Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: True, R.B.
Results
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Scheitrum, G.P.; Good, G.R.; Bemis, T.M.; True, R.B.; Higgins, L.L.;
By: Scheitrum, G.P.; Good, G.R.; Bemis, T.M.; True, R.B.; Higgins, L.L.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: True, R.B.; Higgins, L.L.; Begum, S.R.; Hargreaves, T.A.; Scheitrum, G.P.; Bemis, T.M.;
By: True, R.B.; Higgins, L.L.; Begum, S.R.; Hargreaves, T.A.; Scheitrum, G.P.; Bemis, T.M.;
1996 / IEEE / 0-7803-3322-5
By: Hargreaves, T.A.; Gray, H.F.; Yadon, L.; Vellenga, D.; Temple, D.; Symons, R.S.; True, R.B.; Shaw, J.; Palmer, D.; Mancusi, J.;
By: Hargreaves, T.A.; Gray, H.F.; Yadon, L.; Vellenga, D.; Temple, D.; Symons, R.S.; True, R.B.; Shaw, J.; Palmer, D.; Mancusi, J.;
1996 / IEEE / 0-7803-3322-5
By: Yakovlev, V.P.; Nezhevenko, O.A.; Kinkead, A.K.; Fliflet, A.W.; Hafizi, B.; Gold, S.H.; True, R.B.;
By: Yakovlev, V.P.; Nezhevenko, O.A.; Kinkead, A.K.; Fliflet, A.W.; Hafizi, B.; Gold, S.H.; True, R.B.;
1998 / IEEE / 0-7803-4792-7
By: Jory, H.; Borchard, P.; Felch, K.; Petillo, J.; Pershing, D.; Nguyen, K.; Chu, T.S.; Calame, J.; Blank, M.; Levush, B.; Danly, B.G.; Good, G.R.; Theiss, A.J.; True, R.B.; Hargreaves, T.A.; Antonsen, T.M., Jr.; Lawson, W.; James, B.;
By: Jory, H.; Borchard, P.; Felch, K.; Petillo, J.; Pershing, D.; Nguyen, K.; Chu, T.S.; Calame, J.; Blank, M.; Levush, B.; Danly, B.G.; Good, G.R.; Theiss, A.J.; True, R.B.; Hargreaves, T.A.; Antonsen, T.M., Jr.; Lawson, W.; James, B.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Gold, S.H.; Kozyrev, E.V.; Kinkead, A.K.; True, R.B.; Hansen, R.J.; Fliflet, A.W.; Hirshfield, J.L.; Yakovlev, V.P.; Nezhevenko, O.A.;
By: Gold, S.H.; Kozyrev, E.V.; Kinkead, A.K.; True, R.B.; Hansen, R.J.; Fliflet, A.W.; Hirshfield, J.L.; Yakovlev, V.P.; Nezhevenko, O.A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Lawson, W.; Antonsen, T.M., Jr; Chu, T.S.; Borchard, P.; James, B.; Felch, K.; Good, G.R.; Theiss, A.J.; Jory, H.; True, R.B.; Hargreaves, T.A.; Petillo, J.; Pershing, D.E.; Nguyen, K.T.; Calame, J.P.; Levush, B.; Danly, B.G.; Blank, M.;
By: Lawson, W.; Antonsen, T.M., Jr; Chu, T.S.; Borchard, P.; James, B.; Felch, K.; Good, G.R.; Theiss, A.J.; Jory, H.; True, R.B.; Hargreaves, T.A.; Petillo, J.; Pershing, D.E.; Nguyen, K.T.; Calame, J.P.; Levush, B.; Danly, B.G.; Blank, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5224-6
By: Good, G.R.; True, R.B.; Misaki, Y.; Hansen, R.J.; Tallerico, P.J.; Hargreaves, T.A.; Kirshner, M.F.; Reass, W.A.;
By: Good, G.R.; True, R.B.; Misaki, Y.; Hansen, R.J.; Tallerico, P.J.; Hargreaves, T.A.; Kirshner, M.F.; Reass, W.A.;
2000 / IEEE / 0-7803-5987-9
By: Misaki, Y.; Hansen, R.J.; Kirshner, M.F.; Hargreaves, T.A.; Tallerico, P.J.; True, R.B.;
By: Misaki, Y.; Hansen, R.J.; Kirshner, M.F.; Hargreaves, T.A.; Tallerico, P.J.; True, R.B.;
2000 / IEEE / 0-7803-5987-9
By: Cahalan, P.; Chu, T.S.; Borchard, P.; James, B.G.; Felch, K.; Blank, M.; Antonsen, T.M., Jr.; Lawson, W.G.; Good, G.R.; Theiss, A.J.; True, R.B.; Hargreaves, T.A.; Petillo, J.; Pershing, D.; Nguyen, K.; Levush, B.; Calame, J.P.; Danly, B.G.;
By: Cahalan, P.; Chu, T.S.; Borchard, P.; James, B.G.; Felch, K.; Blank, M.; Antonsen, T.M., Jr.; Lawson, W.G.; Good, G.R.; Theiss, A.J.; True, R.B.; Hargreaves, T.A.; Petillo, J.; Pershing, D.; Nguyen, K.; Levush, B.; Calame, J.P.; Danly, B.G.;
2000 / IEEE
By: Calame, J.P.; Levush, B.; Danly, B.G.; Antonsen, T.M., Jr.; Lawson, W.G.; True, R.B.; Hargreaves, T.A.; Jory, H.R.; Chu, T.S.; Blank, M.; Cahalan, P.; Borchard, P.; James, B.G.; Felch, K.L.; Parker, R.K.; Pershing, D.E.; Nguyen, K.T.;
By: Calame, J.P.; Levush, B.; Danly, B.G.; Antonsen, T.M., Jr.; Lawson, W.G.; True, R.B.; Hargreaves, T.A.; Jory, H.R.; Chu, T.S.; Blank, M.; Cahalan, P.; Borchard, P.; James, B.G.; Felch, K.L.; Parker, R.K.; Pershing, D.E.; Nguyen, K.T.;
2002 / IEEE / 0-7803-7256-5
By: Barsanti, M.L.; Watkins, R.; True, R.B.; Armstrong, C.M.; Hargreaves, T.A.; Schram, A.;
By: Barsanti, M.L.; Watkins, R.; True, R.B.; Armstrong, C.M.; Hargreaves, T.A.; Schram, A.;
2002 / IEEE / 0-7803-7256-5
By: Antonsen, T.M., Jr.; Chernin, D.; Smithe, D.N.; True, R.B.; Theiss, A.J.; Levush, B.; Mckay, J.A.; Hargreaves, T.A.; Barsanti, M.L.; Armstrong, C.M.; Whaley, D.R.;
By: Antonsen, T.M., Jr.; Chernin, D.; Smithe, D.N.; True, R.B.; Theiss, A.J.; Levush, B.; Mckay, J.A.; Hargreaves, T.A.; Barsanti, M.L.; Armstrong, C.M.; Whaley, D.R.;
2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Schram, A.; Barsanti, M.L.; Watkins, R.; True, R.B.; Armstrong, C.M.; Hargreaves, T.A.;
By: Schram, A.; Barsanti, M.L.; Watkins, R.; True, R.B.; Armstrong, C.M.; Hargreaves, T.A.;
2003 / IEEE / 0-7803-7699-4
By: Kowalczyk, R.D.; True, R.B.; Hargreaves, T.A.; Wilsen, C.B.; Kirshner, M.F.; Nguyen, K.T.; Bartkowski, R.J.;
By: Kowalczyk, R.D.; True, R.B.; Hargreaves, T.A.; Wilsen, C.B.; Kirshner, M.F.; Nguyen, K.T.; Bartkowski, R.J.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Watkins, R.; True, R.B.; Hargreaves, T.A.; Barsanti, M.L.; Armstrong, C.M.; Whaley, D.R.;
By: Watkins, R.; True, R.B.; Hargreaves, T.A.; Barsanti, M.L.; Armstrong, C.M.; Whaley, D.R.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Hargreaves, T.A.; Schram, A.; Barsanti, M.L.; Watkins, R.; True, R.B.; Armstrong, C.M.;
By: Hargreaves, T.A.; Schram, A.; Barsanti, M.L.; Watkins, R.; True, R.B.; Armstrong, C.M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Wilsen, C.B.; True, R.B.; Hargreaves, T.A.; Turek, L.; Hansen, R.J.; Bartkowski, R.J.; Kirshner, M.F.;
By: Wilsen, C.B.; True, R.B.; Hargreaves, T.A.; Turek, L.; Hansen, R.J.; Bartkowski, R.J.; Kirshner, M.F.;
2004 / IEEE / 0-7803-8261-7
By: Bartkowski, R.J.; Bemis, T.M.; Hansen, R.J.; Good, G.R.; Turek, L.; Kirshner, M.F.; True, R.B.;
By: Bartkowski, R.J.; Bemis, T.M.; Hansen, R.J.; Good, G.R.; Turek, L.; Kirshner, M.F.; True, R.B.;
2004 / IEEE / 0-7803-8334-6
By: Kirshner, M.F.; Wilsen, C.B.; True, R.B.; Hargreaves, T.A.; Turek, L.; Hansen, R.J.; Bartkowski, R.J.;
By: Kirshner, M.F.; Wilsen, C.B.; True, R.B.; Hargreaves, T.A.; Turek, L.; Hansen, R.J.; Bartkowski, R.J.;
2006 / IEEE / 1-4244-0108-9
By: True, R.B.; Whaley, D.R.; Kowalczyk, R.D.; Kirshner, M.F.; Wilsen, C.B.; Turek, L.; Hansen, R.J.;
By: True, R.B.; Whaley, D.R.; Kowalczyk, R.D.; Kirshner, M.F.; Wilsen, C.B.; Turek, L.; Hansen, R.J.;
2006 / IEEE / 1-4244-0108-9
By: Perle, A.; Duggal, R.; Tucker, G.; Schoemehl, T.; Hargreaves, T.A.; Armstrong, C.M.; Good, G.; True, R.B.;
By: Perle, A.; Duggal, R.; Tucker, G.; Schoemehl, T.; Hargreaves, T.A.; Armstrong, C.M.; Good, G.; True, R.B.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3500-5
By: Martin, J.M.; True, R.B.; Freeman, R.; Meadows, C.J.; Theiss, A.J.; Montgomery, K.L.;
By: Martin, J.M.; True, R.B.; Freeman, R.; Meadows, C.J.; Theiss, A.J.; Montgomery, K.L.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3500-5
By: Kirshner, M.F.; Kowalczyk, R.D.; Cipolla, J.C.; Schult, H.; Boyle, M.A.; Wilsen, C.B.; True, R.B.;
By: Kirshner, M.F.; Kowalczyk, R.D.; Cipolla, J.C.; Schult, H.; Boyle, M.A.; Wilsen, C.B.; True, R.B.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3500-5
By: Chernyavskiy, I.A.; True, R.B.; Wilsen, C.B.; Kowalczyk, R.D.; Kirshner, M.F.; Vlasov, A.;
By: Chernyavskiy, I.A.; True, R.B.; Wilsen, C.B.; Kowalczyk, R.D.; Kirshner, M.F.; Vlasov, A.;
2010 / IEEE
By: Theiss, A.J.; Montgomery, K.L.; Martin, J.M.; True, R.B.; Freeman, R.; Meadows, C.J.;
By: Theiss, A.J.; Montgomery, K.L.; Martin, J.M.; True, R.B.; Freeman, R.; Meadows, C.J.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-7099-0
By: Schult, H.; Boyle, M.A.; Wilsen, C.B.; True, R.B.; Kirshner, M.F.; Kowalczyk, R.D.; Cipolla, J.C.;
By: Schult, H.; Boyle, M.A.; Wilsen, C.B.; True, R.B.; Kirshner, M.F.; Kowalczyk, R.D.; Cipolla, J.C.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8661-8
By: True, R.B.; Wilsen, C.B.; Cipolla, J.C.; Schult, H.; Kowalczyk, R.D.; Walz, C.R.; Kirshner, M.F.; Boyle, M.A.;
By: True, R.B.; Wilsen, C.B.; Cipolla, J.C.; Schult, H.; Kowalczyk, R.D.; Walz, C.R.; Kirshner, M.F.; Boyle, M.A.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8661-8
By: Wilsen, C.B.; Kowalczyk, R.D.; Kirshner, M.F.; Wray, J.T.; Simpson, I.T.; True, R.B.;
By: Wilsen, C.B.; Kowalczyk, R.D.; Kirshner, M.F.; Wray, J.T.; Simpson, I.T.; True, R.B.;