Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Tanaka, M.
Results
2012 / IEEE
By: Nishikino, M.; Kawachi, T.; Fukuda, T.; Ehrentraut, D.; Azechi, H.; Nishimura, H.; Sarukura, N.; Tanaka, M.; Cadatal-Raduban, M.; Minami, Y.; Nishi, R.; Takeda, K.; Sakai, K.; Yamanoi, K.; Shimizu, T.; Nakazato, T.;
By: Nishikino, M.; Kawachi, T.; Fukuda, T.; Ehrentraut, D.; Azechi, H.; Nishimura, H.; Sarukura, N.; Tanaka, M.; Cadatal-Raduban, M.; Minami, Y.; Nishi, R.; Takeda, K.; Sakai, K.; Yamanoi, K.; Shimizu, T.; Nakazato, T.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-774-0
By: Tanaka, M.; Shibata, M.; Nakashima, H.; Ishimatsu, T.; Moromugi, S.;
By: Tanaka, M.; Shibata, M.; Nakashima, H.; Ishimatsu, T.; Moromugi, S.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0618-9
By: Tanaka, M.; Otake, T.; Aomori, H.; Takenouchi, S.; Takizawa, K.; Itoh, S.; Matsuda, I.;
By: Tanaka, M.; Otake, T.; Aomori, H.; Takenouchi, S.; Takizawa, K.; Itoh, S.; Matsuda, I.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Yamagami, K.; Azhim, A.; Tanaka, M.; Morimoto, Y.; Muramatsu, K.;
By: Yamagami, K.; Azhim, A.; Tanaka, M.; Morimoto, Y.; Muramatsu, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1702-4
By: Umehara, D.; Tanaka, M.; Sugiyama, T.; Otsuki, N.; Morikura, M.;
By: Umehara, D.; Tanaka, M.; Sugiyama, T.; Otsuki, N.; Morikura, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4577-2071-0
By: Yoshimizu, H.; Yoshida, M.; Akehi, T.; Tanaka, M.; Morimoto, N.; Kamimura, Y.; Takiyamada, M.;
By: Yoshimizu, H.; Yoshida, M.; Akehi, T.; Tanaka, M.; Morimoto, N.; Kamimura, Y.; Takiyamada, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1490-9
By: Otake, T.; Aomori, H.; Takenouchi, S.; Takizawa, K.; Itoh, S.; Matsuda, I.; Tanaka, M.;
By: Otake, T.; Aomori, H.; Takenouchi, S.; Takizawa, K.; Itoh, S.; Matsuda, I.; Tanaka, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2131-0
By: Tanaka, M.; Kamada, T.; Bramantoro, A.; Zettsu, K.; Murakami, Y.;
By: Tanaka, M.; Kamada, T.; Bramantoro, A.; Zettsu, K.; Murakami, Y.;
Development of an amplifier IC with wide dynamic range for Si detector in RIKEN SAMURAI spectrometer
2012 / IEEEBy: Takuma, A.; Taketani, A.; Murakami, H.; Kurita, K.; Kurokawa, M.; Tanaka, M.;
2014 / IEEE
By: Nakazato, T.; Hori, T.; Kawachi, T.; Nishikino, M.; Tanaka, M.; Fukuda, T.; Azechi, H.; Nishimura, H.; Sarukura, N.; Cadatal-Raduban, M.; Minami, Y.; Nishi, R.; Takeda, K.; Sakai, K.; Shimizu, T.; Yamanoi, K.;
By: Nakazato, T.; Hori, T.; Kawachi, T.; Nishikino, M.; Tanaka, M.; Fukuda, T.; Azechi, H.; Nishimura, H.; Sarukura, N.; Cadatal-Raduban, M.; Minami, Y.; Nishi, R.; Takeda, K.; Sakai, K.; Shimizu, T.; Yamanoi, K.;
2013 / IEEE
By: Komura, S.; Tanimori, T.; Uchida, T.; Ikeno, M.; Tanaka, M.; Sato, Y.; Iwaki, S.; Kurosawa, S.; Kishimoto, Y.; Kabuki, S.; Oda, M.; Nakamura, S.; Matsuoka, Y.; Nakamura, K.; Kubo, H.; Takada, A.; Parker, J. D.; Mizumoto, T.; Mizumura, Y.; Sonoda, S.; Tomono, D.; Sawano, T.;
By: Komura, S.; Tanimori, T.; Uchida, T.; Ikeno, M.; Tanaka, M.; Sato, Y.; Iwaki, S.; Kurosawa, S.; Kishimoto, Y.; Kabuki, S.; Oda, M.; Nakamura, S.; Matsuoka, Y.; Nakamura, K.; Kubo, H.; Takada, A.; Parker, J. D.; Mizumoto, T.; Mizumura, Y.; Sonoda, S.; Tomono, D.; Sawano, T.;
2013 / IEEE
By: Ueno, K.; Ikeda, H.; Tanaka, M.; Saito, N.; Sasaki, O.; Uchida, T.; Nishimura, S.; Mibe, T.; Kohriki, T.; Ikeno, M.;
By: Ueno, K.; Ikeda, H.; Tanaka, M.; Saito, N.; Sasaki, O.; Uchida, T.; Nishimura, S.; Mibe, T.; Kohriki, T.; Ikeno, M.;
2013 / IEEE
By: Mizumoto, T.; Tanimori, T.; Uchida, T.; Ikeno, M.; Tanaka, M.; Sato, Y.; Iwaki, S.; Kurosawa, S.; Kishimoto, Y.; Kabuki, S.; Miuchi, K.; Oda, M.; Nakamura, S.; Komura, S.; Matsuoka, Y.; Nakamura, K.; Sawano, T.; Tomono, D.; Kubo, H.; Takada, A.; Parker, J. D.; Sonoda, S.; Mizumura, Y.;
By: Mizumoto, T.; Tanimori, T.; Uchida, T.; Ikeno, M.; Tanaka, M.; Sato, Y.; Iwaki, S.; Kurosawa, S.; Kishimoto, Y.; Kabuki, S.; Miuchi, K.; Oda, M.; Nakamura, S.; Komura, S.; Matsuoka, Y.; Nakamura, K.; Sawano, T.; Tomono, D.; Kubo, H.; Takada, A.; Parker, J. D.; Sonoda, S.; Mizumura, Y.;
2014 / IEEE
By: Yoshida, I.; Matsui, T.; Niki, S.; Hirayama, M.; Konagai, M.; Shiratani, M.; Sai, H.; Suezaki, T.; Nakao, S.; Maejima, K.; Katayama, H.; Matsumoto, M.; Sugiyama, S.; Takeuchi, Y.; Ushijima, M.; Saito, K.; Kondo, M.; Tanaka, M.; Nonomura, S.;
By: Yoshida, I.; Matsui, T.; Niki, S.; Hirayama, M.; Konagai, M.; Shiratani, M.; Sai, H.; Suezaki, T.; Nakao, S.; Maejima, K.; Katayama, H.; Matsumoto, M.; Sugiyama, S.; Takeuchi, Y.; Ushijima, M.; Saito, K.; Kondo, M.; Tanaka, M.; Nonomura, S.;
1988 / IEEE
By: Itoh, R.; Miyamoto, A.; Aihara, H.; Shirahashi, A.; Yamauchi, M.; Tsukamoto, T.; Ochiai, F.; Nakamura, K.; Kamae, T.; Matsuda, T.; Kobayashi, M.; Iwasaki, H.; Ikeda, H.; Jujii, K.; Fujii, A.; Tanaka, M.; Kusuki, N.;
By: Itoh, R.; Miyamoto, A.; Aihara, H.; Shirahashi, A.; Yamauchi, M.; Tsukamoto, T.; Ochiai, F.; Nakamura, K.; Kamae, T.; Matsuda, T.; Kobayashi, M.; Iwasaki, H.; Ikeda, H.; Jujii, K.; Fujii, A.; Tanaka, M.; Kusuki, N.;
1988 / IEEE / 0-7803-0785-2
By: Ishikawa, S.; Tanaka, M.; Yajima, M.; Handa, Y.; Naito, A.; Hoshimiya, N.; Okubo, K.;
By: Ishikawa, S.; Tanaka, M.; Yajima, M.; Handa, Y.; Naito, A.; Hoshimiya, N.; Okubo, K.;
1990 / IEEE
By: Tanaka, M.; Kenmotsu, A.; Arai, T.; Narizuka, Y.; Okamoto, A.; Kobayashi, S.; kawasaki, Y.;
By: Tanaka, M.; Kenmotsu, A.; Arai, T.; Narizuka, Y.; Okamoto, A.; Kobayashi, S.; kawasaki, Y.;
1992 / IEEE
By: Narizuka, Y.; Matsuzaki, E.; Matsuyama, H.; Inoue, T.; Tanaka, M.; Takenaka, T.; Ishino, M.;
By: Narizuka, Y.; Matsuzaki, E.; Matsuyama, H.; Inoue, T.; Tanaka, M.; Takenaka, T.; Ishino, M.;
1991 / IEEE
By: Tanaka, M.; Muto, Y.; Watanabe, K.; Kobayashi, N.; Yoshizaki, K.; Uchikawa, F.; Matsuno, S.;
By: Tanaka, M.; Muto, Y.; Watanabe, K.; Kobayashi, N.; Yoshizaki, K.; Uchikawa, F.; Matsuno, S.;
1991 / IEEE
By: Maeda, S.; Morita, M.; Ueda, A.; Yoshimura, H.; Tanaka, M.; Nagao, M.; Yamada, T.; Nagata, Y.; Matsuo, Y.; Shimohata, K.;
By: Maeda, S.; Morita, M.; Ueda, A.; Yoshimura, H.; Tanaka, M.; Nagao, M.; Yamada, T.; Nagata, Y.; Matsuo, Y.; Shimohata, K.;
1991 / IEEE / 0-7803-0012-2
By: Ishino, M.; Narizuka, Y.; Matsuzaki, E.; Matsuyama, H.; Inoue, T.; Takenaka, T.; Tanaka, M.;
By: Ishino, M.; Narizuka, Y.; Matsuzaki, E.; Matsuyama, H.; Inoue, T.; Takenaka, T.; Tanaka, M.;