Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Tittel, F.K.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Griffin, R.; Gong, L.; Liu, K.; Lewicki, R.; Lei Dong; Tittel, F.K.; Spagnolo, V.;
By: Griffin, R.; Gong, L.; Liu, K.; Lewicki, R.; Lei Dong; Tittel, F.K.; Spagnolo, V.;
Performance characteristics of an injection-controlled electron-beam pumped XeF(C to A) laser system
1988 / IEEEBy: Hamada, N.; Nighan, W.L.; Tittel, F.K.; Wilson, W.L., Jr.; Sauerbrey, R.;
1991 / IEEE
By: Sauerbrey, R.; Dane, C.B.; Hofmann, T.; Yamaguchi, S.; Tittel, F.K.; Wilson, W.L., Jr.;
By: Sauerbrey, R.; Dane, C.B.; Hofmann, T.; Yamaguchi, S.; Tittel, F.K.; Wilson, W.L., Jr.;
1991 / IEEE
By: Wilson, W.L., Jr.; Sauerbrey, R.A.; Hofmann, T.; Cheville, A.; Yamaguchi, S.; Tittel, F.K.;
By: Wilson, W.L., Jr.; Sauerbrey, R.A.; Hofmann, T.; Cheville, A.; Yamaguchi, S.; Tittel, F.K.;
1989 / IEEE
By: Benedict, C.; Farrell, R.; Cartwright, J.; Sauerbrey, R.; Tittel, F.K.; Saidi, I.S.; Pettit, G.H.;
By: Benedict, C.; Farrell, R.; Cartwright, J.; Sauerbrey, R.; Tittel, F.K.; Saidi, I.S.; Pettit, G.H.;
1990 / IEEE
By: Fowler, M.C.; Yamaguchi, S.; Hirst, G.J.; Dane, C.B.; Hofmann, T.; Nighan, W.L.; Tittel, F.K.; Sauerbrey, R.; Wilson, W.L., Jr.;
By: Fowler, M.C.; Yamaguchi, S.; Hirst, G.J.; Dane, C.B.; Hofmann, T.; Nighan, W.L.; Tittel, F.K.; Sauerbrey, R.; Wilson, W.L., Jr.;
1992 / IEEE
By: Szabo, G.; Tittel, F.K.; Wilson, W.L., Jr.; Wisoff, P.J.; Dane, C.B.; Sharp, T.E.; Hofmann, T.;
By: Szabo, G.; Tittel, F.K.; Wilson, W.L., Jr.; Wisoff, P.J.; Dane, C.B.; Sharp, T.E.; Hofmann, T.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Tittel, F.K.; Petrov, K.P.; Fejer, M.M.; Arbore, M.A.; Dlugokencky, E.J.; Hollberg, L.W.; Waltman, S.;
By: Tittel, F.K.; Petrov, K.P.; Fejer, M.M.; Arbore, M.A.; Dlugokencky, E.J.; Hollberg, L.W.; Waltman, S.;
1997 / IEEE / 0-7803-3889-8
By: Topfer, T.; Petrov, K.P.; Mine, Y.; Melander, N.; Tittel, F.K.; Curl, R.F.;
By: Topfer, T.; Petrov, K.P.; Mine, Y.; Melander, N.; Tittel, F.K.; Curl, R.F.;
1997 / IEEE / 1-55752-501-3
By: Gharibyan, V.K.; Nersisyan, G.Ts.; Ter-Avetisyan, S.A.; Papanyan, V.O.; Tittel, F.K.;
By: Gharibyan, V.K.; Nersisyan, G.Ts.; Ter-Avetisyan, S.A.; Papanyan, V.O.; Tittel, F.K.;
1997 / IEEE / 0-7803-3891-X
By: Waltman, S.; Hollberg, L.W.; Tittel, F.K.; Fejer, M.M.; Arbore, M.; Dlugokencky, E.J.; Petrov, K.P.;
By: Waltman, S.; Hollberg, L.W.; Tittel, F.K.; Fejer, M.M.; Arbore, M.; Dlugokencky, E.J.; Petrov, K.P.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Richter, D.; Tittel, F.K.; Lancaster, D.G.; Curl, R.F.; Petrov, K.P.;
By: Richter, D.; Tittel, F.K.; Lancaster, D.G.; Curl, R.F.; Petrov, K.P.;
1998 / IEEE / 1-55752-541-2
By: Bamford, D.J.; Chen, W.; Tittel, F.K.; Curl, R.F.; Kosterev, A.A.; Li, D.;
By: Bamford, D.J.; Chen, W.; Tittel, F.K.; Curl, R.F.; Kosterev, A.A.; Li, D.;
1990 / IEEE / 0-87942-550-4
By: Dane, C.B.; Sharp, T.E.; Hofmann, T.; Wilson, W.L.; Tittel, F.K.; Wisoff, P.J.; Szabo, G.;
By: Dane, C.B.; Sharp, T.E.; Hofmann, T.; Wilson, W.L.; Tittel, F.K.; Wisoff, P.J.; Szabo, G.;
1994 / IEEE / 0-7803-1791-2
By: Farkas, G.Y.; Toth, C.S.; Kroo, N.; LeBlanc, S.P.; Zang-Fen Qi; Sauerbrey, R.; Tittel, F.K.;
By: Farkas, G.Y.; Toth, C.S.; Kroo, N.; LeBlanc, S.P.; Zang-Fen Qi; Sauerbrey, R.; Tittel, F.K.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Patterson, T.L.; Roth, A.P.; Petrov, K.P.; Tittel, F.K.; Lancaster, D.G.; Bamford, D.J.;
By: Patterson, T.L.; Roth, A.P.; Petrov, K.P.; Tittel, F.K.; Lancaster, D.G.; Bamford, D.J.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Baillargeon, J.N.; Sivco, D.L.; Gmachl, C.; Capasso, F.; Hutchinson, A.L.; Tittel, F.K.; Curl, R.F.; Kosterev, A.A.; Cho, A.Y.;
By: Baillargeon, J.N.; Sivco, D.L.; Gmachl, C.; Capasso, F.; Hutchinson, A.L.; Tittel, F.K.; Curl, R.F.; Kosterev, A.A.; Cho, A.Y.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Tittel, F.K.; Fujioka, T.; Nanri, K.; Yamaguchi, S.; Ashizawa, H.; Endo, M.; Takahashi, M.; Ohara, S.;
By: Tittel, F.K.; Fujioka, T.; Nanri, K.; Yamaguchi, S.; Ashizawa, H.; Endo, M.; Takahashi, M.; Ohara, S.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Malinovsky, A.L.; Kosterev, A.A.; Cho, A.Y.; Hutchinson, A.L.; Baillargeon, J.N.; Sivco, D.L.; Capasso, F.; Gmachl, C.; Tittel, F.K.;
By: Malinovsky, A.L.; Kosterev, A.A.; Cho, A.Y.; Hutchinson, A.L.; Baillargeon, J.N.; Sivco, D.L.; Capasso, F.; Gmachl, C.; Tittel, F.K.;
Environmental and chemical sensing applications of diode and quantum cascade laser based gas sensors
2001 / IEEE / 1-55752-662-1By: Tittel, F.K.; Claps, R.; Erdelyi, M.; Curl, R.F.; Kosterev, A.; Richter, D.; Leleux, D.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Yamaguchi, S.; Takahashi, M.; Endo, M.; Ohara, S.; Nanri, K.; Ashizawa, H.; Tittel, F.K.; Fujioka, T.;
By: Yamaguchi, S.; Takahashi, M.; Endo, M.; Ohara, S.; Nanri, K.; Ashizawa, H.; Tittel, F.K.; Fujioka, T.;
2003 / IEEE / 0-7803-8133-5
By: Kosterev, A.A.; Tittel, F.K.; Curl, R.F.; Weidmann, D.; Roller, C.B.; Bakhirkin, Y.A.;
By: Kosterev, A.A.; Tittel, F.K.; Curl, R.F.; Weidmann, D.; Roller, C.B.; Bakhirkin, Y.A.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Tittel, F.K.; Curl, R.F.; Roller, C.; Kosterev, A.A.; Bakhikrin, Y.A.;
By: Tittel, F.K.; Curl, R.F.; Roller, C.; Kosterev, A.A.; Bakhikrin, Y.A.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: McDonald, D.; Walsh, O.; Tittel, F.K.; Weidmann, D.; Kosterev, A.A.; Dunne, J.;
By: McDonald, D.; Walsh, O.; Tittel, F.K.; Weidmann, D.; Kosterev, A.A.; Dunne, J.;
2004 / IEEE / 0-7803-8557-8
By: Bakhirkin, Y.A.; Kosterev, A.A.; Tittel, F.K.; Curl, R.F.; Wysocki, G.; Horstjann, M.; Weidmann, D.; So, S.; Roller, C.B.;
By: Bakhirkin, Y.A.; Kosterev, A.A.; Tittel, F.K.; Curl, R.F.; Wysocki, G.; Horstjann, M.; Weidmann, D.; So, S.; Roller, C.B.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Tittel, F.K.; Roller, C.B.; Richter, D.; Weibring, P.; Walega, J.; Fried, A.;
By: Tittel, F.K.; Roller, C.B.; Richter, D.; Weibring, P.; Walega, J.; Fried, A.;
2006 / IEEE / 1-4244-0399-5
By: Xiaoming Gao; Boucher, D.; Poullet, E.; Cousin, J.; Weidong Chen; Tittel, F.K.; Sigrist, M.W.;
By: Xiaoming Gao; Boucher, D.; Poullet, E.; Cousin, J.; Weidong Chen; Tittel, F.K.; Sigrist, M.W.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1261-7
By: So, S.G.; Tittel, F.K.; Kosterev, A.A.; Wysocki, G.; Al Rifai, O.;
By: So, S.G.; Tittel, F.K.; Kosterev, A.A.; Wysocki, G.; Al Rifai, O.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1261-7
By: So, S.; Lewicki, R.; Kosterev, A.; Curl, R.F.; Bakhirkin, Y.; Tittel, F.K.; Wysocki, G.;
By: So, S.; Lewicki, R.; Kosterev, A.; Curl, R.F.; Bakhirkin, Y.; Tittel, F.K.; Wysocki, G.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Bakhikrin, Y.A.; Tittel, F.K.; Yang, R.Q.; Fraser, M.P.; Wysocki, G.;
By: Bakhikrin, Y.A.; Tittel, F.K.; Yang, R.Q.; Fraser, M.P.; Wysocki, G.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Tittel, F.K.; Kosterev, A.A.; Wysocki, G.; Al'Rifai, O.; Chang, D.; So, S.G.;
By: Tittel, F.K.; Kosterev, A.A.; Wysocki, G.; Al'Rifai, O.; Chang, D.; So, S.G.;
2008 / IEEE
By: Corzine, S.W.; Tittel, F.K.; Bour, D.P.; Diehl, L.; Troccoli, M.; Capasso, F.; Yu, N.; Wysocki, G.; Lewicki, R.; Hofler, G.; Belkin, M.A.; Wang, C.Y.;
By: Corzine, S.W.; Tittel, F.K.; Bour, D.P.; Diehl, L.; Troccoli, M.; Capasso, F.; Yu, N.; Wysocki, G.; Lewicki, R.; Hofler, G.; Belkin, M.A.; Wang, C.Y.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Thomazy, D.; Lei Dong; Kosterev, A.A.; Romanak, K.; Pavlovsky, I.; Tittel, F.K.;
By: Thomazy, D.; Lei Dong; Kosterev, A.A.; Romanak, K.; Pavlovsky, I.; Tittel, F.K.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Risby, T.H.; Tittel, F.K.; Lei Dong; Doty, J.; Thomazy, D.M.; Solga, S.; Kosterev, A.A.; Lewicki, R.; Day, T.; Bakhirkin, Y.A.; Kane, D.;
By: Risby, T.H.; Tittel, F.K.; Lei Dong; Doty, J.; Thomazy, D.M.; Solga, S.; Kosterev, A.A.; Lewicki, R.; Day, T.; Bakhirkin, Y.A.; Kane, D.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3848-8
By: Wysocki, G.; Thomazy, D.; Lewicki, R.; Kosterev, A.A.; Tittel, F.K.; Doty, J.; Dong, L.; Curl, R.F.;
By: Wysocki, G.; Thomazy, D.; Lewicki, R.; Kosterev, A.A.; Tittel, F.K.; Doty, J.; Dong, L.; Curl, R.F.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Thomazy, D.; Kosterev, A.A.; Spagnolo, V.; Tittel, F.K.; Lei Dong;
By: Thomazy, D.; Kosterev, A.A.; Spagnolo, V.; Tittel, F.K.; Lei Dong;