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Author: Suzuki, T.
Results
2011 / IEEE
By: Unekawa, Y.; Perre, L.; Fujisawa, T.; Vander Aa, T.; Suzuki, T.; Takeda, D.; Yamagishi, T.; Yamada, H.; Horisaki, K.;
By: Unekawa, Y.; Perre, L.; Fujisawa, T.; Vander Aa, T.; Suzuki, T.; Takeda, D.; Yamagishi, T.; Yamada, H.; Horisaki, K.;
2011 / IEEE
By: Suzuki, T.; Fukami, S.; Tanigawa, H.; Ueda, K.; Chiba, D.; Ohshima, N.; Ono, T.; Koyama, T.; Nakatani, Y.; Ishiwata, N.;
By: Suzuki, T.; Fukami, S.; Tanigawa, H.; Ueda, K.; Chiba, D.; Ohshima, N.; Ono, T.; Koyama, T.; Nakatani, Y.; Ishiwata, N.;
2012 / IEEE
By: Nagaya, S.; Hirano, N.; Shikimachi, K.; Suzuki, T.; Muromachi, K.; Ishiyama, A.; Ueda, H.;
By: Nagaya, S.; Hirano, N.; Shikimachi, K.; Suzuki, T.; Muromachi, K.; Ishiyama, A.; Ueda, H.;
2012 / IEEE
By: Wakita, T.; Terashima, R.; Ishikawa, H.; Kuroyanagi, Y.; Kurumida, K.; Oikawa, M.; Suzuki, T.; Miyajima, C.; Takeda, K.; Angkititrakul, P.; Komada, Y.;
By: Wakita, T.; Terashima, R.; Ishikawa, H.; Kuroyanagi, Y.; Kurumida, K.; Oikawa, M.; Suzuki, T.; Miyajima, C.; Takeda, K.; Angkititrakul, P.; Komada, Y.;
2012 / IEEE
By: Sato, M.; Koganezawa, T.; Machiya, S.; Sugano, M.; Shobu, T.; Nishijima, G.; Watanabe, K.; Awaji, S.; Minegishi, K.; Suzuki, T.; Oguro, H.; Shiohara, Y.; Izumi, T.; Yoshizumi, M.; Ibi, A.; Osamura, K.;
By: Sato, M.; Koganezawa, T.; Machiya, S.; Sugano, M.; Shobu, T.; Nishijima, G.; Watanabe, K.; Awaji, S.; Minegishi, K.; Suzuki, T.; Oguro, H.; Shiohara, Y.; Izumi, T.; Yoshizumi, M.; Ibi, A.; Osamura, K.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Honzawa, T.; Yatsui, K.; Weihua Jiang; Yunogami, T.; Hirai, M.; Suematsu, H.; Suzuki, T.; Honda, N.;
By: Honzawa, T.; Yatsui, K.; Weihua Jiang; Yunogami, T.; Hirai, M.; Suematsu, H.; Suzuki, T.; Honda, N.;
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Yatsui, K.; Xiaopeng Zhu; Hirai, M.; Suzuki, T.; Imada, G.; Suematsu, H.; Weihua Jiang;
By: Yatsui, K.; Xiaopeng Zhu; Hirai, M.; Suzuki, T.; Imada, G.; Suematsu, H.; Weihua Jiang;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0577-9
By: Isaji, K.; Tsuru, N.; Suzuki, T.; Tazaki, Y.; Mikami, K.; Okuda, H.;
By: Isaji, K.; Tsuru, N.; Suzuki, T.; Tazaki, Y.; Mikami, K.; Okuda, H.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-175-5
By: Yoshimoto, S.; Yoshimoto, M.; Kawaguchi, H.; Miyano, S.; Suzuki, T.; Okumura, S.; Terada, M.;
By: Yoshimoto, S.; Yoshimoto, M.; Kawaguchi, H.; Miyano, S.; Suzuki, T.; Okumura, S.; Terada, M.;
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Meisong Liao; Ohishi, Y.; Suzuki, T.; Weiqing Gao; Zhongchao Duan; Xin Yan;
By: Meisong Liao; Ohishi, Y.; Suzuki, T.; Weiqing Gao; Zhongchao Duan; Xin Yan;
2011 / IEEE / 978-1-4244-7355-7
By: Oba, R.; Suzuki, T.; Iwahashi, M.; Kasahara, Y.; Watanabe, S.; Kato, M.; Tamura, T.; Kano, T.; Kanetani, A.;
By: Oba, R.; Suzuki, T.; Iwahashi, M.; Kasahara, Y.; Watanabe, S.; Kato, M.; Tamura, T.; Kano, T.; Kanetani, A.;
2011 / IEEE / 978-90-75815-14-6
By: Kitano, M.; Miyagawa, T.; Kurosawa, N.; Ishii, T.; Aoki, T.; Hayashiya, H.; Kondoh, T.; Furukawa, T.; Suzuki, T.; Yoshizumi, H.;
By: Kitano, M.; Miyagawa, T.; Kurosawa, N.; Ishii, T.; Aoki, T.; Hayashiya, H.; Kondoh, T.; Furukawa, T.; Suzuki, T.; Yoshizumi, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0336-2
By: Miura, T.; Namazu, T.; Kaibara, Y.; Oohira, F.; Takao, H.; Terao, K.; Suzuki, T.;
By: Miura, T.; Namazu, T.; Kaibara, Y.; Oohira, F.; Takao, H.; Terao, K.; Suzuki, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0336-2
By: Fujita, H.; Changho Chong; Morosawa, A.; Sakai, T.; Toshiyoshi, H.; Totsuka, K.; Isamoto, K.; Suzuki, T.;
By: Fujita, H.; Changho Chong; Morosawa, A.; Sakai, T.; Toshiyoshi, H.; Totsuka, K.; Isamoto, K.; Suzuki, T.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-418-3
By: Takeuchi, T.; Suzuki, T.; Kondo, H.; Hori, M.; Ishikawa, K.; Yamamoto, H.; Sekine, M.; Malinowski, A.; Tomaszewski, D.; Lukasiak, L.; Jakubowski, A.;
By: Takeuchi, T.; Suzuki, T.; Kondo, H.; Hori, M.; Ishikawa, K.; Yamamoto, H.; Sekine, M.; Malinowski, A.; Tomaszewski, D.; Lukasiak, L.; Jakubowski, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1337-8
By: Suzuki, T.; Ozaki, H.; Yamamoto, K.; Okada, H.; Mutsuura, K.; Wada, T.;
By: Suzuki, T.; Ozaki, H.; Yamamoto, K.; Okada, H.; Mutsuura, K.; Wada, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1589-1
By: Watanabe, G.; Ohtake, H.; Nogawa, M.; Motoi, K.; Ogawa, M.; Suzuki, T.; Tanaka, S.; Yamakoshi, K.;
By: Watanabe, G.; Ohtake, H.; Nogawa, M.; Motoi, K.; Ogawa, M.; Suzuki, T.; Tanaka, S.; Yamakoshi, K.;
2011 / IEEE / 978-4-907764-39-5
By: Kiura, T.; Matsumoto, K.; Hirafuji, M.; Suzuki, T.; Kobayashi, K.; Saito, Y.; Sudharsan, D.; Adinarayana, J.; Ninomiya, S.; Yoichi, H.; Hoshi, N.; Nesumi, H.; Itoh, A.; Shibuya, Y.; Tanaka, K.; Fukatsu, T.;
By: Kiura, T.; Matsumoto, K.; Hirafuji, M.; Suzuki, T.; Kobayashi, K.; Saito, Y.; Sudharsan, D.; Adinarayana, J.; Ninomiya, S.; Yoichi, H.; Hoshi, N.; Nesumi, H.; Itoh, A.; Shibuya, Y.; Tanaka, K.; Fukatsu, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0223-5
By: Kawasumi, A.; Moriwaki, S.; Miyano, S.; Sakurai, T.; Suzuki, T.;
By: Kawasumi, A.; Moriwaki, S.; Miyano, S.; Sakurai, T.; Suzuki, T.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Igarashi, J.; Arimoto, H.; Suzuki, T.; Okayasu, M.; Naoe, K.; Nakamura, A.; Kitatani, T.; Ido, T.; Tsuji, S.; Tanaka, S.; Shinoda, K.; Taniguchi, T.; Takei, A.;
By: Igarashi, J.; Arimoto, H.; Suzuki, T.; Okayasu, M.; Naoe, K.; Nakamura, A.; Kitatani, T.; Ido, T.; Tsuji, S.; Tanaka, S.; Shinoda, K.; Taniguchi, T.; Takei, A.;
2011 / IEEE / 978-4-907764-39-5
By: Watanabe, Y.; Yamada, T.; Suzuki, K.; Hisada, M.; Fukuhara, H.; Hayashi, T.; Terazono, J.; Koseda, I.; Iwase, J.; Saito, S.; Miyazaki, T.; Suzuki, T.;
By: Watanabe, Y.; Yamada, T.; Suzuki, K.; Hisada, M.; Fukuhara, H.; Hayashi, T.; Terazono, J.; Koseda, I.; Iwase, J.; Saito, S.; Miyazaki, T.; Suzuki, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-2197-7
By: Komada, Y.; Oikawa, M.; Wakita, T.; Terashima, R.; Angkititrakul, P.; Miyajima, C.; Ishikawa, H.; Kuroyanagi, Y.; Kurumida, K.; Suzuki, T.; Takeda, K.;
By: Komada, Y.; Oikawa, M.; Wakita, T.; Terashima, R.; Angkititrakul, P.; Miyajima, C.; Ishikawa, H.; Kuroyanagi, Y.; Kurumida, K.; Suzuki, T.; Takeda, K.;
2011 / IEEE / 978-4-8634-8182-4
By: Nakajima, H.; Kikuchi, K.; Kurimura, S.; Misu, N.; Suzuki, T.; Fukuda, T.; Kitagawa, T.; Maruyama, N.;
By: Nakajima, H.; Kikuchi, K.; Kurimura, S.; Misu, N.; Suzuki, T.; Fukuda, T.; Kitagawa, T.; Maruyama, N.;
Block-lifting factorization of M-channel biorthogonal filter banks with an arbitrary McMillan degree
2011 / IEEE / 978-1-4577-1303-3By: Nguyen, T.Q.; Ikehara, M.; Suzuki, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9352-4
By: Misawa, T.; Hirobayashi, S.; Xu Cao; Uchida, T.; Yoshizawa, T.; Suzuki, T.; Morosawa, A.; Changho Chong;
By: Misawa, T.; Hirobayashi, S.; Xu Cao; Uchida, T.; Yoshizawa, T.; Suzuki, T.; Morosawa, A.; Changho Chong;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1030-7
By: Ohnuma, H.; Ogawa, K.; Mori, S.; Bairo, M.; Suzuki, T.; Oishi, H.;
By: Ohnuma, H.; Ogawa, K.; Mori, S.; Bairo, M.; Suzuki, T.; Oishi, H.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1036-9
By: Yoshimoto, S.; Terada, M.; Yoshimoto, M.; Kawaguchi, H.; Miyano, S.; Suzuki, T.; Okumura, S.;
By: Yoshimoto, S.; Terada, M.; Yoshimoto, M.; Kawaguchi, H.; Miyano, S.; Suzuki, T.; Okumura, S.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0377-4
By: Shibata, N.; Kanda, K.; Hisada, T.; Isobe, K.; Sato, M.; Shimizu, Y.; Shimizu, T.; Sugimoto, T.; Kobayashi, T.; Inuzuka, K.; Kanagawa, N.; Kajitani, Y.; Ogawa, T.; Nakai, J.; Iwasa, K.; Kojima, M.; Suzuki, T.; Suzuki, Y.; Sakai, S.; Fujimura, T.; Utsunomiya, Y.; Hashimoto, T.; Miakashi, M.; Kobayashi, N.; Inagaki, M.; Matsumoto, Y.; Inoue, S.; Suzuki, Y.; He, D.; Honda, Y.; Musha, J.; Nakagawa, M.; Honma, M.; Abiko, N.; Koyanagi, M.; Yoshihara, M.; Ino, K.; Noguchi, M.; Kamei, T.; Kato, Y.; Zaitsu, S.; Nasu, H.; Ariki, T.; Chibvongodze, H.; Watanabe, M.; Ding, H.; Ookuma, N.; Yamashita, R.; Liang, G.; Hemink, G.; Moogat, F.; Trinh, C.; Higashitani, M.; Pham, T.; Kanazawa, K.;
By: Shibata, N.; Kanda, K.; Hisada, T.; Isobe, K.; Sato, M.; Shimizu, Y.; Shimizu, T.; Sugimoto, T.; Kobayashi, T.; Inuzuka, K.; Kanagawa, N.; Kajitani, Y.; Ogawa, T.; Nakai, J.; Iwasa, K.; Kojima, M.; Suzuki, T.; Suzuki, Y.; Sakai, S.; Fujimura, T.; Utsunomiya, Y.; Hashimoto, T.; Miakashi, M.; Kobayashi, N.; Inagaki, M.; Matsumoto, Y.; Inoue, S.; Suzuki, Y.; He, D.; Honda, Y.; Musha, J.; Nakagawa, M.; Honma, M.; Abiko, N.; Koyanagi, M.; Yoshihara, M.; Ino, K.; Noguchi, M.; Kamei, T.; Kato, Y.; Zaitsu, S.; Nasu, H.; Ariki, T.; Chibvongodze, H.; Watanabe, M.; Ding, H.; Ookuma, N.; Yamashita, R.; Liang, G.; Hemink, G.; Moogat, F.; Trinh, C.; Higashitani, M.; Pham, T.; Kanazawa, K.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0377-4
By: Kanda, K.; Kawano, Y.; Yamaura, S.; Niratsuka, K.; Mori, T.; Suzuki, T.; Tamura, N.; Shima, M.; Oishi, K.; Mineyama, A.; Shimazui, N.; Kano, H.; Hasegawa, N.; Nakamoto, H.; Murakami, T.; Kudo, M.; Kawai, S.; Tamura, T.; Shirai, N.; Sasaki, T.;
By: Kanda, K.; Kawano, Y.; Yamaura, S.; Niratsuka, K.; Mori, T.; Suzuki, T.; Tamura, N.; Shima, M.; Oishi, K.; Mineyama, A.; Shimazui, N.; Kano, H.; Hasegawa, N.; Nakamoto, H.; Murakami, T.; Kudo, M.; Kawai, S.; Tamura, T.; Shirai, N.; Sasaki, T.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0325-5
By: Nakahara, T.; Suzuki, T.; Kotera, H.; Namazu, T.; Terao, K.; Oohira, F.; Shimokawa, F.; Takao, H.; Hosokawa, Y.;
By: Nakahara, T.; Suzuki, T.; Kotera, H.; Namazu, T.; Terao, K.; Oohira, F.; Shimokawa, F.; Takao, H.; Hosokawa, Y.;
2011 / IEEE / 978-0-85825-974-4
By: Sato, M.; Kawano, Y.; Mineyama, A.; Joshin, K.; Hara, N.; Suzuki, T.;
By: Sato, M.; Kawano, Y.; Mineyama, A.; Joshin, K.; Hara, N.; Suzuki, T.;
2012 / IEEE / 978-4-88552-257-4
By: Takase, A.; Baba, T.; Sugawara, T.; Kuwahara, S.; Suzuki, T.; Shimokawa, I.; Miyamoto, H.; Tarui, T.;
By: Takase, A.; Baba, T.; Sugawara, T.; Kuwahara, S.; Suzuki, T.; Shimokawa, I.; Miyamoto, H.; Tarui, T.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0849-6
By: Suzuki, T.; Kawasumi, A.; Yamamoto, Y.; Moriwaki, S.; Shinohara, H.; Sakurai, T.; Miyano, S.;
By: Suzuki, T.; Kawasumi, A.; Yamamoto, Y.; Moriwaki, S.; Shinohara, H.; Sakurai, T.; Miyano, S.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0487-0
By: Hikita, M.; Kano, T.; Kanetani, A.; Suzuki, T.; Kozako, M.; Tsuchie, M.; Tokiyoshi, J.;
By: Hikita, M.; Kano, T.; Kanetani, A.; Suzuki, T.; Kozako, M.; Tsuchie, M.; Tokiyoshi, J.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0847-2
By: Chiba, D.; Honjo, H.; Yoshimura, Y.; Kim, K.-J.; Ueda, K.; Koyama, T.; Yamanouchi, M.; Fukami, S.; Ohno, H.; Ono, T.; Kasai, N.; Sugibayashi, T.; Ikeda, S.; Tanigawa, H.; Suzuki, T.; Miura, S.; Kinoshita, K.; Morioka, A.; Tsuji, Y.; Kato, Y.; Nebashi, R.; Sakimura, N.;
By: Chiba, D.; Honjo, H.; Yoshimura, Y.; Kim, K.-J.; Ueda, K.; Koyama, T.; Yamanouchi, M.; Fukami, S.; Ohno, H.; Ono, T.; Kasai, N.; Sugibayashi, T.; Ikeda, S.; Tanigawa, H.; Suzuki, T.; Miura, S.; Kinoshita, K.; Morioka, A.; Tsuji, Y.; Kato, Y.; Nebashi, R.; Sakimura, N.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0847-2
By: Tsuji, Y.; Nebashi, R.; Sugibayashi, T.; Ohno, H.; Kasai, N.; Endoh, T.; Hanyu, T.; Kinoshita, K.; Fukami, S.; Suzuki, T.; Miura, S.; Tokutome, K.; Honjo, H.; Morioka, A.; Sakimura, N.;
By: Tsuji, Y.; Nebashi, R.; Sugibayashi, T.; Ohno, H.; Kasai, N.; Endoh, T.; Hanyu, T.; Kinoshita, K.; Fukami, S.; Suzuki, T.; Miura, S.; Tokutome, K.; Honjo, H.; Morioka, A.; Sakimura, N.;
$f$ -Divergence Estimation and Two-Sample Homogeneity Test Under Semiparametric Density-Ratio Models
2012 / IEEEBy: Sugiyama, M.; Suzuki, T.; Kanamori, T.;
2013 / IEEE
By: Fukuda, G.; Yoshida, S.; Kawasaki, S.; Muraguchi, M.; Suda, T.; Suzuki, T.; Hasegawa, M.; Shirosaki, T.; Noji, T.; Kobayashi, Y.; Tashiro, S.;
By: Fukuda, G.; Yoshida, S.; Kawasaki, S.; Muraguchi, M.; Suda, T.; Suzuki, T.; Hasegawa, M.; Shirosaki, T.; Noji, T.; Kobayashi, Y.; Tashiro, S.;
2013 / IEEE
By: Cheng, T.; Sakai, Y.; Asyikin, N.; Gao, W.; Duan, Z.; Deng, D.; Suzuki, T.; Ohishi, Y.;
By: Cheng, T.; Sakai, Y.; Asyikin, N.; Gao, W.; Duan, Z.; Deng, D.; Suzuki, T.; Ohishi, Y.;
2015 / IEEE
By: Xue, X.; Kawashima, H.; Cheng, T.; Ohishi, Y.; Suzuki, T.; Misumi, T.; Matsumoto, M.; Deng, D.;
By: Xue, X.; Kawashima, H.; Cheng, T.; Ohishi, Y.; Suzuki, T.; Misumi, T.; Matsumoto, M.; Deng, D.;
2015 / IEEE
By: van der Kuur, J.; Jackson, B.; Suzuki, T.; den Hartog, R.; Khosropanah, P.; Akamatsu, H.; Kiviranta, M.; Gottardi, L.;
By: van der Kuur, J.; Jackson, B.; Suzuki, T.; den Hartog, R.; Khosropanah, P.; Akamatsu, H.; Kiviranta, M.; Gottardi, L.;