W.W.; Bartolo, R.E.; Turner, G.W.; Manfra, M.J.; Martinelli, R.U.; Vurgaftman, I.; Lee, H.; Yang, M.-J.; Meyer, J.R.; Jurkovic, M.J.; Felix, C.L.;
By: Bewley, W.W.; Bartolo, R.E.; Turner, G.W.; Manfra, M.J.; Martinelli, R.U.; Vurgaftman, I.; Lee, H.; Yang, M.-J.; Meyer, J.R.; Jurkovic, M.J.; Felix, C.L.;
2000 / IEEE / 0-7803-5947-X
By: Choi, H.K.; Turner, G.W.; Goyal, A.K.; Sanchez, A.; Fan, T.Y.; Manfra, M.J.; Foti, P.J.;
By: Choi, H.K.; Turner, G.W.; Goyal, A.K.; Sanchez, A.; Fan, T.Y.; Manfra, M.J.; Foti, P.J.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Turner, G.W.; Buchter, S.C.; Goyal, A.K.; Choi, H.K.; Calawa, S.D.; Manfra, M.J.;
By: Turner, G.W.; Buchter, S.C.; Goyal, A.K.; Choi, H.K.; Calawa, S.D.; Manfra, M.J.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Choi, H.K.; Fan, T.Y.; Sanchez, A.; Daneu, V.; Cook, C.C.; Turner, G.W.;
By: Choi, H.K.; Fan, T.Y.; Sanchez, A.; Daneu, V.; Cook, C.C.; Turner, G.W.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.;
By: Felix, C.L.; Bewley, W.W.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.;
2001 / IEEE
By: Bewley, W.W.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.;
By: Bewley, W.W.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Martinelli, R.U.; Lee, H.; Vurgaftman, I.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Jurkovic, M.J.; Bartolo, R.E.;
2001 / IEEE / 0-7803-7105-4
By: Foti, P.J.; Manfra, M.J.; Liau, Z.L.; Fan, T.Y.; Turner, G.W.; Missaggia, L.; Goyal, A.K.; Sanchez, A.; Daneu, J.L.; O'Brien, P.;
By: Foti, P.J.; Manfra, M.J.; Liau, Z.L.; Fan, T.Y.; Turner, G.W.; Missaggia, L.; Goyal, A.K.; Sanchez, A.; Daneu, J.L.; O'Brien, P.;
2001 / IEEE / 0-7803-7105-4
By: Turner, G.W.; Goyal, A.K.; Sanchez, A.; O'Brien, P.; Foti, P.J.; Manfra, M.J.;
By: Turner, G.W.; Goyal, A.K.; Sanchez, A.; O'Brien, P.; Foti, P.J.; Manfra, M.J.;
2001 / IEEE / 0-7803-7432-0
By: Martinelli, R.U.; Leet, H.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.;
By: Martinelli, R.U.; Leet, H.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Meyer, J.R.; Felix, C.L.; Canedy, C.L.; Lindle, J.R.; Bartolo, R.E.; Vurgaftman, I.; Bewley, W.W.;
2002 / IEEE / 0-7803-7500-9
By: Huang, R.K.; Turner, G.W.; Goodhue, W.T.; Mull, D.E.; Plant, J.; Bailey, R.J.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Walpole, J.N.; Donnelly, J.P.;
By: Huang, R.K.; Turner, G.W.; Goodhue, W.T.; Mull, D.E.; Plant, J.; Bailey, R.J.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Walpole, J.N.; Donnelly, J.P.;
2003 / IEEE
By: Huang, R.K.; Donnelly, J.P.; Turner, G.W.; Goodhue, W.D.; Mull, D.E.; Bailey, R.J.; Plant, J.J.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Walpole, J.N.;
By: Huang, R.K.; Donnelly, J.P.; Turner, G.W.; Goodhue, W.D.; Mull, D.E.; Bailey, R.J.; Plant, J.J.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Walpole, J.N.;
2003 / IEEE / 0-7803-7888-1
By: Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Goodhue, W.T.; Mull, D.E.; Plant, J.; Harris, C.T.; Donnelly, J.P.;
By: Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Goodhue, W.T.; Mull, D.E.; Plant, J.; Harris, C.T.; Donnelly, J.P.;
2003 / IEEE / 0-7803-7888-1
By: Mahoney, L.J.; Calawa, S.D.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.; Donnelly, J.P.; Mclntosh, K.A.; Molvar, K.M.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Aull, B.F.; Duerr, E.K.; Molnar, R.J.; Mahan, J.;
By: Mahoney, L.J.; Calawa, S.D.; Napoleone, A.; Oakley, D.C.; Donnelly, J.P.; Mclntosh, K.A.; Molvar, K.M.; Manfra, M.J.; Turner, G.W.; Aull, B.F.; Duerr, E.K.; Molnar, R.J.; Mahan, J.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Bailey, R.J.; Manfra, M.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Plant, J.J.; Bailey, L.J.;
By: Bailey, R.J.; Manfra, M.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Plant, J.J.; Bailey, L.J.;
2004 / IEEE / 0-7803-8557-8
By: Sanchez-Rubio, A.; Fan, T.Y.; Donnelly, J.P.; Goyal, A.K.; Liau, Z.L.; Turner, G.W.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Chann, B.;
By: Sanchez-Rubio, A.; Fan, T.Y.; Donnelly, J.P.; Goyal, A.K.; Liau, Z.L.; Turner, G.W.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Chann, B.;
1980 / IEEE
By: Bozler, C.O.; Fan, J.C.C.; Zeiger, H.J.; Turner, G.W.; Chapman, R.L.; McClelland, R.W.; Gale, R.P.;
By: Bozler, C.O.; Fan, J.C.C.; Zeiger, H.J.; Turner, G.W.; Chapman, R.L.; McClelland, R.W.; Gale, R.P.;
2005 / IEEE / 0-7803-9217-5
By: Juodawlkis, P.W.; Oakley, D.C.; Rothschild, M.; Marchant, M.F.; Hardy, D.E.; Efremow, N.N.; Cann, S.G.; Swint, R.B.; Bloomstein, T.M.; Twichell, J.C.; Turner, G.W.; Chludzinski, J.W.; Vineis, C.J.; Napoleone, A.;
By: Juodawlkis, P.W.; Oakley, D.C.; Rothschild, M.; Marchant, M.F.; Hardy, D.E.; Efremow, N.N.; Cann, S.G.; Swint, R.B.; Bloomstein, T.M.; Twichell, J.C.; Turner, G.W.; Chludzinski, J.W.; Vineis, C.J.; Napoleone, A.;
2005 / IEEE / 1-55752-796-2
By: Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Harris, C.T.;
By: Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Harris, C.T.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Sanchez-Rubio, A.; Fan, T.Y.; Donnelly, J.P.; Goyal, A.K.; Liau, Z.L.; Turner, G.W.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Chann, B.;
By: Sanchez-Rubio, A.; Fan, T.Y.; Donnelly, J.P.; Goyal, A.K.; Liau, Z.L.; Turner, G.W.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Chann, B.;
2006 / IEEE
By: Talamo, P.; Rahner, K.D.; Depoy, D.M.; Danielson, L.R.; Nichols, G.J.; Ehsani, H.; Beausang, J.F.; Dashiell, M.W.; Luryi, S.; Belenky, G.L.; Anikeev, S.; Donetski, D.; Martinelli, R.; Jizhong Li; Taylor, G.; Shellenbarger, Z.A.; Turner, G.W.; Connors, M.K.; Huang, R.K.; Wang, C.A.; Baldasaro, P.F.; Topper, W.F.; Fourspring, P.M.; Burger, S.R.; Brown, E.J.;
By: Talamo, P.; Rahner, K.D.; Depoy, D.M.; Danielson, L.R.; Nichols, G.J.; Ehsani, H.; Beausang, J.F.; Dashiell, M.W.; Luryi, S.; Belenky, G.L.; Anikeev, S.; Donetski, D.; Martinelli, R.; Jizhong Li; Taylor, G.; Shellenbarger, Z.A.; Turner, G.W.; Connors, M.K.; Huang, R.K.; Wang, C.A.; Baldasaro, P.F.; Topper, W.F.; Fourspring, P.M.; Burger, S.R.; Brown, E.J.;
2007 / IEEE
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Sanchez-Rubio, A.; Fan, T.Y.; Goyal, A.K.; Turner, G.W.; Harris, C.T.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.;
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Sanchez-Rubio, A.; Fan, T.Y.; Goyal, A.K.; Turner, G.W.; Harris, C.T.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0924-2
By: Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Swint, R.; Donnelly, J.P.; Bien Chann;
By: Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Swint, R.; Donnelly, J.P.; Bien Chann;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Sanchez-Rubio, A.; Donnelly, J.P.; Swint, R.B.; Augst, S.J.; Missaggia, L.J.;
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Sanchez-Rubio, A.; Donnelly, J.P.; Swint, R.B.; Augst, S.J.; Missaggia, L.J.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Liau, Z.L.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Chann, B.; Huang, R.K.; Goyal, A.K.; Sanchez-Rubio, A.; Turner, G.W.; Fan, T.Y.; Donnelly, J.P.;
By: Liau, Z.L.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Chann, B.; Huang, R.K.; Goyal, A.K.; Sanchez-Rubio, A.; Turner, G.W.; Fan, T.Y.; Donnelly, J.P.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Ram, R.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Missaggia, L.J.; Connors, M.K.; Manfra, M.J.;
By: Ram, R.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Missaggia, L.J.; Connors, M.K.; Manfra, M.J.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1931-9
By: Bailey, R.J.; Manfra, M.J.; Duerr, E.K.; Turner, G.W.; Donnelly, J.P.; Diagne, M.A.;
By: Bailey, R.J.; Manfra, M.J.; Duerr, E.K.; Turner, G.W.; Donnelly, J.P.; Diagne, M.A.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Dorsch, F.; Miester, C.; Hostetler, J.L.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Sanchez-Rubio, A.; Turner, G.W.; Connors, M.K.; Augst, S.J.;
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Dorsch, F.; Miester, C.; Hostetler, J.L.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Sanchez-Rubio, A.; Turner, G.W.; Connors, M.K.; Augst, S.J.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Missaggia, L.J.; Turner, G.W.; Brattain, M.A.; Sanchez-Rubio, A.; Caissie, J.M.; Creedon, K.J.; Connors, M.K.;
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Missaggia, L.J.; Turner, G.W.; Brattain, M.A.; Sanchez-Rubio, A.; Caissie, J.M.; Creedon, K.J.; Connors, M.K.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-911-4
By: Creedon, K.J.; Kansky, J.E.; Redmond, S.M.; Sanchez-Rubio, A.; Missaggia, L.J.; Fan, T.Y.; Turner, G.W.; Connors, M.K.;
By: Creedon, K.J.; Kansky, J.E.; Redmond, S.M.; Sanchez-Rubio, A.; Missaggia, L.J.; Fan, T.Y.; Turner, G.W.; Connors, M.K.;