Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Suzuki, K.
Results
2012 / IEEE
By: Hashizume, Y.; Suzuki, K.; Mizuno, T.; Ono, H.; Abe, Y.; Takara, H.; Matsuo, S.; Takenaga, K.; Takahashi, T.;
By: Hashizume, Y.; Suzuki, K.; Mizuno, T.; Ono, H.; Abe, Y.; Takara, H.; Matsuo, S.; Takenaga, K.; Takahashi, T.;
2012 / IEEE
By: Holzapfel, W.L.; Lee, A.T.; Hirota, A.; Suzuki, K.; Izumi, T.; Sorai, K.; Kohno, K.; Kawabe, R.; Tamura, Y.; Halverson, N.W.; Sato, T.; Matsuo, H.; Kawamura, M.; Oshima, T.; Nakatsubo, S.; Minamidani, T.; Takekoshi, T.;
By: Holzapfel, W.L.; Lee, A.T.; Hirota, A.; Suzuki, K.; Izumi, T.; Sorai, K.; Kohno, K.; Kawabe, R.; Tamura, Y.; Halverson, N.W.; Sato, T.; Matsuo, H.; Kawamura, M.; Oshima, T.; Nakatsubo, S.; Minamidani, T.; Takekoshi, T.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-175-5
By: Takagahara, K.; Shimamura, T.; Kuwabara, K.; Ugajin, M.; Suzuki, K.; Mutoh, S.; Harada, M.; Morimura, H.;
By: Takagahara, K.; Shimamura, T.; Kuwabara, K.; Ugajin, M.; Suzuki, K.; Mutoh, S.; Harada, M.; Morimura, H.;
2011 / IEEE / 978-986-02-8974-9
By: Sakamoto, T.; Ooba, N.; Tanaka, T.; Takahashi, T.; Ishii, M.; Suzuki, K.; Ono, H.; Watanabe, T.; Seno, K.;
By: Sakamoto, T.; Ooba, N.; Tanaka, T.; Takahashi, T.; Ishii, M.; Suzuki, K.; Ono, H.; Watanabe, T.; Seno, K.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1002-5
By: Matsui, T.; Iizaka, T.; Ichikawa, Y.; Suzuki, K.; Egawa, T.; Shikagawa, Y.;
By: Matsui, T.; Iizaka, T.; Ichikawa, Y.; Suzuki, K.; Egawa, T.; Shikagawa, Y.;
2011 / IEEE / 978-4-907764-39-5
By: Suzuki, K.; Noguchi, S.; Charles, P.; Ban, N.; Tarui, I.; Sakurada, H.; Chino, S.;
By: Suzuki, K.; Noguchi, S.; Charles, P.; Ban, N.; Tarui, I.; Sakurada, H.; Chino, S.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-418-3
By: Suzuki, K.; Bolotov, L.; Tada, T.; Nishizawa, M.; Sato, S.; Kanayama, T.; Fukuda, K.; Arimoto, H.;
By: Suzuki, K.; Bolotov, L.; Tada, T.; Nishizawa, M.; Sato, S.; Kanayama, T.; Fukuda, K.; Arimoto, H.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Watanabe, T.; Ono, H.; Sakamoto, T.; Takahashi, T.; Mori, A.; Suzuki, K.;
By: Watanabe, T.; Ono, H.; Sakamoto, T.; Takahashi, T.; Mori, A.; Suzuki, K.;
2011 / IEEE / 978-4-907764-39-5
By: Watanabe, Y.; Yamada, T.; Suzuki, K.; Hisada, M.; Fukuhara, H.; Hayashi, T.; Terazono, J.; Koseda, I.; Iwase, J.; Saito, S.; Miyazaki, T.; Suzuki, T.;
By: Watanabe, Y.; Yamada, T.; Suzuki, K.; Hisada, M.; Fukuhara, H.; Hayashi, T.; Terazono, J.; Koseda, I.; Iwase, J.; Saito, S.; Miyazaki, T.; Suzuki, T.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1539-6
By: Yoshihisa, T.; Suzuki, K.; Gotoh, Y.; Kanazawa, M.; Taniguchi, H.;
By: Yoshihisa, T.; Suzuki, K.; Gotoh, Y.; Kanazawa, M.; Taniguchi, H.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1524-2
By: Orimo, S.; Hove, M.J.; Suzuki, K.; Uchitomi, H.; Ota, L.; Miyake, Y.;
By: Orimo, S.; Hove, M.J.; Suzuki, K.; Uchitomi, H.; Ota, L.; Miyake, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0094-0
By: Murayama, D.; Reaz, A.; Mukherjee, B.; Kramer, G.; Yoshimoto, N.; Suzuki, K.;
By: Murayama, D.; Reaz, A.; Mukherjee, B.; Kramer, G.; Yoshimoto, N.; Suzuki, K.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0836-6
By: Watanabe, T.; Iwata, N.; Suzuki, K.; Kurumi, S.; Takano, Y.; Shingubara, S.; Shimizu, T.; Otsuka, S.; Takase, K.;
By: Watanabe, T.; Iwata, N.; Suzuki, K.; Kurumi, S.; Takano, Y.; Shingubara, S.; Shimizu, T.; Otsuka, S.; Takase, K.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1405-3
By: Hirokawa, M.; Suzuki, K.; Kitagawa, T.; Furugori, S.; Uesugi, N.;
By: Hirokawa, M.; Suzuki, K.; Kitagawa, T.; Furugori, S.; Uesugi, N.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1405-3
By: Nakamura, K.; Murakami, K.; Suzuki, K.; Kanbayashi, T.; Endo, M.; Yonezawa, N.; Sugahara, Y.; Hirata, Y.; Kosuge, K.; Kashiwazaki, K.;
By: Nakamura, K.; Murakami, K.; Suzuki, K.; Kanbayashi, T.; Endo, M.; Yonezawa, N.; Sugahara, Y.; Hirata, Y.; Kosuge, K.; Kashiwazaki, K.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1618-7
By: Orimo, S.; Uchitomi, H.; Miyake, Y.; Wada, Y.; Suzuki, K.; Hove, M. J.; Matsumura, S.; Nishi, T.;
By: Orimo, S.; Uchitomi, H.; Miyake, Y.; Wada, Y.; Suzuki, K.; Hove, M. J.; Matsumura, S.; Nishi, T.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-2190-7
By: Maeda, N.; Kim, Y. S.; Ohba, T.; Arai, K.; Kawai, A.; Nakamura, T.; Suzuki, K.; Mizushima, Y.; Fujimoto, K.; Kitada, H.; Hikosaka, Y.; Eshita, T.;
By: Maeda, N.; Kim, Y. S.; Ohba, T.; Arai, K.; Kawai, A.; Nakamura, T.; Suzuki, K.; Mizushima, Y.; Fujimoto, K.; Kitada, H.; Hikosaka, Y.; Eshita, T.;
2014 / IEEE
By: Ogawa, I.; Nomachi, M.; Ishikawa, T.; Ichimura, K.; Ajimura, S.; Seki, K.; Umehara, S.; Suzuki, K.; Sugaya, Y.; Saka, M.; Maeda, T.;
By: Ogawa, I.; Nomachi, M.; Ishikawa, T.; Ichimura, K.; Ajimura, S.; Seki, K.; Umehara, S.; Suzuki, K.; Sugaya, Y.; Saka, M.; Maeda, T.;
2015 / IEEE
By: Banno, N.; Tsuchiya, K.; Nakagawa, K.; Takao, T.; Suzuki, K.; Kato, S.; Tomita, K.; Iijima, Y.; Takeuchi, T.; Kikuchi, A.; Nakamoto, T.;
By: Banno, N.; Tsuchiya, K.; Nakagawa, K.; Takao, T.; Suzuki, K.; Kato, S.; Tomita, K.; Iijima, Y.; Takeuchi, T.; Kikuchi, A.; Nakamoto, T.;
2015 / IEEE
By: Kobayashi, M.; Ito, M.; Kizaki, Y.; Kizu, Y.; Kwon, H.; Funaki, H.; Suzuki, K.; Ueno, R.;
By: Kobayashi, M.; Ito, M.; Kizaki, Y.; Kizu, Y.; Kwon, H.; Funaki, H.; Suzuki, K.; Ueno, R.;
2015 / IEEE
By: Araniti, G.; Bezirgiannidis, N.; Suzuki, K.; Segui, J.; Marchese, M.; Feldmann, M.; Caini, C.; Burleigh, S.; Bisio, I.; Birrane, E.;
By: Araniti, G.; Bezirgiannidis, N.; Suzuki, K.; Segui, J.; Marchese, M.; Feldmann, M.; Caini, C.; Burleigh, S.; Bisio, I.; Birrane, E.;
2015 / IEEE
By: Ou, H.; Fujiwara, T.; Sakai, Y.; Sakamoto, T.; Tsutsumi, T.; Suzuki, K.; Kimura, Y.;
By: Ou, H.; Fujiwara, T.; Sakai, Y.; Sakamoto, T.; Tsutsumi, T.; Suzuki, K.; Kimura, Y.;
2014 / IEEE
By: Yoon, C. J.; Hamano, H.; Korpar, S.; Jones, M.; Browder, T.; Barrett, M.; Uchida, M.; Strokovsky, E. A.; Muramatsu, N.; Nozawa, Y.; Niiyama, M.; Horii, Y.; Hirose, S.; Maeshima, R.; Iijima, T.; Hyakawa, T.; Hotta, T.; Kasamatsu, Y.; Morino, Y.; Nakatsugawa, Y.; Nakano, T.; Nam, T.; Noumi, H.; Oka, M.; Ryu, S. Y.; Yosoi, M.; Matsuoka, K.; Kato, Y.; Arita, Y.; Inami, K.; Suzuki, K.;
By: Yoon, C. J.; Hamano, H.; Korpar, S.; Jones, M.; Browder, T.; Barrett, M.; Uchida, M.; Strokovsky, E. A.; Muramatsu, N.; Nozawa, Y.; Niiyama, M.; Horii, Y.; Hirose, S.; Maeshima, R.; Iijima, T.; Hyakawa, T.; Hotta, T.; Kasamatsu, Y.; Morino, Y.; Nakatsugawa, Y.; Nakano, T.; Nam, T.; Noumi, H.; Oka, M.; Ryu, S. Y.; Yosoi, M.; Matsuoka, K.; Kato, Y.; Arita, Y.; Inami, K.; Suzuki, K.;
1988 / IEEE
By: Oyama, N.; Fukuda, K.; Kobayashi, F.; Wakayama, N.; Ogawa, T.; Obata, M.; Sakuraba, K.; Terada, H.; Asami, S.; Suzuki, K.; Yoshida, H.; Yokouchi, I.;
By: Oyama, N.; Fukuda, K.; Kobayashi, F.; Wakayama, N.; Ogawa, T.; Obata, M.; Sakuraba, K.; Terada, H.; Asami, S.; Suzuki, K.; Yoshida, H.; Yokouchi, I.;
1989 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Ishikawa, H.; Ito, T.; Hijiya, S.; Yamazaki, T.; Fukano, T.; Suzuki, K.;
By: Ishikawa, H.; Ito, T.; Hijiya, S.; Yamazaki, T.; Fukano, T.; Suzuki, K.;
1989 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Suzuki, K.; Kikuchi, T.; Ohue, M.; Fukuda, T.; Momma, N.; Sonobe, T.;
By: Suzuki, K.; Kikuchi, T.; Ohue, M.; Fukuda, T.; Momma, N.; Sonobe, T.;
1991 / IEEE
By: Nishizawa, Y.; Yamamoto, T.; Hamano, H.; Nishimura, A.; Suzuki, K.; Miyoshi, H.; Tahara, A.;
By: Nishizawa, Y.; Yamamoto, T.; Hamano, H.; Nishimura, A.; Suzuki, K.; Miyoshi, H.; Tahara, A.;