Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Tsang, C.K.
Results
2012 / IEEE
By: Dickson, T.O.; Yong Liu; Rylov, S.V.; Bing Dang; Tsang, C.K.; Andry, P.S.; Friedman, D.J.; Ainspan, H.A.; Xiaoxiong Gu; Turlapati, L.; Beakes, M.P.; Parker, B.D.; Knickerbocker, J.U.; Bulzacchelli, J.F.;
By: Dickson, T.O.; Yong Liu; Rylov, S.V.; Bing Dang; Tsang, C.K.; Andry, P.S.; Friedman, D.J.; Ainspan, H.A.; Xiaoxiong Gu; Turlapati, L.; Beakes, M.P.; Parker, B.D.; Knickerbocker, J.U.; Bulzacchelli, J.F.;
2012 / IEEE
By: Doany, F.E.; Kash, J.A.; Lee, B.G.; Budd, R.A.; Baks, C.W.; Tsang, C.K.; Knickerbocker, J.U.; Dangel, R.; Chan, B.; How Lin; Carver, C.; Jianzhuang Huang; Berry, J.; Bajkowski, D.; Libsch, F.; Schow, C.L.;
By: Doany, F.E.; Kash, J.A.; Lee, B.G.; Budd, R.A.; Baks, C.W.; Tsang, C.K.; Knickerbocker, J.U.; Dangel, R.; Chan, B.; How Lin; Carver, C.; Jianzhuang Huang; Berry, J.; Bajkowski, D.; Libsch, F.; Schow, C.L.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-175-5
By: Turlapati, L.; Beakes, M.P.; Ainspan, H.A.; Bulzacchelli, J.F.; Xiaoxiong Gu; Andry, P.S.; Tsang, C.K.; Bing Dang; Rylov, S.V.; Yong Liu; Dickson, T.O.; Friedman, D.J.; Knickerbocker, J.U.; Parker, B.D.;
By: Turlapati, L.; Beakes, M.P.; Ainspan, H.A.; Bulzacchelli, J.F.; Xiaoxiong Gu; Andry, P.S.; Tsang, C.K.; Bing Dang; Rylov, S.V.; Yong Liu; Dickson, T.O.; Friedman, D.J.; Knickerbocker, J.U.; Parker, B.D.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9401-9
By: Beakes, M.P.; Dickson, T.O.; Andry, P.S.; Tsang, C.K.; Knickerbocker, J.U.; Bing Dang; Turlapati, L.; Xiaoxiong Gu; Friedman, D.J.;
By: Beakes, M.P.; Dickson, T.O.; Andry, P.S.; Tsang, C.K.; Knickerbocker, J.U.; Bing Dang; Turlapati, L.; Xiaoxiong Gu; Friedman, D.J.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1965-2
By: Andry, P.; Polastre, R.; Dang, B.; Maria, J.; Tsang, C.K.; Wright, S.L.; Knickerbocker, J.;
By: Andry, P.; Polastre, R.; Dang, B.; Maria, J.; Tsang, C.K.; Wright, S.L.; Knickerbocker, J.;
2005 / IEEE / 0-7803-8907-7
By: Tsang, C.K.; Schuster, C.; Sprogis, E.; Rosner, J.; Magerlein, J.H.; Kwietniak, K.T.; Kwark, Y.H.; Krywanczyk, T.; Knickerbocker, J.U.; Horton, R.; Patel, C.S.; Edelstein, D.C.; Canaperi, D.F.; Andry, P.S.; Buchwalter, L.P.; Budd, R.; Baks, C.W.; Nyikal, H.; Doany, F.E.;
By: Tsang, C.K.; Schuster, C.; Sprogis, E.; Rosner, J.; Magerlein, J.H.; Kwietniak, K.T.; Kwark, Y.H.; Krywanczyk, T.; Knickerbocker, J.U.; Horton, R.; Patel, C.S.; Edelstein, D.C.; Canaperi, D.F.; Andry, P.S.; Buchwalter, L.P.; Budd, R.; Baks, C.W.; Nyikal, H.; Doany, F.E.;
2005 / IEEE / 0-7803-8752-X
By: Andry, P.S.; Patel, C.S.; Tsang, C.K.; Polastre, R.J.; Horton, R.; Bing Dang; Jenkins, K.A.;
By: Andry, P.S.; Patel, C.S.; Tsang, C.K.; Polastre, R.J.; Horton, R.; Bing Dang; Jenkins, K.A.;
2005 / IEEE / 0-7803-9023-7
By: Hua Gan; Horton, R.R.; Paivikki Buchwalter, L.; Tsang, C.K.; Andry, P.S.; Patel, C.S.; Knickerbocker, J.U.; Cordes, S.; Rosner, J.; Doany, F.; Sprogis, E.; Baks, C.; Schuster, C.; Wright, S.L.; Polastre, R.;
By: Hua Gan; Horton, R.R.; Paivikki Buchwalter, L.; Tsang, C.K.; Andry, P.S.; Patel, C.S.; Knickerbocker, J.U.; Cordes, S.; Rosner, J.; Doany, F.; Sprogis, E.; Baks, C.; Schuster, C.; Wright, S.L.; Polastre, R.;
2006 / IEEE / 1-55752-803-9
By: Kash, J.A.; Dolfi, D.W.; Schares, L.; Schow, C.L.; Schuster, C.; Kuchta, D.M.; Pepeljugoski, P.K.; Trewhella, J.M.; Baks, C.W.; John, R.A.; Shan, J.L.; Kwark, Y.H.; Budd, R.A.; Chiniwalla, P.; Libsch, F.R.; Rosner, J.; Tsang, C.K.; Patel, C.S.; Schaub, J.D.; Kucharski, D.; Guckenberger, D.; Hedge, S.; Nyikal, H.; Dangel, R.; Horst, F.; Offrein, B.J.; Lin, C.K.; Tandon, A.; Trott, G.R.; Nystrom, M.; Bour, D.; Tan, M.R.T.; Doany, F.E.;
By: Kash, J.A.; Dolfi, D.W.; Schares, L.; Schow, C.L.; Schuster, C.; Kuchta, D.M.; Pepeljugoski, P.K.; Trewhella, J.M.; Baks, C.W.; John, R.A.; Shan, J.L.; Kwark, Y.H.; Budd, R.A.; Chiniwalla, P.; Libsch, F.R.; Rosner, J.; Tsang, C.K.; Patel, C.S.; Schaub, J.D.; Kucharski, D.; Guckenberger, D.; Hedge, S.; Nyikal, H.; Dangel, R.; Horst, F.; Offrein, B.J.; Lin, C.K.; Tandon, A.; Trott, G.R.; Nystrom, M.; Bour, D.; Tan, M.R.T.; Doany, F.E.;
2006 / IEEE
By: Schares, L.; Dolfi, D.W.; Doany, F.E.; Schow, C.L.; Schuster, C.; Kuchta, D.M.; Pepeljugoski, P.K.; Trewhella, J.M.; Baks, C.W.; John, R.A.; Shan, L.; Kwark, Y.H.; Budd, R.A.; Chiniwalla, P.; Libsch, F.R.; Rosner, J.; Tsang, C.K.; Patel, C.S.; Schaub, J.D.; Dangel, R.; Horst, F.; Offrein, B.J.; Kucharski, D.; Guckenberger, D.; Hegde, S.; Nyikal, H.; Chao-Kun Lin; Tandon, A.; Trott, G.R.; Nystrom, M.; Bour, D.P.; Tan, M.R.T.; Kash, J.A.;
By: Schares, L.; Dolfi, D.W.; Doany, F.E.; Schow, C.L.; Schuster, C.; Kuchta, D.M.; Pepeljugoski, P.K.; Trewhella, J.M.; Baks, C.W.; John, R.A.; Shan, L.; Kwark, Y.H.; Budd, R.A.; Chiniwalla, P.; Libsch, F.R.; Rosner, J.; Tsang, C.K.; Patel, C.S.; Schaub, J.D.; Dangel, R.; Horst, F.; Offrein, B.J.; Kucharski, D.; Guckenberger, D.; Hegde, S.; Nyikal, H.; Chao-Kun Lin; Tandon, A.; Trott, G.R.; Nystrom, M.; Bour, D.P.; Tan, M.R.T.; Kash, J.A.;
2006 / IEEE / 1-4244-0438-X
By: Tsang, C.K.; Andry, P.S.; Sang Hwui Lee; Kuan-Neng Chen; Haensch, W.; Topol, A.W.; Meikei Ieong; Young, A.M.; Jian-Qiang Lu; Yu-Ming Lin;
By: Tsang, C.K.; Andry, P.S.; Sang Hwui Lee; Kuan-Neng Chen; Haensch, W.; Topol, A.W.; Meikei Ieong; Young, A.M.; Jian-Qiang Lu; Yu-Ming Lin;
2007 / IEEE / 1-4244-0984-5
By: Tsang, C.K.; Andry, P.S.; Wright, S.L.; Dang, B.; Knickerbocker, J.U.; Sharma, A.; Patel, C.; Sprogis, E.; Zhang, G.; Webb, B.C.; Sakuma, K.; Horton, R.; Polastre, R.;
By: Tsang, C.K.; Andry, P.S.; Wright, S.L.; Dang, B.; Knickerbocker, J.U.; Sharma, A.; Patel, C.; Sprogis, E.; Zhang, G.; Webb, B.C.; Sakuma, K.; Horton, R.; Polastre, R.;
2007 / IEEE / 1-4244-0984-5
By: Maria, J.; Dang, B.; Andry, P.S.; Sakuma, K.; Knickerbocker, J.U.; Horton, R.; Tsang, C.K.; Kang, S.K.; Polastre, R.; Sprogis, E.; Webb, B.; Wright, S.L.; Patel, C.;
By: Maria, J.; Dang, B.; Andry, P.S.; Sakuma, K.; Knickerbocker, J.U.; Horton, R.; Tsang, C.K.; Kang, S.K.; Polastre, R.; Sprogis, E.; Webb, B.; Wright, S.L.; Patel, C.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2230-2
By: Andry, P.S.; Sakuma, K.; Knickerbocker, J.U.; Horton, R.; Polastre, R.; Sprogis, E.; Tsang, C.K.; Webb, B.C.; Wright, S.L.; Dang, B.; Patel, C.; Oyama, Y.; Sueoka, K.;
By: Andry, P.S.; Sakuma, K.; Knickerbocker, J.U.; Horton, R.; Polastre, R.; Sprogis, E.; Tsang, C.K.; Webb, B.C.; Wright, S.L.; Dang, B.; Patel, C.; Oyama, Y.; Sueoka, K.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2230-2
By: Sprogis, E.S.; Sakuma, K.; Polastre, R.J.; Horton, R.R.; Patel, C.S.; Tsang, C.K.; Dang, B.; Andry, P.S.; Knickerbocker, J.U.; Wright, S.L.; Webb, B.C.;
By: Sprogis, E.S.; Sakuma, K.; Polastre, R.J.; Horton, R.R.; Patel, C.S.; Tsang, C.K.; Dang, B.; Andry, P.S.; Knickerbocker, J.U.; Wright, S.L.; Webb, B.C.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-884-1
By: Doany, F.E.; Knickerbocker, J.U.; Schow, C.L.; Kash, J.A.; Lee, B.G.; Young Kwark; Baks, C.; Tsang, C.K.;
By: Doany, F.E.; Knickerbocker, J.U.; Schow, C.L.; Kash, J.A.; Lee, B.G.; Young Kwark; Baks, C.; Tsang, C.K.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6412-8
By: Oyama, Y.; Aoki, T.; Noma, H.; Matsumoto, K.; Kohara, S.; Sueoka, K.; Nishiwaki, H.; Orii, Y.; Knickerbocker, J.U.; Sakuma, K.; Tsang, C.K.; Andry, P.S.;
By: Oyama, Y.; Aoki, T.; Noma, H.; Matsumoto, K.; Kohara, S.; Sueoka, K.; Nishiwaki, H.; Orii, Y.; Knickerbocker, J.U.; Sakuma, K.; Tsang, C.K.; Andry, P.S.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-498-5
By: Wiggins, L.; Liu, Y.; Polastre, R.; Andry, P.; Knickerbocker, J.U.; Wright, S.L.; Dang, B.; Maria, J.; Tsang, C.K.;
By: Wiggins, L.; Liu, Y.; Polastre, R.; Andry, P.; Knickerbocker, J.U.; Wright, S.L.; Dang, B.; Maria, J.; Tsang, C.K.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap