Author: Stygar, W.

2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Olson, C.L.; Rochau, G.; Slutz, S.; Morrow, C.; Olson, R.; Parker, A.; Cuneo, M.; Hanson, D.; Bennett, G.; Sanford, T.; Bailey, J.; Stygar, W.; Vesey, R.; Mehlhorn, T.; Struve, K.; Mazarakis, M.; Savage, M.; Owen, A.; Pointon, T.; Kiefer, M.; Rosenthal, S.; Schneider, L.; Glover, S.; Reed, K.; Benevides, G.; Schroen, D.; Krych, W.; Farnum, C.; Modesto, M.; Oscar, D.; Chhabildas, L.; Boyes, J.; Vigil, V.; Keith, R.; Turgeon, M.; Smith, B.; Cipiti, B.; Lindgren, E.; Smith, D.; Peterson, K.; Dandini, V.; McDaniel, D.; Quintenz, J.; Matzen, M.; VanDevender, J.P.; Gauster, W.; Shephard, L.; Walck, M.; Renk, T.; Tanaka, T.; Ulrickson, M.; Peterson, P.; De Groot, J.; Jensen, N.; Peterson, R.; Pollock, G.; Ottinger, P.; Schumer, J.; Kammer, D.; Golovkin, I.; Kulcinski, G.; El-Guebaly, L.; Moses, G.; Mogahed, E.; Sviatoslavsky, I.; Sawan, M.; Anderson, M.; Gallix, R.; Alexander, N.; Rickman, W.; Tran, H.; Panchuk, P.; Meier, W.; Latkowski, J.; Moir, R.; Schmitt, R.; Abbot, R.; Abdou, M.; Ying, A.; Calderoni, P.; Morley, N.; Abdel-Khalik, S.; Welch, D.; Rose, D.; Szaroletta, W.; Curry, R.; McDonald, K.; Louie, D.; Dean, S.; Kim, A.; Nedoseev, S.; Grabovsky, E.; Kingsep, A.; Smirnov, V.;

1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Renk, T.J.; Pointon, T.D.; Mehlhorn, T.A.; Lake, P.; McGuire, E.J.; Stygar, W.; Johnson, D.J.; Carlson, A.L.; Filuk, A.B.; Bailey, J.E.; Maron, Y.;

2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Waisman, E.M.; Apruzese, J.P.; Song, Y.; Sze, H.; Fisher, A.; Failor, B.H.; Coleman, P.L.; Banister, J.; Levine, J.S.; Bell, D.; Stygar, W.; Struve, K.; Spielman, R.; Mcgurn, J.; Gilliland, T.; Deeney, C.; Coverdale, C.A.; Weber, B.V.; Velikovich, A.L.; Thornhill, J.W.; Mosher, D.; Davis, J.;

2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Sze, H.; Bell, D.; Chantrenne, S.; Failor, P.L.C.B.H.; Fisher, A.; Levine, J.S.; Song, Y.; Waisman, E.M.; Apruzese, J.P.; Davis, J.; Mosher, D.; Thornhill, J.W.; Velikovich, A.L.; Weber, B.V.; Coverdale, C.A.; Deeney, C.; Gilliland, T.; Mcgurn, J.; Spielman, R.; Struve, K.; Stygar, W.; Banister, J.;

2002 / IEEE / 0-7803-7407-X
By: Nash, T.J.; Chandler, G.A.; Stygar, W.; Mazarakis, M.; Struve, K.; McDaniel, D.; Douglas, M.R.; Deeney, C.; LePell, P.D.; Waggoner, T.; Pyle, J.; Smelser, R.; Moore, T.; Seamen, H.; Carlson, A.L.; Lake, P.; Bailey, J.E.; Hawn, R.; Nielsen, D.; Gilliland, T.; Jobe, D.; Torres, J.; Lazier, S.; McGurn, J.; Seaman, J.F.; Leeper, R.;

1982 / IEEE
By: Stygar, W.; Gerdin, G.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-0913-6
By: LeChien, K.; Savage, M.; Prestwich, K.; Wallace, Z.; Thompson, T.; Hodge, K.; Guthrie, D.; Feltz, G.; Anaya, V.; Wakeland, P.; Bliss, D.; Lehr, J.; Maenchen, J.; McDaniel, D.; Struve, K.; Stygar, W.; Van Den Avyle, J.; Woodworth, J.; Corley, J.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-1534-2
By: LeChien, K.; Savage, M.; Struve, K.; McDaniel, D.; Maenchen, J.; Stygar, W.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-1534-2
By: Stygar, W.; Savage, M.; LeChien, K.; Lott, J.; Anaya, V.; Wakeland, P.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-4064-1
By: Savage, M.; LeChien, K.; Stoltzfus, B.; Stygar, W.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-4064-1
By: Jones, P.; Baremore, M.; Artery, D.; Wakeland, P.; Bliss, D.; Roznowski, S.; Savage, M.; Stygar, W.; LeChien, K.; McKee, R.; White, S.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-4064-1
By: Garde, J.; Lips, J.; Stygar, W.; Mckee, R.; Owen, A.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-4064-1
By: Stygar, W.; Puissant, J.; Fowler, W.; Mazarakis, M.; LeChien, K.; Kim, A.; Van De Valde, D.; Ward, K.; Wakeland, P.; Smith, A.; Long, F.; Montoya, T.; Mock, R.; Guthrie, D.; Garcia, V.; Feltz, G.; Chavez, T.; Androlewicz, K.; Porter, J.; Natoni, G.; McKee, R.;