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Author: Tosi, S.
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2001 / IEEE / 0-7803-7324-3
By: Neri, N.; Neal, H.; Palano, A.; Paoloni, E.; Paolucci, P.; Passaggio, S.; Pastore, F.; Patteri, P.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Piccolo, D.; Piredda, G.; Robutti, E.; Roodman, A.; Santroni, A.; Sciacca, C.; Sinev, N.B.; Strom, D.; Soha, A.; Tosi, S.; Va'vra, J.; Wisniewski, W.J.; Wright, D.M.; Xie, Y.; Zallo, A.; Anulli, F.; Bagnasco, S.; Baldini, R.; Band, H.R.; Bionta, R.; Brau, J.E.; Brigljevic, V.; Buzzo, A.; Calcaterra, A.; Carpinellil, M.; Cartaro, T.; Cavallo, N.; Crosetti, G.; de Sangro, R.; De Nardo, G.; Elchenbaum, A.; Fabozzi, F.; Falciai, D.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Finocchiaro, G.; Forti, F.; Frey, R.; Gatto, C.; Grauges, E.; Iwasaki, M.; Johnson, J.R.; Lange, D.J.; Lista, L.; Lo Vetere, M.; Lu, C.; Macri, M.; Messner, R.; Moore, T.B.; Morganti, S.;
By: Neri, N.; Neal, H.; Palano, A.; Paoloni, E.; Paolucci, P.; Passaggio, S.; Pastore, F.; Patteri, P.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Piccolo, D.; Piredda, G.; Robutti, E.; Roodman, A.; Santroni, A.; Sciacca, C.; Sinev, N.B.; Strom, D.; Soha, A.; Tosi, S.; Va'vra, J.; Wisniewski, W.J.; Wright, D.M.; Xie, Y.; Zallo, A.; Anulli, F.; Bagnasco, S.; Baldini, R.; Band, H.R.; Bionta, R.; Brau, J.E.; Brigljevic, V.; Buzzo, A.; Calcaterra, A.; Carpinellil, M.; Cartaro, T.; Cavallo, N.; Crosetti, G.; de Sangro, R.; De Nardo, G.; Elchenbaum, A.; Fabozzi, F.; Falciai, D.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Finocchiaro, G.; Forti, F.; Frey, R.; Gatto, C.; Grauges, E.; Iwasaki, M.; Johnson, J.R.; Lange, D.J.; Lista, L.; Lo Vetere, M.; Lu, C.; Macri, M.; Messner, R.; Moore, T.B.; Morganti, S.;
2002 / IEEE
By: Anulli, F.; Bagnasco, S.; Baldini, R.; Band, H.R.; Bionta, R.; Brau, J.E.; Brigljevic, V.; Buzzo, A.; Calcaterra, A.; Carpinelli, M.; Cartaro, C.; Cavallo, N.; Crosetti, G.; de Sangro, R.; De Nardo, G.; Eichenbaum, A.; Fabozzi, F.; Falciai, D.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Finocchiaro, G.; Forti, F.; Frey, R.; Gatto, C.; Grauges, E.; Iwasaki, M.; Johnson, J.R.; Lange, D.J.; Lista, L.; Lo Vetere, M.; Lu, C.; Macri, M.; Messner, R.; Moore, T.B.; Morganti, S.; Neal, H.; Neri, N.; Palano, A.; Paoloni, E.; Paolucci, P.; Passaggio, S.; Pastore, F.; Patteri, P.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Piccolo, D.; Piredda, G.; Robutti, E.; Roodman, A.; Santroni, A.; Sciacca, C.; Sinev, N.B.; Strom, D.; Soha, A.; Tosi, S.; Va'vra, J.; Wisniewski, W.J.; Wright, D.M.; Xie, Y.; Zallo, A.;
By: Anulli, F.; Bagnasco, S.; Baldini, R.; Band, H.R.; Bionta, R.; Brau, J.E.; Brigljevic, V.; Buzzo, A.; Calcaterra, A.; Carpinelli, M.; Cartaro, C.; Cavallo, N.; Crosetti, G.; de Sangro, R.; De Nardo, G.; Eichenbaum, A.; Fabozzi, F.; Falciai, D.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Finocchiaro, G.; Forti, F.; Frey, R.; Gatto, C.; Grauges, E.; Iwasaki, M.; Johnson, J.R.; Lange, D.J.; Lista, L.; Lo Vetere, M.; Lu, C.; Macri, M.; Messner, R.; Moore, T.B.; Morganti, S.; Neal, H.; Neri, N.; Palano, A.; Paoloni, E.; Paolucci, P.; Passaggio, S.; Pastore, F.; Patteri, P.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Piccolo, D.; Piredda, G.; Robutti, E.; Roodman, A.; Santroni, A.; Sciacca, C.; Sinev, N.B.; Strom, D.; Soha, A.; Tosi, S.; Va'vra, J.; Wisniewski, W.J.; Wright, D.M.; Xie, Y.; Zallo, A.;
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