Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Sviatoslavsky, I.
Results
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;
1991 / IEEE / 0-7803-0132-3
By: Lousteau, D.; Smith, D.L.; Williamson, D.; Raffray, A.; Badawi, A.; Ying, A.; Abdou, M.; El-Guebaly, L.; Sawan, M.; Sviatoslavsky, I.; Mogahed, E.; Kulcinski, G.; Nelson, B.; Mattas, R.; Majumdar, S.; Kopasz, J.; Johnson, C.; Billone, M.; Attaya, H.; Gohar, Y.;
By: Lousteau, D.; Smith, D.L.; Williamson, D.; Raffray, A.; Badawi, A.; Ying, A.; Abdou, M.; El-Guebaly, L.; Sawan, M.; Sviatoslavsky, I.; Mogahed, E.; Kulcinski, G.; Nelson, B.; Mattas, R.; Majumdar, S.; Kopasz, J.; Johnson, C.; Billone, M.; Attaya, H.; Gohar, Y.;
1993 / IEEE / 0-7803-1412-3
By: Junge, R.; Sharafat, S.; Wong, C.P.C.; Sviatoslavsky, I.; Najmabadi, F.;
By: Junge, R.; Sharafat, S.; Wong, C.P.C.; Sviatoslavsky, I.; Najmabadi, F.;
1999 / IEEE / 0-7803-5829-5
By: El-Guebaly, L.; Raffray, A.R.; Wang, X.; Tillack, M.S.; Sze, D.K.; Najmabadi, F.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Billone, M.;
By: El-Guebaly, L.; Raffray, A.R.; Wang, X.; Tillack, M.S.; Sze, D.K.; Najmabadi, F.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Billone, M.;
1981 / IEEE
By: Sviatoslavsky, I.; Van Sciver, S. W.; Tataronis, J. A.; Sanders, R. C.; Sze, D. K.; Shohet, J. L.; Khalil, A.; El-Guebaly, L.; Emmert, G. A.; Derr, J. A.; Callen, J. D.; Bailey, A. W.; Anderson, D. T.; Kulcinski, G. L.;
By: Sviatoslavsky, I.; Van Sciver, S. W.; Tataronis, J. A.; Sanders, R. C.; Sze, D. K.; Shohet, J. L.; Khalil, A.; El-Guebaly, L.; Emmert, G. A.; Derr, J. A.; Callen, J. D.; Bailey, A. W.; Anderson, D. T.; Kulcinski, G. L.;