Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Tsang, C.K.
Results
2012 / IEEE
By: Dickson, T.O.; Yong Liu; Rylov, S.V.; Bing Dang; Tsang, C.K.; Andry, P.S.; Friedman, D.J.; Ainspan, H.A.; Xiaoxiong Gu; Turlapati, L.; Beakes, M.P.; Parker, B.D.; Knickerbocker, J.U.; Bulzacchelli, J.F.;
By: Dickson, T.O.; Yong Liu; Rylov, S.V.; Bing Dang; Tsang, C.K.; Andry, P.S.; Friedman, D.J.; Ainspan, H.A.; Xiaoxiong Gu; Turlapati, L.; Beakes, M.P.; Parker, B.D.; Knickerbocker, J.U.; Bulzacchelli, J.F.;
2012 / IEEE
By: Doany, F.E.; Kash, J.A.; Lee, B.G.; Budd, R.A.; Baks, C.W.; Tsang, C.K.; Knickerbocker, J.U.; Dangel, R.; Chan, B.; How Lin; Carver, C.; Jianzhuang Huang; Berry, J.; Bajkowski, D.; Libsch, F.; Schow, C.L.;
By: Doany, F.E.; Kash, J.A.; Lee, B.G.; Budd, R.A.; Baks, C.W.; Tsang, C.K.; Knickerbocker, J.U.; Dangel, R.; Chan, B.; How Lin; Carver, C.; Jianzhuang Huang; Berry, J.; Bajkowski, D.; Libsch, F.; Schow, C.L.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-175-5
By: Turlapati, L.; Beakes, M.P.; Ainspan, H.A.; Bulzacchelli, J.F.; Xiaoxiong Gu; Andry, P.S.; Tsang, C.K.; Bing Dang; Rylov, S.V.; Yong Liu; Dickson, T.O.; Friedman, D.J.; Knickerbocker, J.U.; Parker, B.D.;
By: Turlapati, L.; Beakes, M.P.; Ainspan, H.A.; Bulzacchelli, J.F.; Xiaoxiong Gu; Andry, P.S.; Tsang, C.K.; Bing Dang; Rylov, S.V.; Yong Liu; Dickson, T.O.; Friedman, D.J.; Knickerbocker, J.U.; Parker, B.D.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9401-9
By: Beakes, M.P.; Dickson, T.O.; Andry, P.S.; Tsang, C.K.; Knickerbocker, J.U.; Bing Dang; Turlapati, L.; Xiaoxiong Gu; Friedman, D.J.;
By: Beakes, M.P.; Dickson, T.O.; Andry, P.S.; Tsang, C.K.; Knickerbocker, J.U.; Bing Dang; Turlapati, L.; Xiaoxiong Gu; Friedman, D.J.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1965-2
By: Andry, P.; Polastre, R.; Dang, B.; Maria, J.; Tsang, C.K.; Wright, S.L.; Knickerbocker, J.;
By: Andry, P.; Polastre, R.; Dang, B.; Maria, J.; Tsang, C.K.; Wright, S.L.; Knickerbocker, J.;
2005 / IEEE / 0-7803-8907-7
By: Tsang, C.K.; Schuster, C.; Sprogis, E.; Rosner, J.; Magerlein, J.H.; Kwietniak, K.T.; Kwark, Y.H.; Krywanczyk, T.; Knickerbocker, J.U.; Horton, R.; Patel, C.S.; Edelstein, D.C.; Canaperi, D.F.; Andry, P.S.; Buchwalter, L.P.; Budd, R.; Baks, C.W.; Nyikal, H.; Doany, F.E.;
By: Tsang, C.K.; Schuster, C.; Sprogis, E.; Rosner, J.; Magerlein, J.H.; Kwietniak, K.T.; Kwark, Y.H.; Krywanczyk, T.; Knickerbocker, J.U.; Horton, R.; Patel, C.S.; Edelstein, D.C.; Canaperi, D.F.; Andry, P.S.; Buchwalter, L.P.; Budd, R.; Baks, C.W.; Nyikal, H.; Doany, F.E.;
2005 / IEEE / 0-7803-8752-X
By: Andry, P.S.; Patel, C.S.; Tsang, C.K.; Polastre, R.J.; Horton, R.; Bing Dang; Jenkins, K.A.;
By: Andry, P.S.; Patel, C.S.; Tsang, C.K.; Polastre, R.J.; Horton, R.; Bing Dang; Jenkins, K.A.;
2005 / IEEE / 0-7803-9023-7
By: Hua Gan; Horton, R.R.; Paivikki Buchwalter, L.; Tsang, C.K.; Andry, P.S.; Patel, C.S.; Knickerbocker, J.U.; Cordes, S.; Rosner, J.; Doany, F.; Sprogis, E.; Baks, C.; Schuster, C.; Wright, S.L.; Polastre, R.;
By: Hua Gan; Horton, R.R.; Paivikki Buchwalter, L.; Tsang, C.K.; Andry, P.S.; Patel, C.S.; Knickerbocker, J.U.; Cordes, S.; Rosner, J.; Doany, F.; Sprogis, E.; Baks, C.; Schuster, C.; Wright, S.L.; Polastre, R.;
2006 / IEEE / 1-55752-803-9
By: Kash, J.A.; Dolfi, D.W.; Schares, L.; Schow, C.L.; Schuster, C.; Kuchta, D.M.; Pepeljugoski, P.K.; Trewhella, J.M.; Baks, C.W.; John, R.A.; Shan, J.L.; Kwark, Y.H.; Budd, R.A.; Chiniwalla, P.; Libsch, F.R.; Rosner, J.; Tsang, C.K.; Patel, C.S.; Schaub, J.D.; Kucharski, D.; Guckenberger, D.; Hedge, S.; Nyikal, H.; Dangel, R.; Horst, F.; Offrein, B.J.; Lin, C.K.; Tandon, A.; Trott, G.R.; Nystrom, M.; Bour, D.; Tan, M.R.T.; Doany, F.E.;
By: Kash, J.A.; Dolfi, D.W.; Schares, L.; Schow, C.L.; Schuster, C.; Kuchta, D.M.; Pepeljugoski, P.K.; Trewhella, J.M.; Baks, C.W.; John, R.A.; Shan, J.L.; Kwark, Y.H.; Budd, R.A.; Chiniwalla, P.; Libsch, F.R.; Rosner, J.; Tsang, C.K.; Patel, C.S.; Schaub, J.D.; Kucharski, D.; Guckenberger, D.; Hedge, S.; Nyikal, H.; Dangel, R.; Horst, F.; Offrein, B.J.; Lin, C.K.; Tandon, A.; Trott, G.R.; Nystrom, M.; Bour, D.; Tan, M.R.T.; Doany, F.E.;
2006 / IEEE
By: Schares, L.; Dolfi, D.W.; Doany, F.E.; Schow, C.L.; Schuster, C.; Kuchta, D.M.; Pepeljugoski, P.K.; Trewhella, J.M.; Baks, C.W.; John, R.A.; Shan, L.; Kwark, Y.H.; Budd, R.A.; Chiniwalla, P.; Libsch, F.R.; Rosner, J.; Tsang, C.K.; Patel, C.S.; Schaub, J.D.; Dangel, R.; Horst, F.; Offrein, B.J.; Kucharski, D.; Guckenberger, D.; Hegde, S.; Nyikal, H.; Chao-Kun Lin; Tandon, A.; Trott, G.R.; Nystrom, M.; Bour, D.P.; Tan, M.R.T.; Kash, J.A.;
By: Schares, L.; Dolfi, D.W.; Doany, F.E.; Schow, C.L.; Schuster, C.; Kuchta, D.M.; Pepeljugoski, P.K.; Trewhella, J.M.; Baks, C.W.; John, R.A.; Shan, L.; Kwark, Y.H.; Budd, R.A.; Chiniwalla, P.; Libsch, F.R.; Rosner, J.; Tsang, C.K.; Patel, C.S.; Schaub, J.D.; Dangel, R.; Horst, F.; Offrein, B.J.; Kucharski, D.; Guckenberger, D.; Hegde, S.; Nyikal, H.; Chao-Kun Lin; Tandon, A.; Trott, G.R.; Nystrom, M.; Bour, D.P.; Tan, M.R.T.; Kash, J.A.;
2006 / IEEE / 1-4244-0438-X
By: Tsang, C.K.; Andry, P.S.; Sang Hwui Lee; Kuan-Neng Chen; Haensch, W.; Topol, A.W.; Meikei Ieong; Young, A.M.; Jian-Qiang Lu; Yu-Ming Lin;
By: Tsang, C.K.; Andry, P.S.; Sang Hwui Lee; Kuan-Neng Chen; Haensch, W.; Topol, A.W.; Meikei Ieong; Young, A.M.; Jian-Qiang Lu; Yu-Ming Lin;
2007 / IEEE / 1-4244-0984-5
By: Tsang, C.K.; Andry, P.S.; Wright, S.L.; Dang, B.; Knickerbocker, J.U.; Sharma, A.; Patel, C.; Sprogis, E.; Zhang, G.; Webb, B.C.; Sakuma, K.; Horton, R.; Polastre, R.;
By: Tsang, C.K.; Andry, P.S.; Wright, S.L.; Dang, B.; Knickerbocker, J.U.; Sharma, A.; Patel, C.; Sprogis, E.; Zhang, G.; Webb, B.C.; Sakuma, K.; Horton, R.; Polastre, R.;
2007 / IEEE / 1-4244-0984-5
By: Maria, J.; Dang, B.; Andry, P.S.; Sakuma, K.; Knickerbocker, J.U.; Horton, R.; Tsang, C.K.; Kang, S.K.; Polastre, R.; Sprogis, E.; Webb, B.; Wright, S.L.; Patel, C.;
By: Maria, J.; Dang, B.; Andry, P.S.; Sakuma, K.; Knickerbocker, J.U.; Horton, R.; Tsang, C.K.; Kang, S.K.; Polastre, R.; Sprogis, E.; Webb, B.; Wright, S.L.; Patel, C.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2230-2
By: Andry, P.S.; Sakuma, K.; Knickerbocker, J.U.; Horton, R.; Polastre, R.; Sprogis, E.; Tsang, C.K.; Webb, B.C.; Wright, S.L.; Dang, B.; Patel, C.; Oyama, Y.; Sueoka, K.;
By: Andry, P.S.; Sakuma, K.; Knickerbocker, J.U.; Horton, R.; Polastre, R.; Sprogis, E.; Tsang, C.K.; Webb, B.C.; Wright, S.L.; Dang, B.; Patel, C.; Oyama, Y.; Sueoka, K.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2230-2
By: Sprogis, E.S.; Sakuma, K.; Polastre, R.J.; Horton, R.R.; Patel, C.S.; Tsang, C.K.; Dang, B.; Andry, P.S.; Knickerbocker, J.U.; Wright, S.L.; Webb, B.C.;
By: Sprogis, E.S.; Sakuma, K.; Polastre, R.J.; Horton, R.R.; Patel, C.S.; Tsang, C.K.; Dang, B.; Andry, P.S.; Knickerbocker, J.U.; Wright, S.L.; Webb, B.C.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-884-1
By: Doany, F.E.; Knickerbocker, J.U.; Schow, C.L.; Kash, J.A.; Lee, B.G.; Young Kwark; Baks, C.; Tsang, C.K.;
By: Doany, F.E.; Knickerbocker, J.U.; Schow, C.L.; Kash, J.A.; Lee, B.G.; Young Kwark; Baks, C.; Tsang, C.K.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6412-8
By: Oyama, Y.; Aoki, T.; Noma, H.; Matsumoto, K.; Kohara, S.; Sueoka, K.; Nishiwaki, H.; Orii, Y.; Knickerbocker, J.U.; Sakuma, K.; Tsang, C.K.; Andry, P.S.;
By: Oyama, Y.; Aoki, T.; Noma, H.; Matsumoto, K.; Kohara, S.; Sueoka, K.; Nishiwaki, H.; Orii, Y.; Knickerbocker, J.U.; Sakuma, K.; Tsang, C.K.; Andry, P.S.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-498-5
By: Wiggins, L.; Liu, Y.; Polastre, R.; Andry, P.; Knickerbocker, J.U.; Wright, S.L.; Dang, B.; Maria, J.; Tsang, C.K.;
By: Wiggins, L.; Liu, Y.; Polastre, R.; Andry, P.; Knickerbocker, J.U.; Wright, S.L.; Dang, B.; Maria, J.; Tsang, C.K.;