Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Takanobu, H.
Results
1997 / IEEE / 0-7803-4076-0
By: Takanobu, H.; Kobayashi, T.; Shirai, K.; Kasahara, H.; Sugano, S.; Takanishi, A.; Kurata, T.; Narita, S.; Hashimoto, S.; Hoashi, K.; Kawasaki, T.; Matsuno, T.; Fujiwara, K.;
By: Takanobu, H.; Kobayashi, T.; Shirai, K.; Kasahara, H.; Sugano, S.; Takanishi, A.; Kurata, T.; Narita, S.; Hashimoto, S.; Hoashi, K.; Kawasaki, T.; Matsuno, T.; Fujiwara, K.;
1998 / IEEE / 0-7803-4300-X
By: Yajima, T.; Takanobu, H.; Ohnishi, M.; Ohtsuki, K.; Takanishi, A.; Nakazawa, M.;
By: Yajima, T.; Takanobu, H.; Ohnishi, M.; Ohtsuki, K.; Takanishi, A.; Nakazawa, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5184-3
By: Ohnishi, M.; Ohtsuki, K.; Takanishi, A.; Nakazawa, M.; Takanobu, H.;
By: Ohnishi, M.; Ohtsuki, K.; Takanishi, A.; Nakazawa, M.; Takanobu, H.;
2000 / IEEE / 0-7803-5886-4
By: Ohnishi, M.; Ohtsuki, K.; Takanishi, A.; Maruyama, T.; Takanobu, H.;
By: Ohnishi, M.; Ohtsuki, K.; Takanishi, A.; Maruyama, T.; Takanobu, H.;
2001 / IEEE / 0-7803-6612-3
By: Okino, A.; Ohnishi, M.; Ozawa, D.; Ohtsuki, K.; Takanishi, A.; Nakamura, K.; Takanobu, H.;
By: Okino, A.; Ohnishi, M.; Ozawa, D.; Ohtsuki, K.; Takanishi, A.; Nakamura, K.; Takanobu, H.;
2001 / IEEE / 0-7803-6612-3
By: Imai, A.; Nishikawa, K.; Takanishi, A.; Mochida, T.; Takanobu, H.; Ogawara, T.;
By: Imai, A.; Nishikawa, K.; Takanishi, A.; Mochida, T.; Takanobu, H.; Ogawara, T.;
2001 / IEEE / 0-7803-6612-3
By: Ohtsuki, K.; Takanishi, A.; Soyama, R.; Takanobu, H.; Okino, A.; Ohnishi, M.; Ozawa, D.;
By: Ohtsuki, K.; Takanishi, A.; Soyama, R.; Takanobu, H.; Okino, A.; Ohnishi, M.; Ozawa, D.;
2002 / IEEE / 0-7803-7272-7
By: Takanishi, A.; Takanobu, H.; Okino, A.; Ohnishi, M.; Ohtsuki, K.; Ozawa, D.;
By: Takanishi, A.; Takanobu, H.; Okino, A.; Ohnishi, M.; Ohtsuki, K.; Ozawa, D.;
2002 / IEEE / 0-7803-7272-7
By: Imai, A.; Nishikawa, K.; Takanishi, A.; Mochida, T.; Takanobu, H.; Ogawara, T.;
By: Imai, A.; Nishikawa, K.; Takanishi, A.; Mochida, T.; Takanobu, H.; Ogawara, T.;
2002 / IEEE / 0-7803-7398-7
By: Ohnishi, M.; Ozawa, D.; Ohtsuki, K.; Takanishi, A.; Akizuki, T.; Takanobu, H.; Okino, A.;
By: Ohnishi, M.; Ozawa, D.; Ohtsuki, K.; Takanishi, A.; Akizuki, T.; Takanobu, H.; Okino, A.;
2003 / IEEE / 0-7803-7759-1
By: Takanobu, H.; Carbone, G.; Okino, A.; Ohnishi, M.; Ohtsuki, K.; Takanishi, A.; Ceccarelli, M.;
By: Takanobu, H.; Carbone, G.; Okino, A.; Ohnishi, M.; Ohtsuki, K.; Takanishi, A.; Ceccarelli, M.;
2003 / IEEE / 0-7803-7736-2
By: Takanobu, H.; Inoue, T.; Okino, A.; Nakano, Y.; Ohnishi, M.; Ohtsuki, K.; Takanishi, A.;
By: Takanobu, H.; Inoue, T.; Okino, A.; Nakano, Y.; Ohnishi, M.; Ohtsuki, K.; Takanishi, A.;
2003 / IEEE / 0-7803-7736-2
By: Ogura, Y.; Hiramatsu, Y.; Maeda, M.; Isoda, S.; Wakamatsu, K.; Takanishi, A.; Takanobu, H.;
By: Ogura, Y.; Hiramatsu, Y.; Maeda, M.; Isoda, S.; Wakamatsu, K.; Takanishi, A.; Takanobu, H.;
2004 / IEEE / 0-7803-8232-3
By: Solis, J.; Nishikawa, K.; Wakamatsu, K.; Saisu, Y.; Takanobu, H.; Isoda, S.; Okuma, I.; Chida, K.; Takanishi, A.;
By: Solis, J.; Nishikawa, K.; Wakamatsu, K.; Saisu, Y.; Takanobu, H.; Isoda, S.; Okuma, I.; Chida, K.; Takanishi, A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8232-3
By: Inoue, T.; Okino, A.; Ohnishi, M.; Ohtsuki, K.; Fujii, Y.; Takanishi, A.; Takanobu, H.; Nasu, T.;
By: Inoue, T.; Okino, A.; Ohnishi, M.; Ohtsuki, K.; Fujii, Y.; Takanishi, A.; Takanobu, H.; Nasu, T.;
2004 / IEEE / 0-7803-8463-6
By: Mochida, T.; Takanobu, H.; Kuwae, T.; Nishikawa, K.; Takanishi, A.; Honda, M.;
By: Mochida, T.; Takanobu, H.; Kuwae, T.; Nishikawa, K.; Takanishi, A.; Honda, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8463-6
By: Dario, P.; Carrozza, M.C.; Rocella, S.; Takanobu, H.; Takanishi, A.; Zecca, M.; Matsumoto, M.; Itoh, K.; Miwa, H.;
By: Dario, P.; Carrozza, M.C.; Rocella, S.; Takanobu, H.; Takanishi, A.; Zecca, M.; Matsumoto, M.; Itoh, K.; Miwa, H.;
2004 / IEEE / 0-7803-8463-6
By: Watanabe, Y.; Aizawa, T.; Ishihara, H.; Takanobu, H.; Ohura, M.; Miura, H.;
By: Watanabe, Y.; Aizawa, T.; Ishihara, H.; Takanobu, H.; Ohura, M.; Miura, H.;
2004 / IEEE / 0-7803-8564-0
By: Carrozza, M.C.; Roccella, S.; Takanobu, H.; Zecca, M.; Dario, P.; Matsumoto, M.; Miwa, H.; Itoh, K.; Takanishi, A.;
By: Carrozza, M.C.; Roccella, S.; Takanobu, H.; Zecca, M.; Dario, P.; Matsumoto, M.; Miwa, H.; Itoh, K.; Takanishi, A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8863-1
By: Takanishi, A.; Dario, P.; Takanobu, H.; Matsumoto, M.; Cabibihan, J.-J.; Roccella, S.; Cappiello, G.; Itoh, K.; Miwa, H.; Carrozza, M.C.; Zecca, M.;
By: Takanishi, A.; Dario, P.; Takanobu, H.; Matsumoto, M.; Cabibihan, J.-J.; Roccella, S.; Cappiello, G.; Itoh, K.; Miwa, H.; Carrozza, M.C.; Zecca, M.;
2005 / IEEE / 0-7803-8912-3
By: Fukui, K.; Takanishi, A.; Honda, M.; Takanobu, H.; Nishikawa, K.; Takada, K.; Shintaku, E.; Ikeo, S.;
By: Fukui, K.; Takanishi, A.; Honda, M.; Takanobu, H.; Nishikawa, K.; Takada, K.; Shintaku, E.; Ikeo, S.;
2005 / IEEE / 0-7803-9048-2
By: Miwa, H.; Itoh, K.; Takanishi, A.; Dario, P.; Takanobu, H.; Zecca, M.; Nukariya, Y.;
By: Miwa, H.; Itoh, K.; Takanishi, A.; Dario, P.; Takanobu, H.; Zecca, M.; Nukariya, Y.;
2005 / IEEE / 0-7803-9320-1
By: Itoh, K.; Takanishi, A.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Matsumoto, M.; Roccella, S.; Takanobu, H.; Zecca, M.; Miwa, H.;
By: Itoh, K.; Takanishi, A.; Dario, P.; Carrozza, M.C.; Matsumoto, M.; Roccella, S.; Takanobu, H.; Zecca, M.; Miwa, H.;
2006 / IEEE / 1-4244-0258-1
By: Okino, A.; Takanishi, A.; Takanobu, H.; Maki, K.; Miyazaki, Y.; Madokoro, M.;
By: Okino, A.; Takanishi, A.; Takanobu, H.; Maki, K.; Miyazaki, Y.; Madokoro, M.;
2006 / IEEE / 1-4244-0258-1
By: Dario, P.; Miwa, H.; Itoh, K.; Takanishi, A.; Nukariya, Y.; Carrozza, M.C.; Roccella, S.; Takanobu, H.; Zecca, M.;
By: Dario, P.; Miwa, H.; Itoh, K.; Takanishi, A.; Nukariya, Y.; Carrozza, M.C.; Roccella, S.; Takanobu, H.; Zecca, M.;
2007 / IEEE / 1-4244-1183-1
By: Miyazaki, Y.; Madokoro, M.; Miura, H.; Suzuki, K.; Maki, K.; Takahashi, F.; Omata, A.; Takanobu, H.; Yokota, K.;
By: Miyazaki, Y.; Madokoro, M.; Miura, H.; Suzuki, K.; Maki, K.; Takahashi, F.; Omata, A.; Takanobu, H.; Yokota, K.;
2007 / IEEE / 1-4244-1183-1
By: Katsuyama, M.; Takanobu, H.; Iseki, H.; Fujie, M.G.; Okamoto, J.; Miura, H.; Suzuki, K.;
By: Katsuyama, M.; Takanobu, H.; Iseki, H.; Fujie, M.G.; Okamoto, J.; Miura, H.; Suzuki, K.;