Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Taylor, G.
Results
2012 / IEEE
By: Bethel, E.W.; Horsman, J.L.; Gorton, I.; Johnson, T.C.; Torkian, B.; Taylor, G.; Moore, P.; Meyer, J.; Strelitz, R.; Monroe, L.; Keating, E.H.; Romosan, A.; Krishnan, H.; Hubbard, S.S.;
By: Bethel, E.W.; Horsman, J.L.; Gorton, I.; Johnson, T.C.; Torkian, B.; Taylor, G.; Moore, P.; Meyer, J.; Strelitz, R.; Monroe, L.; Keating, E.H.; Romosan, A.; Krishnan, H.; Hubbard, S.S.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0090-2
By: Martin, A.; Hargreaves, N.; Taylor, G.; Turilli, M.; Wallom, D.; McMoran, A.; Raun, A.;
By: Martin, A.; Hargreaves, N.; Taylor, G.; Turilli, M.; Wallom, D.; McMoran, A.; Raun, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0063-6
By: Feng Guo; Mun Wai Lee; Tae Eun Choe; Haering, N.; Li Yu; Taylor, G.;
By: Feng Guo; Mun Wai Lee; Tae Eun Choe; Haering, N.; Li Yu; Taylor, G.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1382-7
By: Crossman, J.; Frederiksen, R.; Taylor, G.; Theisen, P.; Quist, M.;
By: Crossman, J.; Frederiksen, R.; Taylor, G.; Theisen, P.; Quist, M.;
1994 / IEEE / 0-7803-1418-2
By: Lawson, J.; Mawhinney, D.; Camisa, R.; Perlow, S.; Jozwiak, P.; Presser, A.; Bechtle, D.; Bharj, S.; Taylor, G.; Sterzer, F.;
By: Lawson, J.; Mawhinney, D.; Camisa, R.; Perlow, S.; Jozwiak, P.; Presser, A.; Bechtle, D.; Bharj, S.; Taylor, G.; Sterzer, F.;
1994 / IEEE / 0-7803-1778-5
By: Presser, A.; Lawson, J.; Sterzer, F.; Mawhinney, D.; Camisa, R.; Perlow, S.; Jozwiak, P.; Taylor, G.; Bechtle, D.; Bharj, S.;
By: Presser, A.; Lawson, J.; Sterzer, F.; Mawhinney, D.; Camisa, R.; Perlow, S.; Jozwiak, P.; Taylor, G.; Bechtle, D.; Bharj, S.;
1997 / IEEE
By: Cohen, E.T.; Sippel, T.; Brashears, C.S.; Markevitch, J.A.; Maier, C.A.; Blomgren, J.; Thomas, J.A.; Taylor, G.; Moldenhauer, V.; Pattin, J.; Ballard, J.G.;
By: Cohen, E.T.; Sippel, T.; Brashears, C.S.; Markevitch, J.A.; Maier, C.A.; Blomgren, J.; Thomas, J.A.; Taylor, G.; Moldenhauer, V.; Pattin, J.; Ballard, J.G.;
1997 / IEEE / 0-7803-4258-5
By: Unno, Y.; Kitabayashi, H.; Yagi, H.; Wyllie, K.; Wilder, M.; Umeda, T.; Terada, S.; Taylor, G.; Takashima, R.; Spieler, H.; Spencer, E.; Siegrist, J.; Sato, K.; Sadrozinski, H.F.-W.; Rowe, W.; Richardson, J.; Phillips, P.; Ohsugi, T.; Ohmoto, T.; Nakano, I.; Morgan, D.; Dick, B.; Dubbs, T.; Grillo, A.; Ikeda, M.; Iwata, Y.; Kashigin, S.; Kitayama, E.; Kroeger, W.; Kohriki, T.; Kondo, T.; Moorhead, G.;
By: Unno, Y.; Kitabayashi, H.; Yagi, H.; Wyllie, K.; Wilder, M.; Umeda, T.; Terada, S.; Taylor, G.; Takashima, R.; Spieler, H.; Spencer, E.; Siegrist, J.; Sato, K.; Sadrozinski, H.F.-W.; Rowe, W.; Richardson, J.; Phillips, P.; Ohsugi, T.; Ohmoto, T.; Nakano, I.; Morgan, D.; Dick, B.; Dubbs, T.; Grillo, A.; Ikeda, M.; Iwata, Y.; Kashigin, S.; Kitayama, E.; Kroeger, W.; Kohriki, T.; Kondo, T.; Moorhead, G.;
1998 / IEEE
By: Unno, Y.; Kitabayashi, H.; Yagi, H.; Wyllie, K.; Wilder, M.; Umeda, T.; Terada, S.; Taylor, G.; Takashima, R.; Spieler, H.; Spencer, E.; Siegriste, J.; Sato, K.; Sadrozinski, H.F.-W.; Rowe, W.; Richardson, J.; Phillips, P.W.; Ohsugi, T.; Ohmoto, T.; Nakano, I.; Dick, B.; Dubbs, T.; Grillo, A.; Ikeda, M.; Iwata, Y.; Kashigin, S.; Kitayama, E.; Kroeger, W.; Kohriki, T.; Kondo, T.; Moorhead, G.; Morgan, D.;
By: Unno, Y.; Kitabayashi, H.; Yagi, H.; Wyllie, K.; Wilder, M.; Umeda, T.; Terada, S.; Taylor, G.; Takashima, R.; Spieler, H.; Spencer, E.; Siegriste, J.; Sato, K.; Sadrozinski, H.F.-W.; Rowe, W.; Richardson, J.; Phillips, P.W.; Ohsugi, T.; Ohmoto, T.; Nakano, I.; Dick, B.; Dubbs, T.; Grillo, A.; Ikeda, M.; Iwata, Y.; Kashigin, S.; Kitayama, E.; Kroeger, W.; Kohriki, T.; Kondo, T.; Moorhead, G.; Morgan, D.;
1998 / IEEE / 0-7803-4766-8
By: Kuppuswamy, R.; Songmin Kim; Jones, J.; Hose, K.; Mooney, R.; Taylor, G.; Sarangi, A.; Arabi, T.; Price, J.;
By: Kuppuswamy, R.; Songmin Kim; Jones, J.; Hose, K.; Mooney, R.; Taylor, G.; Sarangi, A.; Arabi, T.; Price, J.;
1999 / IEEE
By: Lerch, M.; Alexiev, D.; Freeman, N.; Peak, L.; Rosenfeld, A.B.; Ihnat, P.; Marinaro, D.; Reinhard, M.I.; Taylor, G.;
By: Lerch, M.; Alexiev, D.; Freeman, N.; Peak, L.; Rosenfeld, A.B.; Ihnat, P.; Marinaro, D.; Reinhard, M.I.; Taylor, G.;
2000 / IEEE / 0-7803-6369-8
By: Rosen, A.; Fathy, A.; ElSherbiny, M.; Perlow, S.; Taylor, G.; McGinty, F.;
By: Rosen, A.; Fathy, A.; ElSherbiny, M.; Perlow, S.; Taylor, G.; McGinty, F.;
2001 / IEEE
By: Abe, R.; Aihara, H.; Alimonti, G.; Asano, Y.; Bakich, A.; Banas, E.; Bozek, A.; Browder, T.; Dragic, J.; Everton, C.; Fukunaga, C.; Gordon, A.; Guler, H.; Haba, J.; Hara, K.; Hara, T.; Hastings, N.; Hazumi, M.; Heenan, E.; Higuchi, T.; Hojo, T.; Ishino, H.; Iwai, G.; Jalocha, P.; Kaneko, J.; Kapusta, P.; Kawasaki, T.; Korotuschenko, K.; Lange, J.S.; Li, Y.; Marlow, D.; Matsubara, T.; Miyake, H.; Moffitt, L.; Moloney, G.; Mori, S.; Nagshima, Y.; Nakadaira, T.; Nakamura, T.; Natkaniec, Z.; Okuno, S.; Olsen, S.; Ostrowicz, W.; Palka, H.; Peak, L.; Rozanska, M.; Ryuko, J.; Sevior, M.; Shimada, K.; Sumisawa, K.; Stanic, S.; Stock, R.; Swain, S.; Tagomori, H.; Tajima, H.; Takahashi, S.; Takasaki, F.; Tamura, N.; Tanaka, J.; Tanaka, M.; Taylor, G.; Tomura, T.; Trabelsi, K.; Tusboyama, T.; Tsujita, Y.; Varner, G.; Varvell, K.; Yamamoto, H.; Watanabe, Y.; Yamada, Y.; Yokoyama, M.; Zhao, H.; Zontar, D.;
By: Abe, R.; Aihara, H.; Alimonti, G.; Asano, Y.; Bakich, A.; Banas, E.; Bozek, A.; Browder, T.; Dragic, J.; Everton, C.; Fukunaga, C.; Gordon, A.; Guler, H.; Haba, J.; Hara, K.; Hara, T.; Hastings, N.; Hazumi, M.; Heenan, E.; Higuchi, T.; Hojo, T.; Ishino, H.; Iwai, G.; Jalocha, P.; Kaneko, J.; Kapusta, P.; Kawasaki, T.; Korotuschenko, K.; Lange, J.S.; Li, Y.; Marlow, D.; Matsubara, T.; Miyake, H.; Moffitt, L.; Moloney, G.; Mori, S.; Nagshima, Y.; Nakadaira, T.; Nakamura, T.; Natkaniec, Z.; Okuno, S.; Olsen, S.; Ostrowicz, W.; Palka, H.; Peak, L.; Rozanska, M.; Ryuko, J.; Sevior, M.; Shimada, K.; Sumisawa, K.; Stanic, S.; Stock, R.; Swain, S.; Tagomori, H.; Tajima, H.; Takahashi, S.; Takasaki, F.; Tamura, N.; Tanaka, J.; Tanaka, M.; Taylor, G.; Tomura, T.; Trabelsi, K.; Tusboyama, T.; Tsujita, Y.; Varner, G.; Varvell, K.; Yamamoto, H.; Watanabe, Y.; Yamada, Y.; Yokoyama, M.; Zhao, H.; Zontar, D.;
2001 / IEEE / 0-7803-6538-0
By: McGinty, F.; Kanamaluru, S.; Owen, H.; Rosen, A.; Fathy, A.; McGee, D.; Perlow, S.; ElSherbiny, M.; Swain, P.K.; Taylor, G.;
By: McGinty, F.; Kanamaluru, S.; Owen, H.; Rosen, A.; Fathy, A.; McGee, D.; Perlow, S.; ElSherbiny, M.; Swain, P.K.; Taylor, G.;
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Gates, D.A.; Bell, M.G.; Bell, R.E.; Bialek, J.; Bigelow, T.; Bitter, M.; Bonoli, P.; Darrow, D.; Efthimion, P.; Ferron, J.; Fredrickson, E.; Grisham, L.; Hosea, J.; Johnson, D.; Kaita, R.; Kaye, S.; Kubota, S.; Kugel, H.; LeBlanc, B.; Maingi, R.; Manickam, J.; Mau, T.K.; Maqueda, R.J.; Mazzucato, E.; Menard, J.; Mueller, D.; Nelson, B.; Nishino, N.; Ono, M.; Paoletti, F.; Paul, S.; Peng, Y.-K.M.; Phillips, C.K.; Raman, R.; Ryan, P.; Sabbagh, S.A.; Schaffer, M.; Skinner, C.H.; Stutman, D.; Swain, D.; Synakowski, E.; Takase, Y.; Wilgen, J.; Wilson, J.R.; Zhu, W.; Zweben, S.; Bers, A.; Carter, M.; Deng, B.; Domier, C.; Doyle, E.; Finkenthal, M.; Hill, K.; Jarboe, T.; Jardin, S.; Ji, H.; Lao, L.; Lee, K.C.; Luhmann, N.; Majeski, R.; Park, H.; Peebles, T.; Pinsker, R.I.; Porter, G.; Ram, A.; Rensink, M.; Rognlien, T.; Stotler, D.; Stratton, B.; Taylor, G.; Wampler, W.; Wurden, G.A.; Xu, X.Q.; Zeng, L.;
By: Gates, D.A.; Bell, M.G.; Bell, R.E.; Bialek, J.; Bigelow, T.; Bitter, M.; Bonoli, P.; Darrow, D.; Efthimion, P.; Ferron, J.; Fredrickson, E.; Grisham, L.; Hosea, J.; Johnson, D.; Kaita, R.; Kaye, S.; Kubota, S.; Kugel, H.; LeBlanc, B.; Maingi, R.; Manickam, J.; Mau, T.K.; Maqueda, R.J.; Mazzucato, E.; Menard, J.; Mueller, D.; Nelson, B.; Nishino, N.; Ono, M.; Paoletti, F.; Paul, S.; Peng, Y.-K.M.; Phillips, C.K.; Raman, R.; Ryan, P.; Sabbagh, S.A.; Schaffer, M.; Skinner, C.H.; Stutman, D.; Swain, D.; Synakowski, E.; Takase, Y.; Wilgen, J.; Wilson, J.R.; Zhu, W.; Zweben, S.; Bers, A.; Carter, M.; Deng, B.; Domier, C.; Doyle, E.; Finkenthal, M.; Hill, K.; Jarboe, T.; Jardin, S.; Ji, H.; Lao, L.; Lee, K.C.; Luhmann, N.; Majeski, R.; Park, H.; Peebles, T.; Pinsker, R.I.; Porter, G.; Ram, A.; Rensink, M.; Rognlien, T.; Stotler, D.; Stratton, B.; Taylor, G.; Wampler, W.; Wurden, G.A.; Xu, X.Q.; Zeng, L.;
2002 / IEEE / 0-7803-7073-2
By: Majeski, R.; Antar, G.; Whyte, D.; Ulrickson, M.; Timberlake, J.; Taylor, G.; Stutman, D.; Soukhanovskii, V.; Spaleta, J.; Rognlein, T.; Raftopoulos, S.; Munsat, T.; Maiorano, M.; Maingi, R.; Luckhardt, S.; Kugel, H.; Kaita, R.; Jones, B.; Hoffman, D.; Finkenthal, M.; Efthimion, P.; Doerner, R.; Conn, R.W.; Causey, R.; Cadwallader, L.; Boaz, M.; Buchenauer, D.;
By: Majeski, R.; Antar, G.; Whyte, D.; Ulrickson, M.; Timberlake, J.; Taylor, G.; Stutman, D.; Soukhanovskii, V.; Spaleta, J.; Rognlein, T.; Raftopoulos, S.; Munsat, T.; Maiorano, M.; Maingi, R.; Luckhardt, S.; Kugel, H.; Kaita, R.; Jones, B.; Hoffman, D.; Finkenthal, M.; Efthimion, P.; Doerner, R.; Conn, R.W.; Causey, R.; Cadwallader, L.; Boaz, M.; Buchenauer, D.;
2002 / IEEE
By: Kaneko, J.; Varner, G.; Yokoyama, M.; Yamamoto, H.; Taylor, G.; Tanaka, J.; Alimonti, G.; Tajima, H.; Sumisawa, K.; Li, Y.; Ishino, H.; Hazumi, M.; Aihara, H.;
By: Kaneko, J.; Varner, G.; Yokoyama, M.; Yamamoto, H.; Taylor, G.; Tanaka, J.; Alimonti, G.; Tajima, H.; Sumisawa, K.; Li, Y.; Ishino, H.; Hazumi, M.; Aihara, H.;
1972 / IEEE
By: Schaps, J.; Kehr, W.; Everett, L.; Echelmeier, R.; Bate, G.; Thornley, R.; Taylor, G.;
By: Schaps, J.; Kehr, W.; Everett, L.; Echelmeier, R.; Bate, G.; Thornley, R.; Taylor, G.;
1987 / IEEE
By: Klatskin, J.; Bechtle, D.; Dudley, H.; Camisa, R.L.; Liu, S.G.; Eron, M.; Taylor, G.;
By: Klatskin, J.; Bechtle, D.; Dudley, H.; Camisa, R.L.; Liu, S.G.; Eron, M.; Taylor, G.;
1983 / IEEE
By: Bayruns, R.; Dennis, D.; Lifshitz, N.; Taylor, G.; Bechtold, P.; Gannett, J.; Michejda, J.; Wittmer, N.;
By: Bayruns, R.; Dennis, D.; Lifshitz, N.; Taylor, G.; Bechtold, P.; Gannett, J.; Michejda, J.; Wittmer, N.;
2003 / IEEE
By: Mueller, D.; Ono, M.; Bell, M.G.; Bell, R.E.; Bitter, M.; Bourdelle, C.; Darrow, D.S.; Efthimion, P.C.; Fredrickson, E.D.; Gates, D.A.; Goldston, R.J.; Grisham, L.R.; Hawryluk, R.J.; Hill, K.W.; Hosea, J.C.; Jardin, S.C.; Ji, H.; Kaye, S.M.; Kaita, R.; Kugel, H.W.; Johnson, D.W.; LeBlanc, B.P.; Majeski, R.; Mazzucato, E.; Medley, S.S.; Menard, J.E.; Park, H.K.; Paul, S.F.; Phillips, C.K.; Redi, M.H.; Rosenberg, A.L.; Skinner, C.H.; Soukhanovskii, V.A.; Stratton, B.; Synakowski, E.J.; Taylor, G.; Wilson, J.R.; Zweben, S.J.; Dorland, W.D.; Peng, Y.K.M.; Barry, R.; Bigelow, T.; Bush, C.E.; Carter, M.; Maingi, R.; Menon, M.; Ryan, P.M.; Swain, D.W.; Wilgen, J.; Sabbagh, S.A.; Paoletti, F.; Bialek, J.; Zhu, W.; Raman, R.; Jarboe, T.R.; Nelson, B.A.; Maqueda, R.J.; Wurden, G.A.; Pinsker, R.I.; Schaffer, M.; Ferron, J.; Lao, L.; Stutman, D.; Finkenthal, M.; Wampler, W.; Kubota, S.; Peebles, W.A.; Gilmore, M.; Mau, T.K.; Lee, K.C.; Domier, C.W.; Deng, B.H.; Johnson, M.; Luhmann, N.C., Jr.; Bonoli, P.; Bers, A.; Ram, A.; Akers, R.; Takase, Y.; Ejiri, A.; Ono, Y.; Shiraiwa, S.; Nishino, N.; Mitarai, O.; Nagata, M.; Yang, J.G.; Na, H.; Pacella, D.;
By: Mueller, D.; Ono, M.; Bell, M.G.; Bell, R.E.; Bitter, M.; Bourdelle, C.; Darrow, D.S.; Efthimion, P.C.; Fredrickson, E.D.; Gates, D.A.; Goldston, R.J.; Grisham, L.R.; Hawryluk, R.J.; Hill, K.W.; Hosea, J.C.; Jardin, S.C.; Ji, H.; Kaye, S.M.; Kaita, R.; Kugel, H.W.; Johnson, D.W.; LeBlanc, B.P.; Majeski, R.; Mazzucato, E.; Medley, S.S.; Menard, J.E.; Park, H.K.; Paul, S.F.; Phillips, C.K.; Redi, M.H.; Rosenberg, A.L.; Skinner, C.H.; Soukhanovskii, V.A.; Stratton, B.; Synakowski, E.J.; Taylor, G.; Wilson, J.R.; Zweben, S.J.; Dorland, W.D.; Peng, Y.K.M.; Barry, R.; Bigelow, T.; Bush, C.E.; Carter, M.; Maingi, R.; Menon, M.; Ryan, P.M.; Swain, D.W.; Wilgen, J.; Sabbagh, S.A.; Paoletti, F.; Bialek, J.; Zhu, W.; Raman, R.; Jarboe, T.R.; Nelson, B.A.; Maqueda, R.J.; Wurden, G.A.; Pinsker, R.I.; Schaffer, M.; Ferron, J.; Lao, L.; Stutman, D.; Finkenthal, M.; Wampler, W.; Kubota, S.; Peebles, W.A.; Gilmore, M.; Mau, T.K.; Lee, K.C.; Domier, C.W.; Deng, B.H.; Johnson, M.; Luhmann, N.C., Jr.; Bonoli, P.; Bers, A.; Ram, A.; Akers, R.; Takase, Y.; Ejiri, A.; Ono, Y.; Shiraiwa, S.; Nishino, N.; Mitarai, O.; Nagata, M.; Yang, J.G.; Na, H.; Pacella, D.;
2004 / IEEE
By: Taylor, G.; Jin-Seung Jung; Malkinski, L.M.; Chalastaras, A.; Seung-Lim Oh; Golub, V.; Ventrice, C.A., Jr.; Jin-Kyu Lee;
By: Taylor, G.; Jin-Seung Jung; Malkinski, L.M.; Chalastaras, A.; Seung-Lim Oh; Golub, V.; Ventrice, C.A., Jr.; Jin-Kyu Lee;
2006 / IEEE
By: Talamo, P.; Rahner, K.D.; Depoy, D.M.; Danielson, L.R.; Nichols, G.J.; Ehsani, H.; Beausang, J.F.; Dashiell, M.W.; Luryi, S.; Belenky, G.L.; Anikeev, S.; Donetski, D.; Martinelli, R.; Jizhong Li; Taylor, G.; Shellenbarger, Z.A.; Turner, G.W.; Connors, M.K.; Huang, R.K.; Wang, C.A.; Baldasaro, P.F.; Topper, W.F.; Fourspring, P.M.; Burger, S.R.; Brown, E.J.;
By: Talamo, P.; Rahner, K.D.; Depoy, D.M.; Danielson, L.R.; Nichols, G.J.; Ehsani, H.; Beausang, J.F.; Dashiell, M.W.; Luryi, S.; Belenky, G.L.; Anikeev, S.; Donetski, D.; Martinelli, R.; Jizhong Li; Taylor, G.; Shellenbarger, Z.A.; Turner, G.W.; Connors, M.K.; Huang, R.K.; Wang, C.A.; Baldasaro, P.F.; Topper, W.F.; Fourspring, P.M.; Burger, S.R.; Brown, E.J.;
2007 / IEEE / 1-4244-0852-0
By: Karnik, T.; De, V.; Cangsang Zhao; Tschanz, J.; Schrom, G.; Taylor, G.; Paillet, F.; Aseron, P.; Mingwei Huang; Hazucha, P.; Jianping Xu;
By: Karnik, T.; De, V.; Cangsang Zhao; Tschanz, J.; Schrom, G.; Taylor, G.; Paillet, F.; Aseron, P.; Mingwei Huang; Hazucha, P.; Jianping Xu;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0634-0
By: Frizziero, E.; Hobson, P.R.; Taylor, R.; Taylor, G.; Pugliese, R.; Chenxi Huang; Petrucci, A.; Lelli, F.; Kyberd, P.; Kalganova, T.; Irving, M.R.;
By: Frizziero, E.; Hobson, P.R.; Taylor, R.; Taylor, G.; Pugliese, R.; Chenxi Huang; Petrucci, A.; Lelli, F.; Kyberd, P.; Kalganova, T.; Irving, M.R.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Taylor, G.; Hosea, J.; Fredd, E.; Rasmussen, D.; Caughman, J.B.; Bigelow, T.S.; Ellis, R.;
By: Taylor, G.; Hosea, J.; Fredd, E.; Rasmussen, D.; Caughman, J.B.; Bigelow, T.S.; Ellis, R.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0786-6
By: Duarte, D.E.; Taylor, G.; Wong, K.L.; Mughal, U.; Geannopoulos, G.;
By: Duarte, D.E.; Taylor, G.; Wong, K.L.; Mughal, U.; Geannopoulos, G.;
2008 / IEEE
By: De, V.; Tschanz, J.; Schrom, G.; Paillet, F.; Mingwei Huang; Karnik, T.; Zuoguo Wu; Hazucha, P.; Jianping Xu; Aseron, P.; Taylor, G.;
By: De, V.; Tschanz, J.; Schrom, G.; Paillet, F.; Mingwei Huang; Karnik, T.; Zuoguo Wu; Hazucha, P.; Jianping Xu; Aseron, P.; Taylor, G.;
2003 / IEEE / 978-1-5853-7057-3
By: Armer, J.; Mergens, M.P.J.; Keppens, B.; De Ranter, F.; Verhaege, K.G.; Jozwiak, P.C.; Russ, C.C.; Cong Son Trinh; Mohn, R.; Taylor, G.;
By: Armer, J.; Mergens, M.P.J.; Keppens, B.; De Ranter, F.; Verhaege, K.G.; Jozwiak, P.C.; Russ, C.C.; Cong Son Trinh; Mohn, R.; Taylor, G.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6036-6
By: Jae Kyung Lee; Kyung Soo Jung; Heeyong Yoo; Junghwan Lee; Seyeob Kim; Yanggyun Kim; Youngho Cho; Bonkee Kim; Minsu Jeong; Bo-Eun Kim; Taylor, G.; Huikwan Yang; Junghun Lee; Jeiyoung Lee;
By: Jae Kyung Lee; Kyung Soo Jung; Heeyong Yoo; Junghwan Lee; Seyeob Kim; Yanggyun Kim; Youngho Cho; Bonkee Kim; Minsu Jeong; Bo-Eun Kim; Taylor, G.; Huikwan Yang; Junghun Lee; Jeiyoung Lee;
2007 / IEEE / 978-1-59593-709-4
By: Duarte, D.E.; Geannopoulos, G.; Mughal, U.; Wong, K.L.; Taylor, G.;
By: Duarte, D.E.; Geannopoulos, G.; Mughal, U.; Wong, K.L.; Taylor, G.;